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標(biāo)簽 > 蝕刻
最早可用來制造銅版、鋅版等印刷凹凸版,也廣泛地被使用于減輕重量(Weight Reduction)儀器鑲板,銘牌及傳統(tǒng)加工法難以加工之薄形工件等的加工;經(jīng)過不斷改良和工藝設(shè)備發(fā)展,亦可以用于航空、機(jī)械、化學(xué)工業(yè)中電子薄片零件精密蝕刻產(chǎn)品的加工,特別在半導(dǎo)體制程上,蝕刻更是不可或缺的技術(shù)。
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高速硅濕式各向異性蝕刻技術(shù)在批量微加工中的應(yīng)用
蝕刻是微結(jié)構(gòu)制造中采用的主要工藝之一。它分為兩類:濕法蝕刻和干法蝕刻,濕法蝕刻進(jìn)一步細(xì)分為兩部分,即各向異性和各向同性蝕刻。硅濕法各向異性蝕刻廣泛用于制...
氮化鎵的大面積光電化學(xué)蝕刻的實(shí)驗(yàn)報(bào)告
索引術(shù)語:氮化鎵,蝕刻 摘要 本文介紹了我們?nèi)A林科納的一種利用氫氧化鉀溶液和大面積汞燈照明對(duì)氮化鎵進(jìn)行光增強(qiáng)濕法化學(xué)刻蝕的工藝。討論了n+氮化鎵、非有意...
摘要 微流體和光學(xué)傳感平臺(tái)通常由玻璃和熔融石英(石英)制成,因?yàn)樗鼈兙哂泄鈱W(xué)透明性和化學(xué)惰性。氫氟酸(HF)溶液是用于深度蝕刻二氧化硅襯底的選擇的蝕刻介...
引言 在使用濕化學(xué)硅體微機(jī)械加工制造微機(jī)電系統(tǒng)時(shí),使用堿性溶液,如氫氧化鉀、氫氧化四甲銨和氫氧化銨。除了微機(jī)械加工之外,堿性溶液還用于單晶硅的表面紋理化...
解析半導(dǎo)體蝕刻過程中的光學(xué)監(jiān)測(cè)
為了獲得功能正常的半導(dǎo)體器件,我們?cè)诩{米制造過程中依賴于嚴(yán)格的尺寸控制。在該初步校準(zhǔn)之后,在相同的處理?xiàng)l件下在真實(shí)晶片上運(yùn)行制造,隨后再次進(jìn)行后處理測(cè)量...
2022-03-14 標(biāo)簽:半導(dǎo)體監(jiān)測(cè)蝕刻 1772 0
關(guān)于氮化鎵的晶體學(xué)濕式化學(xué)蝕刻的研究
光增強(qiáng)電化學(xué)(PEC)濕蝕刻也被證明用于氮化鎵。PEC蝕刻具有設(shè)備成本相對(duì)較低、表面損傷較低的優(yōu)點(diǎn),但尚未找到一種生產(chǎn)光滑的垂直側(cè)壁的方法。氮化鎵的裂切...
印刷線路板從光板到顯出線路圖形的過程是一個(gè)比較復(fù)雜的物理和化學(xué)反應(yīng)的過程,本文就對(duì)其最后的一步--蝕刻進(jìn)行解析。目前,印刷電路板(PCB)加工的典型工藝...
半導(dǎo)體各向異性蝕刻的表面化學(xué)和電化學(xué)
摘要 綜述了半導(dǎo)體各向異性蝕刻的表面化學(xué)和電化學(xué)。描述了對(duì)堿性溶液中硅的各向異性化學(xué)蝕刻和 n 型半導(dǎo)體中各向異性孔的電化學(xué)蝕刻的最新見解。強(qiáng)調(diào)了電流效...
包括汽車、工業(yè)、數(shù)據(jù)中心和能源行業(yè)在內(nèi)的多種電子應(yīng)用對(duì)大功率設(shè)備的需求正在增加。如今,功率器件必須滿足高效率、高功率密度、低功耗和出色的熱管理等嚴(yán)格要求...
微加工過程中有很多加工步驟。蝕刻是微制造過程中的一個(gè)重要步驟。術(shù)語蝕刻指的是在制造時(shí)從晶片表面去除層。這是一個(gè)非常重要的過程,每個(gè)晶片都要經(jīng)歷許多蝕刻過...
硅集成電路(IC)的制造需要500-600個(gè)工藝步驟,具體取決于器件的具體類型。在將整個(gè)晶圓切割成單獨(dú)的芯片之前,大部分步驟都是作為單元過程進(jìn)行的。大約...
晶圓尺寸從300毫米過渡到450毫米的技術(shù)挑戰(zhàn)
隨著技術(shù)復(fù)雜性在亞20nm節(jié)點(diǎn)上的加速,半導(dǎo)體制造成本已經(jīng)快速增加,晶圓尺寸從300毫米過渡到450毫米將是解決這一問題的方法之一,平均而言,采用300...
本研究的目的是我們?nèi)A林科納開發(fā)足夠快的氮化鈦蝕刻配方,可用于單晶片工具(SWT),但對(duì)電介質(zhì)和金屬具有高選擇性。大多數(shù)蝕刻實(shí)驗(yàn)是在分子間Tempus F...
在許多電氣和傳感器應(yīng)用中,SOI(絕緣體上硅)晶片已經(jīng)取代了傳統(tǒng)的硅晶片,SOI晶片具有不同的掩埋氧化物(BOX)和SOI層厚度,粘合界面的強(qiáng)度通常用裂...
在 KOH 水溶液中進(jìn)行濕法化學(xué)蝕刻期間,硅 (1 1 1) 的絕對(duì)蝕刻速率已通過光學(xué)干涉測(cè)量法使用掩膜樣品進(jìn)行了研究。蝕刻速率恒定為0.62 ± 0....
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