金鑒實驗室文章

• AEC-Q102板彎曲試驗的重要性2024-12-04 12:38

  

  在汽車電子領(lǐng)域，電子組件的穩(wěn)定性對于保障汽車的安全性和性能發(fā)揮著關(guān)鍵作用。隨著技術(shù)的進(jìn)步，汽車中電子系統(tǒng)的比重不斷增加，它們不僅支撐著動力系統(tǒng)的運轉(zhuǎn)，還涵蓋了安全系統(tǒng)和信息娛樂系統(tǒng)。這些系統(tǒng)的正常運作都離不開電子元件的可靠性。因此，對于汽車制造商和零部件供應(yīng)商來說，確保這些電子元件在多變的環(huán)境條件下依然能夠可靠地工作，是一個亟待解決的重要問題。金鑒實驗室是一

  汽車電子 電路板彎曲 試驗 470瀏覽量

• 離子束技術(shù)在多領(lǐng)域的應(yīng)用探索2024-12-04 12:37

  

  聚焦離子束技術(shù)（FIB）聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）是一種高精度的微納加工手段，它通過加速并聚焦液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束，照射在樣品表面，從而產(chǎn)生二次電子信號以形成電子像。這一過程與掃描電子顯微鏡（SEM）的成像原理相似，但FIB利用高能離子束對材料表面原子進(jìn)行剝離，實現(xiàn)微米至納米級別的精確加工。FIB技術(shù)結(jié)合物理濺射和化學(xué)氣體反

  fib 離子束 芯片 736瀏覽量

• 什么是RoHS測試？2024-12-04 12:35

  

  RoHS，全稱為《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》，是一個旨在限制電子電氣產(chǎn)品中特定有害物質(zhì)使用的法規(guī)。歐盟于2006年7月1日實施了RoHS指令的第一版（RoHS1.0），明確限制了六種有害物質(zhì)的使用，包括鉛、鎘、汞、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚。違反這些限制的產(chǎn)品在出口到歐盟時可能會受到重罰。RoHS2.02015年6月4日，歐盟通過指令(EU

  RoHS 測試 電氣 1621瀏覽量

• LED驅(qū)動電源故障診斷與分析2024-12-03 12:18

  

  在LED照明系統(tǒng)中，驅(qū)動電源的穩(wěn)定性對于整個燈具的壽命至關(guān)重要。盡管LED光源本身具有較長的使用壽命，但LED驅(qū)動電源的復(fù)雜性往往導(dǎo)致其成為系統(tǒng)中的薄弱環(huán)節(jié)。據(jù)統(tǒng)計，超過80%的LED燈具失效是由于驅(qū)動電源的問題引起的。電子元器件的老化問題電子元器件是LED驅(qū)動電源的核心組成部分，包括電阻、電容、二極管、三極管等。這些元器件在長期使用過程中，可能會因為開路、

  led 照明系統(tǒng) 驅(qū)動電源 1261瀏覽量

• 材料失效分析方法匯總2024-12-03 12:17

  

  材料故障診斷學(xué)：失效分析技術(shù)失效分析技術(shù)，作為材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)的關(guān)鍵分支，致力于運用科學(xué)方法論來識別、分析并解決材料與產(chǎn)品在實際應(yīng)用過程中出現(xiàn)的故障問題。該技術(shù)對于增強(qiáng)產(chǎn)品的可靠性、改進(jìn)設(shè)計、優(yōu)化制造流程、減少成本以及提升市場競爭力扮演著至關(guān)重要的角色。失效分析的科學(xué)方法論失效分析的科學(xué)方法論是一套系統(tǒng)化流程，它從識別失效模式著手，通過觀察失效現(xiàn)象，逐步推導(dǎo)出

  失效分析 材料 電子元器件 854瀏覽量

• 電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)在孿晶結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用研究2024-12-03 12:16

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)作為一種先進(jìn)的材料表征手段，其在孿晶分析中的應(yīng)用日益廣泛。EBSD技術(shù)通過分析掃描電鏡中電子束與樣品表面相互作用產(chǎn)生的衍射菊池帶，能夠精確地確定材料的晶體結(jié)構(gòu)、取向以及晶界等信息。TWIP鋼(Fe–22wt.%Mn–0.6wt.%C,FCC)的孿生變形行為取向依賴性(a)拉伸真應(yīng)變?yōu)?.3時試樣縱截面取向成像圖;(b)產(chǎn)生和未產(chǎn)

  材料 電子束 鎂合金 656瀏覽量

• 雙束FIB-SEM系統(tǒng)在材料科學(xué)中的應(yīng)用2024-12-03 12:14

  

  導(dǎo)語聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）是一種先進(jìn)的微納加工和成像技術(shù)，它在材料科學(xué)研究中扮演著不可或缺的角色。FIB-SEM系統(tǒng)能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行精確的定點切割和分析，從而揭示材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和成分。以CdS微米線為例，通過光學(xué)顯微鏡觀察，我們可以看到微米線節(jié)點處可能含有其他物質(zhì)，但無法確定具體成分和內(nèi)部形貌。利用FIB-SEM技術(shù)，我們可以在節(jié)點處

  掃描電鏡 顯微鏡 材料 711瀏覽量

• 什么是高低溫濕熱試驗（THB）？2024-12-02 15:26

  

  濕熱試驗概述濕熱試驗是環(huán)境工程領(lǐng)域中一種關(guān)鍵的測試方法，通過在控制的高溫和高濕環(huán)境下對產(chǎn)品進(jìn)行暴露，以評估產(chǎn)品在實際使用中對潮濕環(huán)境的適應(yīng)性和耐久性。這種測試對于確保電子產(chǎn)品、電氣設(shè)備、汽車零件、航空器材以及軍事裝備等產(chǎn)品在潮濕環(huán)境中的性能和可靠性至關(guān)重要。濕熱試驗的應(yīng)用領(lǐng)域1.產(chǎn)品開發(fā)與設(shè)計階段在這個階段，濕熱試驗用于研究和評估潮濕環(huán)境對產(chǎn)品設(shè)計的影響。通

  恒定濕熱試驗 測試 1367瀏覽量

• FIB測試技術(shù)2024-12-02 15:25

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)是一種精密的微納加工手段，它通過將離子束聚焦到極高的精度，實現(xiàn)對材料的精確蝕刻和加工。FIB技術(shù)的核心在于其能夠產(chǎn)生具有極細(xì)直徑的離子束，這使得它在納米尺度的加工領(lǐng)域中扮演著不可或缺的角色。FIB的工作原理FIB的工作原理基于離子源產(chǎn)生的離子束，這些離子在電場的作用下被加速并聚焦成細(xì)束。當(dāng)這些高能離子

  fib 測試 離子束 806瀏覽量

• 電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）：原理、測試方法與應(yīng)用領(lǐng)域2024-12-02 15:24

  

  電子背散射衍射電子背散射衍射技術(shù)（EBSD），作為一種尖端的材料分析手段，融合了掃描電子顯微鏡（SEM）的精細(xì)成像與電子衍射的晶體學(xué)分析技術(shù)。電子束與樣品的相互作用在EBSD測試中，首先利用SEM產(chǎn)生的高能電子束照射到材料表面。當(dāng)電子束與樣品原子相互作用時，會產(chǎn)生多種信號，其中包括背散射電子。衍射現(xiàn)象電子束與樣品中的晶體結(jié)構(gòu)相互作用時，會發(fā)生衍射現(xiàn)象。衍射電

  SEM 探測器 顯微鏡 963瀏覽量