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金鑒實(shí)驗(yàn)室

金鑒實(shí)驗(yàn)室是光電半導(dǎo)體行業(yè)最知名的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)之一

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金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

  • 半導(dǎo)體快速溫變測(cè)試的溫度循環(huán)控制標(biāo)準(zhǔn)2024-11-27 12:11

    半導(dǎo)體材料簡(jiǎn)介半導(dǎo)體材料是一類具有介于導(dǎo)體和絕緣體之間的導(dǎo)電能力(電阻率在1mΩ·cm到1GΩ·cm之間)的材料,廣泛應(yīng)用于制造半導(dǎo)體器件和集成電路。根據(jù)化學(xué)組成,半導(dǎo)體材料可以分為元素半導(dǎo)體、無(wú)機(jī)化合物半導(dǎo)體、有機(jī)化合物半導(dǎo)體,以及特殊的非晶態(tài)與液態(tài)半導(dǎo)體。這些材料以結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、電學(xué)特性優(yōu)異和成本低廉著稱,是制造現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的場(chǎng)效應(yīng)晶體管的理想材料
  • FIB技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域及工作原理解析2024-11-27 12:09

    集成化微納加工平臺(tái)雙束聚焦離子束-掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)系統(tǒng)代表了微納加工技術(shù)的前沿,它巧妙地融合了單束FIB和SEM的優(yōu)勢(shì),為用戶提供了一個(gè)多功能的集成化平臺(tái)。這個(gè)平臺(tái)不僅能夠進(jìn)行高分辨率的成像,還能執(zhí)行精準(zhǔn)的材料加工操作。系統(tǒng)架構(gòu)1.離子發(fā)射器:生成正電荷離子流。2.離子光學(xué)系統(tǒng):利用靜電透鏡和偏轉(zhuǎn)元件對(duì)離子流進(jìn)行精確聚焦和導(dǎo)向。3.掃描控制系
    fib SEM 顯微鏡 733瀏覽量
  • 氬離子拋光技術(shù)解析:原理、功能及應(yīng)用2024-11-27 12:07

    原理、功能及在材料科學(xué)中的應(yīng)用氬離子拋光儀是一種高精度的表面處理設(shè)備,它通過(guò)氬離子束對(duì)樣品進(jìn)行精密拋光,以揭示樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)。這種技術(shù)在材料科學(xué)、半導(dǎo)體分析、生物醫(yī)學(xué)研究等領(lǐng)域中扮演著至關(guān)重要的角色,尤其是在需要使用高分辨率顯微鏡進(jìn)行觀察的場(chǎng)合。運(yùn)作機(jī)制氬離子拋光技術(shù)基于離子束物理蝕刻原理,對(duì)樣品表面進(jìn)行細(xì)致的拋光處理。這一技術(shù)能夠有效地消除樣品制備過(guò)程
  • 什么是AEC-Q200認(rèn)證?2024-11-26 11:52

    AEC-Q200認(rèn)證是由汽車電子協(xié)會(huì)(AutomotiveElectronicsCouncil,簡(jiǎn)稱AEC)制定的一套標(biāo)準(zhǔn),其目的在于確保汽車電子部件的可靠性和質(zhì)量。AEC是由克萊斯勒、福特和通用汽車等主要汽車制造商與美國(guó)主要部件制造商共同成立的組織,旨在為車載電子部件的可靠性和認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格化提供統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)。在2023年3月20日,AEC發(fā)布了最新的無(wú)源元
  • 利用EBSD技術(shù)精確分析晶粒尺寸與晶界特征2024-11-26 11:51

    晶粒尺寸與晶界特征晶粒作為材料中的基本結(jié)構(gòu)單元,其尺寸和取向?qū)Σ牧系男阅苡兄钸h(yuǎn)的影響。晶粒內(nèi)部的取向相對(duì)一致,而相鄰晶粒之間則存在明顯的取向差異。晶粒尺寸的測(cè)量對(duì)于材料的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用至關(guān)重要,因?yàn)樗苯雨P(guān)系到材料的強(qiáng)度和韌性。EBSD技術(shù)以其高分辨率的晶界成像能力,成為研究晶粒尺寸和晶界特征的首選方法。隨機(jī)顏色顯示晶粒分布圖晶粒尺寸的精確測(cè)量為了獲得晶粒尺寸
    顯微鏡 晶粒 測(cè)量 1007瀏覽量
  • TEM透射電子顯微鏡下的兩種照射模式解析2024-11-26 11:49

    成像原理與應(yīng)用透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope,TEM)是一種利用高能電子束穿透樣品,通過(guò)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)來(lái)獲取樣品的微觀結(jié)構(gòu)信息的儀器。TEM的成像方式主要依賴于電子光源的模式,包括平行光照射模式和匯聚光照射模式。(a)高能電子束與樣品相互作用產(chǎn)生信號(hào)(b)TEM近似平行光路示意圖(c)TEM匯聚束聚
    TEM 顯微鏡 電子束 2319瀏覽量
  • 什么是泄漏電流試驗(yàn)?2024-11-26 11:48

    泄漏電流的概念泄漏電流(leakagecurrent)也叫接觸電流,是指在沒(méi)有故障施加電壓的情況下,電氣中相互絕緣的金屬零件之間,或帶電零件與接地零件之間,通過(guò)其周圍介質(zhì)或絕緣表面所形成的電流。泄漏電流在介質(zhì)中分二個(gè)途徑,一是沿表面流過(guò)的稱表面泄漏電流;二是沿介質(zhì)內(nèi)部流過(guò)的稱體積泄漏電流。二者之和為介質(zhì)的總泄漏電流。泄漏電流試驗(yàn)的意義泄漏電流是發(fā)生在電氣設(shè)備
  • 什么是PCB離子污染?2024-11-26 11:47

    PCB板清潔度的關(guān)鍵作用在現(xiàn)代電子制造領(lǐng)域,隨著技術(shù)的進(jìn)步,電子設(shè)備內(nèi)部的集成度不斷攀升。電路板上的元件布局愈發(fā)緊湊,這不僅對(duì)設(shè)計(jì)和制造工藝提出了更高的要求,同時(shí)也對(duì)電路板的清潔度提出了更為嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)。電路板上的微小離子遷移可能導(dǎo)致嚴(yán)重的功能性故障,因此,確保PCB板的清潔度對(duì)于提升電子產(chǎn)品的可靠性至關(guān)重要。生產(chǎn)過(guò)程中的污染控制在電子產(chǎn)品的制造過(guò)程中,污染源
    pcb PCB 電子制造 964瀏覽量
  • AEC-Q回流焊接2024-11-23 00:54

    再流焊接技術(shù):表面貼裝工藝的核心再流焊接是一種在電子制造領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用的技術(shù),它通過(guò)熔化預(yù)先放置在印刷電路板(PCB)焊盤(pán)上的膏狀焊料,實(shí)現(xiàn)表面貼裝元件與PCB之間的機(jī)械和電氣連接。這一過(guò)程涉及到精確控制溫度,以確保焊料在焊盤(pán)和元件引腳或端接上正確熔化和固化,形成穩(wěn)固的焊點(diǎn)。再流焊溫度曲線的分類再流焊過(guò)程中的溫度管理是至關(guān)重要的,它遵循IPCJ-STD-02
  • 循環(huán)腐蝕試驗(yàn)(CCT):一種評(píng)估材料耐久性的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法2024-11-23 00:53

    鹽霧試驗(yàn)的演變與應(yīng)用鹽霧試驗(yàn)作為評(píng)估材料耐腐蝕性能的重要手段,其發(fā)展歷程體現(xiàn)了對(duì)自然環(huán)境模擬的不斷深入。從最初的恒定鹽霧測(cè)試,到噴霧-干燥循環(huán),再到循環(huán)腐蝕試驗(yàn)(CCT),直至鹽霧紫外線循環(huán)暴露測(cè)試,每一步的發(fā)展都是為了更準(zhǔn)確地模擬戶外環(huán)境對(duì)材料的腐蝕作用。鹽霧紫外線循環(huán)暴露測(cè)試鹽霧紫外線循環(huán)暴露測(cè)試是最新發(fā)展的試驗(yàn)方法,它通過(guò)模擬自然環(huán)境中的紫外線照射和冷
    cct 測(cè)試 706瀏覽量