動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:27

  LED封裝用膠無氯檢測與驗證

  

  LED封裝膠水的關(guān)鍵作用在LED產(chǎn)品的制造過程中，LED封裝膠水發(fā)揮著核心作用，它不僅關(guān)系到光線的傳輸和熱量的釋放，還負(fù)責(zé)保護LED芯片不受外部環(huán)境的侵害。因此，封裝膠水的優(yōu)劣直接決定了LED產(chǎn)品的耐用性和穩(wěn)定性。LED制造商在挑選封裝膠水時，需要基于產(chǎn)品的性能指標(biāo)和實際應(yīng)用環(huán)境，精心選擇能夠滿足LED產(chǎn)品特別需求的膠水。氯含量控制的重要性在LED封裝膠水的

  led LED封裝 檢測

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:22

  高分辨透射電鏡粉末樣品制備技術(shù)解析

  

  透射電子顯微鏡（TEM）簡介透射電子顯微鏡（TEM）能夠通過電子束穿透樣品，揭示材料的微觀世界。這種顯微鏡通過電子與樣品原子的相互作用，捕捉到不同密度和厚度的圖像，從而展現(xiàn)樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)。TEM具備極高的分辨率，達到0.1至0.2納米，并且能夠提供數(shù)萬至百萬倍的放大能力，專門用于觀察小于0.2微米的微觀結(jié)構(gòu)。金鑒實驗室擁有先進的TEM設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團隊，能

  TEM 顯微鏡 電鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:20

  背散射電子衍射（EBSD）的原理與應(yīng)用領(lǐng)域

  

  No.1EBSD從原理到應(yīng)用電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域中扮演著重要角色，特別是在掃描電子顯微鏡（SEM）中，它為研究者提供了一種獲取樣品晶體學(xué)信息的強大工具。EBSD技術(shù)不僅能夠測量晶體取向、分析晶界取向差異，還能鑒別物相和評估局部晶體的完整性。與傳統(tǒng)的金相、投射、XRD、掃描等表征方法相比，EBSD提供了更為豐富和直觀的晶粒取向信息。金鑒

  SEM 顯微鏡 設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:19

  X射線檢測與C-SAM檢測的區(qū)別

  

  在失效分析領(lǐng)域，X射線檢測和超聲波掃描顯微鏡（C-SAM）是兩種重要的無損檢測技術(shù)，它們各自具有獨特的特點和應(yīng)用場景。失效分析技術(shù)對比：X射線檢測（X-RAY）與超聲波掃描顯微鏡（C-SAM）。檢測目標(biāo)的區(qū)分X射線檢測：這種技術(shù)在電子行業(yè)中的應(yīng)用非常廣泛，主要用于檢測印刷電路板（PCB）的焊接質(zhì)量，包括但不限于表面貼裝技術(shù)（SMT）和插件孔技術(shù)（PTH）的組

  X射線 半導(dǎo)體芯片 顯微鏡 檢測

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:17

  AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)中的靜電放電（ESD）測試

  

  什么是靜電放電（ESD）lectro-StaticDischarge，是指在特定環(huán)境下，由于靜電的積累到達一定程度后，電荷以迅速釋放的方式恢復(fù)電平衡的現(xiàn)象。這種放電可能由接觸、摩擦或感應(yīng)等多種方式引發(fā)。ESD的特點是電荷積累時間長、放電電壓高、涉及電量少、電流小且作用時間極短。金鑒實驗室擁有先進的設(shè)備和專業(yè)的團隊，能夠為客戶提供全面的ESD測試服務(wù)，確保電子

  ESD 半導(dǎo)體 靜電放電

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:15

  離子污染評估：揭秘LED燈具中的離子污染測試

  

  離子污染物的定義與影響附著在產(chǎn)品表層、未經(jīng)過徹底清潔處理的殘留物被叫做離子污染物。當(dāng)這些殘留物暴露于潮濕環(huán)境時，它們會轉(zhuǎn)化為帶電的離子。這些殘留物可能來源于多種源頭，包括電鍍所用的化學(xué)藥水、焊接過程中使用的助焊劑、用于清潔產(chǎn)品的溶劑，以及人體接觸時留下的汗液等?？刂齐x子污染的重要性控制離子污染度對于保證電子產(chǎn)品的可靠性至關(guān)重要。殘留的離子污染物在環(huán)境變化時可

  LED燈具 測試 測試儀

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• 發(fā)布了文章 2024-11-04 13:00

  一文帶你了解透過率測量

  

  透過率的定義光透過能力，即透光率，描述的是特定條件下，物體透過的光量與其接收的入射光量之間的比例。在光的傳播過程中，部分光線會被物體吸收，而另一部分則能夠穿透物體，這種透過現(xiàn)象被稱作透光率。金鑒實驗室在這一領(lǐng)域擁有先進的技術(shù)和設(shè)備，能夠為客戶提供精準(zhǔn)的透過率測量服務(wù)，確保測量結(jié)果的可靠性與科學(xué)性。測定透過率的重要意義及其應(yīng)用透光率與物質(zhì)的物理特性緊密相關(guān)，并

  測量 測量系統(tǒng) 透過率

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• 發(fā)布了文章 2024-11-04 12:59

  耐久性測試：氙燈加速老化測試

  

  在自然界中，產(chǎn)品經(jīng)常遭受光照的影響，尤其是太陽光中的紫外線（UV），結(jié)合溫度和濕度的變化，可能導(dǎo)致產(chǎn)品性能下降、表面裂紋、脫落、色澤變暗、變色、粉化等老化現(xiàn)象。光照和濕氣是引起材料老化的兩個主要因素。太陽光中的不同波長對材料的降解作用不同，這與材料對光譜的敏感性有關(guān)，不同材料對光譜的響應(yīng)也不盡相同。氙燈老化試驗?zāi)軌蚰M全陽光光譜，是目前模擬自然氣候條件下材料

  測試 老化測試 耐久性

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• 發(fā)布了文章 2024-11-04 12:57

  氬離子拋光技術(shù)：頁巖電鏡樣品制備的高效解決方案

  

  氬離子拋光技術(shù)：頁巖樣品制備頁巖，這種由高嶺石、水云母等黏土礦物經(jīng)脫水膠結(jié)形成的沉積巖，以其層狀結(jié)構(gòu)而著稱。按成分差異，頁巖可被劃分為炭質(zhì)、鈣質(zhì)、砂質(zhì)和硅質(zhì)等多種類型，其中硅質(zhì)頁巖因其較高的強度而較為特殊。頁巖中的微觀孔隙和裂隙是頁巖氣的重要儲集空間和運移通道，這些孔隙的發(fā)育程度直接決定了頁巖氣的儲量及其勘探開發(fā)潛力?？紫缎螒B(tài)多樣，包括顆粒表面溶蝕孔隙、顆粒

  SEM 機械 電鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-11-04 12:55

  TEM樣品制備中載網(wǎng)的選擇技巧

  

  透射電子顯微鏡（TEM）作為電子顯微學(xué)中的重要設(shè)備，與掃描電子顯微鏡（SEM）并列，構(gòu)成了現(xiàn)代電子顯微學(xué)的兩大支柱。TEM通過電子束穿透樣品來獲取圖像，因此樣品的多個物理特性，如厚度、導(dǎo)電性、磁性和分散性，都對最終的成像結(jié)果有著顯著的影響。在TEM樣品制備過程中，相較于SEM，TEM的制樣技術(shù)更為精細(xì)和復(fù)雜，需要根據(jù)樣品的具體特性來選擇最合適的制樣方法。本文

  TEM 顯微鏡

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