動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2024-11-08 12:29
什么是成分分析？
解析成分分析技術(shù)成分分析技術(shù)涵蓋了多種科學(xué)方法，用于精確地鑒定和測(cè)量產(chǎn)品或樣本中的組成成分，包括它們的定性與定量分析。金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有先進(jìn)的成分分析設(shè)備和專(zhuān)業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，能夠?yàn)榭蛻?hù)提供高質(zhì)量的成分分析服務(wù)，確保產(chǎn)品符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。1.標(biāo)準(zhǔn)符合性檢查：核實(shí)材料是否滿(mǎn)足既定的原材料標(biāo)準(zhǔn)。2.批次一致性驗(yàn)證：確認(rèn)不同生產(chǎn)批次的材料成分是否一致。3.相似材料區(qū)分：識(shí)別外 -
發(fā)布了文章 2024-11-07 11:56
照明產(chǎn)品中常見(jiàn)的EMC測(cè)試項(xiàng)目有哪些
電磁兼容性是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無(wú)法忍受的電磁干擾的能力。除了白熾燈（包括鹵鎢燈在內(nèi)的所有白熾燈）且未裝有調(diào)光裝置或電子開(kāi)關(guān)，無(wú)需進(jìn)行EMC測(cè)試外，其他燈具都需進(jìn)行EMC測(cè)試，其它無(wú)電子裝置的燈具可免做EMS測(cè)試。燈具的EMC測(cè)試項(xiàng)目主要有：傳導(dǎo)騷擾測(cè)試（CE）輻射騷擾測(cè)試（RE）諧波電流測(cè)試（Harmonic） -
發(fā)布了文章 2024-11-07 11:54
EBSD技術(shù)：解析其工作原理、數(shù)據(jù)采集與分辨率能力
EBSD技術(shù)：材料顯微學(xué)的先進(jìn)工具電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是一種在材料科學(xué)領(lǐng)域廣泛應(yīng)用的顯微學(xué)技術(shù)，它通過(guò)分析樣品與高能電子束相互作用時(shí)產(chǎn)生的反射電子的角度和相位差，來(lái)確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等關(guān)鍵特征。EBSD技術(shù)的特點(diǎn)EBSD技術(shù)的核心在于其能夠保留SEM的常規(guī)特點(diǎn)的同時(shí)，利用電子回旋衍射效應(yīng)對(duì)反射電子進(jìn)行衍射分析，從而獲得晶體學(xué)信息。EBSD1.1k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-11-07 11:51
LED光衰現(xiàn)象解析與應(yīng)對(duì)策略
LED光衰現(xiàn)象是LED照明技術(shù)中一個(gè)不可忽視的問(wèn)題，它不僅關(guān)系到LED燈具的亮度維持，還直接影響到產(chǎn)品的使用壽命和經(jīng)濟(jì)效益。LED光衰現(xiàn)象概述LED光衰是指LED在長(zhǎng)時(shí)間工作后，其發(fā)光亮度逐漸降低的現(xiàn)象。這種現(xiàn)象通常與LED的結(jié)溫、材料老化、電流密度、光熱效應(yīng)等因素有關(guān)。光衰不僅影響LED的照明效果，還可能導(dǎo)致燈具提前失效，因此對(duì)LED光衰的研究和控制具有重 -
發(fā)布了文章 2024-11-07 11:50
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發(fā)布了文章 2024-11-07 11:43
燈具揮發(fā)性有機(jī)化合物（VOC）鑒定
揮發(fā)性物質(zhì)概述揮發(fā)性是指化合物從固態(tài)或液態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)闅鈶B(tài)或蒸汽的能力，這一過(guò)程主要受溫度和大氣壓的影響。在材料科學(xué)中，揮發(fā)性物質(zhì)的研究對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量和安全性至關(guān)重要。特別是在LED燈具制造領(lǐng)域，揮發(fā)性物質(zhì)的存在可能會(huì)對(duì)燈具的性能和壽命產(chǎn)生顯著影響。有機(jī)硅在LED封裝中的應(yīng)用有機(jī)硅作為L(zhǎng)ED封裝中廣泛使用的材料，其固化過(guò)程涉及將混合均勻的硅氧烷注入模具，并在特定條件 -
發(fā)布了文章 2024-11-06 14:34
EBSD分析中的荷電效應(yīng)控制：導(dǎo)電鍍膜技術(shù)的應(yīng)用
導(dǎo)電膜技術(shù)的應(yīng)用在電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)的應(yīng)用過(guò)程中，絕緣材料的樣品經(jīng)常會(huì)遇到電荷積聚問(wèn)題，這不僅會(huì)降低圖像質(zhì)量，還會(huì)影響衍射數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。為了有效減少或消除這種電荷積聚效應(yīng)，采取適當(dāng)?shù)念A(yù)防措施是十分必要的。樣品表面處理的要點(diǎn)1.表面平整性：確保樣品表面盡可能地平整，減少因表面不均勻引起的電荷積聚。2.表面精拋光：對(duì)樣品表面進(jìn)行精細(xì)拋光，以降低由于表 -
發(fā)布了文章 2024-11-06 14:33
什么是AEC-Q102的恒定加速度測(cè)試？
恒定加速度測(cè)試是一種關(guān)鍵的實(shí)驗(yàn)性方法，用于評(píng)估電子元件在模擬高速動(dòng)態(tài)條件下的性能。這種測(cè)試通過(guò)施加恒定的加速度來(lái)評(píng)估元件的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度和機(jī)械穩(wěn)定性，旨在揭示那些在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試中可能未被發(fā)現(xiàn)的潛在缺陷。這對(duì)于確保電子設(shè)備在關(guān)鍵應(yīng)用中的可靠性和安全性至關(guān)重要。測(cè)試機(jī)制恒定加速度測(cè)試模擬了電子元件在實(shí)際使用中可能遇到的離心力影響。在受控環(huán)境中，對(duì)元件施加恒定的加速度，以模 -
發(fā)布了文章 2024-11-06 14:31
三防測(cè)試：揭秘電子產(chǎn)品的可靠性檢測(cè)
什么是三防測(cè)試？在電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中，確保其能夠在各種惡劣環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行是至關(guān)重要的。三防試驗(yàn)，包括濕熱試驗(yàn)、霉菌試驗(yàn)和鹽霧試驗(yàn)，正是為了模擬這些極端條件而設(shè)計(jì)的，用以評(píng)估電子產(chǎn)品的環(huán)境耐受性。這些測(cè)試對(duì)于保證產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要，尤其是在要求極高的軍事和航空航天領(lǐng)域。三防試驗(yàn)的詳細(xì)實(shí)施方法1.濕熱試驗(yàn)：該試驗(yàn)用于評(píng)估電工、電1.1k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-11-06 14:29
透射電子顯微鏡（TEM）：基礎(chǔ)知識(shí)概覽
透射電子顯微鏡（TEM）概述透射電子顯微鏡（TEM）是材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中不可或缺的研究工具。對(duì)于新接觸TEM的科研人員而言，理解其基礎(chǔ)原理和操作對(duì)于高效利用這一設(shè)備至關(guān)重要。本文將詳細(xì)介紹TEM的基礎(chǔ)知識(shí)，以幫助新手快速掌握這一技術(shù)。TEM檢測(cè)的關(guān)鍵點(diǎn)TEM檢測(cè)主要關(guān)注材料的微觀結(jié)構(gòu)特征，包括元素分布、相組成、晶體缺陷等。這些特征在微觀層面上表現(xiàn)為不
