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標(biāo)簽 > 芯片封裝
安裝半導(dǎo)體集成電路芯片用的外殼,起著安放、固定、密封、保護(hù)芯片和增強(qiáng)電熱性能的作用,而且還是溝通芯片內(nèi)部世界與外部電路的橋梁——芯片上的接點(diǎn)用導(dǎo)線連接到封裝外殼的引腳上,這些引腳又通過(guò)印制板上的導(dǎo)線與其他器件建立連接。
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QFP(Plastic Quad Flat Package)封裝的芯片引腳之間距離很小,管腳很細(xì),一般大規(guī)?;虺笮图呻娐范疾捎眠@種封裝形式,其引腳數(shù)...
同一個(gè)芯片的不同封裝可能是為了滿足不同的應(yīng)用需求和設(shè)計(jì)要求。不同的封裝可以影響芯片的功耗、散熱性能、引腳數(shù)量和布局等方面。
2023-12-18 標(biāo)簽:芯片封裝 1598 0
深入了解臺(tái)積電先進(jìn)封裝技術(shù)—3DFabric
進(jìn)入2010年代后,線寬接近原子的尺寸,微細(xì)化的速度開(kāi)始放緩;隨著前沿制造技術(shù)的使用成本越來(lái)越高,設(shè)計(jì)方法正在轉(zhuǎn)向多芯片模塊。
其利天下技術(shù)開(kāi)發(fā)|目前先進(jìn)的芯片封裝工藝有哪些
先進(jìn)封裝是“超越摩爾”(MorethanMoore)時(shí)代的一大技術(shù)亮點(diǎn)。當(dāng)芯片在每個(gè)工藝節(jié)點(diǎn)上的微縮越來(lái)越困難、也越來(lái)越昂貴之際,工程師們將多個(gè)芯片放入...
2025-01-07 標(biāo)簽:芯片3D芯片封裝技術(shù) 1556 0
SymCool IQ智能電源模塊增加針對(duì)雙向操作優(yōu)化的集成智能驅(qū)動(dòng)器
SymCool? IQ 智能電源模塊基于 B-TRAN? 多芯片封裝設(shè)計(jì),增加了一個(gè)針對(duì)雙向操作優(yōu)化的集成智能驅(qū)動(dòng)器。 SymCool IQ智能電源模塊...
2023-10-13 標(biāo)簽:電源模塊芯片封裝智能驅(qū)動(dòng)器 1556 0
Hello,大家好,今天我們來(lái)分享下什么是芯片封裝中的FOPLP工藝, 受益于消費(fèi)電子、5G、汽車電子、IoT 等需求拉動(dòng),全球半導(dǎo)體材料市場(chǎng)行業(yè)規(guī)模整...
underfill工藝常見(jiàn)問(wèn)題及解決方案
underfill工藝常見(jiàn)問(wèn)題及解決方案Underfill工藝是一種集成電路封裝工藝,用于在倒裝芯片邊緣點(diǎn)涂環(huán)氧樹(shù)脂膠水,通過(guò)“毛細(xì)管效應(yīng)”完成底部填充...
半導(dǎo)體封裝是半導(dǎo)體器件制造過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié),旨在保護(hù)芯片免受外界環(huán)境的影響,同時(shí)實(shí)現(xiàn)芯片與外部電路的連接。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷發(fā)展,封裝技術(shù)也在不斷...
2025-02-02 標(biāo)簽:BGA半導(dǎo)體封裝芯片封裝 1535 0
底部填充料在集成電路倒裝芯片封裝中扮演著關(guān)鍵的角色。在先進(jìn)封裝技術(shù)中,底部填充料被用于多種目的,包括緩解芯片、互連材料(焊球)和基板之間熱膨脹系數(shù)不匹配...
壓力傳感器芯片封裝是傳感器制造過(guò)程中的關(guān)鍵步驟之一,它直接影響到傳感器的性能、穩(wěn)定性和可靠性。在封裝過(guò)程中,選擇合適的膠粘劑對(duì)于確保傳感器芯片的長(zhǎng)期穩(wěn)定...
2024-06-19 標(biāo)簽:壓力傳感器芯片封裝工業(yè)自動(dòng)化 1507 0
Cadence解決方案助力高性能傳感器封裝設(shè)計(jì)
在技術(shù)和連通性主宰一切的時(shí)代,電子和機(jī)械設(shè)計(jì)的融合將徹底改變用戶體驗(yàn)。獨(dú)立開(kāi)發(fā)器件的時(shí)代已經(jīng)過(guò)去;市場(chǎng)對(duì)創(chuàng)新、互聯(lián)產(chǎn)品的需求推動(dòng)了業(yè)內(nèi)對(duì)協(xié)作方法的需求。
在測(cè)試準(zhǔn)備階段,需要對(duì)測(cè)試環(huán)境、測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試設(shè)備進(jìn)行準(zhǔn)備。同時(shí)需要對(duì)測(cè)試方案進(jìn)行評(píng)估和修訂,以確保測(cè)試方案的合理性和可行性。此外,還需要確定測(cè)試的目標(biāo)...
基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法
本文主要設(shè)計(jì)了用于封裝可靠性測(cè)試的菊花鏈結(jié)構(gòu),研究了基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法,針對(duì)芯片偏移、RDL 分層兩個(gè)主要失效問(wèn)題進(jìn)行了相應(yīng)的工藝...
封裝設(shè)計(jì)是集成電路(IC)生產(chǎn)過(guò)程中至關(guān)重要的一環(huán),它決定了芯片的功能性、可靠性和制造工藝。1.封裝設(shè)計(jì)的總體目標(biāo)封裝設(shè)計(jì)的主要目標(biāo)是為芯片提供機(jī)械保護(hù)...
2025-03-14 標(biāo)簽:集成電路芯片封裝封裝設(shè)計(jì) 1362 0
扇出型封裝結(jié)構(gòu)可靠性試驗(yàn)方法及驗(yàn)證
基于可靠性試驗(yàn)所用的菊花鏈測(cè)試結(jié)構(gòu),對(duì)所設(shè)計(jì)的扇出型封裝結(jié)構(gòu)進(jìn)行了完整的菊花鏈芯片制造及后道組裝工藝制造,并對(duì)不同批次、不同工藝參數(shù)條件下的封裝樣品進(jìn)行...
2023-10-08 標(biāo)簽:芯片封裝光譜儀EMC設(shè)計(jì) 1333 0
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