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標(biāo)簽 > 芯片封裝
安裝半導(dǎo)體集成電路芯片用的外殼,起著安放、固定、密封、保護(hù)芯片和增強(qiáng)電熱性能的作用,而且還是溝通芯片內(nèi)部世界與外部電路的橋梁——芯片上的接點(diǎn)用導(dǎo)線連接到封裝外殼的引腳上,這些引腳又通過印制板上的導(dǎo)線與其他器件建立連接。
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本文提出了一種基于MEMS工藝的LED芯片封裝技術(shù),利用Tracepro軟件仿真分析了反射腔的結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)LED光強(qiáng)的影響,通過分析指出。利用各向異性腐蝕...
先進(jìn)半導(dǎo)體封裝技術(shù)的革新與演進(jìn)之路
基于熱壓鍵合(TCB)工藝的微泵技術(shù)已經(jīng)比較成熟,在各種產(chǎn)品中都一直在用。其技術(shù)路線在于不斷擴(kuò)大凸點(diǎn)間距。
2024-03-04 標(biāo)簽:處理器gpu半導(dǎo)體封裝 2032 0
封裝中的RDL(Redistribution Layer,重分布層)是集成電路封裝設(shè)計(jì)中的一個(gè)重要層次,主要用于實(shí)現(xiàn)芯片內(nèi)電氣連接的重新分配,并且在封裝...
2025-03-04 標(biāo)簽:集成電路芯片封裝封裝設(shè)計(jì) 2005 0
芯片設(shè)計(jì)流程有哪幾部分組成 5g芯片設(shè)計(jì)難點(diǎn)有哪些
5G通信技術(shù)要求支持更高的頻段和更大的帶寬,以實(shí)現(xiàn)更快的數(shù)據(jù)傳輸速度和更低的延遲。因此,5G芯片的設(shè)計(jì)更加復(fù)雜,需要處理更多的信號(hào)處理任務(wù)和更高的計(jì)算量。
2023-09-08 標(biāo)簽:芯片設(shè)計(jì)芯片封裝5G芯片 1981 0
根據(jù)電路拓?fù)浜凸ぷ鳁l件,兩個(gè)芯片之間的功率損耗可能會(huì)有很大差異。IGBT 的損耗可以分解為導(dǎo)通損耗和開關(guān)(開通和關(guān)斷)損耗,而二極管損耗包括導(dǎo)通和關(guān)斷損...
封裝技術(shù)在負(fù)載開關(guān)中的應(yīng)用
從智能手機(jī)到汽車,消費(fèi)者要求將更多功能封裝到越來越小的產(chǎn)品中。為了幫助實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo),TI 優(yōu)化了其半導(dǎo)體器件(包括用于子系統(tǒng)控制和電源時(shí)序的負(fù)載開關(guān))的...
2022-04-27 標(biāo)簽:ti晶圓負(fù)載開關(guān) 1962 0
芯片封裝技術(shù)的流程及其優(yōu)勢(shì)解析
凸點(diǎn)金屬化是為了將半導(dǎo)體中P-N結(jié)的性能引出,其中熱壓倒裝芯片連接最合適的凸點(diǎn)材料是金,凸點(diǎn)可以通過傳統(tǒng)的電解鍍金方法生成,或者采用釘頭凸點(diǎn)方法,后者就...
高功率半導(dǎo)體激光器的散熱秘籍:過渡熱沉封裝技術(shù)揭秘
高功率半導(dǎo)體激光器在現(xiàn)代科技領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色,其廣泛應(yīng)用于工業(yè)加工、信息通信、醫(yī)療、生命科學(xué)等領(lǐng)域。然而,隨著輸出功率的不斷增加,高功率半導(dǎo)體激...
超過50%的PCB元器件焊點(diǎn)缺陷可追溯到不正確或次優(yōu)的焊膏印刷。雖然良好的錫膏印刷習(xí)慣通常在小批量時(shí)就已足夠,但對(duì)于大批量印刷,應(yīng)仔細(xì)考慮錫膏檢查(SPI)。
芯片封裝的目的在于對(duì)芯片進(jìn)行保護(hù)與支撐作用、形成良好的散熱與隔絕層、保證芯片的可靠性,使其在應(yīng)用過程中高效穩(wěn)定地發(fā)揮功效。
2023-04-23 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)TAB芯片封裝 1865 0
由于中間GND焊盤比較大,全開窗的情況下焊錫會(huì)比較多,有概率導(dǎo)致焊錫聚集從而是芯片凸起來導(dǎo)致其他引腳虛焊,目前我們也已經(jīng)遇到了幾家客戶出現(xiàn)過這種原因?qū)е?..
單獨(dú)切割的芯片首先,需要將晶圓分離成單獨(dú)的芯片。一個(gè)晶圓包含數(shù)百個(gè)芯片,每個(gè)芯片都用劃線標(biāo)出。石劃片機(jī)用于沿著這些劃線切割晶圓。
2023-03-16 標(biāo)簽:集成電路芯片封裝半導(dǎo)體芯片 1781 0
芯片封裝內(nèi)MLCC的特點(diǎn)及應(yīng)用
“超微型”是芯片內(nèi)封裝MLCC的主要特點(diǎn),01005/008004尺寸MLCC,超小體積、超薄高度的特點(diǎn),非常適合芯片內(nèi)空間小的場(chǎng)景。
什么是可測(cè)試性設(shè)計(jì) 可測(cè)試性評(píng)估詳解
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)之可測(cè)試性評(píng)估詳解 可測(cè)試性設(shè)計(jì)的定性標(biāo)準(zhǔn): 測(cè)試費(fèi)用: 一測(cè)試生成時(shí)間 -測(cè)試申請(qǐng)時(shí)間 -故障覆蓋 一測(cè)試存儲(chǔ)成本(測(cè)...
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