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金屬氧化物可靠性測試SEM分析
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提升開關(guān)電源可靠性：全面了解測試項目與標準
開關(guān)電源可靠性測試是檢測開關(guān)電源質(zhì)量、穩(wěn)定性和質(zhì)量的重要手段。可靠性測試也是開關(guān)電源測試的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，以此評估開關(guān)電源的性能和使用壽命。
2024-03-21 15:50:27
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83通用互補金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 多路復(fù)用器TMUX1208和TMUX1209數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 17:27:10
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0具有閂鎖效應(yīng)抑制特性的互補金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)開關(guān)TMUX722x數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 13:49:530
0現(xiàn)代互補金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 模擬多路復(fù)用TMUX734xF數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 11:27:500
0現(xiàn)代互補金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 模擬多路復(fù)用器TMUX7308F和TMUX7309F數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 11:14:040
0具有閂鎖效應(yīng)抑制特性的互補金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 開關(guān)TMUX7219M數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 11:12:390
0互補金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 多路復(fù)用器TMUX4827數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 10:57:050
0具有閂鎖效應(yīng)抑制特性的互補金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 開關(guān)TMUX7236數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 10:56:000
0板卡壽命評估與可靠性提升
檢測l 板卡電性能測試及壽命特征分析l 板卡壽命及加速壽命試驗l 板卡失效分析l 板卡可靠性提升相關(guān)資質(zhì)CNAS服務(wù)
2024-03-15 17:27:02
動車壽命評估與可靠性提升
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可靠性測試中,如何減少HCI和電遷移的測試時間？
許多可靠性“磨損”測試監(jiān)測的是一個性能參數(shù)，該參數(shù)隨著對數(shù)變化的時間長度而穩(wěn)步下降。
2024-03-13 14:28:37316
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金屬陶瓷膠黏劑封裝工藝及可靠性研究
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2024-03-05 08:40:3566
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SEM/EDS能解決什么問題？我們可以從以下4方面進行分類：
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Littelfuse宣布推出SM10金屬氧化物壓敏電阻系列
Littelfuse 宣布推出SM10壓敏電阻系列，這是一款革命性的金屬氧化物壓敏電阻 (MOV)，旨在為汽車電子器件、電動汽車 (EV) 以及其他各類應(yīng)用提供卓越的瞬態(tài)浪涌保護。
2024-02-20 09:51:23257
257HI-3182PSTF-N金屬氧化物半導(dǎo)體器件
HI-3182PSX-N、HI-3182PSX-N, HI-3184PSX-N and HI-3185PSX-N總線接口產(chǎn)品是根據(jù)ARINC 429總線規(guī)范設(shè)計的硅柵互補式金屬氧化物半導(dǎo)體器件。除了
2024-02-19 10:30:40
HI-8585PSIF 互補式金屬氧化物半導(dǎo)體集成電路
和0伏零?；パa式金屬氧化物半導(dǎo)體/TTL控制輸入被轉(zhuǎn)換為ARINC指定的幅度。提供一個邏輯輸入來控制差分輸出信號的斜率。定時由片上電阻和電容器設(shè)置，并測試為符合AR
2024-02-19 09:26:34
結(jié)型場效應(yīng)管和金屬氧化物場效應(yīng)管的分類
，即使不加?xùn)旁措妷海矔纬煞葱蛯雍蛯?dǎo)電溝道，在此基礎(chǔ)上加負向電壓溝道電阻變小，加正向電壓導(dǎo)電溝道變小，而且正向電壓減小到一定程度反型層消失導(dǎo)電溝道消失。
場效應(yīng)管分為結(jié)型場效應(yīng)管和金屬氧化物場效應(yīng)管
2024-01-30 11:38:27
可靠性測試中HALT實驗與HASS實驗的區(qū)別
電子產(chǎn)品高加速壽命測試HALT、高加速應(yīng)力篩選測試HASS，都是可靠性測試的方法，用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢，跟隨本文來一起了解。
2024-01-30 10:25:44206
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功率半導(dǎo)體模塊,封裝可靠性試驗-功率循環(huán)測試
封裝可靠性最重要的可靠性測試，也是進行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。服務(wù)范圍車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計產(chǎn)品。檢測標準● DINENISO/
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標準。安森美(onsemi)作為一家半導(dǎo)體供應(yīng)商，為高要求的應(yīng)用提供能在惡劣環(huán)境下運行的產(chǎn)品，且這些產(chǎn)品達到了高品質(zhì)和高可靠性。之前我們分享了如何對IGBT進行可靠性測試，今天我們來介紹如何通過可靠性審核程序確保IGBT的產(chǎn)品可靠性。
2024-01-25 10:21:16997
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IGBT的可靠性測試方案
在當今的半導(dǎo)體市場，公司成功的兩個重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的，可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營，必須確保產(chǎn)品達到或超過基本的質(zhì)量標準和可靠性
2024-01-17 09:56:32448
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半導(dǎo)體封裝的可靠性測試及標準介紹
本文將介紹半導(dǎo)體的可靠性測試及標準。除了詳細介紹如何評估和制定相關(guān)標準以外，還將介紹針對半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性，及機械可靠性等評估方法。 什么是產(chǎn)品可靠性？ 半導(dǎo)體
2024-01-13 10:24:17712
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食品包裝用氧化物阻隔透明塑料復(fù)合膜水蒸氣透過率測試儀
食品包裝用氧化物阻隔透明塑料復(fù)合膜水蒸氣透過率測試儀產(chǎn)品簡介WVTR-C6水蒸氣透過率測試系統(tǒng)，專業(yè)、高效、智能的WVTR高端測試系統(tǒng)，適用于塑料薄膜、復(fù)合膜等膜、醫(yī)療、建筑領(lǐng)域等多種材料的水蒸氣
2024-01-05 16:32:43
3300V SiC MOSFET柵氧可靠性研究
摘要： 碳化硅 SiC功率器件因其卓越的材料性能，表現(xiàn)出巨大的應(yīng)用前景，其中金屬-氧化物-場效應(yīng)晶體管 MOSFET是最重要的器件。3300 V SiC MOSFET 可應(yīng)用于軌道交通和智能電網(wǎng)
2024-01-04 09:41:54599
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廣立微推出全新晶圓級可靠性測試設(shè)備
杭州廣立微電子股份有限公司近日推出了一款全新的晶圓級可靠性（Wafer Level Reliability WLR）測試設(shè)備，該設(shè)備具備智能并行測試功能，能夠顯著縮短測試時間，提高工作效率。
2023-12-28 15:02:23362
362什么是汽車整車可靠性測試？
當今競爭激烈的汽車市場中，汽車的品質(zhì)和可靠性已成為消費者選擇的重要標準。通過整車可靠性測試，汽車制造商可以確保他們的產(chǎn)品在各種極端條件下都能表現(xiàn)出色，從而贏得消費者的信任和滿意度。
此外，整車
2023-12-22 17:16:20357
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船舶產(chǎn)品可靠性測試：保障海上航行的安全之錨
在進行船舶產(chǎn)品可靠性測試之前，需要進行了充分的準備工作。需要準備各種先進的測試設(shè)備和儀器。得以模擬真實使用環(huán)境中的條件，如溫度、濕度、壓力等，以確保測試的準確性和可靠性。
2023-12-22 17:14:28153
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半導(dǎo)體可靠性測試項目有哪些
半導(dǎo)體可靠性測試主要是為了評估半導(dǎo)體器件在實際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測試項目包括多種測試方法和技術(shù)，以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測試的詳細
2023-12-20 17:09:04696
696三環(huán)阻燃型小型金屬氧化膜固定電阻器
阻燃型小型金屬氧化膜固定電阻器以高溫燒結(jié)導(dǎo)電膜技術(shù)為基礎(chǔ)，通過在氧化鋁陶瓷基體表面精心燒結(jié)導(dǎo)電膜層，經(jīng)過一系列精密工藝步驟制造而成。在制程中，經(jīng)過壓帽分選、刻槽定值、焊接引出線、涂覆阻燃性外封漆以及標識色碼等工藝步驟，確保產(chǎn)品具備卓越的性能和可靠性。
2023-12-18 17:15:38133
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SD NAND?可靠性驗證測試
SDNAND可靠性驗證測試的重要性SDNAND可靠性驗證測試至關(guān)重要。通過檢驗數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽命、性能穩(wěn)定性，確保產(chǎn)品符合標準，可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽，減少維修成本，確保
2023-12-14 14:29:34164
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電源模塊測試分享之電源可靠性測試方法
可靠性測試是電源模塊測試的一項重要測試內(nèi)容，是檢測電源模塊穩(wěn)定性、運行狀況的重要測試方法。隨著對電源模塊的測試要求越來越高，用電源模塊測試系統(tǒng)測試電源模塊可以提高測試效率，確保測試結(jié)果可靠性，滿足測試要求。
2023-12-13 15:36:36384
384【科普小貼士】金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管（MOSFET）
【科普小貼士】金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管（MOSFET）
2023-12-13 14:22:41260
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廣立微推出晶圓級可靠性測試設(shè)備
近日，杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了晶圓級可靠性（Wafer Level Reliability WLR）測試設(shè)備。該產(chǎn)品支持智能并行測試，可大幅度縮短WLR的測試時間。同時，可以結(jié)合廣立微提供的定制化軟件系統(tǒng)來提升用戶工作效率。
2023-12-07 11:47:37434
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振弦采集儀在安全監(jiān)測中的可靠性與精度分析
振弦采集儀在安全監(jiān)測中的可靠性與精度分析 振弦采集儀在土體與巖體監(jiān)測中是一種常見的監(jiān)測手段，它可以通過采集巖體或土體振動信號來判斷其穩(wěn)定性和變形情況。在實際應(yīng)用中，振弦采集儀的可靠性和精度是極為重要
2023-12-06 13:31:33155
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振弦采集儀在土體與巖體監(jiān)測中的可靠性與精度分析
振弦采集儀在土體與巖體監(jiān)測中的可靠性與精度分析 振弦采集儀是一種用于土體和巖體監(jiān)測的重要設(shè)備，它可以通過測量振動信號來獲取土體或巖體的力學(xué)參數(shù)，如應(yīng)力、應(yīng)變、彈性模量等。而振弦采集儀的可靠性和精度
2023-12-06 13:27:26122
122淺談車規(guī)級芯片的可靠性測試方法
加速環(huán)境應(yīng)力可靠性測試：需要對芯片進行加速環(huán)境應(yīng)力測試，模擬高溫、低溫、濕熱和溫度循環(huán)等極端環(huán)境條件。這些測試旨在評估芯片在極端溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
2023-12-05 14:05:28565
565提高PCB設(shè)備可靠性的技術(shù)措施
可靠、工藝成熟、先進。
電路、結(jié)構(gòu)設(shè)計中，應(yīng)盡量減少接插件、金屬化孔的數(shù)量，電路器件和芯片盡量采用直接在印制板上焊接的方法，選用表面貼裝器件，采用表面貼裝技術(shù)，以避免接觸不良，確保設(shè)備的可靠性
2023-11-22 06:29:05
如何提升基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)的可靠性？
如何提升基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)的可靠性？ 基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)可靠性是關(guān)乎設(shè)備穩(wěn)定運行的重要因素。為了提高可靠性，我們可以從設(shè)計、選型、制造、測試和維護等方面進行優(yōu)化和改進。以下是一些
2023-11-17 14:35:58323
323淺談通信設(shè)備用光電子器件可靠性測試標準（下）
器件可靠性驗證是GR-468最重要的一個項目，標準對光電子器件可靠性試驗的執(zhí)行程序與主要項目（測試項，試驗條件，樣本量等）進行了說明。主要測試內(nèi)容分為器件性能測試、器件應(yīng)力測試和器件加速老化測試。
2023-11-10 17:47:27628
628半導(dǎo)體可靠性測試有哪些測試項目？測試方法是什么？
可靠性測試是半導(dǎo)體器件測試的一項重要測試內(nèi)容，確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性，保證其在各類環(huán)境長時間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測試項目眾多，測試方法多樣，常見的有高低溫測試、熱阻測試、機械沖擊測試、引線鍵合強度測試等。
2023-11-09 15:57:52748
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芯片的老化試驗及可靠性如何測試？
芯片的老化試驗及可靠性如何測試？ 芯片的老化試驗及可靠性測試是評估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗旨在模擬芯片在長期使用過程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細
2023-11-09 09:12:011120
1120基于金屬氧化物的一氧化碳傳感器的挑戰(zhàn)與發(fā)展
的氣敏材料十分豐富，其中金屬氧化物敏感材料由于其良好的電學(xué)、光學(xué)以及傳感特性被廣泛應(yīng)用。氣體傳感器性能的改進主要依托于敏感材料的形貌修飾以及不同材料之間的摻雜與復(fù)合，以起到“1+1>2”的作用，使之具備更優(yōu)異的靈敏度和選擇
2023-11-06 09:04:36573
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請問機械溫控開關(guān)的可靠性有多少？
機械溫控開關(guān)的可靠性有多少？我看溫控開關(guān)的體積很小，價格便宜，可以用于一些溫度控制方面，不過可靠性有多少呢？
2023-10-31 06:37:26
電子產(chǎn)品的生命之源：可靠性測試的力量
半導(dǎo)體器件可靠性測試指的是評估半導(dǎo)體器件在不同工作條件下的長期穩(wěn)定性和可靠性的一系列測試和分析方法。這些測試旨在確保半導(dǎo)體器件在其設(shè)計壽命內(nèi)能夠正常運行，不會出現(xiàn)意外故障，從而滿足用戶和應(yīng)用的需求
2023-10-25 09:19:15635
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什么是可靠性測試？智能鑰匙的可靠性測試
智能鑰匙是一種新型的智能家居設(shè)備，它使你可以通過手機或者其他智能設(shè)備輕松地控制你的房門、車門、辦公室等入口。智能鑰匙可以提供更加便捷、安全和智能化的操作方式，但是這種設(shè)備并非完美無缺，它也面臨著一些風險和缺陷，需要經(jīng)過可靠性測試，確保它能夠可靠地運行。
2023-10-17 14:07:57239
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電子元器件測試軟件助力可靠性測試，保證器件性能和質(zhì)量
電子元器件可靠性測試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個重要測試項目，同時也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見的可靠性測試項目有機械沖擊測試、高溫存儲測試、溫度循壞測試、引線鍵合強度測試等。
2023-10-11 14:49:05350
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以創(chuàng)新研發(fā)引領(lǐng)未來 金屬氧化物面板技術(shù)引領(lǐng)行業(yè)新潮流
華映科技擁有自主研發(fā)的金屬氧化物面板技術(shù)，這是目前國內(nèi)領(lǐng)先的氧化物器件技術(shù)。這種技術(shù)的突破，使得華映科技在全球顯示行業(yè)的地位日益提升。2023年，公司的一款12.6寸金屬氧化物2.5K高刷高靈敏臻彩屏，在第十一屆中國電子信息博覽會上榮獲了顯示創(chuàng)新獎。
2023-10-10 16:57:09456
456扇出型封裝結(jié)構(gòu)可靠性試驗方法及驗證
基于可靠性試驗所用的菊花鏈測試結(jié)構(gòu)，對所設(shè)計的扇出型封裝結(jié)構(gòu)進行了完整的菊花鏈芯片制造及后道組裝工藝制造，并對不同批次、不同工藝參數(shù)條件下的封裝樣品進行電學(xué)測試表征、可靠性測試和失效樣品分析。
2023-10-08 10:18:15217
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電流探頭的可靠性驗證
電流探頭是一種用于測量電路中電流的設(shè)備，通常與萬用表或示波器一起使用。它是一個重要的測試工具，因此必須進行驗證以確保其可靠性。
2023-09-22 10:53:07242
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振動試驗 環(huán)境可靠性測試
服務(wù)內(nèi)容廣電計量是國內(nèi)振動試驗?zāi)芰^完善的權(quán)威檢測認證服務(wù)機構(gòu)之一，配備了（1~35）噸不同推力的振動臺，可滿足不同尺寸、重量的樣品的振動測試需求。服務(wù)范圍本商品可提供針對家用電器、汽車零部件、線束
2023-09-21 16:52:00
功率器件可靠性試驗測試項目
龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實驗中心，專注于產(chǎn)品設(shè)計驗證、參數(shù)檢測、可靠性驗證、失效分析及應(yīng)用評估，公司參考半導(dǎo)體行業(yè)可靠性試驗條件和抽樣原則，制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對產(chǎn)品進行完整可靠性驗證。
2023-09-20 16:29:21808
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硬件IIC與軟件IIC在使用上的區(qū)別，對產(chǎn)品可靠性與效率的影響？
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龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實驗中心
? 走進龍騰實驗室 功率器件可靠性試驗測試項目系列專題（一） ? 可靠性實驗室介紹 ? 龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實驗中心，專注于產(chǎn)品設(shè)計驗證、參數(shù)檢測、可靠性驗證、失效分析及應(yīng)用評估，公司
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110kV金屬氧化物避雷器的停電預(yù)防性試驗（MOA的結(jié)構(gòu)原理）
本課程介紹了110kV金屬氧化物避雷器的停電預(yù)防性試驗。首先介紹了MOA的結(jié)構(gòu)原理及M0A預(yù)防目的意義。
在電力線上如安裝氧化鋅避雷器后，當雷擊時，雷電波的高電壓使壓敏電阻擊穿，雷電流通過壓敏電阻流入大地，使電源線上的電壓控制在安全范圍內(nèi)，從而保護了電器設(shè)備的安全。
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石墨烯負載金屬氧化物催化劑的制備方法
石墨烯作為一種特殊的二維材料，具有高導(dǎo)電性、 高比表面積以及優(yōu)異的化學(xué)和機械穩(wěn)定性，金屬氧化物納米顆粒與石墨烯結(jié)合制備獲得的復(fù)合催化劑材料，可增強催化劑體系的導(dǎo)電性、分散性、ORR活性以及穩(wěn)定性
2023-08-11 10:45:39364
364可靠性證明測試：高度加速壽命測試
壽命測試是一種重要的可靠性測試方法，用于評估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預(yù)期或指定的使用壽命條件下的性能和可靠性。壽命測試旨在模擬實際應(yīng)用環(huán)境中物品所面臨的各種因素和應(yīng)力，例如時間、溫度、振動、沖擊、電壓等，并通過持續(xù)的測試和監(jiān)測來觀察物品在這些條件下的行為。
2023-08-01 16:31:20505
505半導(dǎo)體可靠性測試有哪些
在半導(dǎo)體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會轉(zhuǎn)移觀察時間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱為“降額”。那么半導(dǎo)體可靠性測試有哪些？讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:182548
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詳細的理解可靠性分配
總之，可靠性分配是一種有助于理解復(fù)雜系統(tǒng)可靠性的方法。通過將系統(tǒng)分解為更小的組件，并為每個組件分配可靠性指標，可以進行更詳細和全面的可靠性分析，從而提高系統(tǒng)的可靠性和性能。
2023-07-11 10:48:01810
810嵌入式軟件可靠性設(shè)計
設(shè)備的可靠性涉及多個方面：穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴格的測試以及市場和時間的檢驗等等。
2023-07-11 10:09:32213
213電子產(chǎn)品常規(guī)的可靠性測試項目有哪些？
和儲存的環(huán)境條件下的性能，并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機理。191-0751-6775陳S 常規(guī)的可靠性測試項目如下： 1、氣候環(huán)境測試：高溫測試、低溫測試、溫濕度循環(huán)/恒定濕熱測試、冷熱沖擊測試、快速溫變測試、低氣壓測試、
2023-07-04 14:30:441184
1184車規(guī)級功率器件可靠性測試難點及應(yīng)用場景
車規(guī)級功率器件未來發(fā)展趨勢
材料方面: SiC和GaN是必然趨勢，GaAs在細分領(lǐng)域有可能
●封裝方面:高功率密度、高可靠性和定制化
●評測方面:多應(yīng)力綜合測試方法、新型結(jié)溫測試方法和技術(shù)
●進展方面:國產(chǎn)在趕超進口(參數(shù)和性能)，可靠性還需要時間沉淀
2023-07-04 10:48:05415
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華秋干貨鋪：PCB板表面如何處理提高可靠性設(shè)計
PCB板為什么要做表面處理？
由于PCB上的銅層很容易被氧化，因此生成的銅氧化層會嚴重降低焊接質(zhì)量，從而降低最終產(chǎn)品的可靠性和有效性，為了避免這種情況的發(fā)生，需要對PCB進行表面處理。
常見的表面
2023-06-25 11:17:44
PCB板表面如何處理提高可靠性設(shè)計
PCB板為什么要做表面處理？
由于PCB上的銅層很容易被氧化，因此生成的銅氧化層會嚴重降低焊接質(zhì)量，從而降低最終產(chǎn)品的可靠性和有效性，為了避免這種情況的發(fā)生，需要對PCB進行表面處理。
常見的表面
2023-06-25 10:37:54
液氮恒溫器在氧化物界面的新應(yīng)用
? 錦正茂的液氮恒溫器在氧化物界面處的二維電子體系（2DES）做為一個獨特的平臺，將典型復(fù)合氧化物、強電子相關(guān)的低溫物理特性以及由2DES有限厚度引起的量子限域集成于一體。
2023-06-19 11:14:56204
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宏展 Lab Companion 可靠性雙85試驗
為溫度85℃，且濕度為85%的條件下，對試驗體進行老化測試，也就是嚴酷的環(huán)境可靠性試驗，比較常用的測試時間為1000小時，主要檢驗產(chǎn)品在高溫高濕的惡劣環(huán)境下所能承
2023-06-12 16:52:50456
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軍用電子元器件二篩，進口元器件可靠性篩選試驗
軍用電子元器件二篩，二次篩選試驗，進口元器件可靠性篩選試驗
按性質(zhì)分類：
（1）檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
（2）密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22
如何提高芯片測試準確性和可靠性老化座
芯片測試治具是一種用于芯片測試的實驗室設(shè)備，可以實現(xiàn)芯片的功能測試、參數(shù)測試和性能測試，它可以幫助電子工程師驗證芯片的性能和可靠性，實現(xiàn)芯片的精確測試和優(yōu)化。
2023-05-30 15:26:25453
453汽車零部件環(huán)境可靠性實驗室及電磁兼容EMC測試機構(gòu)
試驗，電壓暫降測試，騷擾功率試驗，電磁抗擾試驗室，射頻測試，電磁場輻射試驗，抗繞度試驗，電瞬態(tài)干擾試驗，插入損耗試驗等。
可靠性試驗/可靠性測試：
可靠性強化試驗，加速壽命試驗（halt），環(huán)境應(yīng)力篩選試驗（ess），可靠性驗收試驗，可靠性鑒定試驗，可靠性增長試驗。
2023-05-23 15:55:57
幾種常見的芯片可靠性測試方法
可靠性測試對于芯片的制造和設(shè)計過程至關(guān)重要。通過進行全面而嚴格的可靠性測試，可以提前發(fā)現(xiàn)并解決潛在的設(shè)計缺陷、制造問題或環(huán)境敏感性，從而確保芯片在長期使用中的性能和可靠性。
2023-05-20 16:47:5211462
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電子產(chǎn)品的可靠性試驗
一般來說為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗，是為預(yù)測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況
2023-05-20 09:16:021009
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可制造性、可靠性和可測性協(xié)同設(shè)計
可制造性設(shè)計 (Design for Manufacturabiity， DFM)、可靠性設(shè)計 (Designfor Reliability， DFR)與可測試性設(shè)計 (Design
2023-05-18 10:55:541430
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北京2023年6月15-17日《硬件電路可靠性設(shè)計、測試與案例分析》即將開課！
課程名稱：《硬件電路可靠性設(shè)計、測試與案例分析》講師：王老師時間地點：北京6月15日-17日主辦單位：賽盛技術(shù)課程特色1.案例多，案例均來自于電路設(shè)計缺陷導(dǎo)致的實際產(chǎn)品可靠性問題2.課程內(nèi)容圍繞電路
2023-05-18 10:40:50350
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求分享MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03可靠性數(shù)據(jù)
我想知道產(chǎn)品MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03的MTBF或FIT值來做可靠性預(yù)測工作
2023-05-17 08:49:55
嵌入式軟件可靠性設(shè)計的編程要點
設(shè)備的可靠性涉及多個方面：穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴格的測試以及市場和時間的檢驗等等。
2023-05-16 09:39:57427
427評估汽車PCB制造商可靠性的5種可靠方法
計劃和先前的質(zhì)量分析，然后進行FMEA（故障模式和影響分析）分析并提出防止產(chǎn)品潛在故障的措施，MSA（測量系統(tǒng)分析）必須分析測量結(jié)果的變化以確認測量可靠性，SPC（統(tǒng)計過程控制）掌握生產(chǎn)規(guī)程并使用統(tǒng)計技術(shù)來
2023-04-24 16:34:26
通過柔性和剛硬的PCB簡化裝配并提高可靠性
昂貴且復(fù)雜的離散互連電纜會降低設(shè)計的可靠性，增加設(shè)計成本和總體設(shè)計尺寸。幸運的是，還有其他形式的柔性和柔性剛硬的PCB.柔性PCB可以為您提供滿足您的設(shè)計互連要求的經(jīng)濟高效且方便的解決方案，并
2023-04-21 15:52:50
《炬豐科技-半導(dǎo)體工藝》金屬氧化物半導(dǎo)體的制造
書籍：《炬豐科技-半導(dǎo)體工藝》 文章：金屬氧化物半導(dǎo)體的制造 編號：JFKJ-21-207 作者：炬豐科技 概述 CMOS制造工藝概述 ? CMOS制造工藝流程 ? 設(shè)計規(guī)則 ? 互補金屬氧化物
2023-04-20 11:16:00247
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失效分析和可靠性測試：為什么SAM現(xiàn)在是必不可少的設(shè)備
對所有制造材料進行100%全面檢查。 制造商測試實驗室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門，尋找微小缺陷正在刺激對掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM)設(shè)備的投資。失效分析和可靠性檢測計量技術(shù)已變得至關(guān)重要，現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實驗室測試和測量儀器并駕齊驅(qū)。
2023-04-14 16:21:39925
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碳化硅SiC MOSFET:低導(dǎo)通電阻和高可靠性的肖特基勢壘二極管
Toshiba研發(fā)出一種SiC金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管（MOSFET)，其將嵌入式肖特基勢壘二極管（SBD）排列成格子花紋（check-pattern embedded SBD），以降低導(dǎo)通電
2023-04-11 15:29:18
PCB設(shè)計中的可靠性有哪些？如何提高PCB設(shè)計的可靠性呢？
PCB設(shè)計中的可靠性有哪些？ 實踐證明，即使電路原理圖設(shè)計正確，如果PCB設(shè)計不當，也會對電子設(shè)備的可靠性產(chǎn)生不利的影響。舉個簡單的例子，如果PCB兩條細平行線靠得很近的話，則會造成信號波形
2023-04-10 16:03:54
半導(dǎo)體器件在高溫環(huán)境下的可靠性
半導(dǎo)體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關(guān)注的問題。高溫試驗是一種常用的測試方法，通過模擬實際使用中的高溫環(huán)境，可以評估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗需要仔細設(shè)計實驗方案，包括選擇
2023-04-07 10:21:03766
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求分享BSS138PW/BSS84AKW，115可靠性數(shù)據(jù)
我想知道這些設(shè)備的可靠性數(shù)據(jù)，例如 MTBF 和 FIT，BSS138PW BSS84AKW，115
2023-04-03 08:12:35
氧化鋅壓敏電阻的原理是什么？有何特點？
氧化鋅壓敏電阻以氧化鋅（ZnO）為基料，加入Bi2O3、Co2O3、MnCO3等多種金屬氧化物混合，經(jīng)過高溫燒結(jié)、焊接、包封等多重工序制成的電阻器
2023-03-30 10:26:261973
1973服務(wù)器可靠性設(shè)計原理及分析方法
可靠性/可用性驗證測試FIT:定義及目的
FIT (Fault Injection Test) :故障注入測試,通過向系統(tǒng)注入在實際應(yīng)用中可能發(fā)生的故障,觀察系統(tǒng)功能性能變化,故
障檢測、定位、隔離以及故障恢復(fù)情況，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、評估系統(tǒng)可靠性的測試方法。
2023-03-29 09:18:47589
589在哪里獲得PCA85073ADP/FS32K144HAT0MLHT可靠性測試報告？
嗨，我在哪里可以獲得以下芯片的可靠性測試報告？FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13
工商網(wǎng)監(jiān)
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