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      SD NAND?可靠性驗(yàn)證測(cè)試

      MK米客方德 ? 2023-12-14 14:29 ? 次閱讀
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      SD NAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試的重要性

      SD NAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試至關(guān)重要。通過(guò)檢驗(yàn)數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽命、性能穩(wěn)定性，確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)，可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽(yù)，減少維修成本，確保產(chǎn)品質(zhì)量和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
      MK-米客方德是一家做存儲(chǔ)的公司，是SD NAND技術(shù)的引領(lǐng)者，工業(yè)應(yīng)用的領(lǐng)導(dǎo)品牌。其公司SD NAND產(chǎn)品都有可靠性驗(yàn)證測(cè)試報(bào)告，

      SD NAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試報(bào)告

      以MK-米客方德工業(yè)級(jí)SD NAND的MKDN064GCL-ZA型號(hào)為例，下面是可靠性驗(yàn)證測(cè)試的具體項(xiàng)目。

      『Test Summary』

      No

      Test Item

      Description

      Result

      1

      Card Density Check

      90%

      Pass

      2

      Performance Test

      HDBench/CrystalDiskMark/H2test

      ---

      3

      Compliance Test

      TestMetrix VTE3100/VTE4100

      Pass

      4

      Speed Class Test

      TestMetrix VTE3100/VTE4100

      Pass

      5

      Full Size Copy/Compare

      H2test

      Pass

      6

      Burn-in Test

      BIT @-25~ 85’C

      Pass

      7

      NPOR Test

      Normal power cycle test when card is stand by

      Pass

      8

      SPOR Test

      Sudden power cycle test when card is busy

      Pass

      9

      Read Only Test

      H2test

      Pass

      10

      IR-Reflow

      260 ’C, check SLC data

      Pass

      11

      Power consumption

      Write & Read current measurement

      ---

      Test Item

      1. Card DensityCheck

      Test Tool & Environment
      1. SDFormatter
      2. Win7OS
      Sample Quantity

      1ea

      Result

      7374MB, 90%

      1. PerformanceTest
        1. HDBench / CrystalDiskMark / IOMeter /H2test

      Test Tool & Environment

      1. HDBench Ver3.40 / CrystalDiskMark 6.0 / IO meter / H2 test
      2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
      3. Win7OS
        1. IOMeter
      Test Criteria

      Depends on customer criteria

      Sample Quantity

      2ea

      Result

      Pass (see 2.4 performance data)

      Test Tool & Environment

      1. IO Meter 2006.07.27

      1. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
      2. Win7OS
        1. TestMetrix
      Test Criteria

      Depends on customer criteria

      Sample Quantity

      2ea

      Result

      Pass (see 2.4 performance data)

      Test Tool & Environment

      1. TestMetrix VTE3100/VTE4100

      Test Criteria

      Depends on customer criteria

      Sample Quantity

      3ea

      Result

      Pass (see 2.4 performance data)

      1. Performance Data

      Test Item

      Test Mode

      Result

      HDBench (100MB)

      Sequential Read (MB/s)

      46.2

      Sequential Write (MB/s)

      24.2

      CrystalDiskMark (100MB)

      Sequential Read (MB/s)

      47.5

      Sequential Write (MB/s)

      26

      IOMeter (100MB)

      Random Write (IOPS)

      572.6

      Random Read (IOPS)

      1119.5

      TestMetrix

      Sequential Read (MB/s)

      24.4

      Sequential Write (MB/s)

      10

      H2test

      Sequential Read (MB/s)

      40.6

      Sequential Write (MB/s)

      10

      1. ComplianceTest

      Test Tool & Environment

      TestMetrix VTE3100/VTE4100

      Test Criteria

      Test done without error

      Sample Quantity

      3ea

      Result

      Pass

      1. Speed ClassTest

      Test Tool & Environment

      1. TestMetrix VTE3100/VTE4100

      Test Criteria

      Pass class 6 condition

      Sample Quantity

      3ea

      Result

      Pass

      Speed Class

      Test Mode

      Result

      Class6

      Pw (MB/s)

      8.5

      Pr (MB/s)

      9.6

      1. Full SizeCopy/Compare

      Test Tool & Environment

      1. H2testv1.4
      2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
      3. Win7OS
      Test Criteria

      Test done without no error

      Sample Quantity

      2ea

      Result

      Pass

      1. Burn-in Test

      BIT v8.0

      Test Tool & Environment

      1. BurnInTestv8.0
      2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
      3. Win7OS
      Test Criteria

      168hours without error @25/85/-25’C

      Sample Quantity

      Total 6ea

      Result

      Pass

      1. NPORTest

      Test Tool & Environment

      1.MK NPOR Tool

      Test Criteria

      Pass 10K cycles

      Sample Quantityv

      2ea

      Result

      Pass

      1. SPOR
        1. SPORTest1

      Test Tool & Environment

      1.MK SPOR Tool – 5%/95% non-file system

      Test Criteria

      Pass 10K cycles

      Sample Quantity

      2ea

      Result

      Pass

      1. SPORTest2

      Test Tool & Environment

      1. Specific SPOR Tool – small/large file system based

      Test Criteria

      Pass 10K cycles

      Sample Quantity

      2ea

      Result

      Pass

      1. Read OnlyTest

      Test Tool & Environment

      1. H2test
      2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
      3. Win7OS
      Test Criteria

      72hours without error

      Sample Quantity

      4ea

      Result

      Pass

      1. IR-reflow

      Test Tool & Environment

      IR-reflow 260 ‘C

      Test Criteria

      3 times test and check all data without error

      Sample Quantity

      10ea

      Result

      pass


      1. Powerconsumption

      Test Tool & Environment

      1. CrystalDiskMark6.0
      2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
      3. Win7OS
      4. AgilentU1252B

      Item

      Standby

      current(uA)

      Operating

      current (mA)

      Throughput (MB/s)

      #1

      210

      Read

      96

      47.6

      Write

      81

      26.6

      #2

      211

      Read

      95

      47

      Write

      83

      26.8

      #3

      210

      Read

      96

      48

      Write

      81

      27

      聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
      • 測(cè)試
        +關(guān)注

        關(guān)注

        8

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        5697

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      • NAND
        +關(guān)注

        關(guān)注

        16

        文章

        1722

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        138120
      • 工業(yè)
        +關(guān)注

        關(guān)注

        3

        文章

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        的頭像 發(fā)表于 06-19 10:27 ?262次閱讀
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        的頭像 發(fā)表于 06-03 10:52 ?324次閱讀
        <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>包括哪些<b class='flag-5'>測(cè)試</b>和設(shè)備？

        半導(dǎo)體測(cè)試可靠性測(cè)試設(shè)備

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        的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?258次閱讀
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        的頭像 發(fā)表于 02-11 15:41 ?550次閱讀

        雷龍SD NAND測(cè)試報(bào)告

        本帖最后由 xxkj2010 于 2025-2-8 14:23 編輯 雷龍SD NAND測(cè)試報(bào)告一次偶然的機(jī)會(huì)，很幸運(yùn)得到深圳市雷龍發(fā)展有限公司的芯片贈(zèng)送，今天收到了芯片和測(cè)試板
        發(fā)表于 02-08 14:12

        雷龍SD NAND試用

        了解以便測(cè)試與使用。 芯片不用寫驅(qū)動(dòng)程序自帶壞塊管理的NAND Flash（貼片式TF卡），尺寸小巧，簡(jiǎn)單易用，兼容性強(qiáng)，穩(wěn)定可靠，固件可定制，LGA-8封裝，標(biāo)準(zhǔn)SDIO接口，兼容S
        發(fā)表于 01-19 13:26

        可靠性測(cè)試：HAST與PCT的區(qū)別

        HAST測(cè)試的核心宗旨HAST測(cè)試的核心宗旨宗旨：HAST測(cè)試的主要宗旨是通過(guò)模擬極端環(huán)境條件，加速半導(dǎo)體元器件的失效過(guò)程，以此來(lái)驗(yàn)證元器件在高溫、高濕、高壓條件下的
        的頭像 發(fā)表于 12-27 14:00 ?942次閱讀
        <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>：HAST與PCT的區(qū)別

        關(guān)于SD NAND 的概述

        的類型，擦寫次數(shù)可達(dá)5~10萬(wàn)次，保證了SD NAND的耐用性。 　　高低溫測(cè)試：SD NAND
        發(fā)表于 12-06 11:22

        SD NAND 概述

        現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)于尺寸、性能和可靠性的嚴(yán)格要求。 1.SD NAND的技術(shù)特性、優(yōu)勢(shì)以及應(yīng)用場(chǎng)景 下面將從多個(gè)角度詳細(xì)探討SD NAND的技術(shù)
        的頭像 發(fā)表于 12-06 11:21 ?714次閱讀

        SD NAND技術(shù)簡(jiǎn)介

        SD NAND是一種基于NAND Flash技術(shù)的嵌入式存儲(chǔ)解決方案，具備SD卡協(xié)議兼容性。它結(jié)合了NA
        的頭像 發(fā)表于 12-05 15:32 ?687次閱讀
        <b class='flag-5'>SD</b> <b class='flag-5'>NAND</b>技術(shù)簡(jiǎn)介

        SD NAND測(cè)試套件：提升存儲(chǔ)芯片驗(yàn)證效率

        SD NAND轉(zhuǎn)接板和燒錄座是一種專為工程師設(shè)計(jì)的輔助工具，它能夠?qū)⒉煌叽绲?b class='flag-5'>SD NAND芯片轉(zhuǎn)換為通用TF接口封裝，從而方便地進(jìn)行性能測(cè)試
        的頭像 發(fā)表于 08-13 09:44 ?735次閱讀
        <b class='flag-5'>SD</b> <b class='flag-5'>NAND</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>套件：提升存儲(chǔ)芯片<b class='flag-5'>驗(yàn)證</b>效率

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        在現(xiàn)代數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的社會(huì)中，存儲(chǔ)技術(shù)的發(fā)展顯得尤為重要。SD NAND作為一種基于NAND閃存技術(shù)的存儲(chǔ)設(shè)備，憑借其高存儲(chǔ)容量、高速度和高可靠性，成為嵌入式系統(tǒng)和消費(fèi)電子產(chǎn)品的理想選擇。M
        的頭像 發(fā)表于 07-29 17:38 ?744次閱讀
        <b class='flag-5'>SD</b> <b class='flag-5'>NAND</b>：高效存儲(chǔ)的未來(lái)之選