金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 氙燈老化試驗(yàn)與UV紫外老化試驗(yàn)的差異剖析2025-02-11 22:25

  

  主要測(cè)試目的在材料性能測(cè)試領(lǐng)域，光老化測(cè)試扮演著至關(guān)重要的角色。其核心目標(biāo)是通過加速試驗(yàn)?zāi)M自然光長(zhǎng)期暴露的作用，以揭示材料的耐候性。在自然環(huán)境中，陽(yáng)光的長(zhǎng)期照射會(huì)對(duì)材料產(chǎn)生諸多不利影響，例如塑料制品可能出現(xiàn)變色、龜裂、強(qiáng)度下降等問題，涂層材料可能會(huì)剝落、褪色等。光老化測(cè)試能夠提前預(yù)估材料在實(shí)際使用過程中因光照引發(fā)的性能變化。以戶外使用的塑料家具為例，通過光

  氙燈 紫外 試驗(yàn) 326瀏覽量

• 一文了解鋁基覆銅板2025-02-11 22:23

  

  什么是鋁基覆銅板PCB全稱為印制線路板（printedcircuitboard），也叫印刷電路板，而鋁基覆銅板是PCB的一種。鋁基覆銅板是一種具有良好散熱功能的金屬基覆銅板，一般單面板由三層結(jié)構(gòu)所組成，分別是電路層（銅箔）、絕緣層和金屬基層。用于高端使用的也有設(shè)計(jì)為雙面板，結(jié)構(gòu)為電路層、絕緣層、鋁基、絕緣層、電路層。極少數(shù)應(yīng)用為多層板，可以由普通的多層板與絕

  pcb PCB 印制線路板 覆銅板 586瀏覽量

• FIB-SEM 雙束技術(shù)簡(jiǎn)介及其部分應(yīng)用介紹2025-02-10 11:48

  

  摘要結(jié)合聚焦離子束（FIB）技術(shù)和掃描電子顯微鏡（SEM）的FIB-SEM雙束系統(tǒng)，通過整合氣體注入系統(tǒng)、納米操控器、多種探測(cè)器以及可控樣品臺(tái)等附件，已發(fā)展成為一個(gè)能夠進(jìn)行微觀區(qū)域成像、加工、分析和操控的綜合分析工具。該系統(tǒng)的應(yīng)用已經(jīng)從半導(dǎo)體行業(yè)擴(kuò)展到材料科學(xué)、生命科學(xué)和地質(zhì)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域。歷史背景1978年，美國(guó)加州休斯研究所開發(fā)了世界上第一臺(tái)以液態(tài)金屬鎵（

  fib SEM 顯微鏡 483瀏覽量

• 什么是飽和蒸汽試驗(yàn)（PCT）？2025-02-10 11:47

  

  PCT試驗(yàn)（壓力蒸煮試驗(yàn)）是一種模擬極端環(huán)境條件的測(cè)試方法，通過將樣品置于高溫、高濕度和高壓的環(huán)境中，評(píng)估其在嚴(yán)苛條件下的性能表現(xiàn)。該試驗(yàn)的核心在于模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能遇到的高濕環(huán)境，從而提前發(fā)現(xiàn)潛在問題，優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝，確保產(chǎn)品在市場(chǎng)中的可靠性和競(jìng)爭(zhēng)力。PCT試驗(yàn)的核心目標(biāo)PCT試驗(yàn)的主要目標(biāo)是評(píng)估電子元件在高濕環(huán)境中的耐久性，特別是針對(duì)印刷線

  pcb PCB PCT 試驗(yàn) 1310瀏覽量

• 制備用于掃描電子顯微鏡(SEM)分析的氬離子拋光和化學(xué)拋光(CP)截面樣品2025-02-10 11:45

  

  氬離子束拋光技術(shù)（ArgonIonBeamPolishing,AIBP），一種先進(jìn)的材料表面處理工藝，它通過精確控制的氬離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行加工，以實(shí)現(xiàn)平滑無(wú)損傷的拋光效果。技術(shù)概述氬離子束拋光技術(shù)利用氬離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行物理濺射，從而達(dá)到拋光的效果。在這個(gè)過程中，氬氣作為惰性氣體，不會(huì)與樣品發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，保證了樣品的原始性質(zhì)不被破壞。通過精確控制離子束的

  SEM 拋光機(jī) 顯微鏡 455瀏覽量

• FIB-SEM技術(shù)在鋰離子電池的應(yīng)用2025-02-08 12:15

  

  鋰離子電池材料的構(gòu)成鋰離子電池作為現(xiàn)代能源存儲(chǔ)領(lǐng)域的重要組成部分，其性能的提升依賴于對(duì)電池材料的深入研究。鋰離子電池通常由正極、負(fù)極、電解質(zhì)、隔膜和封裝材料等部分構(gòu)成。正極材料和負(fù)極材料的微觀結(jié)構(gòu)、形貌以及界面特性對(duì)電池的充放電性能、循環(huán)穩(wěn)定性等起著關(guān)鍵作用。因此，準(zhǔn)確表征電池材料的結(jié)構(gòu)和形貌是理解其性能的基礎(chǔ)。傳統(tǒng)的表征方法如X射線衍射、X射線電子能譜、拉

  fib SEM 鋰離子電池 636瀏覽量

• LED紅墨水測(cè)試2025-02-08 12:14

  

  紅墨水滲透測(cè)試紅墨水滲透測(cè)試（RedDyePenetrationTest），也稱為L(zhǎng)ED紅墨水試驗(yàn)，是一種用于評(píng)估電子電路板組裝（PCBAssembly）中表面貼裝技術(shù)（SMT）焊接質(zhì)量以及LED燈具密封性能的破壞性測(cè)試方法。一般的LED光源，支架PPA/PCT/EMC與金屬框架間較易出現(xiàn)裂縫，PPA/PCT/EMC與封裝膠結(jié)合面較易出現(xiàn)氣密性問題，如果在光

  led pcb PCB 測(cè)試 724瀏覽量

• 一文帶你了解什么是非飽和蒸汽實(shí)驗(yàn)（HAST）？2025-02-08 12:12

  

  HAST試驗(yàn)的背景與重要性在電子產(chǎn)品的可靠性評(píng)估體系中，環(huán)境應(yīng)力是引發(fā)故障的關(guān)鍵因素之一。據(jù)美國(guó)Hughes航空公司的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示，溫濕度應(yīng)力導(dǎo)致的電子產(chǎn)品故障占比高達(dá)60%，遠(yuǎn)超其他環(huán)境因素。傳統(tǒng)的高溫高濕試驗(yàn)（如85℃/85%RH）雖能模擬濕熱環(huán)境，但測(cè)試周期過長(zhǎng)，難以滿足快速驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性的需求。在此背景下，非飽和蒸汽試驗(yàn)（HAST）應(yīng)運(yùn)而生，它通過增

  測(cè)試 電子產(chǎn)品 試驗(yàn) 697瀏覽量

• 白光LED熒光粉合成途徑與光學(xué)性能研究2025-02-07 14:05

  

  熒光粉是制作白光LED中一個(gè)非常關(guān)鍵的材料，它的性能直接影響白光LED的亮度、色坐標(biāo)、色溫及顯色性等。因而開發(fā)具有良好發(fā)光特性的熒光粉是得到高亮度、高發(fā)光效率、高顯色性白光LED的關(guān)鍵所在。熒光粉合成方法熒光粉的合成方法多種多樣，不同的合成工藝對(duì)熒光粉的晶體結(jié)構(gòu)、顆粒尺寸和發(fā)光性能有著顯著影響。以下是幾種常見的合成方法：1.固相合成法固相合成法是一種傳統(tǒng)的熒

  led 材料 白光 711瀏覽量

• 聚焦離子束技術(shù)在元器件可靠性的應(yīng)用2025-02-07 14:04

  

  近年來，聚焦離子束（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）技術(shù)作為一種新型的微分析和微加工技術(shù)，在元器件可靠性領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用，為提高元器件的可靠性提供了重要的技術(shù)支持。元器件可靠性的重要性目前，國(guó)內(nèi)外元器件級(jí)可靠性質(zhì)量保證技術(shù)主要包括元器件補(bǔ)充篩選試驗(yàn)、破壞性物理分析（DPA）、結(jié)構(gòu)分析（CA）、失效分析（FA）以及應(yīng)用驗(yàn)證等。其中，結(jié)構(gòu)分析是近年來逐漸

  TEM 元器件 離子束 379瀏覽量