動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-12-26 14:46

  EBSD在材料科學(xué)中的優(yōu)勢分析

  

  在材料科學(xué)中，對晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向的深入研究對于揭示材料性能具有決定性作用。傳統(tǒng)技術(shù)，如X光衍射和中子衍射，雖然能夠提供宏觀層面的晶體結(jié)構(gòu)和取向信息，但它們無法將這些信息與微觀結(jié)構(gòu)直接關(guān)聯(lián)，也無法詳細(xì)描述多相和多晶材料中不同相位和晶粒取向的空間分布。同時(shí)，透射電鏡（TEM）技術(shù)雖然能夠?qū)植繀^(qū)域的晶體結(jié)構(gòu)和取向進(jìn)行分析，但其樣品制備過程復(fù)雜，且通常只能提供有

  晶體 材料

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• 發(fā)布了文章 2024-12-26 14:44

  全面解析RoHS與ELV的差異

  

  RoHS的標(biāo)準(zhǔn)RoHS（RestrictionofHazardousSubstances）是一項(xiàng)由歐盟立法制定的強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)，全稱為《關(guān)于限制在電子電氣設(shè)備中使用某些有害成分的指令》。該標(biāo)準(zhǔn)的核心目標(biāo)是限制在電子電氣產(chǎn)品制造過程中使用特定的有害物質(zhì)，以減少對環(huán)境和人類健康的潛在危害。RoHS標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用范圍RoHS指令涵蓋了廣泛的產(chǎn)品類別，包括但不限于大型家用電

  ELVIS RoHS 電器

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• 發(fā)布了文章 2024-12-25 11:58

  詳細(xì)解讀——FIB-SEM技術(shù)(聚焦離子束)制備透射電鏡(TEM)樣品

  

  子束技術(shù)概述聚焦離子束技術(shù)是一種先進(jìn)的納米加工技術(shù)，它通過靜電透鏡將離子束精確聚焦至2至3納米的束寬，對材料表面進(jìn)行精細(xì)的加工處理。這項(xiàng)技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)材料的剝離、沉積、注入、切割和改性等多種操作。FIB技術(shù)的優(yōu)勢1.操作簡便性：FIB技術(shù)簡化了操作流程，減少了樣品的前處理步驟，同時(shí)降低了對樣品的污染和損害。2.微納尺度加工：該技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)精準(zhǔn)的微米及納米級切割

  fib SEM 離子束

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• 發(fā)布了文章 2024-12-25 11:57

  環(huán)境可靠性測試有哪些項(xiàng)目

  

  在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，環(huán)境可靠性測試扮演著至關(guān)重要的角色。這些測試不僅確保產(chǎn)品能夠滿足既定的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，還幫助制造商發(fā)現(xiàn)并改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造過程中的潛在問題。氣候環(huán)境測試的分析1.高溫測試：這項(xiàng)測試將產(chǎn)品置于高溫且無濕環(huán)境中，以檢驗(yàn)其在高溫狀態(tài)下的穩(wěn)定性和耐久性。2.低溫測試：在低溫條件下對產(chǎn)品進(jìn)行測試，以評估其在寒冷環(huán)境下的功能表現(xiàn)和耐寒性。3.溫濕度循環(huán)測試：

  IP防護(hù) 可靠性測試 測試

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• 發(fā)布了文章 2024-12-25 11:56

  AEC-Q102之靜電放電測試（HBM）

  

  靜電放電（ESD）是電子元器件在運(yùn)輸、安裝和使用過程中常見的一種現(xiàn)象，它可能導(dǎo)致器件損壞、性能降低或壽命縮短。因此，對電子元器件進(jìn)行ESD試驗(yàn)至關(guān)重要，以確保其在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)中包含了多種ESD試驗(yàn)，其中人體模型（HBM）試驗(yàn)是最為常見的一種。什么是HBM試驗(yàn)？HBM試驗(yàn)，即人體模型試驗(yàn)，是一種評估電子器件對由人體產(chǎn)生的靜電

  ESD 測試 靜電放電

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• 發(fā)布了文章 2024-12-25 11:55

  氬離子拋光：揭示材料微觀結(jié)構(gòu)

  

  氬離子拋光技術(shù)概述氬離子拋光技術(shù)是一種精密的材料表面處理方法，它通過精細(xì)調(diào)控氬離子束的深度和強(qiáng)度，實(shí)現(xiàn)對樣品表面的拋光，以消除表面損傷并展示材料的微觀結(jié)構(gòu)。這項(xiàng)技術(shù)對于多種分析儀器至關(guān)重要，包括掃描電子顯微鏡（SEM）、光學(xué)顯微鏡和掃描探針顯微鏡等，尤其是在進(jìn)行EDS、EBSD、CL、EBIC等高級分析時(shí)，高質(zhì)量的樣品表面是確保結(jié)果準(zhǔn)確性的關(guān)鍵。數(shù)調(diào)整氬離子

  SEM 顯微鏡 材料

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• 發(fā)布了文章 2024-12-25 11:54

  Rohs 、REACH 、無鹵的區(qū)別

  

  RoHS指令詳解RoHS（限制特定有害物質(zhì)）是歐盟為降低電子和電氣設(shè)備中有害物質(zhì)含量而實(shí)施的一項(xiàng)法規(guī)。該指令的主要目的是限制六種有害物質(zhì)的使用，以減少對環(huán)境和人類健康的影響。具體限制物質(zhì)及其含量標(biāo)準(zhǔn)如下：鉛（Pb）：不得超過0.1%（1000ppm），常見用途包括焊料、玻璃和PVC穩(wěn)定劑。汞（Hg）：不得超過0.1%（1000ppm），用于溫控器、傳感器等。

  REACH RoHS 電氣設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2024-12-24 11:32

  紫外(UV)老化測試：7個(gè)關(guān)鍵問題解析

  

  紫外線對產(chǎn)品的影響在自然界中，陽光中的紫外線是導(dǎo)致產(chǎn)品光降解和光老化的主要原因。這種無形的輻射不僅對人體健康構(gòu)成威脅，對產(chǎn)品的損害同樣不容忽視。產(chǎn)品或材料在加工、貯存及使用過程中，會(huì)受到光、熱、氧、機(jī)械應(yīng)力、臭氧、有害金屬離子、輻射等多種外界因素的影響，導(dǎo)致產(chǎn)品或材料內(nèi)部發(fā)生物理或化學(xué)變化，最終失去其原有的使用價(jià)值。太陽光對產(chǎn)品的具體影響紫外線造成的損害類型

  太陽光 紫外線 老化測試

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• 發(fā)布了文章 2024-12-24 11:32

  帶你一文了解什么是引線鍵合（WireBonding）技術(shù)？

  

  微電子封裝中的引線鍵合技術(shù)引線鍵合技術(shù)在微電子封裝領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色，它通過金屬線將半導(dǎo)體芯片與外部電路相連，實(shí)現(xiàn)電氣互連和信息傳遞。在理想條件下，金屬引線與基板之間的連接可以達(dá)到原子級別的鍵合，這種鍵合是通過電子共享或原子擴(kuò)散實(shí)現(xiàn)的。引線鍵合與封裝技術(shù)在集成電路（IC）封裝中，引線鍵合是實(shí)現(xiàn)芯片與引線框架（基板）連接的關(guān)鍵技術(shù)。盡管倒裝焊和載帶自動(dòng)焊

  半導(dǎo)體芯片 引線鍵合 微電子封裝

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• 發(fā)布了文章 2024-12-24 11:30

  探索掃描電子顯微鏡下的能譜分析技術(shù)（EDX）

  

  掃描電子顯微鏡（SEM）以其在納米級別解析樣品的能力而聞名，它通過電子束與樣品的交互來收集信息。除了常見的背散射電子（BSE）和二次電子（SE）信號(hào)外，SEM還能檢測到其他多種信號(hào)，這些信號(hào)為研究者提供了樣品的深層信息。本文將深入探討SEM中的能譜（EDX）技術(shù)，揭示其工作原理。電子束與樣品的相互作用在SEM的運(yùn)作過程中，電子束與樣品表面的交互作用產(chǎn)生了一系

  SEM 顯微鏡 電子束

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