測(cè)試、工業(yè)質(zhì)量控制、材料測(cè)試、材料鑒定等。 ◆分析儀器◆：電子及光學(xué)顯微鏡、電子探針、光學(xué)分析儀器、質(zhì)譜儀、光譜儀、色譜儀、波譜儀、頻譜儀、電化學(xué)分析儀器、X射線(xiàn)分析儀器、熱
2010-09-25 14:50:12
探針臺(tái)應(yīng)用介紹2020年比較艱難的開(kāi)始了，好事多磨，相信經(jīng)歷過(guò)新型冠狀病毒的洗禮后，我國(guó)的經(jīng)濟(jì)會(huì)有爆發(fā)式的增長(zhǎng)。開(kāi)年伊始就收到很多朋友對(duì)手動(dòng)探針臺(tái)使用問(wèn)題的咨詢(xún)，在此收集整理供手動(dòng)探針臺(tái)相關(guān)信息供
2020-02-10 14:28:15
探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線(xiàn)等參數(shù)檢測(cè)
2023-05-31 10:29:33
測(cè)試中我們利用40GHz頻率范圍的N5244A PNA-X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和PLTS物理層分析軟件，能夠?qū)?b class="flag-6" style="color: red">探針的性能做全方位的測(cè)試和分析，從而作為判斷探針質(zhì)量的一個(gè)依據(jù)。首先利用PNAX和電子校準(zhǔn)件
2019-07-18 08:14:37
以下內(nèi)容轉(zhuǎn)自ADI中文技術(shù)論壇：ezchina.analog.com/thread/18011以測(cè)量電壓為例，主要有兩種探針可供選擇——單端探針，提供的波形通常最干凈，但是，接地基準(zhǔn)需是示波器的接地
2018-04-21 14:55:17
以下內(nèi)容轉(zhuǎn)自ADI中文技術(shù)論壇：https://ezchina.analog.com/thread/18011以測(cè)量電壓為例，主要有兩種探針可供選擇——·單端探針，提供的波形通常最干凈，但是，接地
2019-09-16 05:50:21
電子探針的原理是用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面。激發(fā)出樣品元素的特征X射線(xiàn)，分析特征X射線(xiàn)的波長(zhǎng)（或特征能量）即可知道樣品中所含元素的種類(lèi)（定性分析），分析X射線(xiàn)的強(qiáng)度，則可知道樣品中對(duì)應(yīng)元素含量的多少（定量分析）。
2020-04-08 09:00:14
、機(jī)械電氣性能優(yōu)越、可靠性高、測(cè)試壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。從產(chǎn)品用途來(lái)分，分為三大類(lèi)：1、IPEX和SWITCH 系列測(cè)試探針里庫(kù)電子IPEX和SWITCH 系列測(cè)試探針，主要用于IPEX 1代到5代以及相對(duì)
2019-07-25 14:21:01
點(diǎn)擊學(xué)習(xí)>>《龍哥手把手教你學(xué)LabVIEW視覺(jué)設(shè)計(jì)》視頻教程1. 斷點(diǎn) 斷點(diǎn)和探針是調(diào)試 LabVIEW 代碼時(shí)最常用的兩個(gè)工具。LabVIEW 中的斷點(diǎn)在使用和功能上都比
2015-01-29 17:17:14
如圖所示，書(shū)上的例程是在36行設(shè)置探針，39行設(shè)置探針和斷點(diǎn)，在圖形顯示方面，按下Animate圖形無(wú)變化，再按下停止運(yùn)行圖像才會(huì)移動(dòng)一點(diǎn)，現(xiàn)在的圖形是連續(xù)點(diǎn)擊運(yùn)行到光標(biāo)處（run to cursor），我想問(wèn)下我出錯(cuò)在哪里，書(shū)上的例子是用CCS2.0完成的，在3.3版本不會(huì)用了
2018-11-05 12:46:09
今天下載安裝了multisim 14，發(fā)現(xiàn)改變了不少，但是找不到 測(cè)量探針 ，只有電流探針。翻遍菜單也沒(méi)找到，難道14版本取消了測(cè)量探針？還是在別的什么地方？我覺(jué)得這個(gè)功能挺好用啊，如果沒(méi)有這個(gè)功能，都想用回13版本了。
2015-10-21 20:31:37
`multisim14.0中那個(gè)最下面的電流探針是干嘛的？每次點(diǎn)開(kāi)就顯示電壓與電流之比，求解釋`
2017-11-05 23:26:34
如題！貌似測(cè)量探針就可以測(cè)出電流值，但要是把電流探針放入電路，仿真就會(huì)出錯(cuò)...無(wú)語(yǔ)啦啦啦..........
2011-05-26 16:06:28
及控制設(shè)備、液體處理設(shè)備、純水設(shè)備、潔凈設(shè)備及各類(lèi)耗材；◆分析儀器◆：電子及光學(xué)顯微鏡、電子探針、光學(xué)分析儀器、質(zhì)譜儀、光譜儀、色譜儀、波譜儀、頻譜儀、電化學(xué)分析儀器、X射線(xiàn)分析儀器、熱分析儀器、各式
2010-04-06 17:23:12
通過(guò)自定義探針來(lái)訪(fǎng)問(wèn)需要訪(fǎng)問(wèn)的LabVIEW類(lèi)成員vi信息，廢話(huà)不說(shuō)直接寫(xiě)原理過(guò)程：1. 創(chuàng)建一個(gè)demo.Lvproj2. Write data為成員vi3.上圖為main.vi4. 右鍵探針創(chuàng)建
2017-03-22 10:32:33
ICT測(cè)試治具的使用通常需要用到探針，而探針是電測(cè)試的接觸媒介，是一種高端精密型電子五金元器件。那么ICT測(cè)試治具的探針類(lèi)型主要有哪幾種呢？選用探針主要是根據(jù)ict測(cè)試治具線(xiàn)路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)
2016-02-23 13:50:27
UltraSoC日前宣布：公司已與SEGGER達(dá)成合作伙伴關(guān)系，以在UltraSoC集成化的系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）監(jiān)測(cè)和分析環(huán)境中為J-Link調(diào)試探針提供支持。SEGGER的J-Link探針是業(yè)界
2019-10-21 08:00:38
ICT測(cè)試治具的使用通常需要用到探針，而探針是電測(cè)試的接觸媒介，是一種高端精密型電子五金元器件。那么ICT測(cè)試治具的探針類(lèi)型主要有哪幾種呢？選用探針主要是根據(jù)ict測(cè)試治具線(xiàn)路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)
2016-02-23 11:26:56
等離子電弧的熱量使工件切口處的金屬局部熔化（和蒸發(fā)），并借高速等離子的動(dòng)量排除熔融金屬以形成切口的一種加工方法。2.電子探針 電子探針儀是X射線(xiàn)光譜學(xué)與電子光學(xué)技術(shù)相結(jié)合而產(chǎn)生的,以聚焦的高速電子
2017-05-31 16:39:21
提供測(cè)試探針及各類(lèi)Socket，有需要的聯(lián)系***
2021-12-15 11:55:24
能否將基板用作我的定制硬件板的JTAG 探針？擴(kuò)展基座上確實(shí)有 14 引腳的 JTAG 連接器，而且只要移除控制卡，我就不必使用 JTAG 信號(hào)同時(shí)與兩個(gè)處理器對(duì)話(huà)。我認(rèn)為這樣是可行的，除非至 100
2018-11-05 11:46:18
1：影響探針使用壽命的主要因素測(cè)試探針的行程是否過(guò)壓，是否存在側(cè)面力介入，通過(guò)的測(cè)試電流是否大于額定值等等2：怎么使用能使探針的壽命最大化測(cè)試探針按照推薦的使用行程使用，保證探針在設(shè)備上是垂直伸縮
2019-07-22 17:39:39
在很多PCB板、晶圓的測(cè)試中，高頻探針是一個(gè)必不可少的探測(cè)工具。特別是高速數(shù)字電路板、微波芯片的測(cè)試中，對(duì)于探針的阻抗、損耗等都有非常高的要求。那么問(wèn)題來(lái)了，探針本身的性能好壞如何衡量？
2019-08-09 06:26:54
射頻探針的發(fā)展射頻（RF）探針在射頻產(chǎn)品生命周期中幾乎每一個(gè)階段都起著重要作用：從技術(shù)開(kāi)發(fā)，模型參數(shù)提取，設(shè)計(jì)驗(yàn)證及調(diào)試一直到小規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試和最終的生產(chǎn)測(cè)試。通過(guò)使用射頻探針，人們便有可能在晶片層次
2019-07-17 08:09:01
電氣性能優(yōu)越、可靠性高、測(cè)試壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。從產(chǎn)品用途來(lái)分，分為三大類(lèi)：1、IPEX和SWITCH 系列測(cè)試探針里庫(kù)電子IPEX和SWITCH 系列測(cè)試探針，主要用于IPEX 1代到5代以及相對(duì)
2019-12-18 17:32:00
現(xiàn)在測(cè)試治具中，探針是作為一個(gè)媒介，探針放在套管里，探針頭接觸待測(cè)物，另一端的套管引出線(xiàn)將信號(hào)傳導(dǎo)出去，接收回來(lái)的信號(hào)在測(cè)試機(jī)里處理，比如電阻利用電流源計(jì)算探針兩端的壓降，電容以定電壓源不同頻率去
2016-07-05 16:20:11
`手動(dòng)探針臺(tái)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)失效分析 趙工2020年開(kāi)年伊始就收到很多朋友對(duì)手動(dòng)探針臺(tái)使用問(wèn)題的咨詢(xún)，在此收集整理供手動(dòng)探針臺(tái)相關(guān)信息供大家參考。一：手動(dòng)探針臺(tái)用途：探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)
2020-03-28 12:14:08
正好可以提供這種保護(hù)，因?yàn)樵诮锹浜瓦吘壩恢肏RE增加，并且這種保護(hù)的成本相比于傳統(tǒng)工藝更低。3.擴(kuò)散永磁磁體中稀土元素的分布電子探針顯微鏡下的鋱擴(kuò)散磁體截面map：圖3(a)顯示4個(gè)面有明顯的Tb層
2018-10-17 10:33:33
學(xué)習(xí)proteus的時(shí)候，一個(gè)例子中出現(xiàn)總線(xiàn)上放電壓探針，用數(shù)字圖表進(jìn)行仿真，出現(xiàn)下面圖的仿真結(jié)果。按照例子來(lái)，仿真中，電壓探針不能放在總線(xiàn)上，在網(wǎng)上搜索的結(jié)果也是不能放到總線(xiàn)上。求教：電壓探針能否放置在總線(xiàn)上？如不能，怎么樣出現(xiàn)下圖的仿真結(jié)果？感謝！
2013-11-06 01:35:40
參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。④ 開(kāi)封制樣技術(shù)：化學(xué)開(kāi)封、機(jī)械開(kāi)封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片。⑤ 缺陷定位技術(shù)：液晶熱點(diǎn)、紅外熱像
2020-04-27 10:44:13
進(jìn)行有效探測(cè)的關(guān)鍵因素之一是進(jìn)行測(cè)頭探針的選擇，是否能夠觸測(cè)到特征并在接觸時(shí)保證一定的精度是使用者應(yīng)當(dāng)重點(diǎn)考慮的事情。目前，探針的種類(lèi)很多，包括了各種形狀和不同的制作材料。本文將重點(diǎn)對(duì)探針的主要細(xì)節(jié)進(jìn)行描述，以幫助您為不同的檢測(cè)任務(wù)選擇合適的探針。
2019-08-22 06:13:45
各位大蝦！在proteus中電流探針如何使用？有沒(méi)有這方面的資料，我的問(wèn)題：電流探針如何連接到電路中，我直接把它放到電路線(xiàn)上沒(méi)有錯(cuò)，但是用導(dǎo)線(xiàn)連接到電路中就出現(xiàn)“probe object ‘R1’ is ambiguously placed”的錯(cuò)誤，難道不能用線(xiàn)連接到電路中嗎？
2013-05-06 22:05:14
弱弱的問(wèn)一句，proteus仿真電路為啥加上電流探針就報(bào)錯(cuò)誤啊~~{:4:}
2014-08-28 08:39:02
/>◆分析儀器◆：電子及光學(xué)顯微鏡、電子探針、光學(xué)分析儀器、質(zhì)譜儀、光譜儀、色譜儀、波譜儀、頻譜儀、電化學(xué)分析儀器、X射線(xiàn)分析儀器、熱分析儀器、各式便攜儀器、表面分析儀器、核分析儀器、元素
2010-11-08 13:56:56
`芯片失效分析探針臺(tái)測(cè)試簡(jiǎn)介：可以便捷的測(cè)試芯片或其他產(chǎn)品的微區(qū)電信號(hào)引出功能，支持微米級(jí)的測(cè)試點(diǎn)信號(hào)引出或施加，配備硬探針和牛毛針，宜特檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)樣品實(shí)際情況自由搭配使用，外接設(shè)備可自由搭配
2020-10-16 16:05:57
醫(yī)學(xué)成像，特別是超聲成像技術(shù)，正處于變革之中。過(guò)去，醫(yī)療人員使用推車(chē)式的高性能超聲波系統(tǒng)為病人診斷，而現(xiàn)在他們可以使用手持設(shè)備來(lái)實(shí)現(xiàn)超聲波成像。得益于半導(dǎo)體技術(shù)的進(jìn)步，超聲智能探針的尺寸越來(lái)越小且
2022-11-09 08:13:09
某一個(gè)小區(qū)塊，所以我們面對(duì)這種問(wèn)題，常會(huì)使用探針工具，插在我們要觀(guān)察的線(xiàn)段上，此時(shí)程序一執(zhí)行就會(huì)實(shí)時(shí)的顯示出該線(xiàn)段的資料變化，你就可以進(jìn)行Debug的動(dòng)作。 探針工具是放在Tools Palette中
2015-01-06 10:05:36
本文介紹了電子探針波譜儀控制系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)背景、基本分析原理和波譜儀控制系統(tǒng)的組成。利用單片機(jī)結(jié)合CPLD 器件完成波譜儀控制系統(tǒng)的底層設(shè)計(jì)；利用串行口完成上、下位機(jī)的數(shù)
2009-08-29 10:03:00
10 選擇用于阻抗測(cè)試的最佳IP探針:使用Polar CITS或其它TDR探針測(cè)量阻抗時(shí)，選擇尤為重要。本應(yīng)用說(shuō)明將討論如何選擇最佳探針并澄清可能存在的誤區(qū)。
是否有適用于所有阻抗
2009-10-08 08:24:049 用金相試驗(yàn)、 X射線(xiàn)衍射物相分析和電子探針分析方法，系統(tǒng)地研究了4種鎳基釬料釬焊1Cr18Ni9Ti的釬縫組織特征和相組成及其隨熱處理時(shí)間的變化規(guī)律。
2010-02-01 14:09:4912 摘 要： 本文介紹了在斜置式方形探針測(cè)試系統(tǒng)中，如何應(yīng)用圖像識(shí)別技術(shù)來(lái)判定探針在微區(qū)的位置，進(jìn)而控制步進(jìn)電機(jī)，使探針自動(dòng)定位成方形結(jié)構(gòu)，從而保證測(cè)試的準(zhǔn)確性
2006-03-24 13:13:33
699 
電子探針的分析原理及構(gòu)造一 工作原理分析由莫塞萊定律可知，各種元素的特征X射線(xiàn)都具有各自確定的波長(zhǎng)，并滿(mǎn)足以下
2009-03-06 22:28:2917945 
電子探針分析方法利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學(xué)組成以及各元素的重量百分?jǐn)?shù)。分析前要根據(jù)試驗(yàn)?zāi)康闹苽錁悠?，樣品表面要清潔。用波譜儀分
2009-03-06 22:30:323360 離子探針顯微分析離子探針的學(xué)名叫作二次離子質(zhì)譜儀（Second Ion Mass Spectroscopy---SIMS），它在功能上與電子探針類(lèi)似，只是以離子束代替電子束，以質(zhì)譜儀代替X射
2009-03-06 22:39:006982 
邏輯探針電路圖,Logic Probe
This cir
2010-04-11 09:19:452045 
本文介紹了一種基于矩形波導(dǎo)-微帶探針耦合結(jié)構(gòu)等效電路的波導(dǎo)-微帶探針過(guò)渡CAD 方法應(yīng)用商業(yè)3 維電磁場(chǎng)分析軟件和微波電路CAD 軟件快速完成波導(dǎo)-微帶探針過(guò)渡的優(yōu)化設(shè)計(jì)設(shè)計(jì)實(shí)例和
2012-02-17 16:41:1540 EEPROM的掃描電鏡探測(cè)和探針攻擊_程鵬
2017-01-03 17:41:321 電子探針、掃描電鏡顯微分析學(xué)習(xí)資料
2017-02-07 16:15:3811 本文首先介紹了wifi探針的概念和特點(diǎn)，其次詳細(xì)介紹了WiFi探針的工作原理，最后介紹了WiFi探針可以采集的數(shù)據(jù)及融合。
2018-04-23 14:53:3744941 本文首先介紹了WIFI探針概念與WIFI探針使用的網(wǎng)絡(luò)協(xié)議，其次介紹了wifi探針技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域，最后介紹了公安局wifi探針用途。
2018-04-23 15:11:1123351 
PCB探針是電測(cè)試的接觸謀介，為高端緊密型電子五金元器件，屬于是重要的電子部件，是電子元器件連接導(dǎo)電的載體。 通常線(xiàn)路板的探針有很多的規(guī)格，針主要是有三個(gè)部分組成的：一是針管：主要是以銅合金為材料
2019-07-12 16:05:0013136 Q1：同軸連接器型TITAN?RF探針的頻率范圍是多少？ 答：DC-26GHz, DC-40GHz, DC-50GHz, DC-67GHz, DC-110GHz. Q2：想知道TITAN?RF探針
2021-10-14 10:19:331778 有一種幸福叫我有操作手冊(cè)。一個(gè)人的好都在細(xì)節(jié)里！ TS200SE探針臺(tái)操作手冊(cè) 第一步： 準(zhǔn)備本次測(cè)試的DUT和相應(yīng)的探針與電纜，將相應(yīng)的探針擺放完畢，佩戴相應(yīng)的手套、防靜電手環(huán)等。 第二步： 打開(kāi)
2020-02-25 13:58:016812 
WiFi探針本身僅僅是一種通信技術(shù)，但是被歪曲應(yīng)用和誤解了。WiFi探針本身其實(shí)僅僅是一種數(shù)據(jù)采集，WiFi探針后面的“私人信息大數(shù)據(jù)庫(kù)泛濫”其實(shí)才是可怕的，但貌似很多人將重點(diǎn)關(guān)注放在了WiFi探針層面上。
2019-12-10 13:55:562105 越來(lái)越輕薄，內(nèi)部空間零件密集，所以對(duì)測(cè)試針模組的精度和空間要求也是越來(lái)越高。作為應(yīng)用于電子測(cè)試中測(cè)試PCBA的一種測(cè)試連接電子元件，彈片微針模組和探針模組又有什么區(qū)別呢？ 從彈片微針模組和探針模組的外形結(jié)構(gòu)、使用壽命、性能等方
2020-04-02 14:24:364222 什么是探針？探針其實(shí)就是一種高端精密型的電子元件，主要應(yīng)用于手機(jī)等電子產(chǎn)品中，起連接作用。文中介紹的測(cè)試探針相當(dāng)于一個(gè)媒介，測(cè)試時(shí)可用探針的頭部去接觸待測(cè)物，另一端則用來(lái)傳導(dǎo)信號(hào)，進(jìn)行電流的傳輸
2020-03-30 14:26:234960 探針是什么？探針是一個(gè)多義詞，在不同的領(lǐng)域中，探針的含義和作用也不相同。那么到底探針是什么呢？主要可以分為以下幾類(lèi)： 信息探測(cè)工具 探針是什么？作為信息探測(cè)工具來(lái)說(shuō)，探針卡是一種測(cè)試接口，主要
2020-03-30 14:27:2725527 PCB探針是電測(cè)試的接觸謀介，屬于重要的電子部件，是電子元器件連接導(dǎo)電的載體。PCB探針廣泛用于測(cè)試PCBA的一種數(shù)據(jù)傳送，導(dǎo)電接觸，通過(guò)探針導(dǎo)電傳輸功能體的數(shù)據(jù)判斷產(chǎn)品是否正常接觸以及運(yùn)作數(shù)據(jù)正常。
2020-07-25 11:38:224815 如何使用正確的檢測(cè)技術(shù)幫助拯救生命？INGUN通過(guò)為醫(yī)療技術(shù)領(lǐng)域提供專(zhuān)業(yè)的測(cè)試解決方案，支持著這個(gè)高要求行業(yè)的制造商實(shí)現(xiàn)最高的產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。我們所使用的測(cè)試探針和測(cè)試夾具不僅能確保電氣和電子
2020-08-31 17:01:434855 工具INGUN工具對(duì)于保證安全和精確檢測(cè)的作用不可小覷。只有通過(guò)最佳裝配的針套和探針，才能夠保證電子組件的順利檢測(cè)。
2020-12-30 15:45:413297 HC-Z4 直線(xiàn)四探針電阻率測(cè)試儀，包含直線(xiàn)直線(xiàn)四探針夾具、雙探針自動(dòng)切換開(kāi)關(guān)和測(cè)試軟件組成。使用時(shí)需要有一臺(tái)計(jì)算機(jī)安裝測(cè)試軟件，可以通過(guò) R232 串行接口、以太網(wǎng)接口、USB 口和 GPIB
2021-05-06 09:20:2754 英鋼INGUN探針各種型號(hào)參數(shù)
2022-05-17 11:43:257 1980年，在Tektronix工作的Reed Gleason與Eric Strid合作發(fā)明了第一臺(tái)高頻晶圓探針，并于1983年聯(lián)合創(chuàng)辦了Cascade Microtech公司。該公司基本上是奠基
2022-05-30 10:20:582735 
真空探針臺(tái)主要進(jìn)行MEMS 器件晶圓級(jí)的射頻測(cè)試、特種氣體環(huán)境測(cè)試、壓力測(cè)試、光電性能測(cè)試、溫度測(cè)試、震動(dòng)測(cè)試、聲音測(cè)試及電參數(shù) 測(cè)試，這些測(cè)試類(lèi)型都基于探針臺(tái)的真空環(huán)境。當(dāng)真空探針臺(tái)腔體
2022-06-06 10:44:302018 測(cè)試效率是探針臺(tái)除定位精度外的一個(gè)重要 指標(biāo)。探針臺(tái)用戶(hù)希望在保證精度、穩(wěn)定性的前提 下，最大限度地提高探針臺(tái)的測(cè)試效率，來(lái)縮短生 產(chǎn)周期，降低成本。本文將從分析探針臺(tái)自動(dòng)測(cè)試 的流程入手，提出幾種
2022-06-06 10:50:071145 Altius探針卡概述 封裝系統(tǒng)（SIP）技術(shù)是將高端邏輯和存儲(chǔ)設(shè)備結(jié)合在一起，用于計(jì)算密集型應(yīng)用（如云計(jì)算和無(wú)人駕駛汽車(chē)）的關(guān)鍵推動(dòng)力。硅中介層是在不同設(shè)備類(lèi)型之間提供互連平臺(tái)的關(guān)鍵元素
2022-06-07 15:24:05328 Pyrana 探針卡概述 對(duì)于高達(dá) 10 GHz 的 RF 器件和對(duì)電感敏感的應(yīng)用，Pyrana 探針卡提供了出色的信號(hào)完整性、低寄生電感及較長(zhǎng)使用壽命。Pyrana 探針卡整合了 Katana
2022-06-13 10:11:23502 晶圓探針測(cè)試也被稱(chēng)為中間測(cè)試（中測(cè)），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2022-08-09 09:21:103834 以上6種粉末材料在使用兩種測(cè)試方法測(cè)得的電阻率均隨壓力的增大而呈現(xiàn)遞減趨勢(shì)，且趨勢(shì)一致（如圖2左圖）。取90MPa壓強(qiáng)下的電阻率值進(jìn)行對(duì)比分析，GR/LFP/LRM/PBF/LCO四探針測(cè)試結(jié)果均小于兩探針的測(cè)試結(jié)果
2022-09-22 11:52:273307 探針卡是由探針（probe pin）、電子元件（component）、線(xiàn)材（wire）與印刷電路板（PCB）組成的一種測(cè)試接口，根據(jù)不同的情況，還會(huì)有電子元件、補(bǔ)強(qiáng)板（Stiffener）等的需求，主要對(duì)裸芯進(jìn)行測(cè)試，即wafer level測(cè)試。
2022-10-17 17:44:421781 測(cè)試一：先將網(wǎng)分與線(xiàn)纜校準(zhǔn)后，然后連接兩個(gè)探針測(cè)試DUT，將兩個(gè)探針的S參數(shù)、兩個(gè)探針+DUT的整體S參數(shù)分別導(dǎo)出，然后使用PLTS校準(zhǔn)軟件將探針本身S參數(shù)去嵌，得到單獨(dú)DUT的S參數(shù)。
2022-12-08 15:55:424893 在ICT或者FCT測(cè)試中，治具上的探針總歸會(huì)測(cè)試到一定的壽命時(shí)候變得臟污，造成測(cè)試不通，通常的情況下也許探針本身的彈性和力量還是比較好的狀態(tài)，但是因?yàn)榕K污的存在造成針頭和被測(cè)試物的接觸形成很大的電阻
2022-12-28 10:15:321811 
尖端來(lái)匹配測(cè)試點(diǎn)，在這里你可以參考如何選擇探針針頭的選擇。 事實(shí)上，安捷倫ICT測(cè)試機(jī)通過(guò)一個(gè)探針來(lái)檢查PCB線(xiàn)路的開(kāi)路或短路，從而接觸焊接、引腳和通孔。在EMS(電子制造服務(wù))行業(yè)中，用于檢查電腦線(xiàn)路板、筆記本電腦線(xiàn)路板和服務(wù)器
2022-12-30 09:49:141197 
晶圓探針測(cè)試也被稱(chēng)為中間測(cè)試（中測(cè)），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2023-01-04 16:11:501579 隨著集成電路的快速發(fā)展，許多電氣和汽車(chē)應(yīng)用都采用了大電流功能。如何安全有效地測(cè)試這類(lèi)產(chǎn)品正在成為一個(gè)新的挑戰(zhàn)。 我們還開(kāi)發(fā)了大電流測(cè)試探針，通常用于測(cè)試大型充放電設(shè)備。 從參數(shù)特性來(lái)看，要傳遞的電流
2023-01-10 08:40:052010 
探針卡（Probe card）或許很多人沒(méi)有聽(tīng)過(guò)，但看過(guò)關(guān)于，也就是晶圓測(cè)試方面文章的人應(yīng)該不會(huì)陌生，其中就有提到過(guò)探針卡。
2023-02-27 17:48:492327 PLCopen有一個(gè)參數(shù)列表，各參數(shù)都有一個(gè)參數(shù)號(hào)，以參數(shù)號(hào)讀寫(xiě)相關(guān)參數(shù)。另外，還可讀取伺服軸的狀態(tài)和軸錯(cuò)誤信息。 本節(jié)介紹探針功能。ABB PLC有兩個(gè)探針功能的功能塊
2023-03-08 13:55:004064 探頭架構(gòu)的關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)是，數(shù)據(jù)保留在本地，只有信息在CodimaToolbox系統(tǒng)之間傳輸。此外，探針的運(yùn)行是并行的，所以對(duì)"哪些Cisco路由器技術(shù)支持期限將要結(jié)束"的整個(gè)企業(yè)視圖的請(qǐng)求，將在所有探針上同時(shí)處理，大大加快了進(jìn)程，并將檢索時(shí)間降到最低。
2023-04-18 11:17:02250 晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885 
探針卡是半導(dǎo)體晶圓測(cè)試過(guò)程中需要使用的重要零部件，被認(rèn)為是測(cè)試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測(cè)試電流、測(cè)試機(jī)臺(tái)有所不同，針對(duì)不同的芯片都需要有定制化的探針卡
2023-05-08 10:38:273464 
晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:142363 
英岡ingun原裝進(jìn)口探針，測(cè)試結(jié)果可靠，直通率高，使用壽命長(zhǎng)。
2022-03-10 16:45:041314 
影像儀換上探針傳感器配置，相當(dāng)于一臺(tái)小的三座標(biāo)測(cè)量?jī)x，即為復(fù)合式影像測(cè)量?jī)x，如在需要測(cè)量高度的地方，用探針取元素（點(diǎn)或面），然后在軟件內(nèi)計(jì)算高度。
2022-09-22 14:29:42757 
奕葉四向毫米波探針臺(tái)
2023-08-23 14:21:22555 
點(diǎn)擊美能光伏關(guān)注我們吧！薄層電阻在太陽(yáng)能電池中起著非常重要的作用，它影響著太陽(yáng)能電池的效率和性能。四
探針法能夠測(cè)量太陽(yáng)能電池的薄層電阻，從而精確地獲取電池片的電阻數(shù)據(jù)?！该滥芄夥箵碛械拿滥軖呙?/div>
2023-08-24 08:37:061069 
制造工藝：制造高頻探針需要高度精密的工藝。通常，鎢粉與其他金屬粉末混合，然后通過(guò)拉拔機(jī)械等工藝加工成所需的尺寸和形狀。這確保了探針的尺寸精度和表面光滑度，以滿(mǎn)足高頻測(cè)試的要求。
2023-09-15 17:04:07529 
2023-10-19 08:32:030 ACp65是一種常用的探針，被廣泛用于研究細(xì)胞衰老、疾病發(fā)展和治療等領(lǐng)域。在本文中，我們將詳細(xì)介紹ACp65探針的參數(shù)、應(yīng)用以及未來(lái)的發(fā)展。 ACp65探針的基本參數(shù) ACp65探針是一種標(biāo)記于抗原
2024-01-10 14:39:01207 CASCADE探針臺(tái)是一種高級(jí)的網(wǎng)絡(luò)分析工具，可以在網(wǎng)絡(luò)中捕獲和分析數(shù)據(jù)流量。它可以幫助企業(yè)識(shí)別和解決網(wǎng)絡(luò)性能問(wèn)題、網(wǎng)絡(luò)安全問(wèn)題以及網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化等方面的挑戰(zhàn)。CASCADE探針臺(tái)具有廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景，下面
2024-01-31 14:41:25272 探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路（IC）的設(shè)備，工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上，然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳，以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中，探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào)，通過(guò)
2024-02-04 15:14:19234 如果應(yīng)用是慢啟動(dòng)類(lèi)型，建議配置啟動(dòng)探針或者為存活探針配置initialDelaySeconds參數(shù)，避免存活探針過(guò)早介入導(dǎo)致容器頻繁重啟。如果應(yīng)用啟動(dòng)時(shí)間不固定建議使用啟動(dòng)探針。
2024-02-26 11:08:50138 浙江季豐精密電子有限公司近期獲得CE認(rèn)證MD證書(shū)、EMC證書(shū)和LVD證書(shū)。
2024-03-06 10:42:12227 
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