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電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>銀粉形貌觀察和直徑測(cè)量(掃描電鏡)分析

銀粉形貌觀察和直徑測(cè)量(掃描電鏡)分析

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2023-10-31 15:12:41770

高端新品發(fā)布!國(guó)產(chǎn)雙束電鏡+超高分辨電鏡閃耀2023全國(guó)電鏡年會(huì)

10月26日,2023年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)在東莞市召開。國(guó)儀量子在會(huì)議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X,開啟了國(guó)產(chǎn)高端電鏡
2023-10-29 08:25:471158

白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀):揭秘測(cè)量坑的形貌的利器!

SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來提高測(cè)量的精度和效率,揭秘并測(cè)量坑的形貌,為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持。
2023-10-26 10:47:58297

一種晶圓表面形貌測(cè)量方法-WD4000

、SORI等參數(shù),同時(shí)生成Mapping圖;2、采用白光干涉測(cè)量技術(shù)對(duì)Wafer表面進(jìn)行非接觸式掃描同時(shí)建立表面3D層析圖像,顯示2D剖面圖和3D立體彩色視圖,高效分析
2023-10-24 09:42:25554

一文帶您了解場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

普通熱發(fā)射掃描電子顯微鏡相比,場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑,即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區(qū)形貌分析的首選。 2. 文書組成 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡由場(chǎng)發(fā)射電子槍、電子束推進(jìn)器、聚光透
2023-10-23 14:56:393838

白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀):揭秘測(cè)量坑的形貌的利器!

干涉現(xiàn)象,使用白光源照射物體,并將反射光經(jīng)過干涉儀的分光裝置后形成干涉圖樣。通過觀察干涉圖樣的變化,就可以獲得物體表面形貌的細(xì)節(jié)信息。如何使用白光干涉儀來測(cè)量坑的形貌?
2023-10-20 09:52:210

你了解掃描電鏡的特點(diǎn)和結(jié)構(gòu)嗎

。 特點(diǎn) 制樣簡(jiǎn)單、放大倍率可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實(shí)的三維效果等特點(diǎn)。對(duì)于導(dǎo)電材料,它們可以直接放入樣品室進(jìn)行分析。對(duì)于導(dǎo)電性差或絕緣性差的樣品,需噴涂導(dǎo)電層。 基本結(jié)構(gòu) 從結(jié)構(gòu)上看,掃描電鏡
2023-10-19 15:38:30357

白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀):揭秘測(cè)量坑的形貌的利器!

SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來提高測(cè)量的精度和效率,揭秘并測(cè)量坑的形貌,為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持
2023-10-18 09:05:39462

白光干涉3D形貌測(cè)量

中圖儀器SuperViewW1白光干涉3D形貌測(cè)量儀以白光干涉技術(shù)原理,是對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器。它結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌
2023-10-17 14:24:27

納米級(jí)測(cè)量儀器:窺探微觀世界的利器

共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法共同組成測(cè)量系統(tǒng),能用于各種精密器件及材料表面的非接觸式微納米測(cè)量。能測(cè)量表面物理形貌,進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深
2023-10-11 14:37:46

一分鐘帶你了解EBSD的操作過程

不同型號(hào)掃描電鏡的操作步驟會(huì)有一些差異,各廠家的EBSD系統(tǒng),特別是控制SEM的軟件都不一致。
2023-10-10 09:25:08609

電鏡常用元素分析方法:EDS、EELS、HAADF-STEM

不同的波長(zhǎng)λ對(duì)應(yīng)于不同的原子序數(shù)Z。根據(jù)這個(gè)特征能量, 即可知所分析的區(qū)域存在什么元素及各元素的含量。根據(jù)掃描的方式, EDS 可分為點(diǎn)分析、線掃描及面掃描三種:EDS 點(diǎn)分析是將電子束固定于樣品中某一點(diǎn)上,進(jìn)行定性或者定量的分析。
2023-09-28 15:54:341719

白光干涉顯微形貌

SuperViewW系列白光干涉顯微形貌儀是以白光干涉技術(shù)原理,通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌,是一款用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的納米級(jí)測(cè)量儀器。產(chǎn)品簡(jiǎn)介
2023-09-26 14:12:49

觸針式粗糙度輪廓儀的測(cè)量原理

觸針式粗糙度輪廓儀廣泛應(yīng)用于工程領(lǐng)域和制造業(yè)中,用于表面形貌分析和處理。通過測(cè)量獲得的表面形貌數(shù)據(jù),可以進(jìn)行各種形式的分析,如峰谷高度分布、表面輪廓特征、表面粗糙度和形狀參數(shù)等。
2023-09-18 09:44:07474

臺(tái)階儀接觸式表面形貌測(cè)量

臺(tái)階儀是一種接觸式表面形貌測(cè)量儀器,可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。中圖儀器CP系列臺(tái)階儀接觸式表面形貌測(cè)量儀廣泛應(yīng)用于:大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
2023-09-14 16:10:14

2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)順利召開

(合肥)技術(shù)有限公司承辦的“2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)”在合肥召開。來自中國(guó)科學(xué)院、北京大學(xué)、中南大學(xué)、中國(guó)農(nóng)科院、中國(guó)醫(yī)學(xué)科學(xué)院、浙江中醫(yī)藥大學(xué)等高??蒲?/div>
2023-09-13 08:30:05502

錫膏量與再流焊后焊點(diǎn)形貌關(guān)系分析

表面貼裝技術(shù)中的鋼網(wǎng)設(shè)計(jì)是決定焊膏沉積量的關(guān)鍵因素,而再流焊后形成的焊點(diǎn)形貌與鋼網(wǎng)的開口設(shè)計(jì)有著千絲萬(wàn)縷的聯(lián)系。從SMT錫膏印刷工藝的理論基礎(chǔ)出發(fā),結(jié)合實(shí)際PCB(印制線路板)上錫膏印刷量,針對(duì)在不同線寬的高速信號(hào)線衍生形成的焊盤上印刷不同體積的錫膏量,論證再流焊后形成的焊點(diǎn)形貌。
2023-09-12 10:29:03383

?使用虹科數(shù)字化儀測(cè)量遙遠(yuǎn)恒星的直徑

加那利群島拉帕爾馬島的MAGIC 望遠(yuǎn)鏡是為了觀測(cè)發(fā)射高能伽馬射線的宇宙物體(即超新星或黑洞)而建造的。天文學(xué)家使用雙望遠(yuǎn)鏡測(cè)量恒星的直徑,以研究其整個(gè)生命周期的過程。對(duì)于地球上的望遠(yuǎn)鏡來說,這是
2023-09-11 15:31:38199

使用虹科數(shù)字化儀測(cè)量遙遠(yuǎn)恒星的直徑

使用虹科數(shù)字化儀測(cè)量遙遠(yuǎn)恒星的直徑HongKe'sdigitizercards加那利群島拉帕爾馬島的MAGIC望遠(yuǎn)鏡是為了觀測(cè)發(fā)射高能伽馬射線的宇宙物體(即超新星或黑洞)而建造的。天文學(xué)家
2023-09-09 08:07:32352

功率放大器在掃描顯微鏡中的應(yīng)用有什么

功率放大器在掃描顯微鏡中起到了至關(guān)重要的作用。掃描顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù),它能夠以極高的精度觀察和研究樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)特征。而功率放大器則能夠提供所需的信號(hào)增益,使得掃描顯微鏡能夠獲得
2023-09-07 18:28:23209

聚焦離子束FIBSEM切片測(cè)試【博仕檢測(cè)】

聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用 聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。 1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27

蔡司掃描電鏡在第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果

掃描電子顯微鏡-電子通道對(duì)比成像(SEM-ECCI)是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡(TEM)在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47356

EDS面掃、線掃、點(diǎn)掃的應(yīng)用

能譜儀(EDS)是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具,通常與掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)組合使用,實(shí)現(xiàn)形貌與成分的對(duì)照。它的工作原理是:當(dāng)電子束掃描樣品時(shí),不同元素被激發(fā)出來的x射線能量不同,通過探測(cè)這些特征X射線的能量與強(qiáng)度,可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241952

白光干涉儀可以看顯微形貌嗎?

白光干涉儀是一種常見的測(cè)量設(shè)備,它能夠利用不同的光束干涉原理來觀察測(cè)量顯微形貌。當(dāng)白色光經(jīng)過分束鏡分成兩束光線,這些光線在目標(biāo)物體上反射后重新合并。這樣,生成的光束會(huì)發(fā)生干涉,由此產(chǎn)生一系列明暗相間的干涉條紋。這些條紋的形狀和間距與目標(biāo)物體的表面形貌直接相關(guān)。
2023-08-23 10:35:21441

白光干涉儀只能測(cè)同質(zhì)材料嗎?

、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,晶粒分析等; 2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖,輪廓線等; 3、表界面測(cè)量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面; 4、薄膜和厚膜
2023-08-21 13:46:12

CP國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀 接觸式表面形貌測(cè)量儀器

CP國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量儀器,其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。測(cè)量時(shí)通過使用2μm半徑的金剛石針尖在超精密位移臺(tái)移動(dòng)樣品時(shí)掃描其表面,測(cè)針的垂直位移
2023-08-16 11:16:49

國(guó)儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000

“在大規(guī)模成像場(chǎng)景中,常規(guī)掃描電鏡成像速度和自動(dòng)化程度都無法滿足應(yīng)用需求。例如,在芯片結(jié)構(gòu)成像應(yīng)用中,需要在幾周內(nèi)完成數(shù)百平方毫米區(qū)域的連續(xù)拍攝;在人類腦圖譜研究中,需要對(duì)百億級(jí)神經(jīng)元進(jìn)行高分辨成像
2023-08-09 08:29:23453

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究,人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351419

蔡司掃描電鏡下金剛石形貌

金剛石礦物的晶體結(jié)構(gòu)屬于等軸晶系同極鍵四面體結(jié)構(gòu)。碳原子位于四面體的角部和中心,具有高度的對(duì)稱性。晶胞中的碳原子以同極鍵連接,距離為154pm。。常見的晶形有八面體、菱形十二面體、立方體、四面體和六面體等。鉆石的應(yīng)用范圍非常廣泛,例如:工藝品和工業(yè)中的切割工具。石墨在高溫高壓下能形成人造金剛石,也是一種珍貴的寶石。中國(guó)也有制造鉆石的技術(shù)。需要注意的是,石墨和金剛石的物理性質(zhì)是完全不同的。鉆石有各種顏色,從無
2023-08-04 11:50:01458

SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大平臺(tái)中心

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日,國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大
2023-07-31 23:30:26350

蔡司掃描電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果

掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)(SEM-ECCI)是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡(TEM)的功能,相對(duì)透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56330

蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡

蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650

白光干涉儀測(cè)二維形貌怎么測(cè)

白光干涉儀利用白光干涉原理,通過測(cè)量光的相位變化來獲取物體表面的形貌信息。在工業(yè)制造、科學(xué)研究等領(lǐng)域,被廣泛用于測(cè)量精密器件的形貌、表面缺陷檢測(cè)等方面。白光干涉儀通過對(duì)干涉條紋進(jìn)行圖像處理,可以獲得
2023-07-21 11:05:48418

白光干涉儀測(cè)三維形貌怎么測(cè)

白光干涉儀測(cè)量的結(jié)果通常以二維形貌圖或三維形貌圖的形式展示。二維形貌圖是對(duì)干涉條紋進(jìn)行圖像處理得到的,顯示出被測(cè)物體表面的高低起伏。而三維形貌圖則是在二維圖像的基礎(chǔ)上,進(jìn)一步還原出物體表面的立體形貌
2023-07-21 11:03:00522

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA 500

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無交叉光路設(shè)計(jì),打破了傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中電子束交叉三次發(fā)生能量擴(kuò)散的局限性,束流大小適中,極大地降低色差對(duì)圖像質(zhì)量的影響;鏡筒內(nèi)置電子束加速器,無需
2023-07-14 16:26:59916

3D三維掃描儀的掃描測(cè)量技術(shù)原理

3D三維掃描測(cè)量測(cè)技術(shù)采用三角測(cè)量原理準(zhǔn)確獲取工件表面完整三維數(shù)據(jù)的高性能光學(xué)掃描量測(cè)系統(tǒng)是一款先進(jìn)的的解決方案。與傳統(tǒng)接觸式測(cè)量方法相比,非接觸式蔡司光學(xué)掃描測(cè)量方法更快,獲取的數(shù)據(jù)信息量更多
2023-07-11 15:11:391174

EM科特 CUBE-Ⅱ臺(tái)式桌面掃描電鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的區(qū)別

EM科特(EmCrafts)Cube系列桌面式掃描電鏡,是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身,Cube系列占地面積小,便攜性能好,可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)SEM設(shè)備。 EM
2023-07-05 15:24:02433

關(guān)于EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列的特點(diǎn)分析

的高性能高效率,大樣品倉(cāng)內(nèi)含5軸共心電動(dòng)樣品臺(tái),可更輕松地測(cè)量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規(guī)SEM無法分析的大尺寸樣品。例如:晶圓,磁盤 l無損樣品分析?? 無需切割即可分析樣品。例如PCB,半導(dǎo)體圖案分析 l較重
2023-07-05 15:13:38270

SEM掃描電鏡工作原理,SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用

等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡分析實(shí)驗(yàn)室圖源:優(yōu)爾鴻信華南檢測(cè)中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理,主要基于聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質(zhì)間的相
2023-07-05 10:04:061995

AMEYA360談蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列

近日,蔡司中國(guó)新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會(huì)成功舉行。為了滿足新能源、新材料、電子半導(dǎo)體和集成電路、深海、航天、生命科學(xué)和考古學(xué)等熱門領(lǐng)域高分辨率成像和綜合分析的需要,蔡司
2023-07-04 15:39:24249

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)

今天三本精密儀器小編給您介紹場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求:一、樣品要求(1)本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機(jī)、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動(dòng)粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品
2023-06-19 11:15:40813

CASAIM藍(lán)光三維掃描儀在刀具行業(yè)應(yīng)用

三維掃描儀在刀具行業(yè)的一些應(yīng)用: 1. 刀具尺寸測(cè)量:通過CASAIM藍(lán)光三維掃描儀,可以對(duì)刀具的尺寸進(jìn)行精確測(cè)量。這包括刀具的長(zhǎng)度、直徑、刃長(zhǎng)、刃厚等關(guān)鍵尺寸。通過測(cè)量分析刀具的尺寸,可以確保刀具符合設(shè)計(jì)要求,提高切削精度
2023-06-16 16:04:29345

喜提儀器行業(yè)大獎(jiǎng)!國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000獲“3i獎(jiǎng)”

5月18日,2023第十六屆中國(guó)科學(xué)儀器發(fā)展年會(huì)(ACCSI2023)在北京雁棲湖國(guó)際會(huì)展中心盛大開幕,并頒發(fā)“儀器及檢測(cè)3i獎(jiǎng)”。國(guó)儀量子自主研發(fā)的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i
2023-05-30 17:19:16366

光學(xué)三維形貌測(cè)量概述

? 技術(shù)背景 物體三維形貌提供豐富直觀的信息,在現(xiàn)代工業(yè)與生活中許多領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。的非接觸三維測(cè)量有著廣泛的應(yīng)用。經(jīng)典的外觀幾何測(cè)量諸如長(zhǎng)度,角度,平面度,直線度等的測(cè)量技術(shù)一般采用接觸式測(cè)試
2023-05-29 15:20:351100

VT6000共聚焦顯微鏡 超高清三維形貌成像系統(tǒng)

在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中,共聚焦顯微鏡主要測(cè)量表面物理形貌,進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比,它具有更高
2023-05-25 11:27:02

芯明天壓電鏡架選型

芯明天壓電鏡架是一種利用壓電效應(yīng)來控制鏡片位置的光學(xué)機(jī)械。壓電效應(yīng)是指在某些晶體中,如壓電陶瓷,當(dāng)施加電場(chǎng)時(shí),壓電陶瓷會(huì)發(fā)生形變,通過機(jī)械結(jié)構(gòu)將這種形變轉(zhuǎn)換為直線毫米級(jí)行程,該運(yùn)動(dòng)對(duì)鏡架進(jìn)行角度偏轉(zhuǎn)
2023-05-25 10:27:45350

白光干涉儀測(cè)量曲面粗糙度

經(jīng)被測(cè)表面反射回來,另外一束光經(jīng)參考鏡反射,兩束反射光最終匯聚并發(fā)生干涉,顯微鏡將被測(cè)表面的形貌特征轉(zhuǎn)化為干涉條紋信號(hào),通過測(cè)量干涉條紋的變化,能實(shí)現(xiàn)表面輪廓的三維重建并可進(jìn)行輪廓尺寸分析。白光干涉儀的形貌測(cè)量
2023-05-22 10:29:332

白光干涉儀的原理和測(cè)量方法

白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量儀器,用于表面形貌紋理,微觀結(jié)構(gòu)分析,用于測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓
2023-05-15 14:34:231961

Multisim軟件之交流掃描分析

  交流掃描分析   交流掃描分析是在正弦小信號(hào)工作條件下的一種頻域分析。它可以計(jì)算電路的幅頻特性和相頻特性,是一種線性分析方法。   Multisim 軟件在進(jìn)行交流頻率分析時(shí),首先分析電路的直流
2023-04-27 16:15:27

喜報(bào)!國(guó)儀量子電子顯微鏡單年交付超100臺(tái)

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計(jì),高壓隧道技術(shù)(SuperTunnel)、低像差無漏磁物鏡設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像,同時(shí)
2023-04-12 11:38:30572

HF5000球差電鏡功能介紹和亮點(diǎn)功能案例分析

季豐電子HITACHI HF5000功能豐富,借助超高的分辨率和獨(dú)特的探頭設(shè)計(jì),可滿足客戶大多數(shù)極限應(yīng)用需求,比如高分辨單原子像、輕元素成像、表面納米級(jí)至原子級(jí)形貌觀察以及納米結(jié)構(gòu)至原子形貌mapping等,對(duì)于常規(guī)需求能輕松應(yīng)對(duì)。
2023-04-11 17:08:181472

北京大學(xué)先進(jìn)光子集成公共平臺(tái)正式開放運(yùn)行

該平臺(tái)擁有超凈間面積約300平方米,其中百級(jí)潔凈區(qū)50平米,配備了可完整涵蓋微加工需求的大、中、小型設(shè)備,包括電子束曝光機(jī)、掃描電鏡、磁控濺射儀、等離子刻蝕機(jī)、快速退火爐、精密貼片機(jī)、勻膠機(jī)、離子濺射儀、膜厚計(jì)、原子力顯微鏡、任意波形發(fā)生器、高速采樣示波器、信號(hào)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等。
2023-04-10 11:24:06712

3D建模服務(wù)三維掃描測(cè)量CAD畫圖服務(wù)

CASAIM智能制造利用三維激光掃描技術(shù)為廣大客戶提供了高效的三維掃描建模服務(wù)與三維尺寸測(cè)量服務(wù)。結(jié)合三維掃描儀,只要對(duì)實(shí)物進(jìn)行掃描,再進(jìn)行加工生產(chǎn)和逆向工程,可以更加高效開發(fā)系列化產(chǎn)品。下面看看CASAIM智能制造在廣州3D建模服務(wù)三維掃描測(cè)量CAD畫圖服務(wù)。
2023-03-31 15:27:33594

3D高精度激光共聚焦掃描顯微鏡

中圖儀器VT60003D高精度激光共聚焦掃描顯微鏡以共聚焦顯微測(cè)量技術(shù)為原理,主要測(cè)量表面物理形貌,進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面
2023-03-27 14:05:31

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