粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測(cè)，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。VT6000高分辨率共聚焦激光顯微鏡是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法
2024-03-22 15:12:37
中圖儀器VT6000共聚焦顯微鏡工業(yè)幾何量測(cè)顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像，從而進(jìn)行分析的精密光學(xué)儀器，一般
2024-03-13 10:10:32
昊量光電新推出法國(guó)ARGOLIGHT公司生產(chǎn)的耐用型熒光顯微鏡校準(zhǔn)載玻片，用于熒光顯微鏡的標(biāo)定和光路對(duì)準(zhǔn)。獨(dú)創(chuàng)的顯微鏡標(biāo)定技術(shù)和光路對(duì)準(zhǔn)得益于將亞納米級(jí)三維/二維圖案嵌入到載玻片的技術(shù)，且圖案不會(huì)
2024-03-05 08:18:54
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【設(shè)備應(yīng)用】
SEM是掃描電子顯微鏡，用二次電子成像的原理來(lái)觀察某種物質(zhì)的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對(duì)應(yīng)的電子能不同，來(lái)鑒別元素，通常與SEM結(jié)合使用，也就是說(shuō)在SEM上安裝EDS附件，在
2024-03-01 18:59:58
在芯片制造領(lǐng)域，透射電鏡TEM技術(shù)發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。通過(guò)TEM測(cè)試，科學(xué)家可以觀察芯片中晶體結(jié)構(gòu)的變化，分析晶體缺陷，研究材料界面結(jié)構(gòu)，從而深入了解芯片的工作原理和性能。
2024-02-27 16:48:13134 
中圖儀器VT6000系列共聚焦高精度三維顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像，從而進(jìn)行分析的精密光學(xué)儀器，一般用于
2024-02-21 13:55:40
掃描電鏡按構(gòu)造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細(xì)物質(zhì)構(gòu)造，次要用于察看固體外表的形貌，也能與
2024-02-01 18:22:15603 陽(yáng)一科技體視顯微鏡也稱(chēng)解刨顯微鏡，是微量物證檢驗(yàn)常用的儀器。主要用于痕跡檢驗(yàn)、文件檢驗(yàn)中的細(xì)小物證，如指紋、工具、文字的顯微觀察和分析檢驗(yàn)。體視顯微鏡主要操作有：調(diào)焦，視度調(diào)節(jié)，瞳距調(diào)節(jié)和燈泡更換
2024-01-26 08:35:32291 
1月20日，廣州慧炬科技有限公司成功舉辦“承鴻鵠之志，造大國(guó)電鏡”新品發(fā)布會(huì)，正式發(fā)布首臺(tái)國(guó)產(chǎn)商業(yè)場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡“太行”TH-F120。標(biāo)志著我國(guó)已掌握透射電鏡整機(jī)研制能力以及電子槍、高壓電源
2024-01-26 08:26:00280 
。 1月20日，首臺(tái)國(guó)產(chǎn)商業(yè)場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡TH-F120在廣州市黃埔區(qū)正式發(fā)布。該透射電鏡由生物島實(shí)驗(yàn)室領(lǐng)銜研制，擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)，將打破國(guó)內(nèi)透射電鏡100%依賴(lài)進(jìn)口的局面，標(biāo)志著我國(guó)已掌握透射電鏡用的電子槍等核心技術(shù)，并具備量產(chǎn)透射電鏡
2024-01-22 09:54:52127 顯微鏡利用可見(jiàn)光成像。因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">電子的波長(zhǎng)比光的波長(zhǎng)小得多，所以電子顯微鏡的分辨率比光學(xué)顯微鏡高。 掃描電子顯微鏡（SEM），簡(jiǎn)稱(chēng)掃描電子顯微鏡，已成為一種功能強(qiáng)大、用途廣泛的材料表征工具，廣泛應(yīng)用于材料、冶金、礦產(chǎn)、
2024-01-17 09:39:56144 掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡SNOM 掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(scanning near-field optical microscopy, SNOM)，能在納米尺度上探測(cè)樣品的光學(xué)信息，打破了長(zhǎng)久以來(lái)經(jīng)典
2024-01-09 14:19:31149 由于電子在空氣中行進(jìn)的速度很慢，所以必須由真空系統(tǒng)保持電鏡的真空度，否則，空氣中的分子會(huì)阻撓電子束的發(fā)射而不能成像。用兩種類(lèi)型的真空泵串連起來(lái)獲得電子顯微鏡鏡筒中的真空，當(dāng)電子顯微鏡啟動(dòng)時(shí)，第一
2024-01-09 11:18:33165 數(shù)字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無(wú)涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298 
?? ?SEM掃描電子顯微鏡場(chǎng)發(fā)射電子槍與鎢絲電子槍的區(qū)別 相同點(diǎn) ? ? ? ?它們都是電子槍?zhuān)簿褪前l(fā)射電子的裝置。它們有陰極和陽(yáng)極。陰極都是點(diǎn)源發(fā)射體。陰極和陽(yáng)極之間有一個(gè)直流高壓電場(chǎng)。高電壓
2024-01-04 16:46:25362 中圖儀器VT6000粗糙度顯微鏡檢測(cè)儀基于光學(xué)共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像，從而進(jìn)行分析的精密光學(xué)儀器，一般用于略粗糙度
2024-01-04 10:20:18
中圖儀器VT6000系列激光共聚焦顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像，從而進(jìn)行分析的精密光學(xué)儀器，一般用于略
2024-01-04 10:17:23
薄TEM薄片+TEM觀察分析對(duì)于芯片膜層很薄的結(jié)構(gòu)層，一般是幾個(gè)納米的芯片膜厚，透射電鏡TEM分辨率比SEM高，透射電子顯微鏡的分辨率比光學(xué)顯微鏡高的很多，可以達(dá)到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬(wàn)
2024-01-02 17:08:51
掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計(jì)量和過(guò)程控制的研究和先進(jìn)制造中，我們?cè)趯?duì)半導(dǎo)體材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀測(cè)時(shí)，常常會(huì)遇到充電效應(yīng)，本文討論了與樣品充電相關(guān)的一些問(wèn)題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12462 
中國(guó)近年來(lái)向著科技自立自強(qiáng)的方向邁出了堅(jiān)定的步伐，核心技術(shù)不斷突破，高端儀器設(shè)備持續(xù)涌現(xiàn)。近日消息，由蘇州博眾儀器科技有限公司（簡(jiǎn)稱(chēng)博眾儀器）自主研發(fā)的200kV透射電子顯微鏡BZ-F200已經(jīng)進(jìn)入
2023-12-28 11:24:09766 
VT6000激光共聚焦顯微鏡系統(tǒng)以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，可測(cè)各類(lèi)包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓
2023-12-21 09:10:34
在低溫電子顯微鏡中，100千電子伏至300千電子伏之間的電子束穿過(guò)樣品——一組分離并固定在厚度不到60納米的超薄冰層中的單分子（平均直徑為5至40納米）。
2023-12-19 17:11:00416 
? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)，是材料相關(guān)工作者和學(xué)者研究的有力工具之一。其應(yīng)用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域。本文將對(duì)掃描電子顯微鏡
2023-12-19 15:31:37507 
透射電子顯微鏡（TEM）具有卓越的空間分辨率和高靈敏度的元素分析能力，可用于先進(jìn)半導(dǎo)體技術(shù)中亞納米尺寸器件特征的計(jì)量和材料表征，比如評(píng)估界面細(xì)節(jié)、器件結(jié)構(gòu)尺寸以及制造過(guò)程中出現(xiàn)的缺陷或瑕疵。
2023-12-18 11:23:58771 
在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，中圖儀器VT6000白光共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用。它是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面
2023-12-14 11:02:17
本文介紹了一種飛米級(jí)電子顯微鏡的原理，未來(lái)這種技術(shù)有望用于探測(cè)遠(yuǎn)離穩(wěn)定谷的核。
2023-12-13 15:59:12221 
掃描電子顯微鏡是一種全自動(dòng)的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對(duì)無(wú)機(jī)材料和部分有機(jī)材料，迅速提供在統(tǒng)計(jì)學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:16:41235 
掃描電子顯微鏡是一種全自動(dòng)的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對(duì)無(wú)機(jī)材料和部分有機(jī)材料，迅速提供在統(tǒng)計(jì)學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:02:19458 共聚焦顯微鏡具有高分辨率和高靈敏度的特點(diǎn)，適用于多種不同樣品的成像和分析，能夠產(chǎn)生結(jié)果和圖像清晰，易于分析。這些特性使共聚焦顯微鏡成為現(xiàn)代科學(xué)研究中的重要工具，同時(shí)為人們解析微觀世界提供了一種強(qiáng)大
2023-11-21 09:21:03
0 EBSD技術(shù)是一種常用的材料顯微技術(shù)，全稱(chēng)電子背散射衍射。它通過(guò)測(cè)量反射電子的角度和相位差來(lái)確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等特征。與傳統(tǒng)的掃描電鏡技術(shù)相比，EBSD技術(shù)具有更高的空間分辨率，可以獲得亞微米級(jí)的晶體學(xué)數(shù)據(jù)。
2023-11-16 13:31:48366 
如今，不僅有能放大幾千倍的光學(xué)顯微鏡，也有能放大幾十萬(wàn)倍的電子顯微鏡，讓我們對(duì)生物體的生命活動(dòng)規(guī)律有了更深入的了解。普通中學(xué)生物教學(xué)大綱中規(guī)定的實(shí)驗(yàn)絕大部分都是利用顯微鏡來(lái)完成的，因此顯微鏡的性能是觀察好實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵。
2023-11-07 15:23:26797 隨著科技的不斷進(jìn)步，掃描顯微鏡成為了現(xiàn)代顯微鏡技術(shù)的重要組成部分。它能夠提供更高的分辨率、更廣的視場(chǎng)和更強(qiáng)的功能，用于研究各種微觀結(jié)構(gòu)和材料的特性。而高壓放大器在掃描顯微鏡系統(tǒng)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用
2023-10-24 18:00:42343 
1. 工作原理 掃描電子顯微鏡以電子束為光源，以光柵式掃描方式將精細(xì)聚焦的電子束照射到樣品上。二次電子、背散射電子等。電子與樣品之間相互作用所產(chǎn)生的電子然后被收集和處理，以獲得顯微形貌的放大圖像
2023-10-23 14:56:393838 
掃描電子顯微鏡是一種電子光學(xué)儀器，廣泛應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)藥、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢測(cè)等領(lǐng)域。自20世紀(jì)60年代以來(lái)，掃描電子顯微鏡一直被用作一種工具。商用電子顯微鏡問(wèn)世以來(lái)，發(fā)展迅速
2023-10-19 15:38:30357 
激光共聚焦顯微鏡在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，可用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量。中圖儀器VT6000國(guó)產(chǎn)激光共聚焦顯微鏡是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面
2023-10-16 09:26:14
使用，使用機(jī)器學(xué)習(xí)（ML）算法從掃描電子顯微鏡（ SEM ）和透射電子顯微鏡（TEM）數(shù)據(jù)中提取和分析輪廓，從而減少工程師的手動(dòng)測(cè)量任務(wù)。 工藝技術(shù)變得越來(lái)越復(fù)雜 現(xiàn)代芯片制造技術(shù)的研發(fā)成本高達(dá)數(shù)十億美元，而且越來(lái)越復(fù)雜和昂貴：公司需要進(jìn)行研究以發(fā)現(xiàn)適合其需
2023-10-13 15:26:17530 透射電子顯微鏡圖像的襯度來(lái)源于樣品對(duì)入射電子束的散射。電子波在穿過(guò)樣品時(shí)振幅和相位會(huì)發(fā)生變化，這兩種變化都會(huì)引起圖像襯度。因此，在TEM觀察中對(duì)振幅襯度和相位襯度進(jìn)行區(qū)分尤為重要。
2023-10-10 09:26:52502 
CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy，中文翻譯過(guò)來(lái)是：特征尺寸掃描電子顯微鏡。
2023-10-07 10:34:231434 
共焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。VT6000共聚焦激光顯微鏡技術(shù)以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，在
2023-09-28 09:19:04
? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，可為客戶(hù)呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時(shí)，快速獲取更高
2023-09-23 09:50:44375 
掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱(chēng)STEM），是在TEM成像技術(shù)上發(fā)展起來(lái)的一種電子顯微成像技術(shù)
2023-09-19 11:24:512514 
SuperViewW1國(guó)產(chǎn)白光干涉顯微鏡以白光干涉技術(shù)為原理，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌，用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。產(chǎn)品功能
2023-09-06 14:34:18
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
掃描電子顯微鏡-電子通道對(duì)比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47353 
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡(jiǎn)稱(chēng)TEM），是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角
2023-08-29 14:54:151371 
在材料生產(chǎn)領(lǐng)域，共焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì)，橫向分辨率更高。VT6000材料型轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦顯微鏡以共聚
2023-08-29 09:03:37
產(chǎn)品介紹—— 采用優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)，視場(chǎng)清晰范圍更加寬廣，任意倍率下都能保持優(yōu)質(zhì)明亮的成像，是現(xiàn)代電子工業(yè)檢測(cè)及設(shè)備配套的首選。適用于PCB、LCD、IC的裝配和檢測(cè)。 體式顯微鏡參數(shù)表 ——
2023-08-28 16:22:57
產(chǎn)品介紹—— 使用一體式視頻顯微鏡可觀察PCB板上的各種不同原件，簡(jiǎn)單的調(diào)節(jié)即可對(duì)焦實(shí)現(xiàn)快速觀察，亦可觀察LED芯片等；使用一體式視頻顯微鏡可觀察各種成型零件如鉆頭、車(chē)刀、銑刀、沖模的形狀
2023-08-28 16:19:41
高靈敏度的探測(cè)器在低光強(qiáng)條件下也能夠獲得清晰的圖像。
VT6000激光共聚焦顯微鏡基于針孔點(diǎn)光源的共軛共焦原理，具有納米級(jí)別的縱向分辨能力，配合高速掃描模塊，專(zhuān)業(yè)的分析軟件具有多區(qū)域、自動(dòng)測(cè)量功能，能實(shí)現(xiàn)
2023-08-22 15:19:49
，為電池研發(fā)提供有價(jià)值的數(shù)據(jù)。然而，受可見(jiàn)光波長(zhǎng)的限制，它的觀察范圍有限，而電子顯微鏡很好地解決了這一問(wèn)題 1931年問(wèn)世的電子顯微鏡，利用電子束將物體放大300萬(wàn)倍，達(dá)到奈米分辨率。由于電子顯微鏡的分辨率更高，在電池研發(fā)
2023-08-22 13:41:06323 
。SuperViewW1白光干涉儀顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，操作簡(jiǎn)便，可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。廣泛應(yīng)用于如納米材料、航空航天、半導(dǎo)體等
2023-08-22 09:15:52
共焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì)，橫向分辨率更高。 VT6000系列3d形貌激光共聚焦顯微鏡以
2023-08-18 10:09:19
，受可見(jiàn)光波長(zhǎng)的限制，它的觀察范圍有限，而電子顯微鏡很好地解決了這一問(wèn)題 1931年問(wèn)世的蔡司電子顯微鏡，利用電子束將物體放大300萬(wàn)倍，達(dá)到奈米分辨率。由于蔡司電子顯微鏡的分辨率更高，在電池研發(fā)中，用不同的探針，可獲得
2023-08-16 14:03:49225 
CHOTEST中圖儀器轉(zhuǎn)盤(pán)光學(xué)共聚焦顯微鏡以轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法，共同組成測(cè)量系統(tǒng)，集成X、Y、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺(tái)平移、Z向
2023-08-09 09:02:30
。對(duì)于此類(lèi)場(chǎng)景，常規(guī)掃描電鏡效率嚴(yán)重不足，為解決客戶(hù)痛點(diǎn)，國(guó)儀量子于近日推出一款專(zhuān)為大規(guī)模成像而生的新產(chǎn)品——高速掃描電子顯微鏡HEM6000?！备咚賿呙?b class="flag-6" style="color: red">電子顯微
2023-08-09 08:29:23453 已難以滿(mǎn)足需要。電子顯微系統(tǒng)的出現(xiàn)，使分辨率提高到納米領(lǐng)域，并具有多功能的綜合分析能力，為微觀領(lǐng)域的深入研究提供了強(qiáng)有力的手段。三本精密儀器的蔡司掃描電子顯微鏡(
2023-08-08 15:50:351419 
的物理過(guò)程包括電子源產(chǎn)生、透射、衍射、散射、吸收等多個(gè)過(guò)程，這些過(guò)程相互作用并共同影響圖像的形成。 2.高級(jí)光學(xué) ? TEM使用高能電子束來(lái)成像，這與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡有很大的差異。電子在樣品中的相互作用更復(fù)雜，需要理解電子的波動(dòng)性和相對(duì)論
2023-08-07 09:47:06841 
和共聚焦3D顯微形貌檢測(cè)技術(shù)，廣泛應(yīng)用于涉足超精密加工領(lǐng)域的三維形貌檢測(cè)與表面質(zhì)量檢測(cè)方案。其中，VT6000系列共聚焦顯微鏡，在結(jié)構(gòu)復(fù)雜且反射率低的表面3D微觀形貌重構(gòu)與檢測(cè)方面具有不俗的表現(xiàn)。
一
2023-08-04 16:12:06
雖然還有其他研究石墨烯瑕疵的方法，但這些方法都有缺點(diǎn)。例如，拉曼光譜無(wú)法區(qū)分某些缺陷類(lèi)型，而高分辨率透射電子顯微鏡能以出色的分辨率表征晶體結(jié)構(gòu)缺陷，但其使用的高能電子會(huì)使晶格退化。
2023-08-03 15:10:08391 
在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì)，橫向分辨率更高。如同為微納檢測(cè)的利器，共聚焦擅長(zhǎng)微納級(jí)粗糙輪廓的檢測(cè)，能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。
2023-08-02 13:42:23
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率顯微鏡。它利用電子束穿透樣品并形成投影圖像，然后通過(guò)對(duì)該圖像進(jìn)行解釋
2023-08-01 10:02:152341 蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650 中圖儀器VT6000系列轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦光學(xué)顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，能測(cè)各類(lèi)包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度
2023-07-24 14:41:27
與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比，激光共聚焦顯微鏡具有更高的分辨率，實(shí)現(xiàn)多重?zé)晒獾耐瑫r(shí)觀察并可形成清晰的三維圖像等優(yōu)點(diǎn)。中圖儀器VT6000系列共聚焦顯微鏡以轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D
2023-07-18 13:35:19
蔡司的光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡、x射線顯微鏡、計(jì)算機(jī)斷層掃描(蔡司工業(yè)CT)系統(tǒng)和蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)可以在不同精度級(jí)別下用于評(píng)估電池的結(jié)構(gòu)、成分、氣特性和尺寸特性，并建立這些數(shù)據(jù)之間的關(guān)聯(lián)。蔡司代理昆山
2023-07-11 15:07:54406 
在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，共聚焦激光顯微鏡可以實(shí)現(xiàn)對(duì)器件表面形貌的3D測(cè)量。 中圖儀器VT6000共聚焦激光顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸
2023-07-10 11:28:42
方式，可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)精確量測(cè)物體的三維數(shù)據(jù)。其測(cè)量方式是非接觸式，不會(huì)破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測(cè)量，也可以用顯微鏡測(cè)量的功能來(lái)觀測(cè)樣本，其在嚴(yán)酷
2023-07-06 13:36:38
這是Amanda王莉第55篇文章,點(diǎn)這里關(guān)注我,記得標(biāo)星在當(dāng)今世界，SEM掃描電子顯微鏡分析技術(shù)，一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，主要應(yīng)用在半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生命科學(xué)和納米材料
2023-07-05 10:04:061995 
掃描隧道顯微鏡STM 掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫(xiě)為STM) 是一種掃描探針顯微術(shù)工具，掃描隧道顯微鏡可以讓科學(xué)家觀察和定位單個(gè)原子，它具有
2023-07-04 13:12:051129 
中圖共聚焦激光顯微鏡VT6000系列擅長(zhǎng)微納級(jí)粗糙輪廓的檢測(cè)，能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。中圖共聚焦激光顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，可應(yīng)用于半導(dǎo)體
2023-06-29 14:28:22
組成測(cè)量系統(tǒng)。在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。 中圖共聚焦激光掃描顯微鏡產(chǎn)品功能1)
2023-06-28 13:45:21
共聚焦顯微鏡的系統(tǒng)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)分布等于物鏡和點(diǎn)像能量分布的卷積。在物鏡相同的情況下，其橫向分辨率(x-y面)比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡提高了1.4倍，達(dá)到0.4λ/NA，如中圖儀器的VT6000材料共聚焦顯微鏡
2023-06-20 10:19:29
共聚焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡上常配備靈敏度較低的CCD相機(jī)來(lái)采集圖像，對(duì)于低照度的光，如熒光無(wú)法探測(cè)到，而共聚焦顯微鏡系統(tǒng)使用的探測(cè)元件是高靈敏度
2023-06-13 10:53:26
在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡上常配備靈敏度較低的CCD相機(jī)來(lái)采集圖像，對(duì)于低照度的光，如熒光無(wú)法探測(cè)到，而共聚焦顯微鏡系統(tǒng)使用的探測(cè)
2023-06-06 13:39:27
產(chǎn)品介紹—— 自動(dòng)對(duì)焦視頻顯微鏡可在顯示器上以全新的角度觀察樣品，無(wú)需使用目鏡。并能夠顯示及保存高品質(zhì)全彩色靜態(tài)圖像、動(dòng)態(tài)高清影片，普密自動(dòng)對(duì)焦視頻顯微鏡采用一體化機(jī)身設(shè)計(jì)，全套光學(xué)系統(tǒng)
2023-05-31 15:30:01
產(chǎn)品介紹—— 普密斯PMS-TM200是一種新型的數(shù)字測(cè)量顯微鏡.結(jié)合了金相顯微鏡的高倍觀察能力，和影像測(cè)量?jī)x的X、Y、Z軸表面尺寸測(cè)量功能，具備明暗場(chǎng)、微分干涉、偏光等多種
2023-05-31 15:19:59
產(chǎn)品介紹—— 3D視頻顯微鏡有多種3D觀察角度：30°，35°，40°，45°，直流伺服馬達(dá)驅(qū)動(dòng)3D轉(zhuǎn)換鏡圍繞式樣進(jìn)行360°旋轉(zhuǎn)，實(shí)時(shí)將圖像傳導(dǎo)在高清顯示器上在線觀察。 3D視頻顯微鏡
2023-05-31 15:16:47
透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱(chēng)TEM)，可以看到在光學(xué)顯微鏡下無(wú)法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱(chēng)為亞顯微
2023-05-31 09:20:40782 
與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比，激光共聚焦顯微鏡具有更高的分辨率，所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì)，橫向分辨率更高。 中圖儀器VT6000激光共聚焦顯微鏡
2023-05-30 11:35:55
在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。 中圖儀器VT6000系列中圖共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理，通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面
2023-05-26 11:14:28
在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡主要測(cè)量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比，它具有更高
2023-05-25 11:27:02
在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。 中圖儀器VT6000系列共聚焦3D成像顯微鏡系統(tǒng)以共聚焦技術(shù)為原理，通過(guò)系統(tǒng)軟件
2023-05-22 10:37:45
在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。例如，鋼的鑄造組織一般比較粗大，可直接用共聚焦顯微鏡進(jìn)行觀察，同時(shí)可以利用其模擬微合金鋼在
2023-05-18 14:05:46
中圖儀器VT6000系列轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦顯微鏡是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立
2023-05-08 09:54:25
為了支持半導(dǎo)體制造商的自動(dòng)化需求，先進(jìn)的電子顯微鏡正在集成人工智能功能，以提供更快的數(shù)據(jù)生成時(shí)間并提高人力和工具資源的生產(chǎn)效率。
2023-05-05 17:17:25499 在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，3d共聚焦測(cè)量顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。例如，鋼的鑄造組織一般比較粗大，可直接用共聚焦顯微鏡進(jìn)行觀察，同時(shí)可以利用其模擬微
2023-05-04 15:53:48
共聚焦顯微鏡裝置是在被測(cè)對(duì)象焦平面的共軛面上放置兩個(gè)小孔，其中一個(gè)放在光源前面，另一個(gè)放在探測(cè)器前面，如圖所示。 共聚共焦顯微鏡光路示意圖 得到的圖像是來(lái)自一個(gè)焦平面的光通過(guò)針孔
2023-04-24 09:25:29
以共聚焦技術(shù)為原理的共聚焦顯微鏡，是用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。 中圖儀器VT6000系列三維光學(xué)輪廓共聚焦材料顯微鏡基于共聚焦顯微技術(shù)，結(jié)合精密Z向掃描模塊
2023-04-20 10:52:25
以共聚焦技術(shù)為原理的共聚焦顯微鏡，是用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。 中圖儀器VT6000系列3d工業(yè)共聚焦顯微鏡基于共聚焦顯微技術(shù)，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D
2023-04-19 10:14:05
共聚焦顯微鏡結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤(pán)取代偵測(cè)器的孔洞，再將物鏡垂直移動(dòng)，以類(lèi)似斷層攝影方式，可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)精確量測(cè)物體的三維數(shù)據(jù).由于使用了共聚焦的方法，在測(cè)量漸變較大
2023-04-12 14:29:27
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計(jì)，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時(shí)
2023-04-12 11:38:30572 中圖儀器VT6000光學(xué)3d共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理，主要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量。光學(xué)3d共聚焦顯微鏡儀器結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描
2023-04-04 11:07:52
中圖儀器VT6000超景深光學(xué)顯微鏡與共聚焦材料表面微納米級(jí)測(cè)量?jī)x以轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法，共同組成測(cè)量系統(tǒng)，保證儀器的高測(cè)量精度；隔震設(shè)計(jì)能夠消減底面振動(dòng)噪聲
2023-04-04 11:04:53
粗糙度等。 VT60003D高精度激光共聚焦掃描顯微鏡可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料制
2023-03-27 14:05:31
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