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手機(jī)測(cè)試成本的降低

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2019-06-04 07:00:35

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2013-09-12 09:50:12

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2012-08-11 18:17:16

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2021-08-18 11:01:08

以太網(wǎng)測(cè)試儀的未來趨勢(shì)

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2021-05-08 08:14:10

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2019-09-29 07:04:50

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2017-09-19 17:48:4110

如何縮短周期的Android手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試方案

提高測(cè)試質(zhì)量、提升測(cè)試效率、降低測(cè)試成本的自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)在非手機(jī)測(cè)試領(lǐng)域早已成熟運(yùn)用,而在手機(jī)領(lǐng)域,自動(dòng)化測(cè)試意義雖早已被公認(rèn),但因?yàn)槿鄙儆行Чぞ吆徒鉀Q方案,無法有效實(shí)現(xiàn)手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試
2019-03-19 11:45:43709

為減少物聯(lián)網(wǎng)測(cè)試成本方案--開放式架構(gòu)

等。 針對(duì)這些層出不窮的技術(shù),為了要減少物聯(lián)網(wǎng)測(cè)試硬件的重復(fù)投資成本,開放式架構(gòu)測(cè)式方案是理想選擇之一,因其擁有靈活的硬件擴(kuò)充性,且能利用可編程軟件實(shí)時(shí)調(diào)整測(cè)試需求,因此能協(xié)助業(yè)者降低產(chǎn)線測(cè)試成本及提高生產(chǎn)效率。
2018-06-05 17:50:001644

用51單片機(jī)來測(cè)試成分的含鐵量

儀器的原理是借助電磁感應(yīng),為線圈通電,不同含鐵量的成分會(huì)使線圈產(chǎn)生不同頻率的震蕩,由此來測(cè)試成分的含鐵量。我做的部分也非常簡(jiǎn)單,使用51單片機(jī)操作12864做顯示,矩陣鍵盤
2018-04-20 11:17:563145

中國半導(dǎo)體行業(yè)變革,測(cè)試技術(shù)如何應(yīng)對(duì)?

NI半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)創(chuàng)新論壇,關(guān)注探討如何在實(shí)驗(yàn)室V&V驗(yàn)證、晶圓及封裝測(cè)試中進(jìn)一步降低成本、提高上市時(shí)間,針對(duì)RFIC、ADC等混合信號(hào)芯片,探討如何通過PXI平臺(tái)化方法降低從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)的測(cè)試成本、以及提高測(cè)試效率等。
2018-08-22 11:29:393806

可測(cè)性設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)提高電路內(nèi)系統(tǒng)模塊的可測(cè)試

集成電路的生產(chǎn)成本測(cè)試開發(fā)、測(cè)試時(shí)間以及測(cè)試設(shè)備為主。模擬電路一般只占芯片面積的10%左右,測(cè)試成本卻占總測(cè)試成本的主要部分。所以,削減模擬部分的測(cè)試成本將有利于芯片的設(shè)計(jì)與生產(chǎn)。
2019-06-08 09:32:001930

馬自達(dá)使用軟件定義的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),推進(jìn)汽車的電氣化,并且降低了90%的測(cè)試成本

馬自達(dá)使用軟件定義的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),推進(jìn)汽車的電氣化,并且降低了90%的測(cè)試成本
2018-10-11 19:37:314050

新型3D打印技術(shù)大幅降低常見醫(yī)學(xué)測(cè)試成本

該裝置適用于一般移液器,能大幅降低這種常見醫(yī)學(xué)測(cè)試的時(shí)間和成本,并開啟在遠(yuǎn)距或低資源區(qū)域進(jìn)行醫(yī)學(xué)測(cè)試的可能性。
2019-05-31 14:37:342486

新型3D打印技術(shù)大幅降低常見醫(yī)學(xué)測(cè)試成本

研究人員開發(fā)出用3D打印的酶聯(lián)免疫吸附試驗(yàn)裝置。該裝置適用于一般移液器,能大幅降低這種常見醫(yī)學(xué)測(cè)試的時(shí)間和成本,并開啟在遠(yuǎn)距或低資源區(qū)域進(jìn)行醫(yī)學(xué)測(cè)試的可能性。
2019-06-05 15:03:532375

如何降低電子設(shè)備的電磁干擾EMI

EMI測(cè)試成本高,同時(shí),為了滿足合規(guī)要求,能有效降低EMI的設(shè)計(jì)又是十分重要的。充分了解產(chǎn)生電磁場(chǎng)的來源可為低EMI設(shè)計(jì)奠定堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。
2020-01-21 16:48:001755

測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)主要有哪些要求,應(yīng)注意哪些事項(xiàng)

④要求盡量將元件面(主面)的SMC/SMD測(cè)試點(diǎn)通過過孔引到焊接面,過孔直徑應(yīng)大于Imm。這樣可以通過在線測(cè)試采用單面針床來進(jìn)行,避免兩面用針床測(cè)試,從而降低在線測(cè)試成本。
2020-03-27 11:29:585447

Agilent N4906B串行誤碼測(cè)試儀主要特性及應(yīng)用

為了滿足降低生產(chǎn)測(cè)試成本的需要,同時(shí)向最終用戶提供可升級(jí)以及高性能的測(cè)試設(shè)備,安捷倫科技在其串行誤碼測(cè)試儀產(chǎn)品N4900系列中又推出了低成本、高性能產(chǎn)品-N4906B。
2020-07-21 14:56:58990

基于掃描的DFT方法掃描設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)過程和對(duì)芯片故障覆蓋率的影響

隨著ASIC電路結(jié)構(gòu)和功能的日趨復(fù)雜,與其相關(guān)的測(cè)試問題也日益突出。在芯片測(cè)試方法和測(cè)試向量生成的研究過程中,如何降低芯片的測(cè)試成本已經(jīng)成為非常重要的問題。DFT(可測(cè)性設(shè)計(jì))通過在芯片原始設(shè)計(jì)中插入各種用于提高芯片可測(cè)性的邏輯,從而使芯片變得容易測(cè)試,大大降低了芯片的測(cè)試成本。
2020-08-18 14:57:132880

芯片成本,貴!

芯片硬件成本 芯片硬件成本包括晶圓成本+掩膜成本+封裝成本+測(cè)試成本四部分,寫成一個(gè)公式就是芯片硬件成本=(晶圓成本+掩膜成本+封裝成本+測(cè)試成本)/ 最終成品率 晶圓是制造芯片的原材料,晶圓成本
2020-11-05 09:32:504018

iPhone 12 Pro的屏幕測(cè)試成績流出

國際知名的評(píng)測(cè)機(jī)構(gòu)DxOMark近期在持續(xù)的放出iPhone12系列的測(cè)試成績,繼iPhone 12的音頻測(cè)試后,DxOMark公布對(duì)iPhone 12 Pro的屏幕測(cè)試成績。整體來看,iPhone 12 Pro的屏幕測(cè)試結(jié)果還是不錯(cuò)的,目前排名第四,被三星和1+的部分機(jī)型所超越。
2020-11-12 11:30:351994

霄龍7543服務(wù)器處理器基準(zhǔn)測(cè)試成績曝光

隨著Zen?3銳龍桌面和移動(dòng)處理器的發(fā)布,關(guān)于Zen?3驍龍?zhí)幚砥饕灿辛烁啾稀=?,在Geekbench數(shù)據(jù)庫中,出現(xiàn)了霄龍7543服務(wù)器處理器的基準(zhǔn)測(cè)試成績。
2021-02-13 09:50:00843

AMD銳龍5000系列標(biāo)壓處理器的測(cè)試成績公布

新一輪的游戲本硬件換代已經(jīng)開啟,目前在Geekbench 5數(shù)據(jù)庫中已經(jīng)可以查到大量關(guān)于AMD銳龍5000系列標(biāo)壓處理器的測(cè)試成績。
2021-01-25 11:28:555384

羅德與施瓦茨推出新的低成本多DUT同時(shí)測(cè)試方案

為了滿足批量生產(chǎn)的需求,用戶需要布置很多工位來調(diào)試這些器件的S參數(shù)指標(biāo)。傳統(tǒng)的做法是在每個(gè)工位獨(dú)立配置一臺(tái)二端口VNA,這樣整個(gè)車間會(huì)需求大量的VNA,導(dǎo)致用戶的測(cè)試成本長期居高不下。如何進(jìn)一步降低測(cè)試成本,成為用戶當(dāng)前最大的挑戰(zhàn)
2021-02-08 09:34:001815

2021 OPPO開發(fā)者大會(huì) 云真機(jī)為開發(fā)者降低不同機(jī)型測(cè)試成本

2021年OPPO開發(fā)者大會(huì)趙梁:云真機(jī)為開發(fā)者降低不同機(jī)型測(cè)試成本,極大提升研發(fā)效率。
2021-10-27 15:21:382596

自主的RF測(cè)量助手可降低測(cè)試成本并提高準(zhǔn)確性

?自主射頻測(cè)量助手可在多個(gè)溫度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)完全自主,免提的射頻校準(zhǔn)和測(cè)量。它具有獨(dú)特的Contact Intelligence?技術(shù),可降低測(cè)試成本并以提高的準(zhǔn)確性和縮短的設(shè)計(jì)周期縮短產(chǎn)品上市時(shí)間
2022-06-21 14:55:08638

CIS芯片測(cè)試到底怎么測(cè),CIS測(cè)試方案詳解

如何滿足不同測(cè)試需求,減少測(cè)試成本、加快測(cè)試時(shí)間和產(chǎn)品上市時(shí)間?
2022-07-05 15:02:374640

使用校準(zhǔn)降低衛(wèi)星設(shè)計(jì)和測(cè)試成本

測(cè)試是任何衛(wèi)星計(jì)劃的重要組成部分。提高總程序成本的一種方法是降低測(cè)試成本。取消測(cè)試似乎很誘人,但設(shè)備故障的風(fēng)險(xiǎn)會(huì)顯著增加。保持儀器和系統(tǒng)的準(zhǔn)確性可降低測(cè)試成本,并以多種方式縮短程序進(jìn)度。例如,衛(wèi)星
2022-11-16 15:31:07532

是德科技推出光測(cè)試解決方案,助力收發(fā)信機(jī)制造商縮短測(cè)試時(shí)間、降低測(cè)試成本

2023年4月6日,是德科技(Keysight Technologies,Inc.)日前宣布,推出一款全新 FlexOTO 光測(cè)試優(yōu)化軟件和解決方案。該解決方案可降低多通道接口測(cè)試的總體測(cè)試成本
2023-04-06 18:00:01932

自動(dòng)化測(cè)試工具有哪些?

自動(dòng)化測(cè)試工具是指能夠自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試任務(wù)、記錄測(cè)試結(jié)果和產(chǎn)生測(cè)試報(bào)告的軟件工具,其主要目的是用來提高測(cè)試效率、降低測(cè)試成本、提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
2023-04-18 14:40:569747

下周五|TSO.ai:打通AI應(yīng)用“最后一公里”,降低芯片測(cè)試成本

原文標(biāo)題:下周五|TSO.ai:打通AI應(yīng)用“最后一公里”,降低芯片測(cè)試成本 文章出處:【微信公眾號(hào):新思科技】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
2023-06-09 18:05:01535

本周五|TSO.ai:打通AI應(yīng)用“最后一公里”,降低芯片測(cè)試成本

原文標(biāo)題:本周五|TSO.ai:打通AI應(yīng)用“最后一公里”,降低芯片測(cè)試成本 文章出處:【微信公眾號(hào):新思科技】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
2023-06-12 17:45:03338

縮減50%調(diào)試成本 小匠物聯(lián)推可遠(yuǎn)程的串口調(diào)試助手

解決方案的小匠物聯(lián),特別在串口調(diào)試工具中引出了“遠(yuǎn)程調(diào)試”功能,極大提升了項(xiàng)目對(duì)接效率,降低了調(diào)試成本。近日,智哪兒獨(dú)家專訪了小匠物聯(lián)技術(shù)中心前端負(fù)責(zé)人林鑫,就其最新版本
2022-07-15 18:08:50386

使用虛擬實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)加速半導(dǎo)體工藝發(fā)展

虛擬DOE能夠降低硅晶圓測(cè)試成本,并成功降低DED鎢填充工藝中的空隙體積
2023-07-10 10:18:30225

基于新型MEMS開關(guān)提高SoC測(cè)試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出

本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測(cè)試,以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試,從而降低測(cè)試成本,簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測(cè)試流程。
2023-07-10 15:42:53291

虹科電源測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試密度和更低的測(cè)試成本

虹科電源測(cè)試系統(tǒng)ATE升級(jí)實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試密度和更低的測(cè)試成本01高密度精度測(cè)量單元HK-HDPMU在單板上提供多達(dá)192個(gè)額外的獨(dú)立參數(shù)測(cè)量單元(PMU)通道。虹科解決方案將增加并行測(cè)試,而無需創(chuàng)建
2023-09-04 16:22:23319

電源ATE測(cè)試助力提高短路保護(hù)測(cè)試效率,提供軟硬件解決方案

電源ATE測(cè)試在短路保護(hù)測(cè)試中不僅可以提高測(cè)試效率,而且還提供智能數(shù)據(jù)分析,幫助短路測(cè)試實(shí)現(xiàn)高精準(zhǔn)度,也為企業(yè)降低測(cè)試成本。
2023-09-11 18:21:19368

電路板設(shè)計(jì)可測(cè)試性技術(shù)

測(cè)試友好的PCB電路設(shè)計(jì)要費(fèi)一些錢,然而,測(cè)試困難的電路設(shè)計(jì)費(fèi)的錢會(huì)更多。測(cè)試本身是有成本的,測(cè)試成本隨著測(cè)試級(jí)數(shù)的增加而加大;從在線測(cè)試到功能測(cè)試以及系統(tǒng)測(cè)試測(cè)試費(fèi)用越來越大。
2023-10-31 15:11:43104

如何降低開發(fā)測(cè)試成本?華為云這個(gè)寶藏工具值得一試!

在當(dāng)前的市場(chǎng)環(huán)境下,企業(yè)面臨著利潤下滑、業(yè)務(wù)收縮的困境,如何降低成本,提高效率,成為了企業(yè)的當(dāng)務(wù)之急。而企業(yè)在 IT 開發(fā)過程中,服務(wù)器硬件成本往往占據(jù)了很大的比重,如何有效地降低測(cè)試成本也是企業(yè)
2023-11-12 17:53:36324

ATECLOUD智能自動(dòng)化電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試新能源汽車電源

ATECLOUD是智能自動(dòng)化新能源汽車電源測(cè)試系統(tǒng),打破測(cè)試程序繁瑣、技術(shù)要求高、無法隨之更新兼容、測(cè)試成本高等測(cè)試難點(diǎn),為用戶量身打造新能源汽車電源測(cè)試設(shè)備并定制一體化測(cè)試方案,降低測(cè)試成本,實(shí)現(xiàn)高效能測(cè)試。系統(tǒng)內(nèi)含的數(shù)據(jù)洞察功能進(jìn)行全方位數(shù)據(jù)分析,幫助用戶用數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)生產(chǎn)力。
2023-12-05 14:57:32210

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