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金鑒實驗室

金鑒實驗室是光電半導(dǎo)體行業(yè)最知名的第三方檢測機構(gòu)之一

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金鑒實驗室文章

  • 雪崩二極管:汽車電子系統(tǒng)中的關(guān)鍵光檢測元件2025-05-06 15:06

    雪崩二極管的原理與結(jié)構(gòu)雪崩二極管(AvalanchePhotodiode,簡稱APD)是一種利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號的光檢測二極管。其核心原理是利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號。在高反向偏壓下工作時,光生載流子在強電場中獲得足夠的動能,與晶格碰撞產(chǎn)生新的電子-空穴對,從而實現(xiàn)載流子的雪崩倍增,顯著增加電流增益。這種倍增效應(yīng)使得APD在低光強條
  • 聚焦離子束技術(shù)在透射電子顯微鏡樣品制備中的應(yīng)用2025-05-06 15:03

    聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡稱FIB)技術(shù)是一種先進的微觀加工與分析手段,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。FIB核心原理是利用離子源產(chǎn)生高能離子束,通常以鎵(Ga)離子為主,部分設(shè)備還配備氦(He)或氖(Ne)離子源。離子束在轟擊樣品時,會產(chǎn)生濺射現(xiàn)象,從而實現(xiàn)材料的精準(zhǔn)去除,同時通過二次電子信號獲取樣品的形貌
  • FIB 技術(shù)在電池材料研究中的相關(guān)應(yīng)用2025-04-30 15:20

    橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束(FIB)技術(shù)對電池材料進行精確切割,能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內(nèi)部不同層次的結(jié)構(gòu)特征,從而獲取材料在特定平面上的微觀信息。例如,通過橫截面分析可以清晰地觀察到不同成分的分布情況,了解各成分在材料內(nèi)部的相對位置和分布范圍;同時,還能觀察到相界面的形態(tài),確定不同相之間的接觸關(guān)系
    fib TEM 電池材料 259瀏覽量
  • AEC-Q102中WHTOL及H3TRB試驗的異同2025-04-29 17:28

    汽車電子行業(yè)中光電半導(dǎo)體的要求在汽車電子行業(yè)我們熟知的光電半導(dǎo)體器件可靠性是確保車輛安全和性能的關(guān)鍵因素之一。隨著汽車技術(shù)的進步,這些器件不僅要在各種氣候條件下穩(wěn)定工作,還要承受來自車輛內(nèi)部和外部的多種應(yīng)力。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)為這些器件提供了一套全面的測試和評估程序,以確保它們能夠滿足汽車行業(yè)的嚴(yán)格要求。WHTOL測試的重要性AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)中的一個重
    AEC 半導(dǎo)體 試驗 246瀏覽量
  • 元器件失效之推拉力測試2025-04-29 17:26

    元器件失效之推拉力測試在當(dāng)代電子設(shè)備的生產(chǎn)與使用過程中,組件的故障不僅可能降低產(chǎn)品的性能,還可能導(dǎo)致產(chǎn)品徹底失效,給用戶帶來麻煩和經(jīng)濟損失,同時對制造商的聲譽和成本也會造成負面影響。為什么要做推拉力測試?在電子元件的焊接、運輸和使用過程中,它們經(jīng)常遭受到振動、沖擊以及彎曲等外部力量的干擾,這些力量可能在焊點或元件上產(chǎn)生機械應(yīng)力,進而有可能導(dǎo)致焊點斷裂或元件損
  • LED芯片質(zhì)量檢測技術(shù)之X-ray檢測2025-04-28 20:18

    X射線檢測在光電半導(dǎo)體領(lǐng)域,LED芯片作為核心技術(shù),其質(zhì)量至關(guān)重要。隨著制造工藝的不斷進步,LED芯片的結(jié)構(gòu)日益復(fù)雜,內(nèi)部潛在缺陷的風(fēng)險也隨之增加。盡管在常規(guī)工作條件下,這些缺陷可能不會明顯影響芯片的性能,但在高電流、高溫等極端環(huán)境下,它們可能引發(fā)功能失效,甚至導(dǎo)致整個LED系統(tǒng)損壞。因此,在LED芯片制造和應(yīng)用過程中,利用無損檢測技術(shù)對內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行詳細檢查
  • 鹵素檢測:PCB有鹵與無鹵的差異2025-04-28 20:17

    在當(dāng)代電子產(chǎn)業(yè)中,印制電路板(PCB)是核心組件之一,其材料與工藝的革新對電子設(shè)備的性能與可持續(xù)性有著深遠影響。有鹵與無鹵PCB作為當(dāng)前市場上的兩大類,各自有著獨特的特性與應(yīng)用范圍。有鹵與無鹵PCB概述1.有鹵PCB有鹵PCB是指在生產(chǎn)過程中使用了含有鹵素(如氯、溴等)的阻燃劑。當(dāng)電路板遭遇高溫或燃燒時,這些阻燃劑會釋放鹵素氣體,從而有效抑制火焰的蔓延,起到
    pcb PCB 鹵素 檢測 674瀏覽量
  • AEC-Q之高壓蒸煮試驗(PCT)2025-04-28 20:16

    在現(xiàn)代電子技術(shù)飛速發(fā)展的背景下,電子元件的性能和可靠性直接決定了各類設(shè)備的穩(wěn)定性和使用壽命。高壓蒸煮試驗(PCT)作為一種關(guān)鍵的測試手段,為評估電子元件在極端環(huán)境下的表現(xiàn)提供了科學(xué)依據(jù)。模擬極端環(huán)境的關(guān)鍵技術(shù)PCT試驗的核心在于模擬電子元件在實際使用中可能遭遇的高濕、高溫和高壓環(huán)境。通過將待測元件置于100%相對濕度(R.H.)的飽和蒸汽環(huán)境中,并施加一定的
  • 聚焦離子束技術(shù):納米加工與分析的利器2025-04-28 20:14

    聚焦離子束技術(shù)(FocusedIonBeam,FIB)作為一種前沿的納米加工與分析手段,憑借其獨特的優(yōu)勢在多個領(lǐng)域展現(xiàn)出強大的應(yīng)用潛力。本文將從技術(shù)原理、應(yīng)用領(lǐng)域、測試項目以及制樣流程等方面,對聚焦離子束技術(shù)進行全面剖析,以期為相關(guān)領(lǐng)域的研究人員和從業(yè)者提供有價值的參考。聚焦離子束技術(shù)核心聚焦離子束技術(shù)的核心在于利用電透鏡將離子束聚焦成極小尺寸的離子束,進而
    fib 離子束 聚焦 231瀏覽量
  • LED燈珠變色發(fā)黑與失效原因分析2025-04-27 15:47

    LED光源發(fā)黑現(xiàn)象LED光源以其高效、節(jié)能、環(huán)保的特性,在照明領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。然而,LED光源在使用過程中出現(xiàn)的發(fā)黑現(xiàn)象,卻成為了影響其性能和壽命的重要因素。LED光源黑化的多重原因分析LED光源黑化是各大LED公司經(jīng)常碰到的問題。然而光源黑化只是表象,硫化、氯化、溴化、氧化、碳化和化學(xué)不兼容化等原因均會導(dǎo)致LED光源發(fā)黑的現(xiàn)象。由于缺乏專業(yè)的檢測設(shè)備和
    led LED光源 LED燈珠 933瀏覽量