動態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-05-15 16:07
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發(fā)布了文章 2025-05-15 16:06
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發(fā)布了文章 2025-05-14 14:40
AEC-Q102之高加速壽命試驗
在當今快速發(fā)展的電子行業(yè),產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性是決定其市場競爭力的關(guān)鍵因素之一。為了確保電子產(chǎn)品能夠在各種復(fù)雜環(huán)境條件下長期穩(wěn)定運行,可靠性測試成為了研發(fā)和生產(chǎn)過程中不可或缺的重要環(huán)節(jié)。其中,高加速壽命試驗(HALT)作為一種高效的測試手段,憑借其能夠在短時間內(nèi)模擬極端環(huán)境條件并加速產(chǎn)品老化過程的優(yōu)勢,受到了廣泛關(guān)注。高加速壽命試驗機的設(shè)備功能高加速壽命試驗 -
發(fā)布了文章 2025-05-14 14:37
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