動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-03-06 17:18

  什么是透射電鏡？

  

  透射電子顯微鏡（TEM，TransmissionElectronMicroscope），簡稱透射電鏡，是一種以波長極短的電子束作為照明源的高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學儀器。透射電子顯微鏡的工作原理是通過電子槍發(fā)射電子束，經(jīng)加速和聚焦后照射在樣品上。電子束與樣品相互作用后，強度和方向均發(fā)生改變，由于樣品各部位材料結(jié)構(gòu)不同，投放到熒光屏上的各點強度也會不同，從

  顯微鏡 透射 透射電鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-03-06 17:17

  一文了解AEC-Q車規(guī)認證

  

  AECQ認證是汽車零部件領(lǐng)域的一項重要車規(guī)級標準，它為汽車電子零部件的可靠性和質(zhì)量提供了明確的規(guī)范和測試要求。金鑒實驗室作為專業(yè)的測試機構(gòu)，能夠提供符合AEC-Q標準的全面測試服務，確保汽車電子組件的可靠性與質(zhì)量，以滿足汽車行業(yè)對于安全性、持久性和穩(wěn)定性的嚴苛要求。AEC（AutomotiveElectronicsCouncil，汽車電子委員會）是由克萊斯勒

  AEC 汽車電子 車規(guī)芯片

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• 發(fā)布了文章 2025-03-05 12:48

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)：微納加工的利器

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）技術(shù)是微納加工領(lǐng)域中不可或缺的關(guān)鍵技術(shù)。它憑借高精度、高靈活性和多功能性，成為眾多微納加工技術(shù)中的佼佼者。通過精確控制電場和磁場，F(xiàn)IB技術(shù)能夠?qū)㈦x子束聚焦到亞微米甚至納米級別，實現(xiàn)對樣品的直接加工和實時監(jiān)測。FIB技術(shù)的核心組成1.離子源：技術(shù)的核心離子源是FIB技術(shù)的核心部件。通常采用液態(tài)金屬離子源（如鎵

  fib 離子束 聚焦

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• 發(fā)布了文章 2025-03-05 12:44

  氬離子截面技術(shù)與SEM在陶瓷電阻分析中的應用

  

  SEM技術(shù)及其在陶瓷電阻分析中的作用掃描電子顯微鏡（SEM）是一種強大的微觀分析工具，能夠提供高分辨率的表面形貌圖像。通過SEM測試，可以清晰地觀察到陶瓷電阻表面的微觀結(jié)構(gòu)和形態(tài)特征，從而評估其質(zhì)量。例如，可以判斷陶瓷電阻表面是否存在缺陷、裂紋或污染等問題。這些表面特征對陶瓷電阻的性能有著直接的影響，因此SEM在陶瓷電阻的質(zhì)量控制和性能優(yōu)化中發(fā)揮著重要作用。

  SEM 顯微鏡 陶瓷電阻

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• 發(fā)布了文章 2025-03-05 12:43

  機械碰撞防護等級測試

  

  一機械碰撞防護等級（IK01~IK10）IK是指設備外殼的防沖擊防護等級，IK類似于IP防護等級，對于室外電子設備，無論是架空，地埋還是普通室外放置，都需要有相應的IP、IK要求。IK等級是焦耳為單位的擺錘自由落體撞擊來決定的，標識電器設備外殼對外界機械碰撞的防護等級(IK代碼)。IK代碼的特征數(shù)字組合為01到10，即：IK01，IK02，IK03，IK04

  機械 測試 防護等級

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• 發(fā)布了文章 2025-03-04 11:50

  芯片可靠性測試：性能的關(guān)鍵

  

  在芯片行業(yè)，可靠性測試是確保產(chǎn)品性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。金鑒實驗室作為專業(yè)的檢測機構(gòu)，提供全面的芯片可靠性測試服務，幫助企業(yè)在激烈的市場競爭中保持領(lǐng)先。預處理（Preconditioning，PC）預處理（PC）也稱為MSL濕度敏感試驗，主要針對芯片在吸收濕氣后，經(jīng)過表面貼裝技術(shù)（SMT）回流焊接過程中可能出現(xiàn)的問題。在實際應用中，芯片吸收濕氣后可能會在焊接過程中出

  可靠性測試 芯片

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• 發(fā)布了文章 2025-03-04 11:50

  含溴阻燃劑檢測

  

  溴化阻燃劑簡介溴系阻燃劑（BrominatedFlameRetardants，簡稱BFRs）是含溴有機化合物的一大類，包括多溴二苯醚（簡稱PBDEs）、六溴環(huán)十二烷（簡稱HBCDD）和多溴聯(lián)苯（簡稱PBBs）等。這類化合物憑借其出色的阻燃效能，被廣泛地應用于塑料制品、各種紡織品以及兒童相關(guān)產(chǎn)品中，主要目的是提升這些產(chǎn)品的耐火性能。應用與潛在風險溴化阻燃劑的使

  印刷電路板 檢測

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• 發(fā)布了文章 2025-03-03 15:51

  聚焦離子束技術(shù)在現(xiàn)代科技的應用

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)是一種在微觀尺度上對材料進行加工、分析和成像的先進技術(shù)。它在材料科學、半導體制造、納米技術(shù)等領(lǐng)域發(fā)揮著不可或缺的作用。FIB的基本原理聚焦離子束技術(shù)的核心在于利用高能離子束對樣品進行加工和分析。其基本原理是將鎵（Ga）等元素在強電場的作用下加速，形成高能離子束。通過精確控制電場和磁場，離子束能夠聚焦到

  fib 材料 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-03-03 15:48

  氬離子束研磨拋光助力EBSD樣品的高效制備

  

  EBSD樣品制備EBSD樣品的制備過程對實驗結(jié)果的準確性和可靠性有著極為重要的影響。目前，常用的EBSD樣品制備方法包括機械拋光、電解拋光和聚焦離子束（FIB）等，但這些方法各有其局限性。1.機械拋光的局限性機械拋光是一種傳統(tǒng)的EBSD樣品制備方法，雖然操作相對簡單，但存在諸多問題。首先，由于其硬度較大，可能會劃傷材料表面，尤其不適合硬度較低的材料。其次，機

  fib 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-02-28 16:11

  雙束聚焦離子束-掃描電鏡（FIB）：TEM樣品制備

  

  雙束聚焦離子束-掃描電鏡（DualBeamFocusedIonBeam,FIB）作為一種先進的微觀加工與分析技術(shù)，廣泛應用于材料科學、納米技術(shù)、半導體研究等領(lǐng)域。其不僅可以制作常見的截面透射電子顯微鏡（TEM）薄片樣品，還能根據(jù)不同的研發(fā)表征需求，對材料樣品的表面進行平面加工制樣。截面與平面TEM樣品的區(qū)別截面TEM樣品與平面TEM樣品的主要區(qū)別在于觀察面的

  fib 掃描電鏡 離子束

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