動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-02-07 14:03

  電鏡樣品制備：氬離子拋光優(yōu)勢

  

  氬離子拋光技術(shù)的原理氬離子拋光技術(shù)基于物理濺射機(jī)制。其核心過程是將氬氣電離為氬離子束，并通過電場加速這些離子，使其以特定能量和角度撞擊樣品表面。氬離子的沖擊能夠有效去除樣品表面的損傷層和雜質(zhì)，從而實(shí)現(xiàn)表面的精細(xì)拋光。氬離子拋光的優(yōu)勢在于氬氣的惰性特性。氬氣不會(huì)與樣品發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，因此在拋光過程中，樣品的化學(xué)性質(zhì)得以保持，為研究者提供了一種理想的表面處理方法。

  電鏡 金屬材料 鋰電池

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• 發(fā)布了文章 2025-02-07 14:00

  PCB焊接質(zhì)量檢測

  

  隨著電子產(chǎn)品的廣泛普及與快速發(fā)展，PCB已成為電子設(shè)備中必不可少的部分。在PCB電路板生產(chǎn)時(shí)，焊接質(zhì)量極為關(guān)鍵，直接關(guān)乎電子產(chǎn)品的性能與可靠性。要保障PCB焊接的可靠與穩(wěn)定，就必須對(duì)焊接質(zhì)量展開嚴(yán)格檢測。焊接常見的缺陷類型1.焊錫球焊錫球是指在元器件焊點(diǎn)周圍出現(xiàn)的小球狀焊料。這種缺陷可能導(dǎo)致元器件之間發(fā)生短路，從而影響電路的正常工作。焊錫球的形成通常與焊接過

  pcb PCB 檢測 焊接

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• 發(fā)布了文章 2025-02-06 14:21

  AEC-Q恒定濕熱試驗(yàn)

  

  高溫高濕試驗(yàn)是一種模擬極端氣候條件的測試，對(duì)于確保產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境中的可靠性和穩(wěn)定性至關(guān)重要。以下是對(duì)高溫高濕試驗(yàn)的詳細(xì)闡述：實(shí)驗(yàn)?zāi)康牡纳钊敕治?.評(píng)估耐受能力在高溫高濕環(huán)境中，產(chǎn)品可能會(huì)遭受到溫度和濕度的雙重壓力。這種環(huán)境對(duì)產(chǎn)品的材料、結(jié)構(gòu)和功能都是一個(gè)嚴(yán)峻的考驗(yàn)。通過模擬這種環(huán)境，我們可以測試產(chǎn)品在極端條件下的性能表現(xiàn)，確保它們能夠在實(shí)際使用中承受類似

  測試 濕熱試驗(yàn)箱 監(jiān)測

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• 發(fā)布了文章 2025-02-06 14:16

  深入解析：燈具球壓測試

  

  非金屬材料的耐熱性能測試在電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和制造過程中，非金屬材料和絕緣材料的使用日益廣泛。這些材料在高溫條件下的性能變化對(duì)于產(chǎn)品的安全性和可靠性至關(guān)重要。IEC球壓測試是一種評(píng)估非金屬材料和絕緣材料耐熱性能的標(biāo)準(zhǔn)方法，它模擬了材料在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的高溫環(huán)境。球壓測試的應(yīng)用范圍IEC球壓測試廣泛應(yīng)用于電工電子產(chǎn)品及其組件，包括照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、

  測試 燈具 絕緣材料

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• 發(fā)布了文章 2025-02-06 14:15

  X射線熒光光譜分析技術(shù)：原理與應(yīng)用

  

  什么是X射線X射線是一種高能電磁輻射，波長范圍通常在0.01納米到10納米之間，介于紫外線和γ射線之間。它具有波粒二象性，與其他電磁波相比，X射線的波長更短、能量更高，因此展現(xiàn)出獨(dú)特的物理特性。首先，X射線具有強(qiáng)大的穿透能力，能夠穿透許多物質(zhì)，這使得它在材料分析、醫(yī)學(xué)成像以及工業(yè)無損檢測等領(lǐng)域具有重要應(yīng)用價(jià)值。其次，X射線的折射率接近1，這意味著它在通過物質(zhì)

  X射線 光譜分析 電磁輻射

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• 發(fā)布了文章 2025-01-28 00:29

  FIB常見應(yīng)用明細(xì)及原理分析

  

  統(tǒng)及原理雙束聚焦離子束系統(tǒng)可簡單地理解為是單束聚焦離子束和普通SEM之間的耦合。單束聚焦離子束系統(tǒng)包括離子源，離子光學(xué)柱，束描畫系統(tǒng)，信號(hào)采集系統(tǒng)，樣品臺(tái)五大部分。離子束鏡筒頂部為離子源，離子源上施加強(qiáng)大電場提取帶正電荷離子，經(jīng)靜電透鏡和偏轉(zhuǎn)裝置聚焦并偏轉(zhuǎn)后實(shí)現(xiàn)樣品可控掃描。樣品加工采用加速離子轟擊試樣使表面原子濺射的方法進(jìn)行，而生成的二次電子及二次離子則由

  fib SEM 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-01-28 00:27

  什么是溫升試驗(yàn)

  

  電氣產(chǎn)品在使用過程中，由于電流通過某些元件產(chǎn)生的熱量，可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)備溫度升高。如果設(shè)備長時(shí)間在高溫狀態(tài)下工作，可能會(huì)降低絕緣材料的性能，增加電擊、燙傷或火災(zāi)的風(fēng)險(xiǎn)。設(shè)備內(nèi)部的高溫還可能影響產(chǎn)品性能，導(dǎo)致絕緣等級(jí)下降或增加不穩(wěn)定性。在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段，進(jìn)行溫升試驗(yàn)是確保產(chǎn)品安全穩(wěn)定工作的重要環(huán)節(jié)。溫升試驗(yàn)定義溫升試驗(yàn)是一種評(píng)估電子電氣設(shè)備在運(yùn)行中各部件相對(duì)于環(huán)境溫

  溫升試驗(yàn) 電氣產(chǎn)品 試驗(yàn)

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• 發(fā)布了文章 2025-01-26 13:40

  Dual Beam FIB-SEM技術(shù)

  

  DualBeamFIB-SEM技術(shù)在現(xiàn)代材料科學(xué)的探索中，微觀世界的洞察力是推動(dòng)技術(shù)進(jìn)步的關(guān)鍵。隨著科技的不斷進(jìn)步，分析儀器也在不斷升級(jí)，以滿足日益復(fù)雜的研究需求。其中，DualBeamFIB-SEM（聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng)）以其獨(dú)特的多合一功能，成為材料科學(xué)領(lǐng)域不可或缺的利器。DualBeamFIB-SEM系統(tǒng)的核心是將聚焦離子束（FIB）與掃

  fib SEM 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-01-26 13:38

  X-Ray檢測技術(shù)在SMT貼片加工中的應(yīng)用

  

  X射線檢測技術(shù)原理X射線檢測技術(shù)的核心在于借助X射線的穿透特性來實(shí)現(xiàn)物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的可視化。當(dāng)X射線穿透不同密度的物質(zhì)時(shí)，會(huì)因物質(zhì)的密度差異而產(chǎn)生不同的吸收效果，進(jìn)而形成相應(yīng)的內(nèi)部影像。具體而言，密度較大的金屬材質(zhì)，例如焊點(diǎn)，會(huì)對(duì)X射線產(chǎn)生較強(qiáng)的吸收作用，形成較為明顯的輪廓影像；而密度相對(duì)較小的材料，如PCB基板或焊點(diǎn)內(nèi)部的空洞等，則對(duì)X射線的吸收較少，從而在

  smt x-ray 檢測

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• 發(fā)布了文章 2025-01-26 13:37

  材料科學(xué)中的EBSD技術(shù)：應(yīng)用實(shí)踐與專業(yè)解讀

  

  EBSD技術(shù)的誕生與發(fā)展電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）以其獨(dú)特的分析能力，成為了揭示材料微觀結(jié)構(gòu)秘密的關(guān)鍵技術(shù)。EBSD技術(shù)的核心優(yōu)勢EBSD技術(shù)之所以能在眾多材料分析技術(shù)中脫穎而出，關(guān)鍵在于其依托于掃描電子顯微鏡（SEM）的強(qiáng)大功能，能夠深入剖析材料的微觀結(jié)構(gòu)。與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡相比，EBSD技術(shù)在高倍率下展現(xiàn)出卓越的成像能力，能夠清晰地揭示出細(xì)小晶粒、針

  顯微鏡 材料

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