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金鑒實驗室

金鑒實驗室是光電半導體行業(yè)最知名的第三方檢測機構(gòu)之一

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動態(tài)

  • 發(fā)布了文章 2025-03-25 17:13

    LED光生物安全理論及測試標準

    光生物效應光生物效應是光與生物體相互作用的核心內(nèi)容。在人體生理反應層面,光生物效應可歸納為視覺效應、非視覺效應與輻射效應三大類別。視覺效應是光的最基礎作用,其影響因素豐富多樣,包括亮度、空間分布、顯色性、眩光等,這些因素相互作用,可能導致眼睛疲勞、視力模糊,甚至降低視覺相關(guān)作業(yè)的效率。非視覺效應則涉及人體除視覺外的廣泛生理與心理反應,與工作效率、安全感、舒適
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-25 17:10

    透射電子顯微鏡(TEM)的優(yōu)勢及應用

    在現(xiàn)代科學技術(shù)的諸多領(lǐng)域中,透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope,TEM)以其卓越的性能和廣泛的應用,成為了材料科學、生命科學以及納米科技研究中不可或缺的重要工具。透射電鏡的工作原理與技術(shù)優(yōu)勢透射電子顯微鏡的工作原理基于高能電子束的穿透與電磁透鏡的成像。它利用高能電子束穿透極薄的樣品,通過電磁透鏡系統(tǒng)對透射電子進行聚焦
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-24 14:36

    車規(guī)級與非車規(guī)級有什么區(qū)別?如何管控?

    車規(guī)VS非車規(guī)的差異1.可靠性要求車規(guī)級:車規(guī)級產(chǎn)品在可靠性方面的要求極為嚴苛,其缺陷率需控制在百萬分之一(PPM)級別,設計壽命通常為15年或20萬公里,且必須通過AEC-Q系列認證,如AEC-Q100是針對芯片的專門認證。相比之下,非車規(guī)級產(chǎn)品(例如消費級)的缺陷率容忍度相對較高,壽命周期一般僅為2-3年。環(huán)境測試:車規(guī)級元器件需要經(jīng)受極端溫度循環(huán)測試(
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-21 15:27

    案例展示||FIB-SEM在材料科學領(lǐng)域的應用

    聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)憑借其高分辨率成像與精準微加工能力,已成為科學研究和工程領(lǐng)域不可或缺的工具。它將聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)的功能完美結(jié)合,實現(xiàn)了微觀結(jié)構(gòu)的高精度分析與納米級加工。FIB-SEM的原理與結(jié)構(gòu)FIB-SEM的工作原理通過電透鏡將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束加速并聚焦,作用于樣品表面,實現(xiàn)納米級的銑削、沉積和成
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-20 11:19

    LED光效、熱阻與光衰的深度剖析

    LED光效LED光效是衡量光源性能的關(guān)鍵指標,其定義為光通量(lm)與光源消耗功率(W)的比值,單位為lm/W。瞬態(tài)光效是LED光源啟動瞬間的發(fā)光效率,也稱初始冷態(tài)光效。它主要反映了LED在短時間內(nèi)光-電轉(zhuǎn)換的特性,與芯片和熒光粉的量子激發(fā)能力、膠體折射率、透光率以及支架結(jié)構(gòu)(反光杯)的反光率等因素密切相關(guān),而與芯片結(jié)溫幾乎無關(guān)。瞬態(tài)光效僅具有測量對比的意義
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-20 11:18

    Decap開蓋檢測方法及案例分析

    開蓋檢測(DecapsulationTest),即Decap,是一種在電子元器件檢測領(lǐng)域中廣泛應用的破壞性實驗方法。這種檢測方式在芯片的失效分析、真?zhèn)舞b定等多個關(guān)鍵領(lǐng)域發(fā)揮著不可或缺的作用,為保障電子產(chǎn)品質(zhì)量和安全性提供了有力支持。應用方法1.化學開蓋化學開蓋是利用特定化學試劑的腐蝕作用來去除芯片外部封裝的一種方法在實際操作中,常用的化學試劑包括發(fā)煙硝酸、濃
  • 發(fā)布了文章 2025-03-20 11:17

    透射電子顯微鏡(TEM)在鋰電池材料分析中的應用

    鋰電池材料微觀結(jié)構(gòu)研究在新能源技術(shù)迅猛發(fā)展的當下,鋰電池材料研究的重要性日益凸顯。深入鉆研鋰電池材料的原子與電子結(jié)構(gòu),為材料設計的優(yōu)化與電池性能的提升筑牢根基。而透射電子顯微鏡(TEM)技術(shù),便是這一探索旅程中的得力助手,其原子尺度的空間分辨本領(lǐng),使科研人員得以深度洞察材料的微觀構(gòu)造。(a)TEM透射電鏡的結(jié)構(gòu)原理圖;(b)TEM測試照片(Co3O4納米片)
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-19 11:51

    聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)

    聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)作為一種前沿的微納加工與成像技術(shù),憑借其強大的功能和多面性,在材料科學研究中占據(jù)著舉足輕重的地位。它能夠深入微觀世界,揭示材料內(nèi)部的結(jié)構(gòu)與特性,為材料科學的發(fā)展提供了強有力的支撐。定點剖面形貌與成分分析FIB-SEM系統(tǒng)具備精準的定點切割與分析能力,能夠深入材料內(nèi)部,揭示其微觀結(jié)構(gòu)與成分。以CdS微米線為例,光學顯
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-19 11:47

    氬離子拋光技術(shù):材料科學中的關(guān)鍵樣品制備方法

    氬離子拋光技術(shù)的核心氬離子拋光技術(shù)的核心在于利用高能氬離子束對樣品表面進行精確的物理蝕刻。在拋光過程中,氬離子束與樣品表面的原子發(fā)生彈性碰撞,使表面原子或分子被濺射出來。這種濺射作用能夠在不引入新的損傷的情況下,逐步去除樣品表面的一層薄膜。通過精確控制離子束的能量、流量、角度和作用時間,可以實現(xiàn)對不同材料樣品的優(yōu)化拋光。這種技術(shù)的原理基于物理濺射機制,避免了
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-18 21:32

    AEC-Q102之正弦振動

    振動試驗(VibrationalVerificationforFunctionality,VVF)是確保汽車電子產(chǎn)品在實際使用中保持性能穩(wěn)定和可靠性的一項關(guān)鍵測試。振動試驗重要性在汽車電子行業(yè)中,AEC-Q102標準是衡量產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標,其中振動試驗部分主要參照JESD22-B103B.01行業(yè)標準執(zhí)行。這一標準詳細規(guī)定了振動試驗的條件、方法和評估準則,

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認證信息: 金鑒實驗室官方賬號

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地址:廣東金鑒實驗室科技有限公司

公司介紹:金鑒實驗室是半導體行業(yè)最知名的第三方檢測機構(gòu)之一,是專注于第三代半導體氮化鎵和碳化硅芯片和器件失效分析的新業(yè)態(tài)科研檢測機構(gòu)。金鑒實驗室是工業(yè)和信息化廳認定的“中小企業(yè)LED材料表征與失效分析公共技術(shù)服務平臺”。金鑒實驗室擁有CMA和CNAS資質(zhì),可提供LED材料及失效分析、LED質(zhì)量鑒定及解決方案、司法鑒定、材料表征測試等服務,所發(fā)布的檢測報告可用于產(chǎn)品質(zhì)量評價、成果驗收及司法鑒定,具有法律效力。

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