E_HS能量曲線圖顯示出，在每個開關周期內(nèi)有額外的13μJ損耗，與2nH的柵極環(huán)路電感和1Ω下拉電阻時53μJ相比，差不多增加了60%（圖4）。

　　假定開關頻率為100kHz，高管器件上的功率損耗從5.3W增加至8W，其原因是由高柵極環(huán)路電感和高下拉電阻值所導致的直通。這個額外的功率損耗會使得功率器件內(nèi)的散熱變得十分難以管理，并且會增加封裝和冷卻成本。

　　圖5. 使用10nH柵極環(huán)路電感和下拉電阻時的仿真結果：Rpd = 1Ω（紅色）、2Ω（綠色）和3Ω（藍色）。E_HS是高管能耗。

　　為了減輕直通電壓，可以將柵極偏置為更大的負電壓，不過這樣做會增加柵極上的應力，并且會在器件處于第三象限時增大死區(qū)時間損耗。因此，在柵極環(huán)路電感比較高時，柵極應力與器件關斷保持能力之間的均衡和取舍很難管理。你必須增加柵極應力，或者允許半橋直通，這會增加交叉?zhèn)鲗p耗和電流環(huán)路振鈴，并且會導致安全工作區(qū) （SOA） 問題。一個集成式GaN/驅(qū)動器封裝提供低柵極環(huán)路電感，并且最大限度地降低柵極應力和直通風險。

　　GaN器件保護

　　將驅(qū)動器與GaN晶體管安裝在同一個引線框架內(nèi)可以確保它們的溫度比較接近，這是因為引線框架的導熱性能極佳。熱感測和過熱保護可以置于驅(qū)動器內(nèi)部，使得當感測到的溫度超過保護限值時，GaN FET將關閉。

　　一個串聯(lián)MOSFET或一個并聯(lián)GaN感測FET可以被用來執(zhí)行過流保護。它們都需要GaN器件與其驅(qū)動器之間具有低電感連接。由于GaN通常以較大的di/dt進行極快的開關，互聯(lián)線路中的額外電感會導致振鈴，并且需要較長的消隱時間來防止電流保護失效。集成驅(qū)動器確保了感測電路與GaN FET之間盡可能少的電感連接，這樣的話，電流保護電路可以盡可能快的做出反應，以保護器件不受過流應力的影響。

　　圖6. 一個半橋降壓轉(zhuǎn)換器（通道2）中的高管接通時的SW節(jié)點波形。

　　開關波形

　　圖6是一個半橋的開關波形；

　　這個半橋包含2個集成式驅(qū)動器的GaN器件，采用8mm x 8mm四方扁平無引線 （QFN） 封裝。通道2顯示SW節(jié)點，此時高管器件在總線電壓為480V的情況下，以120V/ns的壓擺率被硬開關。這個經(jīng)優(yōu)化的驅(qū)動器集成式封裝和PCB將過沖限制在50V以下。需要說明的一點是，捕捉波形時使用的是1GHz示波器和探頭。

　　結論

　　GaN晶體管與其驅(qū)動器的封裝集成消除了共源電感，從而實現(xiàn)了高電流壓擺率。它還減少了柵極環(huán)路電感，以盡可能地降低關閉過程中的柵極應力，并且提升器件的關斷保持能力。集成也使得設計人員能夠為GaN FET搭建高效的過熱和電流保護電路。