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標(biāo)簽 > 芯片設(shè)計
《芯片設(shè)計》是2009年11月上??茖W(xué)技術(shù)出版社出版的圖書,作者是(德)B.科爾特,(德)J.菲根。
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半導(dǎo)體IC設(shè)計是什么 ic設(shè)計和芯片設(shè)計區(qū)別
半導(dǎo)體 IC 設(shè)計的目的是將多個電子元件、電路和系統(tǒng)平臺集成在一個半導(dǎo)體襯底上,從而實現(xiàn)芯片尺寸小、功耗低、集成度高、性能卓越的優(yōu)勢。
既然要優(yōu)化功耗,我們先看看功耗是怎么造成的?,F(xiàn)代大規(guī)模集成電路里面廣泛用的是CMOS, Complementary Mosfet, 互補的晶體管。
芯片設(shè)計知識:了解芯片設(shè)計的基本原理和流程,包括RTL設(shè)計、綜合、布局布線、驗證等方面的知識。
我們知道,Verdi橫空出世,大大加速了數(shù)字設(shè)計驗證的debug的效率,verdi波形格式是fsdb,壓縮率高,逐步取代了VCD波形,但是有些芯片設(shè)計環(huán)...
2023-08-12 標(biāo)簽:轉(zhuǎn)換器芯片設(shè)計VCD 3083 0
可測性設(shè)計是在滿足芯片正常功能的基礎(chǔ)上,通過有效地加入測試電路,來降低芯片的測試難度,降低測試成本。
2021-03-07 標(biāo)簽:晶圓芯片設(shè)計可測性設(shè)計 3023 0
芯片失效分析是指對電子設(shè)備中的故障芯片進(jìn)行檢測、診斷和修復(fù)的過程。芯片作為電子設(shè)備的核心部件,其性能和可靠性直接影響整個設(shè)備的性能和穩(wěn)定性。 隨著半導(dǎo)體...
硅光子芯片設(shè)計突破結(jié)構(gòu)限制瓶頸
當(dāng)今的硅光子芯片必須采用復(fù)雜的制造制程連接光源與芯片,而且也和晶圓級堆棧密不可分。
2016-02-18 標(biāo)簽:CMOS芯片設(shè)計半導(dǎo)體芯片 2972 0
前言我們聊聊芯片設(shè)計、流片、驗證、制造、成本的那些事;流片對于芯片設(shè)計來說就是參加一次大考。流片的重要性就在于能夠檢驗芯片設(shè)計是否成功,是芯片制造的關(guān)鍵...
總結(jié)一下pipeline流水線設(shè)計的關(guān)鍵點
pipeline流水線設(shè)計是一種典型的面積換性能的設(shè)計。一方面通過對長功能路徑的合理劃分,在同一時間內(nèi)同時并行多個該功能請求,大大提高了某個功能的吞吐率
于消費者而言,一個可以使用的系統(tǒng),有數(shù)字集成電路部分、模擬集成電路部分、系統(tǒng)軟件及上層應(yīng)用部分。關(guān)于各個部分的功能,借用IC 咖啡胡總的精品圖可以一目了...
YuzukiHD-Chameleon變色龍板,基于全志ARM 4xA53 1.5Ghz 4KHDMI輸出H616芯片設(shè)計,授權(quán)百問網(wǎng)生產(chǎn)銷售,版型保持了...
基于UPF的低功耗數(shù)字后端設(shè)計實訓(xùn)課
帶UPF的低功耗設(shè)計流程中包括了前端VCS-NLP功能仿真,后端VC LP靜態(tài)驗證,以及在DC綜合和ICC2布局布線中低功耗單元的插入,例如level ...
關(guān)于標(biāo)準(zhǔn)芯片單元可連通性測試 影響因素有哪些
介紹了一種標(biāo)準(zhǔn)芯片單元可連通性的檢測方法,可以有效檢測標(biāo)準(zhǔn)芯片單元的可連通性,在布局布線階段之前,改進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)單元的版圖,或者增加布局布線的約束條件,從而保...
假如我們想要錄制一段聲音,模擬信號的做法是把所有的聲音信息用一段連續(xù)變化的電磁波或電壓信號原原本本地記錄下來。而按照一定的規(guī)則將其轉(zhuǎn)換為一串二進(jìn)制數(shù)0和...
借人工智能東風(fēng)FPGA芯片設(shè)計順勢崛起
FPGA即現(xiàn)場可編程門陣列,是一種半定制的IC芯片,原廠(如XILINX、ALTERA、LATTICE、MicroSemi等)生產(chǎn)出的是空白的不含配置信...
今天想來聊一下芯片設(shè)計中的一個重要macro——PLL,全稱Phase lock loop,鎖相環(huán)。我主要就介紹一下它是什么以及它是如何工作的。
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