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標簽 > 芯片測試
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如何用納米軟件半導(dǎo)體老化測試系統(tǒng)測試芯片老化?
芯片老化測試的目的是為了評估芯片長期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性,以確保芯片及系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測試的內(nèi)容及注意事項,今天...
2023-10-16 標簽:測試系統(tǒng)芯片測試 1188 0
可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 S2S 功能介紹
可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 S2S 功能介紹 USB2S 支持基于 STC 單片機的二次開發(fā),若有需要,可參照原理圖和單片機型號手冊自行開發(fā)具有...
旺宏電子6月營收創(chuàng)新高,3D NOR Flash蓄勢待發(fā)
臺灣知名電子元件制造商旺宏電子近期公布了亮眼的6月及第二季度財務(wù)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)顯示,該公司6月單月營收達到21.78億元新臺幣,較上月微增0.81%,較去年...
可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 ?SHT3x-DIS 溫濕度傳感器芯片 可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 ?SHT3x-DIS 溫濕度傳感器芯片 ...
在芯片測試中,分類和選擇是關(guān)鍵的步驟,以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測試目標和要求,可以采用不同的分類方法和選擇策略。
長鑫存儲”半導(dǎo)體芯片測試方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)“專利獲授權(quán)
根據(jù)專利摘要,該公開提供屬于半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域的半導(dǎo)體芯片測試方法、裝置、裝置及存儲介質(zhì)。該方法對半導(dǎo)體芯片進行直流應(yīng)力試驗,得出直流應(yīng)力試驗結(jié)果,直流...
2023-11-17 標簽:存儲介質(zhì)芯片測試半導(dǎo)體制造 1102 0
冠軍誕生!2021“創(chuàng)芯中國”集成電路創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽芯片測試賽項(華南賽區(qū))圓滿收官
9月26日,由杭州加速科技有限公司聯(lián)合主辦的2021“創(chuàng)芯中國”集成電路創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽芯片測試賽項(華南賽區(qū))圓滿收官。14支參賽隊伍同臺競技,大顯身手,經(jīng)...
在新場景、新應(yīng)用海量增長的驅(qū)動下,芯片測試需求也在日益多元化和快速擴展。加速科技始終致力于以客戶的實際需求為導(dǎo)向,基于領(lǐng)先的半導(dǎo)體測試技術(shù)為千行百業(yè)提供...
2023-12-05 標簽:芯片測試測試機半導(dǎo)體測試 1081 0
ATECLOUD芯片測試設(shè)備測試電源芯片持續(xù)電流的方法
連續(xù)電流(持續(xù)電流)是指元器件在工作狀態(tài)下內(nèi)部電流持續(xù)流動的狀態(tài),一般都是用于對元器件允許連續(xù)通過電流限制的一種描述。比如電源芯片允許的持續(xù)電流,就表示...
芯片測試工具之ATECLOUD-IC系統(tǒng)如何測試電源芯片的穩(wěn)壓反饋?
電源芯片穩(wěn)壓反饋的測試需要一臺多通道直流電源和一臺數(shù)字萬用表,測試之前需要使用直流電源給芯片的VIN和EN端輸入電壓和電流,保證芯片正常啟動,之后只需要...
是德科技出席首屆“全球5G 大會”并展示最新5G創(chuàng)新與合作成果
是德科技全球副總裁兼無線測試業(yè)務(wù)總經(jīng)理Satish Dhanasekaran先生表示:“過去的三年里,我們與全球的5G協(xié)會和研究機構(gòu)建立了廣泛的合作關(guān)系...
近日,深圳市華力宇電子科技有限公司(HISEMI)迎來了其高端芯片測試基地新址的啟航儀式,標志著公司正式邁入高端測試領(lǐng)域的新篇章。
2024-05-10 標簽:芯片測試 1050 0
ATECLOUD芯片測試系統(tǒng)如何對芯片靜態(tài)功耗進行測試?
靜態(tài)功耗也叫靜態(tài)電流,是指芯片在靜止狀態(tài)下的電流或者是指芯片在不受外界因素影響下自身所消耗的電流。靜態(tài)功耗是衡量芯片功耗與效率地重要指標。
來源:成都高新區(qū)電子信息產(chǎn)業(yè)局 日前,芯源系統(tǒng)全球研發(fā)及測試基地項目在成都高新區(qū)舉行開工活動。 項目建成投產(chǎn)后,預(yù)計可實現(xiàn)年測試電源管理芯片達200億顆...
2024-11-13 標簽:芯片測試 1023 0
芯片測試治具是一種用于芯片測試的實驗室設(shè)備,可以實現(xiàn)芯片的功能測試、參數(shù)測試和性能測試,它可以幫助電子工程師驗證芯片的性能和可靠性,實現(xiàn)芯片的精確測試和優(yōu)化。
是德科技在北京舉辦【是德科技通信與芯片測試行業(yè)峰會】探討5G、B5G、6G新技術(shù)的發(fā)展與相關(guān)熱門領(lǐng)域的測試方案,并在現(xiàn)場進行高速誤碼儀與示波器等產(chǎn)品的演...
ATECLOUD智能云測試平臺助力企業(yè)創(chuàng)新發(fā)展數(shù)字化轉(zhuǎn)型
在數(shù)字化時代,企業(yè)的數(shù)字化轉(zhuǎn)型已成為推動經(jīng)濟發(fā)展的重要動力。為了幫助企業(yè)更好地進行數(shù)字化轉(zhuǎn)型,財政部和工業(yè)和信息化部聯(lián)合發(fā)布了一份報告,建議打造一批數(shù)字...
凝聚技術(shù)力量 共建測試生態(tài) ——集成電路測試技術(shù)交流日成功舉辦
10月18日下午,凝聚技術(shù)力量,共建測試生態(tài)?——集成電路測試技術(shù)交流會在上海成功舉辦。來自全國各地知名專家學(xué)者、技術(shù)大咖及企業(yè)代表齊聚一堂,共同探討封...
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