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芯片測試

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芯片測試技術(shù)

半導(dǎo)體封裝/模塊驗(yàn)證：高低溫濕熱環(huán)境的全流程解決方案

環(huán)境變化不是問題的來源，而是讓問題暴露出來的加速器。　　在芯片、功率器件、模組、傳感器等電子元件的封測過程中，溫度、濕度、氣壓的變化會對其引腳焊接、...

2025-07-14 標(biāo)簽：芯片測試試驗(yàn)箱半導(dǎo)體測試 257 0

技術(shù)干貨 | DAC頻率響應(yīng)特性解析：從sinc函數(shù)衰減到補(bǔ)償技術(shù)

本章解析DAC頻率響應(yīng)特性，探討sinc函數(shù)導(dǎo)致的信號衰減規(guī)律，對比數(shù)字濾波與模擬濾波兩種補(bǔ)償技術(shù)，幫助優(yōu)化AWG模塊輸出信號的頻率平坦度，提升測試測量精度。

2025-07-09 標(biāo)簽：芯片測試半導(dǎo)體測試 ADC測試 153 0

技術(shù)干貨 | 精準(zhǔn)測試，高效分析——ADC直方圖測試技術(shù)詳解

本章詳解ADC線性度測試的兩種核心方法：線性斜坡法和正弦波法，涵蓋DNL/INL計(jì)算、測試參數(shù)優(yōu)化及德思特高精度測試方案，助您快速掌握ADC性能評估關(guān)鍵技術(shù)。

2025-07-07 標(biāo)簽：芯片測試 ADC測試半導(dǎo)體測試系統(tǒng) 329 0

技術(shù)干貨 | AD/DA動態(tài)分析中的信號窗口處理技術(shù)

前一章詳解了TX7006上的線性計(jì)算，AD/DA動態(tài)分析中的傅里葉變換和動態(tài)參數(shù)計(jì)算。本期文章將為大家繼續(xù)介紹AD/DA動態(tài)分析中的信號窗口。

2025-07-03 標(biāo)簽：芯片測試動態(tài)分析 ADC測試 505 0

技術(shù) | ADC/DAC芯片測試研討會筆記請查收！

6月19日，《ADC/DAC芯片測試前沿：德思特ATX系統(tǒng)高效方案與實(shí)戰(zhàn)攻略》線上研討會圓滿結(jié)束。在直播間收到一些觀眾的技術(shù)問題，我們匯總了熱點(diǎn)問題并請...

2025-06-24 標(biāo)簽：芯片測試 DAC測試 ADC測試 134 0

技術(shù)干貨 | 從偏移誤差到電源抑制比，DAC核心術(shù)語全解析

偏移誤差、增益誤差、INL/DNL、轉(zhuǎn)換時間……這些關(guān)鍵指標(biāo)如何定義？如何影響DAC性能？本文DAC核心術(shù)語全解析帶您一文掌握關(guān)鍵參數(shù)！

2025-06-19 標(biāo)簽：芯片測試 DAC測試芯片測試系統(tǒng) 188 0

快速熱循環(huán)試驗(yàn)箱在芯片老化試驗(yàn)中的應(yīng)用

在半導(dǎo)體制造與封裝測試領(lǐng)域中，芯片的熱穩(wěn)定性、熱應(yīng)力適應(yīng)性與長期可靠性是評價其性能優(yōu)劣的關(guān)鍵指標(biāo)。特別是在汽車電子、高性能計(jì)算、5G通信等對芯片質(zhì)量要求...

2025-06-04 標(biāo)簽：芯片測試試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備 163 0

寫給小白的芯片封裝入門科普

之前給大家介紹了晶圓制備和芯片制造：晶圓是如何制造出來的？從入門到放棄，芯片的詳細(xì)制造流程！從今天開始，我們聊聊芯片的封裝和測試（通常簡稱“封測”）。這...

2025-04-25 標(biāo)簽：芯片測試芯片封裝封測 813 0

干簧繼電器：芯片測試儀的“性能催化劑”

在集成電路（IC）制造領(lǐng)域，測試環(huán)節(jié)是確保芯片性能和可靠性的重要步驟。然而，測試過程往往伴隨著高昂的成本和復(fù)雜的設(shè)備需求。本文將探討如何通過優(yōu)化接口電路...

2025-04-07 標(biāo)簽：繼電器測試測量芯片測試 857 0

電力電子半導(dǎo)體芯片測試設(shè)備——高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱主要用于模擬高溫、低溫、濕度交變及恒定濕熱環(huán)境，評估產(chǎn)品在不同溫濕度條件下的耐久性、穩(wěn)定性及適應(yīng)性。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、功率...

2025-03-21 標(biāo)簽：芯片測試半導(dǎo)體測試環(huán)境測試 429 0

芯片測試帖子

干簧繼電器：芯片測試儀的“性能催化劑”

標(biāo)簽：繼電器測試測量 ATE 383 0

致茂C3380P J TYPE平臺測試SOC在線求助

標(biāo)簽：芯片測試 10623 0

芯片功能測試的五種方法！

標(biāo)簽：芯片測試 9431 1

我試圖使用FPGA以及一些其他輔助器件，測試芯片的功能。我該如何選擇FPGA型號及其余器件。

標(biāo)簽：FPGA 芯片測試功能測試 1162 0

如何設(shè)計(jì)一個用于串行總線芯片測試的實(shí)驗(yàn)平臺？

標(biāo)簽：芯片測試串行總線 1418 1

【MTO-EV033開發(fā)板試用體驗(yàn)連載】測評之六：基于MTO-EV033開發(fā)板試用總結(jié)

標(biāo)簽：芯片測試 3394 1

【MTO-EV033開發(fā)板試用體驗(yàn)連載】測評之四：芯片全功能參數(shù)測試，工欲善其事,必先利其器

標(biāo)簽：芯片測試 3703 3

標(biāo)簽：芯片測試 9215 2

標(biāo)簽：芯片測試 2800 1

標(biāo)簽：芯片測試 2493 0

芯片測試資料下載

芯片測試講解立即下載

類別：電子教材 2016-08-08 標(biāo)簽：芯片測試 1894 0

FM調(diào)頻技術(shù)原理及FM芯片測試指南立即下載

類別：無線通信 2013-06-06 標(biāo)簽：FM 芯片測試調(diào)頻技術(shù) 2530 1

基于1553B總線的BU-61580芯片測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)立即下載

類別：測試測量 2013-03-04 標(biāo)簽：芯片測試 1553B總線 BU-61580 2618 4

LDO PSRR測量簡化說明－LDO電源芯片測試要點(diǎn)立即下載

類別：電源技術(shù) 2012-09-14 標(biāo)簽：LDO 芯片測試 LDO電源 1757 2

半導(dǎo)體LED芯片測試方法立即下載

類別：半導(dǎo)體技術(shù)論文 2011-12-22 標(biāo)簽：LED 半導(dǎo)體芯片測試 2864 0

芯片測試資訊

是德科技芯片新技術(shù)與測試研討會亮點(diǎn)回顧

日前，由張江高科、是德科技與 IC 咖啡聯(lián)合主辦的 “促進(jìn)芯發(fā)展走進(jìn)科學(xué)城暨芯片新技術(shù)與測試研討會”在張江芯片測試公共服務(wù)平臺（上海市浦東新區(qū)秋月路2...

2025-04-10 標(biāo)簽：半導(dǎo)體芯片測試是德科技 638 0

年終盤點(diǎn) 回眸蓄力從“芯”出發(fā)

歲月不居，時節(jié)如流 2024年的時光畫卷已緩緩合起這一年加速科技銳意進(jìn)取，昂揚(yáng)向上在科技創(chuàng)新的道路上留下了堅(jiān)實(shí)的足跡下面，讓我們一起重溫2024...

2025-01-23 標(biāo)簽：芯片測試加速科技 377 0

Advantest CEO：先進(jìn)芯片測試需求大增

近日，半導(dǎo)體測試設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)Advantest愛德萬測試集團(tuán)的首席執(zhí)行官Douglas Lefever在接受英國媒體采訪時，就現(xiàn)代先進(jìn)芯片的測試需...

2025-01-03 標(biāo)簽：芯片測試半導(dǎo)體測試 Advantest 551 0

季豐電子全新推出MonitorMaster三代

在芯片測試領(lǐng)域，精準(zhǔn)的電壓、電流監(jiān)控是確保產(chǎn)品性能和穩(wěn)定性的關(guān)鍵。季豐電子全新推出的MonitorMaster三代，為高溫操作壽命測試（HTOL）和高加...

2025-01-02 標(biāo)簽：芯片測試季豐電子 603 0

GRGTEST | 打造一流的微波射頻產(chǎn)業(yè)公共技術(shù)服務(wù)平臺

12月20日，武侯區(qū)微波射頻產(chǎn)業(yè)公共技術(shù)服務(wù)平臺正式揭牌。該平臺聚焦貫徹落實(shí)成都市及武侯區(qū)“立園滿園”行動部署，以科技型中小企業(yè)創(chuàng)業(yè)初期共性技術(shù)服務(wù)需求...

2024-12-27 標(biāo)簽：芯片測試安全測試微波射頻 709 0

新思科技Multi-Die系統(tǒng)如何滿足現(xiàn)代計(jì)算需求

從賦能聊天機(jī)器人快速生成回答的生成式人工智能工具，到支持金融預(yù)測和天氣建模的高性能計(jì)算（HPC）應(yīng)用，我們對處理能力的需求顯然達(dá)到了新的高度。面對這些計(jì)...

2024-12-19 標(biāo)簽：芯片測試人工智能新思科技 615 0

加速科技完成超億元戰(zhàn)略融資！

近日，杭州加速科技有限公司（以下簡稱“加速科技”）完成超億元戰(zhàn)略融資，投資方包括策源資本、西湖創(chuàng)新投資等機(jī)構(gòu)。本輪融資彰顯了投資方對加速科技技術(shù)實(shí)力、創(chuàng)...

2024-12-02 標(biāo)簽：半導(dǎo)體芯片測試 620 0

200億顆！這一芯片測試項(xiàng)目在成都開工！

來源：成都高新區(qū)電子信息產(chǎn)業(yè)局日前，芯源系統(tǒng)全球研發(fā)及測試基地項(xiàng)目在成都高新區(qū)舉行開工活動。項(xiàng)目建成投產(chǎn)后，預(yù)計(jì)可實(shí)現(xiàn)年測試電源管理芯片達(dá)200億顆...

2024-11-13 標(biāo)簽：芯片測試 1020 0

喜訊：都靈理工大學(xué)與 SPEA 簽署測試研究協(xié)議，共繪電子測試新篇章

SPEANewsStefanoCorgnati校長、SPEACEOLucianoBonaria▲近日，都靈理工大學(xué)與SPEA在校長StefanoCorg...

2024-10-10 標(biāo)簽：自動化測試芯片測試電子測試 584 0

【展會盛事，邀您共鑒】共赴CSEAC 2024，引領(lǐng)半導(dǎo)體新未來！

在這個充滿機(jī)遇與挑戰(zhàn)的半導(dǎo)體行業(yè)新時代，北京漢通達(dá)科技有限公司始終與您并肩前行，共同探索技術(shù)創(chuàng)新與市場拓展的新路徑。我們非常榮幸地受邀參加“第12屆半導(dǎo)...

2024-09-20 標(biāo)簽：半導(dǎo)體設(shè)備芯片測試 560 0

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802.11ac

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IEEE 802.11ac，是一個802.11無線局域網(wǎng)（WLAN）通信標(biāo)準(zhǔn)，它通過5GHz頻帶（也是其得名原因）進(jìn)行通信。理論上，它能夠提供最多1Gbps帶寬進(jìn)行多站式無線局域網(wǎng)通信，或是最少500Mbps的單一連接傳輸帶寬。
是德科技

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是德科技公司(NYSE:KEYS)是全球領(lǐng)先的電子測量公司,通過在無線、模塊化和軟件解決方案等領(lǐng)域的不斷創(chuàng)新,為您提供全新的測量體驗(yàn)。
TSV

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FLIR

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FLIR Systems Inc，（NASDAQ： FLIR）作為創(chuàng)新成像系統(tǒng)制造領(lǐng)域的領(lǐng)軍企業(yè)，其產(chǎn)品范圍涉及紅外熱像儀、航空攝像機(jī)和機(jī)械檢測系統(tǒng)等。FLIR產(chǎn)品已在全球60余個國家內(nèi)的工商業(yè)及政府領(lǐng)域中發(fā)揮了重要作用。
量子計(jì)算

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量子計(jì)算/量子計(jì)算機(jī)的概念是著名物理學(xué)家費(fèi)曼于1981年首先提出的。一般認(rèn)為傳統(tǒng)的計(jì)算機(jī)其理論模型是通用圖靈機(jī)；而量子計(jì)算是一種遵循量子力學(xué)規(guī)律調(diào)控量子信息單元進(jìn)行計(jì)算的新型計(jì)算模式。從計(jì)算的效率上來說量子計(jì)算處理問題的速度要快于傳統(tǒng)的通用計(jì)算機(jī)。
封測

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致遠(yuǎn)電子

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廣州致遠(yuǎn)電子有限公司創(chuàng)立于2001年，作為智能物聯(lián)生態(tài)系統(tǒng)產(chǎn)品與解決方案供應(yīng)商，專注服務(wù)工業(yè)領(lǐng)域企業(yè)類用戶，提供從感知控制、互聯(lián)互通、邊緣計(jì)算到ZWS IoT-PaaS云平臺的產(chǎn)品與系統(tǒng)化方案。
太陽能逆變器

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逆變器又稱電源調(diào)整器、功率調(diào)節(jié)器，是光伏系統(tǒng)必不可少的一部分。光伏逆變器最主要的功能是把太陽能電池板所發(fā)的直流電轉(zhuǎn)化成家電使用的交流電，太陽能電池板所發(fā)的電全部都要通過逆變器的處理才能對外輸出。
PM2.5

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Alpha

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ICL7106

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VeriStand

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磁力計(jì)

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　　磁力計(jì)（Magnetic、M-Sensor）也叫地磁、磁感器，可用于測試磁場強(qiáng)度和方向，定位設(shè)備的方位，磁力計(jì)的原理跟指南針原理類似，可以測量出當(dāng)前設(shè)備與東南西北四個方向上的夾角。
蜂窩技術(shù)

蜂窩技術(shù)

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泰克科技

泰克科技

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泰克有限責(zé)任公司（英文名Tektronix Inc.，以下簡稱“泰克”）是一家全球領(lǐng)先的測試、測量和監(jiān)測解決方案提供商。泰克成立于1946年，是世界第一臺觸發(fā)式示波器的發(fā)明者。當(dāng)今泰克已成為全球主要的電子測試測量供應(yīng)商之一，其市場遍布全球各洲。
萊特波特

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萊特波特LitePoint為全球最具創(chuàng)新力的無線設(shè)備制造商提供無線測試解決方案和服務(wù)，幫助他們確保其產(chǎn)品能夠滿足當(dāng)今高標(biāo)準(zhǔn)的消費(fèi)者需求。LitePoint是無線測試領(lǐng)域的領(lǐng)先創(chuàng)新企業(yè)，其產(chǎn)品開箱即用，可用于測試全球范圍內(nèi)最廣泛使用的無線芯片組。LitePoint與智能手機(jī)、平板電腦、個人電腦、無線接入點(diǎn)和芯片組的領(lǐng)先制造商合作。LitePoint也在新興互聯(lián)設(shè)備（物聯(lián)網(wǎng)）測試領(lǐng)域處于前沿。
ITECH

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電子測試

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SMW200A

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電源紋波

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電源紋波是在電源中，存在大量可以很輕松地與探針耦合的高速、大信號電壓和電流波形，其中包括耦合自電源變壓器的磁場，耦合自開關(guān)節(jié)點(diǎn)的電場，以及由變壓器互繞電容產(chǎn)生的共模電流。
電氣化

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電氣化就是國民經(jīng)濟(jì)各部門和人民生活廣泛使用電力。電氣化沒有終極目標(biāo)。因?yàn)楝F(xiàn)在還沒有人能預(yù)見到第四次能源大轉(zhuǎn)變。人們更難預(yù)測電氣化將達(dá)到什么樣的程度，例如當(dāng)煤炭、石油和天然氣枯竭之后，電力的應(yīng)用會發(fā)展到何等地步。
四方光電

四方光電

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四方光電股份有限公司（以下簡稱“四方光電”）是一家從事智能氣體傳感器和高端氣體分析儀器的科創(chuàng)板上市企業(yè)。
voc

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頻率源

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紅外熱成像儀

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失調(diào)電壓

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　　失調(diào)電壓，又稱輸入失調(diào)電壓，指在差分放大器或差分輸入的運(yùn)算放大器中，為了在輸出端獲得恒定的零電壓輸出，而需在兩個輸入端所加的直流電壓之差。
pam4

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FSW

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矢量信號發(fā)生器

矢量信號發(fā)生器

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　　矢量信號發(fā)生器是為不斷滿足通信技術(shù)發(fā)展的數(shù)字化需求而出現(xiàn)的新型信號發(fā)生器，它將通信中的數(shù)字調(diào)制技術(shù)引入信號發(fā)生器技術(shù)領(lǐng)域，為通信設(shè)備的測試提供了必要的條件。

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