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標(biāo)簽 > 老化測(cè)試
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電子元器件老化測(cè)試項(xiàng)目及注意事項(xiàng)
在電子產(chǎn)品在加工過(guò)程中，由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用，無(wú)論是加工缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能...
如何進(jìn)行CAN通信設(shè)備的批量老化測(cè)試
老化測(cè)試是產(chǎn)品生產(chǎn)中必不可少的環(huán)節(jié)，對(duì)于CAN通信設(shè)備如何進(jìn)行批量高效的老化測(cè)試呢？本文將從成本及方案優(yōu)化兩方面簡(jiǎn)述測(cè)試方法。
2018-08-08 標(biāo)簽：CAN通信老化測(cè)試致遠(yuǎn)電子 8376 0
基于LabVIEW的三極管老化測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
電子元器件的老化測(cè)試就是仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài)，通過(guò)測(cè)試，將不符合器件剔除，將電子產(chǎn)品的質(zhì)量在加工初期進(jìn)行有效地控制，以保證電子產(chǎn)品使用的可靠性和穩(wěn)...
LED照明產(chǎn)品的老化試驗(yàn)是一個(gè)非常重要的測(cè)試，通過(guò)老化測(cè)試可以及早發(fā)現(xiàn)LED 產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中可能產(chǎn)生的故障。本文所介紹的一種LED 老化測(cè)試方案，主要...
芯片老化試驗(yàn)是一種對(duì)芯片進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行和負(fù)載測(cè)試的方法，以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗(yàn)的目的是評(píng)估芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用和負(fù)載情況下...
LED(發(fā)光二極管)因其高效能和長(zhǎng)壽命，廣泛應(yīng)用于照明、顯示和信號(hào)等領(lǐng)域。然而，為了確保LED在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性，進(jìn)行老化測(cè)試是不可或缺的一步...
2024-10-26 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備老化 1845 0
普賽斯儀表 | 創(chuàng)新技術(shù)突破,激光器老化測(cè)試系統(tǒng)解決方案
大功率激光器在光束質(zhì)量、工作效率、結(jié)構(gòu)體積、壽命和系統(tǒng)維護(hù)等方面具有明顯的優(yōu)勢(shì)。但與此同時(shí),由于單顆芯片出光功率大，單位面積產(chǎn)生的熱量大，如果不做好散熱...
紫外(UV)老化測(cè)試：7個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題解析
紫外線對(duì)產(chǎn)品的影響在自然界中，陽(yáng)光中的紫外線是導(dǎo)致產(chǎn)品光降解和光老化的主要原因。這種無(wú)形的輻射不僅對(duì)人體健康構(gòu)成威脅，對(duì)產(chǎn)品的損害同樣不容忽視。產(chǎn)品或材...
老化試驗(yàn)箱：加速集成電路壽命評(píng)估的關(guān)鍵設(shè)備與技術(shù)全覽
在集成電路研發(fā)中，傳統(tǒng)自然老化測(cè)試需耗時(shí)數(shù)年，無(wú)法匹配產(chǎn)品快速迭代需求。老化試驗(yàn)箱通過(guò)模擬高溫、高濕、紫外輻照等極端環(huán)境，將數(shù)年老化過(guò)程壓縮至數(shù)百小時(shí)，...
2025-03-08 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱老化測(cè)試試驗(yàn)設(shè)備 735 0
艾德克斯IT2700在電源管理芯片老化測(cè)試中的應(yīng)用
在半導(dǎo)體領(lǐng)域，電源管理芯片老化測(cè)試是評(píng)估器件可靠性和篩選潛在缺陷的重要環(huán)節(jié)，通過(guò)模擬極端工況加速芯片老化以暴露材料、工藝或設(shè)計(jì)中的薄弱點(diǎn)。隨著電子設(shè)備的...
Burn-In測(cè)試你又明白多少呢？ burn-in測(cè)試，中文名老化測(cè)試，指的就是在產(chǎn)品出廠之前先進(jìn)行高負(fù)荷的使用讓其渡過(guò)故障高發(fā)頻率，讓其到達(dá)客戶手中能...
一文了解關(guān)于UV測(cè)試的基本知識(shí)
UV測(cè)試又稱(chēng)UV老化測(cè)試，是模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用條件中涉及到的各種因素對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)的過(guò)程，UV老化測(cè)試實(shí)驗(yàn)主要針對(duì)塑膠材料，常...
芯片測(cè)試座的三大作用 電子產(chǎn)品老化測(cè)試的意義
芯片測(cè)試座檢查在線的單個(gè)元器件以和各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、故障定位準(zhǔn)確，快捷迅速等特點(diǎn)。簡(jiǎn)單點(diǎn)描述就是一個(gè)連接導(dǎo)通的插座;
2022-05-24 標(biāo)簽：電子產(chǎn)品芯片測(cè)試老化測(cè)試 5103 0
電子連接器的設(shè)計(jì)過(guò)程需要各種嚴(yán)格的測(cè)試程序，而老化測(cè)試是常用的過(guò)程之一。老化測(cè)試可以測(cè)試電子連接器的實(shí)際耐用性和各種元素。這篇文章康瑞連接器廠家主要給大...
老化測(cè)試最終的目的是預(yù)測(cè)產(chǎn)品的使用壽命，為生產(chǎn)商評(píng)估或預(yù)測(cè)試所生產(chǎn)的產(chǎn)品耐用性的好壞！
2023-07-04 標(biāo)簽：電子產(chǎn)品老化測(cè)試 2602 0
新型寬帶隙半導(dǎo)體（如碳化硅和氮化鎵）在市場(chǎng)上的擴(kuò)散對(duì)傳統(tǒng)的老化和測(cè)試系統(tǒng)提出了挑戰(zhàn)，因?yàn)槁闫叽缭絹?lái)越小，并且組件可以承受更高的電壓和溫度。 老化試驗(yàn)箱...
可同時(shí)監(jiān)控上百個(gè)通道的LED老化測(cè)試方案
LED 背光及照明產(chǎn)品的長(zhǎng)時(shí)間老化試驗(yàn)是一個(gè)非常重要的測(cè)試，通過(guò)老化測(cè)試可以及早發(fā)現(xiàn)LED產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中可能產(chǎn)生的光衰、色溫變化、漏電等故障，有利于產(chǎn)...
電子產(chǎn)品高溫老化測(cè)試——高溫老化試驗(yàn)箱
高溫老化測(cè)試，就如同電子產(chǎn)品的“煉獄”之旅。在這個(gè)過(guò)程中，產(chǎn)品被放置在一個(gè)模擬高溫惡劣環(huán)境的特殊設(shè)備——高溫老化試驗(yàn)箱中。試驗(yàn)箱能夠精確地控制溫度和濕度...
2023-12-22 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品測(cè)試 1773 0
高低溫老化房技術(shù)參數(shù) 高低溫老化房結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
高低溫老化房也稱(chēng)呼其為高低溫試驗(yàn)室，包括了高溫試驗(yàn)，低溫試驗(yàn)及溫度變化測(cè)試，主要是檢測(cè)產(chǎn)品在經(jīng)過(guò)多種溫度變化后其性能指標(biāo)是否有受影響，高溫是否會(huì)出現(xiàn)溶化...
2023-03-23 標(biāo)簽：老化測(cè)試 1386 0
如何進(jìn)行電源老化測(cè)試—吉時(shí)利數(shù)采DAQ6510
電源產(chǎn)品最后一道工序需要進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間烤機(jī)測(cè)試，如何提高效率，尤其對(duì)于大批量生產(chǎn)的情景，既準(zhǔn)確又高效的測(cè)試方法非常重要。 利用高精度數(shù)據(jù)采集萬(wàn)用表測(cè)試熱電偶...
2022-01-12 標(biāo)簽：電源產(chǎn)品老化測(cè)試 1268 0
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