改善光刻圖形垂直度的方法及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導(dǎo)體制造與微納加工領(lǐng)域，光刻圖形的垂直度對器件的電學(xué)性能、集成密度以及可靠性有著重要影響。精準控制光刻圖形垂直度是保障先進制程工藝精度的關(guān)鍵。...

2025-06-30 標簽：測量白光干涉儀 120 0

金屬低蝕刻率光刻膠剝離液組合物應(yīng)用及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導(dǎo)體及微納制造領(lǐng)域，光刻膠剝離工藝對金屬結(jié)構(gòu)的保護至關(guān)重要。傳統(tǒng)剝離液易造成金屬過度蝕刻，影響器件性能。同時，光刻圖形的精確測量是保障工藝質(zhì)量...

2025-06-24 標簽：測量光刻膠白光干涉儀 150 0

避免寄生柵極效應(yīng)和斜紋 Mura 的光刻膠剝離裝置及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導(dǎo)體和顯示面板制造過程中，光刻膠剝離環(huán)節(jié)若處理不當(dāng)，易引發(fā)寄生柵極效應(yīng)和斜紋 Mura 問題，嚴重影響產(chǎn)品性能和顯示質(zhì)量。同時，光刻圖形的精確...

2025-06-19 標簽：干涉白光干涉儀白光干涉 140 0

解鎖微觀測量新境界：光學(xué)3D輪廓儀與共聚焦顯微成像的結(jié)合應(yīng)用

在當(dāng)今科技飛速發(fā)展的時代，眾多行業(yè)正朝著精細化、微型化的方向大步邁進。當(dāng)芯片上的晶體管小到肉眼不可見，當(dāng)手機攝像頭鏡片需要納米級平整度，傳統(tǒng)測量工具還能...

2025-06-13 標簽：測量電動顯微成像白光干涉儀 374 0

水平式光刻膠剝離工藝及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導(dǎo)體制造和微納加工領(lǐng)域，光刻膠剝離是光刻工藝的重要環(huán)節(jié)。水平式光刻膠剝離工藝憑借其獨特優(yōu)勢在工業(yè)生產(chǎn)中占據(jù)一席之地，而準確測量光刻圖形對保障工...

2025-06-04 標簽：光刻白光干涉儀 103 0

以精密測量探索人類未來，優(yōu)可測邀您共赴六月行業(yè)盛會

六月夏至，智測未來。優(yōu)可測將亮相多場行業(yè)盛會！誠邀您共同探索精密測量&半導(dǎo)體檢測世界！

2025-05-29 標簽：傳感器影像測量儀白光干涉儀 439 0

光刻膠剝離液及其制備方法及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導(dǎo)體制造與微納加工領(lǐng)域，光刻膠剝離液是光刻膠剝離環(huán)節(jié)的核心材料，其性能優(yōu)劣直接影響光刻膠去除效果與基片質(zhì)量。同時，精準測量光刻圖形對把控工藝質(zhì)...

2025-05-29 標簽：光刻光刻膠白光干涉儀 241 0

納米壓印制備硅基 OLED 微型顯示器的方法及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 硅基 OLED 微型顯示器憑借高分辨率、高對比度等優(yōu)勢，在虛擬現(xiàn)實、增強現(xiàn)實等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。納米壓印技術(shù)為其制備提供了新方向，而精確測量光刻圖形是...

2025-05-26 標簽：OLED光刻白光干涉儀 193 0

玻璃基板精密檢測，優(yōu)可測方案提升良率至90%

優(yōu)可測白光干涉儀（精度0.03nm）&超景深顯微鏡-高精度檢測方案，助力玻璃基板良率提升至90%，加速產(chǎn)業(yè)高端化進程。

2025-05-12 標簽：玻璃基板顯微鏡精密檢測儀器 267 0

白光干涉精析偏振串?dāng)_，OLI-P重新定義保偏光纖檢測新標準

在高速光通信與精密傳感領(lǐng)域，保偏光纖的偏振穩(wěn)定性是系統(tǒng)性能的“生命線”。然而，傳統(tǒng)檢測手段受限于靈敏度低、無法實現(xiàn)分布式測量，難以捕捉微弱的偏振耦合信號...

2025-04-30 標簽：光纖檢測白光干涉儀 373 0

優(yōu)可測白光干涉儀助力提升光模塊信息質(zhì)量

光通信模塊的頭部企業(yè)，在制造過程中，會對產(chǎn)品做哪些維度的質(zhì)量把控與數(shù)據(jù)檢測。

2025-04-30 標簽：表面粗糙度光模塊白光干涉儀 234 0

納米級形貌快速測量，優(yōu)可測白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展

研究摩擦學(xué)，能帶來什么價值？從摩擦磨損到亞納米級精度，白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展？

2025-04-21 標簽：測量表面粗糙度白光干涉儀 654 0

探索高精度測量世界，優(yōu)可測誠邀您共赴四月行業(yè)盛會

四月芳菲，萬物競發(fā)。優(yōu)可測將亮相多場行業(yè)盛會，誠邀您蒞臨指導(dǎo)，共探精密制造的無限可能。

2025-03-27 標簽：白光干涉儀優(yōu)可測閃測儀 320 0

一鍵對焦+一鍵調(diào)平，測量效率提升7倍 | 優(yōu)可測全新旗艦白光干涉儀發(fā)布

測量精度小于1納米，性能進入全球一梯隊，優(yōu)可測旗艦白光干涉儀發(fā)布

2025-03-27 標簽：測量白光干涉儀 477 0

重磅新品發(fā)布，優(yōu)可測與您相約慕尼黑上海光博會 | 三月展會預(yù)告

欲知優(yōu)可測旗艦產(chǎn)品白光干涉儀新技術(shù)，盡在慕尼黑上海光博會優(yōu)可測展位E7.7550！

2025-02-28 標簽：顯微鏡白光干涉儀優(yōu)可測 326 0

入駐眾多科研機構(gòu)，優(yōu)可測白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布

近年來，優(yōu)可測白光干涉儀在科研領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，被多篇科研論文使用，在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領(lǐng)域的研究成果，展示了其在高...

2025-02-24 標簽：測量表面粗糙度白光干涉儀 609 0

氧化鎵襯底表面粗糙度和三維形貌，優(yōu)可測白光干涉儀檢測時長縮短至秒級！

傳統(tǒng)AFM檢測氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右，優(yōu)可測白光干涉儀檢測方案僅需3秒，百倍提升檢測效率！

2025-02-08 標簽：表面粗糙度氧化鎵白光干涉儀 527 0

白光干涉儀測量原理及干涉測量技術(shù)的應(yīng)用

白光干涉儀利用干涉原理測光程差，測物理量，具高精度。應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)加工、汽車零部件制造及科研等領(lǐng)域，雙重防撞保護保障測量安全。

2024-12-13 標簽：測量儀器白光干涉儀 1359 0

優(yōu)可測白光干涉儀：助力手機玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用

手機蓋板材料從塑料、金屬到玻璃/陶瓷，再到納米紋理玻璃，不斷革新以滿足消費者需求。其中，影響手機玻璃蓋板關(guān)鍵因素包括蝕刻深度、角度、粒子統(tǒng)計、粗糙度等。...

2024-11-19 標簽：干涉儀表面粗糙度白光干涉儀 698 0

從“制造”到“智造”：中圖光學(xué)測量儀器的進階與應(yīng)用

在當(dāng)今全球化和科技快速發(fā)展的時代，制造業(yè)正經(jīng)歷著從傳統(tǒng)的“制造”模式向智能化的“智造”模式的深刻轉(zhuǎn)變。消費者對產(chǎn)品質(zhì)量和個性化的要求越來越高，產(chǎn)品的更新...

2024-10-12 標簽：測量儀器光學(xué)測量白光干涉儀 795 0