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標(biāo)簽 > 白光干涉儀
干涉儀是一種對(duì)光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過(guò)不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測(cè)光路。
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白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以?xún)?yōu)于納米級(jí)的分辨率,非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,用于表面形貌紋理,微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析,用于測(cè)試各類(lèi)表面并自動(dòng)...
白光干涉儀測(cè)量光學(xué)鏡片的表面粗糙度、面形PV值、曲率半徑案例分享
表面粗糙度、面形、曲率半徑等參數(shù)是影響光學(xué)鏡片品控與性能的重要因素,選擇一種精度高、速度快、操作簡(jiǎn)便的檢測(cè)方法,能夠幫助降低光學(xué)鏡片的報(bào)廢率,進(jìn)一步提升...
白光干涉儀是目前三維形貌測(cè)量領(lǐng)域高精度檢測(cè)儀器之一。在同等放大倍率下,測(cè)量精度和重復(fù)性都高于共聚焦顯微鏡和聚焦成像顯微鏡。在一些納米或者亞納米級(jí)別的超高...
2022-03-07 標(biāo)簽:白光干涉儀 3993 0
白光干涉儀(光學(xué)3D表面輪廓儀)能測(cè)什么?應(yīng)用案例介紹
白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)原理,對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的光學(xué)3D表面輪廓測(cè)量?jī)x,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌,專(zhuān)用于精密零部件之重...
2023-06-16 標(biāo)簽:干涉儀光學(xué)測(cè)量白光干涉儀 3449 0
在微電子、微機(jī)械、微光學(xué)等領(lǐng)域,因?yàn)楝F(xiàn)有的接觸式測(cè)量方法具有測(cè)量速度慢、易劃傷測(cè)量表面的缺點(diǎn),以及單一的光學(xué)非接觸測(cè)量方法難以完成對(duì)大面形或曲率較大的高...
2022-04-13 標(biāo)簽:白光干涉儀光學(xué)輪廓儀 2992 0
白光干涉儀是一款在縱向分辨率上可實(shí)現(xiàn)0.1nm的分辨率和測(cè)量可靠性的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。采用的光學(xué)輪廓測(cè)量法可以非接觸式測(cè)量非平坦樣品,輕松測(cè)量出彎曲和其他非...
2022-12-26 標(biāo)簽:測(cè)量?jī)x器白光干涉儀 2768 0
在芯片封裝測(cè)試流程中,半導(dǎo)體白光干涉儀可以測(cè)量晶圓膜厚、粗糙度、平整度(翹曲),晶圓切割槽深、槽寬、崩邊形貌等參數(shù)。
2022-09-14 標(biāo)簽:白光干涉儀半導(dǎo)體白光干涉儀 2470 0
白光干涉儀是一種高精度測(cè)量?jī)x器,只要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對(duì)器件表面...
針對(duì)葉片類(lèi)曲面零部件,型號(hào)為W3的白光干涉儀能夠在空間范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)曲面全自動(dòng)測(cè)量功能,解決其形狀不規(guī)則裝夾不便、測(cè)量點(diǎn)分布不在同一個(gè)面、單次測(cè)量效率低的問(wèn)題。
SuperViewW1白光干涉儀高到亞納米級(jí)的高度分辨率,在寬度、高度、角度、直徑等各類(lèi)輪廓尺寸測(cè)量功能以及表征表面整體加工質(zhì)量的粗糙度等指標(biāo)。
2022-09-14 標(biāo)簽:白光干涉儀三維形貌測(cè)量 2130 0
SuperView W1白光干涉儀采用增加相位掃描干涉技術(shù),是專(zhuān)為準(zhǔn)確測(cè)量表面輪廓、粗糙度、臺(tái)階高度和其他表面參數(shù)而設(shè)計(jì)的微納米測(cè)量系統(tǒng)。
2021-11-01 標(biāo)簽:白光干涉儀 1959 0
三張動(dòng)圖簡(jiǎn)單介紹白光干涉儀與其他主流三維顯微鏡原理的區(qū)別
一目了然!小優(yōu)博士通過(guò)“掃描微型金字塔”帶您了解“景深疊加-激光共聚焦-白光干涉儀”原理&應(yīng)用場(chǎng)景。確定應(yīng)用需求后,尋找適合的設(shè)備是不少科研人員...
光學(xué)3d表面輪廓儀也叫白光干涉儀,是以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以?xún)?yōu)于納米級(jí)的分辨率,非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,用于表面形貌紋理,微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析...
2022-06-01 標(biāo)簽:光學(xué)測(cè)量精密測(cè)量白光干涉儀 1813 0
各行業(yè)技術(shù)的快速更新?lián)Q代,對(duì)檢測(cè)儀器企業(yè)提出了更高的要求。其中光學(xué)3d表面輪廓儀是做什么的?光學(xué)3d表面輪廓儀是以白光干涉測(cè)量技術(shù)為基礎(chǔ)而研發(fā)生產(chǎn)的,采...
2022-04-13 標(biāo)簽:白光干涉儀光學(xué)輪廓儀 1630 0
白光干涉儀對(duì)測(cè)量樣品的幾點(diǎn)要求
在進(jìn)行白光干涉儀的樣品測(cè)量時(shí),需要依據(jù)所測(cè)量的樣品特性,合理選擇樣品的凈度、數(shù)量及厚度。同時(shí),在實(shí)踐中還需要注意避免光路干擾、保證樣品的平整性等因素,以...
白光干涉儀——五軸全自動(dòng)曲面測(cè)量應(yīng)用
白光干涉儀作為一款超高精度的光學(xué)3D輪廓儀,一直在超精密加工領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,在大部分的應(yīng)用場(chǎng)景中,都是采用標(biāo)準(zhǔn)的白光干涉儀機(jī)型測(cè)量平面類(lèi)型零件的表面...
芯片制造流程中,當(dāng)薄膜的熱膨脹系數(shù)與晶圓基材不同時(shí)會(huì)產(chǎn)生應(yīng)力,造成晶圓翹曲,可通過(guò)測(cè)量晶圓翹曲的曲率半徑R計(jì)算應(yīng)力是否過(guò)大,判斷是否影響芯片品質(zhì)。 當(dāng)單...
白光干涉儀測(cè)量原理及干涉測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用
白光干涉儀利用干涉原理測(cè)光程差,測(cè)物理量,具高精度。應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)加工、汽車(chē)零部件制造及科研等領(lǐng)域,雙重防撞保護(hù)保障測(cè)量安全。
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