改善光刻圖形垂直度的方法及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導體制造與微納加工領域，光刻圖形的垂直度對器件的電學性能、集成密度以及可靠性有著重要影響。精準控制光刻圖形垂直度是保障先進制程工藝精度的關鍵。...

2025-06-30 標簽：測量白光干涉儀 119 0

金屬低蝕刻率光刻膠剝離液組合物應用及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導體及微納制造領域，光刻膠剝離工藝對金屬結構的保護至關重要。傳統(tǒng)剝離液易造成金屬過度蝕刻，影響器件性能。同時，光刻圖形的精確測量是保障工藝質量...

2025-06-24 標簽：測量光刻膠白光干涉儀 146 0

避免寄生柵極效應和斜紋 Mura 的光刻膠剝離裝置及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導體和顯示面板制造過程中，光刻膠剝離環(huán)節(jié)若處理不當，易引發(fā)寄生柵極效應和斜紋 Mura 問題，嚴重影響產品性能和顯示質量。同時，光刻圖形的精確...

2025-06-19 標簽：干涉白光干涉儀白光干涉 139 0

解鎖微觀測量新境界：光學3D輪廓儀與共聚焦顯微成像的結合應用

在當今科技飛速發(fā)展的時代，眾多行業(yè)正朝著精細化、微型化的方向大步邁進。當芯片上的晶體管小到肉眼不可見，當手機攝像頭鏡片需要納米級平整度，傳統(tǒng)測量工具還能...

2025-06-13 標簽：測量電動顯微成像白光干涉儀 370 0

水平式光刻膠剝離工藝及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導體制造和微納加工領域，光刻膠剝離是光刻工藝的重要環(huán)節(jié)。水平式光刻膠剝離工藝憑借其獨特優(yōu)勢在工業(yè)生產中占據(jù)一席之地，而準確測量光刻圖形對保障工...

2025-06-04 標簽：光刻白光干涉儀 101 0

以精密測量探索人類未來，優(yōu)可測邀您共赴六月行業(yè)盛會

六月夏至，智測未來。優(yōu)可測將亮相多場行業(yè)盛會！誠邀您共同探索精密測量&半導體檢測世界！

2025-05-29 標簽：傳感器影像測量儀白光干涉儀 428 0

光刻膠剝離液及其制備方法及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導體制造與微納加工領域，光刻膠剝離液是光刻膠剝離環(huán)節(jié)的核心材料，其性能優(yōu)劣直接影響光刻膠去除效果與基片質量。同時，精準測量光刻圖形對把控工藝質...

2025-05-29 標簽：光刻光刻膠白光干涉儀 222 0

納米壓印制備硅基 OLED 微型顯示器的方法及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 硅基 OLED 微型顯示器憑借高分辨率、高對比度等優(yōu)勢，在虛擬現(xiàn)實、增強現(xiàn)實等領域應用廣泛。納米壓印技術為其制備提供了新方向，而精確測量光刻圖形是...

2025-05-26 標簽：OLED光刻白光干涉儀 187 0

玻璃基板精密檢測，優(yōu)可測方案提升良率至90%

優(yōu)可測白光干涉儀（精度0.03nm）&超景深顯微鏡-高精度檢測方案，助力玻璃基板良率提升至90%，加速產業(yè)高端化進程。

2025-05-12 標簽：玻璃基板顯微鏡精密檢測儀器 264 0

白光干涉精析偏振串擾，OLI-P重新定義保偏光纖檢測新標準

在高速光通信與精密傳感領域，保偏光纖的偏振穩(wěn)定性是系統(tǒng)性能的“生命線”。然而，傳統(tǒng)檢測手段受限于靈敏度低、無法實現(xiàn)分布式測量，難以捕捉微弱的偏振耦合信號...

2025-04-30 標簽：光纖檢測白光干涉儀 371 0

優(yōu)可測白光干涉儀助力提升光模塊信息質量

光通信模塊的頭部企業(yè)，在制造過程中，會對產品做哪些維度的質量把控與數(shù)據(jù)檢測。

2025-04-30 標簽：表面粗糙度光模塊白光干涉儀 232 0

納米級形貌快速測量，優(yōu)可測白光干涉儀助力摩擦磨損學科發(fā)展

研究摩擦學，能帶來什么價值？從摩擦磨損到亞納米級精度，白光干涉儀如何參與摩擦學發(fā)展？

2025-04-21 標簽：測量表面粗糙度白光干涉儀 642 0

探索高精度測量世界，優(yōu)可測誠邀您共赴四月行業(yè)盛會

四月芳菲，萬物競發(fā)。優(yōu)可測將亮相多場行業(yè)盛會，誠邀您蒞臨指導，共探精密制造的無限可能。

2025-03-27 標簽：白光干涉儀優(yōu)可測閃測儀 319 0

一鍵對焦+一鍵調平，測量效率提升7倍 | 優(yōu)可測全新旗艦白光干涉儀發(fā)布

測量精度小于1納米，性能進入全球一梯隊，優(yōu)可測旗艦白光干涉儀發(fā)布

2025-03-27 標簽：測量白光干涉儀 475 0

重磅新品發(fā)布，優(yōu)可測與您相約慕尼黑上海光博會 | 三月展會預告

欲知優(yōu)可測旗艦產品白光干涉儀新技術，盡在慕尼黑上海光博會優(yōu)可測展位E7.7550！

2025-02-28 標簽：顯微鏡白光干涉儀優(yōu)可測 325 0

入駐眾多科研機構，優(yōu)可測白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布

近年來，優(yōu)可測白光干涉儀在科研領域得到廣泛應用，被多篇科研論文使用，在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領域的研究成果，展示了其在高...

2025-02-24 標簽：測量表面粗糙度白光干涉儀 603 0

氧化鎵襯底表面粗糙度和三維形貌，優(yōu)可測白光干涉儀檢測時長縮短至秒級！

傳統(tǒng)AFM檢測氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右，優(yōu)可測白光干涉儀檢測方案僅需3秒，百倍提升檢測效率！

2025-02-08 標簽：表面粗糙度氧化鎵白光干涉儀 517 0

白光干涉儀測量原理及干涉測量技術的應用

白光干涉儀利用干涉原理測光程差，測物理量，具高精度。應用于半導體、光學加工、汽車零部件制造及科研等領域，雙重防撞保護保障測量安全。

2024-12-13 標簽：測量儀器白光干涉儀 1354 0

優(yōu)可測白光干涉儀：助力手機玻璃蓋板品質提升 | 行業(yè)應用

手機蓋板材料從塑料、金屬到玻璃/陶瓷，再到納米紋理玻璃，不斷革新以滿足消費者需求。其中，影響手機玻璃蓋板關鍵因素包括蝕刻深度、角度、粒子統(tǒng)計、粗糙度等。...

2024-11-19 標簽：干涉儀表面粗糙度白光干涉儀 698 0

從“制造”到“智造”：中圖光學測量儀器的進階與應用

在當今全球化和科技快速發(fā)展的時代，制造業(yè)正經歷著從傳統(tǒng)的“制造”模式向智能化的“智造”模式的深刻轉變。消費者對產品質量和個性化的要求越來越高，產品的更新...

2024-10-12 標簽：測量儀器光學測量白光干涉儀 795 0