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標(biāo)簽 > 干涉儀
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白光干涉儀測(cè)量光學(xué)鏡片的表面粗糙度、面形PV值、曲率半徑案例分享
表面粗糙度、面形、曲率半徑等參數(shù)是影響光學(xué)鏡片品控與性能的重要因素,選擇一種精度高、速度快、操作簡(jiǎn)便的檢測(cè)方法,能夠幫助降低光學(xué)鏡片的報(bào)廢率,進(jìn)一步提升...
針對(duì)葉片類曲面零部件,型號(hào)為W3的白光干涉儀能夠在空間范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)曲面全自動(dòng)測(cè)量功能,解決其形狀不規(guī)則裝夾不便、測(cè)量點(diǎn)分布不在同一個(gè)面、單次測(cè)量效率低的問題。
激光干涉儀作為現(xiàn)代精密測(cè)量?jī)x器的代表,在精密制造、計(jì)量等各個(gè)行業(yè)領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用,在精密位移、直線度、垂直度等測(cè)量領(lǐng)域發(fā)揮著重要的作用。什么是決定...
白光干涉儀是一種常見的測(cè)量設(shè)備,它能夠利用不同的光束干涉原理來觀察和測(cè)量顯微形貌。當(dāng)白色光經(jīng)過分束鏡分成兩束光線,這些光線在目標(biāo)物體上反射后重新合并。這...
白光干涉儀(光學(xué)3D表面輪廓儀)只能測(cè)同質(zhì)材料嗎?
在實(shí)際應(yīng)用中,白光干涉儀的測(cè)量對(duì)象可以是各種類型的材料,例如金屬、陶瓷、塑料等。無論是同質(zhì)材料還是非同質(zhì)材料的測(cè)量,白光干涉儀的干涉圖樣分析和計(jì)算方法都...
2023-08-02 標(biāo)簽:3D干涉儀光學(xué)測(cè)量 1029 0
白光干涉儀測(cè)量的結(jié)果通常以二維形貌圖或三維形貌圖的形式展示。二維形貌圖是對(duì)干涉條紋進(jìn)行圖像處理得到的,顯示出被測(cè)物體表面的高低起伏。而三維形貌圖則是在二...
白光干涉儀利用白光干涉原理,通過測(cè)量光的相位變化來獲取物體表面的形貌信息。在工業(yè)制造、科學(xué)研究等領(lǐng)域,被廣泛用于測(cè)量精密器件的形貌、表面缺陷檢測(cè)等方面。...
推動(dòng)新型工業(yè)化|VX系列閃測(cè)儀、SJ6000激光干涉儀亮相華南國(guó)際工業(yè)博覽會(huì)
華南國(guó)際工業(yè)博覽會(huì)(簡(jiǎn)稱華南工博會(huì))立足未來工業(yè)的高站位,精確聚焦中國(guó)智能制造,通過展示自動(dòng)化、機(jī)器視覺和工業(yè)機(jī)器人技術(shù)、節(jié)能與工業(yè)配套、金屬加工和激光...
2023-06-26 標(biāo)簽:干涉儀激光干涉儀華南工博會(huì) 1852 0
白光干涉儀(光學(xué)3D表面輪廓儀)能測(cè)什么?應(yīng)用案例介紹
白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)原理,對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的光學(xué)3D表面輪廓測(cè)量?jī)x,通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌,專用于精密零部件之重...
2023-06-16 標(biāo)簽:干涉儀光學(xué)測(cè)量白光干涉儀 3461 0
白光干涉儀是一種高精度測(cè)量?jī)x器,只要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對(duì)器件表面...
激光干涉儀又稱為干涉測(cè)量裝置,是一種利用光的干涉原理來測(cè)量物體長(zhǎng)度、厚度、形狀、折射率等參數(shù)的儀器。它主要由激光光源,邁克爾遜型或其他形式的干涉光學(xué)系統(tǒng)...
精密光學(xué)領(lǐng)域,一般把Ra值<0.3nm的元件稱為超光滑(超滑)元件。其極低的粗糙度和無損的高質(zhì)量表面,在光學(xué)系統(tǒng)中可以有效的減少光的散射,在例如激光陀螺...
白光干涉儀又叫做非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀,是以白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)研制而成用于樣品表面微觀形貌檢測(cè)的精密儀器。它以白光干涉技術(shù)為原理,光源發(fā)出的光經(jīng)...
白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,用于表面形貌紋理,微觀結(jié)構(gòu)分析,用于測(cè)試各類表面并自動(dòng)...
點(diǎn)衍射干涉儀(PointDiffractionInterferometer,PDI)是一種基于衍射干涉原理的光學(xué)測(cè)量設(shè)備。它利用激光束小孔后產(chǎn)生接近理想...
優(yōu)可測(cè)Atometrics白光干涉儀AM系列搭載著超高精度掃描單元——壓電陶瓷納米級(jí)步進(jìn)!逐層掃描還原真實(shí)三維形貌,讓微小瑕疵、細(xì)微劃傷無所遁形。今天小...
粗糙度、臺(tái)階高度是白光干涉儀最擅長(zhǎng)的測(cè)量工作。小優(yōu)博士也重點(diǎn)說明過在此類測(cè)量應(yīng)用的優(yōu)勢(shì)。白光干涉的超高精度,會(huì)讓很多評(píng)估者無從下手。怎么驗(yàn)證一臺(tái)白光干涉...
白光干涉儀測(cè)量臺(tái)階高度有哪些優(yōu)勢(shì)
上兩期介紹了粗糙度的概念、設(shè)備,也著重說明了白光干涉原理在粗糙度的應(yīng)用優(yōu)勢(shì),而目前半導(dǎo)體、3C制造、材料、精密加工等領(lǐng)域,除了粗糙度,還會(huì)涉及到臺(tái)階高度...
三張動(dòng)圖簡(jiǎn)單介紹白光干涉儀與其他主流三維顯微鏡原理的區(qū)別
一目了然!小優(yōu)博士通過“掃描微型金字塔”帶您了解“景深疊加-激光共聚焦-白光干涉儀”原理&應(yīng)用場(chǎng)景。確定應(yīng)用需求后,尋找適合的設(shè)備是不少科研人員...
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