Keysight E5071C 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
1. 產(chǎn)品概述
Keysight E5071C 是安捷倫科技（現(xiàn)為是德科技）推出的一款高性能ENA系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)，專為射頻和微波元器件測(cè)試而設(shè)計(jì)。該儀器在9kHz至20GHz頻率范圍內(nèi)提供卓越的測(cè)量性能和測(cè)試效率，廣泛應(yīng)用于研發(fā)、生產(chǎn)和教育領(lǐng)域。
2. 主要技術(shù)參數(shù)
2.1 基本性能指標(biāo)
頻率范圍：9kHz - 20GHz（可擴(kuò)展至8.5GHz或14GHz經(jīng)濟(jì)型配置）
動(dòng)態(tài)范圍：
123dB（在10Hz中頻帶寬，1GHz）
110dB（在10Hz中頻帶寬，20GHz）
軌跡噪聲：
<0.004dBrms（在10Hz中頻帶寬）
測(cè)量速度：
5ms/點(diǎn)（201點(diǎn)掃描，全雙端口校準(zhǔn)）
輸出功率范圍：-85dBm至+10dBm
2.2 S參數(shù)測(cè)試能力
測(cè)試端口：2端口或4端口配置可選
測(cè)量參數(shù)：全S參數(shù)(S11, S21, S12, S22)同時(shí)測(cè)量
方向性：>50dB（1GHz）
端口匹配：>46dB（1GHz）
3. 硬件架構(gòu)與關(guān)鍵技術(shù)
3.1 接收機(jī)系統(tǒng)
E5071C采用四接收機(jī)架構(gòu)，包含：
參考接收機(jī)(R)
測(cè)試接收機(jī)(A/B)
傳輸接收機(jī)(B/A)
該設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了真正的正向和反向同步測(cè)量，顯著提高了測(cè)試效率。
3.2 信號(hào)源系統(tǒng)
內(nèi)置合成信號(hào)源，相位噪聲<-90dBc/Hz（10kHz偏移，1GHz）
采用小數(shù)N分頻合成技術(shù)，分辨率可達(dá)0.01Hz
內(nèi)置步進(jìn)衰減器，1dB步進(jìn)，范圍0-60dB
3.3 混頻器與中頻處理
采用諧波混頻技術(shù)擴(kuò)展頻率范圍
數(shù)字中頻帶寬：1Hz至5MHz（1-3-10序列）
128dB系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍（10Hz帶寬）
4. 軟件功能與測(cè)量應(yīng)用
4.1 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能
全S參數(shù)幅度/相位測(cè)量
時(shí)域變換（低通模式和帶通模式）
阻抗變換與歸一化
端口阻抗自定義（5Ω至100Ω）
4.2 高級(jí)分析功能
自動(dòng)夾具去除(AFE)：可補(bǔ)償測(cè)試夾具的影響
時(shí)域門控：用于隔離特定器件響應(yīng)
混頻器測(cè)量：支持LO輸入和IF輸出測(cè)量
差分器件測(cè)試：支持混合模式S參數(shù)測(cè)量
4.3 專用測(cè)量套件
放大器測(cè)試套件（增益壓縮，IMD）
天線測(cè)試套件（輻射模式，效率）
材料測(cè)量套件（介電常數(shù)，磁導(dǎo)率）
5. 校準(zhǔn)技術(shù)與誤差修正
E5071C支持完整的12項(xiàng)誤差模型修正：
校準(zhǔn)類型：
全雙端口校準(zhǔn)
響應(yīng)校準(zhǔn)
TRL校準(zhǔn)
電子校準(zhǔn)(eCal)
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)：
開(kāi)路-短路-負(fù)載-直通(OSLT)
線路反射匹配(LRM)
線路反射線路(LRL)
6. 接口與自動(dòng)化
標(biāo)準(zhǔn)接口：
GPIB(IEEE-488.2)
LAN(1000BASE-T)
USB 2.0
編程支持：
SCPI命令集兼容
COM/DCOM接口
IVI-COM驅(qū)動(dòng)程序
數(shù)據(jù)格式：
Touchstone文件(S1P,S2P,S4P)
CSV, MATLAB格式
7. 典型應(yīng)用領(lǐng)域
射頻元器件測(cè)試：
濾波器、雙工器、耦合器
天線與饋線系統(tǒng)
電纜與連接器
有源器件表征：
放大器增益與線性度
混頻器轉(zhuǎn)換損耗
振蕩器諧波特性
材料測(cè)量：
介電材料參數(shù)提取
PCB基板特性分析
吸波材料性能評(píng)估
8. 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)與特點(diǎn)
測(cè)量精度：
采用第三代非線性傳輸線(NLTL)技術(shù)
時(shí)基穩(wěn)定性<1ppm/年
測(cè)試效率：
并行測(cè)量架構(gòu)縮短測(cè)試時(shí)間
快速掃描模式達(dá)5ms/201點(diǎn)
操作便利性：
10.4英寸觸摸屏顯示
直觀的GUI界面
內(nèi)置幫助系統(tǒng)和操作指南
擴(kuò)展能力：
可升級(jí)至更高頻率(40GHz)
支持多端口測(cè)試擴(kuò)展
可集成開(kāi)關(guān)矩陣實(shí)現(xiàn)多DUT測(cè)試
9. 技術(shù)演進(jìn)與比較
相較于前代E5071B，E5071C主要改進(jìn)包括：
測(cè)量速度提升30%
軌跡噪聲降低20%
增加USB接口和更大存儲(chǔ)
改進(jìn)的時(shí)域分析算法
與同類產(chǎn)品相比，E5071C在動(dòng)態(tài)范圍、測(cè)量速度和多端口測(cè)試能力方面具有明顯優(yōu)勢(shì)。
10. 選型與配置建議
標(biāo)準(zhǔn)配置包括：
主機(jī)(E5071C-2B5：2端口，9kHz-4.5GHz)
測(cè)試端口電纜(3.5mm或N型)
校準(zhǔn)套件
可選升級(jí)：
頻率擴(kuò)展至8.5/14/20GHz
4端口測(cè)試配置
電子校準(zhǔn)模塊
各種測(cè)試夾具和適配器
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