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SMV512K32-SP 16MB 防輻射 SRAM

數(shù)據(jù):

描述

SMV512K32是一款高性能異步CMOS SRAM,由32位524,288個字組成。可在兩種模式:主控或受控間進行引腳選擇。主設(shè)件為用戶提供了定義的自主EDAC擦除選項。從器件選擇采用按要求擦除特性,此特性可由一個主器件啟動。根據(jù)用戶需要,可提供3個讀周期和4個寫周期(描述如下)。

特性

  • 20ns讀取,13.8ns寫入(最大存取時間)
  • 與商用
    512K x 32 SRAM器件功能兼容
  • 內(nèi)置EDAC(錯誤偵測和校正)以減輕軟錯誤
  • 用于自主校正的內(nèi)置引擎
  • CMOS兼容輸入和輸出電平,3態(tài)雙向數(shù)據(jù)總線
    • 3.3±0.3VI /O,1.8±0.15V內(nèi)核
  • 輻射性能放射耐受性是一個基于最初器件標準的典型值。輻射數(shù)據(jù)和批量驗收測試可用 - 細節(jié)請與廠家聯(lián)系。
    • 設(shè)計使用基底工程和抗輻射(HBD)與硅空間技術(shù)公司(SST)許可協(xié)議下的< sup> TM 技術(shù)和存儲器設(shè)計。
    • TID抗擾度&gt; 3e5rad(Si)
    • SER&lt; 5e-17翻轉(zhuǎn)/位 - 天使用(CRPLE96來計算用于與地同步軌道,太陽安靜期的SER。 LET = 110 MeV
      (T = 398K)
  • 采用76引線陶瓷方形扁平封裝
  • 可提供工程評估(/EM)樣品這些部件只用于工程評估。它們的加工工藝為非兼容流程(例如,無預燒過程等),并且只在25°C的溫度額定值下進行測試。這些部件不適合于品質(zhì)檢定,生產(chǎn),輻射測試或飛行使用。不擔保完全軍用額定溫度
    -55°C至125°C范圍內(nèi)或使用壽命內(nèi)的部件性能。

技術(shù)文檔

數(shù)據(jù)手冊(1)
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