應(yīng)用程序采用C語言編寫,由其實(shí)現(xiàn)本系統(tǒng)中所需的各種功能。根據(jù)系統(tǒng)功能需求,軟件劃分為以下模塊:液晶顯示模塊、測(cè)試設(shè)置模塊、測(cè)試指標(biāo)計(jì)算模塊等部分。軟件設(shè)計(jì)思想是利用S3C2410的中斷控制整個(gè)軟件的流程。共使用4個(gè)硬件中斷來完成系統(tǒng)的功能:一個(gè)內(nèi)部硬件定時(shí)中斷,3個(gè)外部硬件中斷(鍵盤中斷、串口中斷、E1測(cè)試中斷)。主程序流程圖如圖2所示。
根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)功能的要求, 在程序中定義了2個(gè)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),一個(gè)是用來存放程序中需要用到的各種測(cè)試設(shè)置值的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)SetUp_struct;另一個(gè)是用于存放測(cè)試結(jié)果的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)Data_struct。這兩個(gè)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)是連接各個(gè)功能函數(shù)的橋梁,通過判斷SetUp_struct中各個(gè)變量的值可以使程序做出相應(yīng)的操作,并改變相應(yīng)Data_struct值,從而實(shí)現(xiàn)在不同的測(cè)試環(huán)境下對(duì)不同指標(biāo)的測(cè)試。
3.3 2M測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試指標(biāo)的測(cè)量與計(jì)算
2M測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)所能達(dá)到的測(cè)試指標(biāo)如下:
(1)、在線和中斷業(yè)務(wù)測(cè)試,可選接口阻抗:75Ω、120Ω、高阻(≥2KΩ)。
(2)、統(tǒng)計(jì)分析功能: G.826測(cè)試分析誤塊秒、嚴(yán)重誤塊秒、背景誤塊、不可用秒、誤塊秒率、嚴(yán)重誤塊秒率、背景誤塊率;G.821測(cè)試分析誤碼秒、嚴(yán)重誤碼秒、 不可用秒;M.2100測(cè)試分析誤碼秒、嚴(yán)重誤碼秒、不可用秒。
(3)、差錯(cuò)(誤碼、誤塊)監(jiān)測(cè)比特誤碼、編碼誤碼、幀字差錯(cuò)、CRC差錯(cuò)。
(4)、告警監(jiān)測(cè)。
(5)、同時(shí)顯示幀開銷及30個(gè)話路數(shù)字型線路信號(hào)(a.b.c.d)的狀態(tài)。
(6)、話音監(jiān)聽,各話音時(shí)隙可選。
(7)、測(cè)試結(jié)果掉電可記憶,可上傳微機(jī)。
上述各項(xiàng)指標(biāo)的測(cè)量由檢測(cè)模塊和語音監(jiān)聽模塊實(shí)現(xiàn),指標(biāo)的(3)、(4)項(xiàng)可通過對(duì)ds21354和ds21372的相關(guān)寄存器的設(shè)置和對(duì)線路狀態(tài)寄存器的讀取并對(duì)數(shù)據(jù)簡(jiǎn)單處理可實(shí)現(xiàn)。指標(biāo)的(5)、(6)項(xiàng)可通過對(duì)時(shí)隙交換電路相關(guān)寄存器的設(shè)置和讀取對(duì)數(shù)據(jù)簡(jiǎn)單處理實(shí)現(xiàn)。第(2)項(xiàng)的指標(biāo)參數(shù)是統(tǒng)計(jì)指標(biāo),需要在讀取DS21372寄存器的原始測(cè)試數(shù)據(jù)之后,經(jīng)過計(jì)算得到。統(tǒng)計(jì)指標(biāo)以秒為單位,程序設(shè)置了周期為1s的中斷定時(shí)讀取ds21372的寄存器值,調(diào)用計(jì)算函數(shù)計(jì)算統(tǒng)計(jì)指標(biāo)。圖3是在G.821分析模式下的統(tǒng)計(jì)指標(biāo)算法流程圖,其余分析模式下與此相似。
圖3 G.821分析模式下測(cè)試指標(biāo)計(jì)算流程圖
4 結(jié)束語
2M 測(cè)試系統(tǒng)在我國(guó)電信、網(wǎng)絡(luò)相關(guān)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。本文介紹的基于ARM的2M測(cè)試系統(tǒng)具有體積小、功耗低、功能豐富等優(yōu)點(diǎn),特別是能夠語音監(jiān)聽,并且各時(shí)隙可選,能夠滿足對(duì)2M口性能的測(cè)試和分析。ARM處理器以其高性價(jià)比,在嵌入式系統(tǒng)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
?
評(píng)論