99精品伊人亚洲|最近国产中文炮友|九草在线视频支援|AV网站大全最新|美女黄片免费观看|国产精品资源视频|精彩无码视频一区|91大神在线后入|伊人终合在线播放|久草综合久久中文

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

首款模擬IC方案,解決產(chǎn)品三大階段可靠性問題

Cadence楷登 ? 來源:互聯(lián)網(wǎng) ? 作者:佚名 ? 2018-05-15 09:39 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

楷登電子(美國(guó)Cadence公司,NASDAQ: CDNS)今日正式發(fā)布Cadence? Legato? Reliability解決方案——業(yè)內(nèi)首款為汽車、醫(yī)藥、工業(yè)、航空和國(guó)防應(yīng)用量身打造的,用于解決高可靠性模擬與混合信號(hào)集成電路(IC)設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)的軟件方案。Legato Reliability解決方案為模擬設(shè)計(jì)師提供所需工具,協(xié)助管理從測(cè)試、使用、到老化的產(chǎn)品全生命周期設(shè)計(jì)可靠性。

Legato Reliability解決方案基于備受用戶信任的Cadence Spectre?并行加速仿真器和Cadence Virtuoso? 定制IC設(shè)計(jì)平臺(tái)研發(fā)而成,兩者皆為業(yè)界的黃金標(biāo)準(zhǔn)。Legato統(tǒng)一的創(chuàng)新平臺(tái),操作更加便捷,幫助設(shè)計(jì)師解決產(chǎn)品壽命內(nèi)三大階段的可靠性問題。

  • 模擬缺陷分析功能:模擬缺陷仿真速度最高提升達(dá)100倍,降低測(cè)試成本,杜絕測(cè)試遺漏 - IC設(shè)計(jì)早期失敗的主要原因

  • 電熱分析功能:防止產(chǎn)品使用過程中出現(xiàn)由于熱應(yīng)力過度導(dǎo)致早期故障等問題

  • 先進(jìn)老化分析:通過分析由溫度和制程變化造成的加速老化,精準(zhǔn)預(yù)測(cè)產(chǎn)品耗損

如需了解Legato Reliability解決方案的更多內(nèi)容,請(qǐng)參閱www.cadence.com/go/legatoreliability

“電子元件是許多關(guān)鍵任務(wù)應(yīng)用的重要組成部分,確保芯片在全生命周期內(nèi)滿足設(shè)計(jì)需求是一個(gè)艱巨的難題,” Cadence公司資深副總裁兼定制IC與PCB事業(yè)部總經(jīng)理Tom Beckley表示。“設(shè)計(jì)師必須解決產(chǎn)品全生命周期內(nèi)可能出現(xiàn)的多種設(shè)計(jì)問題,包括作為產(chǎn)品早期使用期間出現(xiàn)故障主要原因的測(cè)試遺漏;此外還需要避免引擎蓋下方等極端使用環(huán)境下的熱應(yīng)力過高,以及確保使用壽命達(dá)到或超過15年等。全新Legato可靠性解決方案可幫助設(shè)計(jì)師在設(shè)計(jì)過程中盡早找到這些重要問題的答案?!?/p>

模擬缺陷分析可以降低測(cè)試成本并減少測(cè)試遺漏

Cadence Legato可靠性解決方案采用全新的仿真引擎,支持針對(duì)模擬IC測(cè)試的新方法學(xué) - “缺陷導(dǎo)向測(cè)試”,僅需運(yùn)行功能和參數(shù)測(cè)試便能實(shí)現(xiàn)測(cè)試功能的拓展,且顯著優(yōu)于傳統(tǒng)方案。采用缺陷導(dǎo)向測(cè)試,設(shè)計(jì)師可以評(píng)估篩除存在制造缺陷芯片的能力,杜絕因測(cè)試遺漏而造成的產(chǎn)品失效。該方法還能優(yōu)化晶圓測(cè)試,在達(dá)成目標(biāo)缺陷覆蓋率的同時(shí)避免過度測(cè)試,測(cè)試項(xiàng)目數(shù)量最多可以減少30%。已經(jīng)采納該工具的客戶表示,缺陷仿真的速度可以提升100倍以上。

“模擬缺陷仿真已經(jīng)成為滿足客戶要求和期待的重要工具,” Infineon Austria項(xiàng)目經(jīng)理Dieter H?rle表示。“我們已經(jīng)完成對(duì)Legato Reliability解決方案的測(cè)試,仿真速度可以提升達(dá)100倍以上。經(jīng)過驗(yàn)證后,我們將在生產(chǎn)流程中正式采納該方案?!?/p>

利用電熱分析避免熱應(yīng)力過高

Cadence為L(zhǎng)egato配置了動(dòng)態(tài)電熱仿真引擎。汽車設(shè)計(jì)師經(jīng)常會(huì)碰到如下問題:產(chǎn)品使用期間,由于開關(guān)造成的片上能量損失和功耗,即便是正常運(yùn)行也會(huì)導(dǎo)致溫度大幅升高;更何況,這些部件還必須在引擎蓋下方等極端環(huán)境下運(yùn)行。高功耗與高溫環(huán)境的互相作用會(huì)造成熱負(fù)荷過高,導(dǎo)致車輛在正常運(yùn)行時(shí)發(fā)生故障。動(dòng)態(tài)電熱仿真可以幫助設(shè)計(jì)師模擬芯片的升溫狀況,并驗(yàn)證過溫保護(hù)電路的可靠性。

利用高級(jí)老化分析預(yù)測(cè)產(chǎn)品損耗

Cadence是老化分析領(lǐng)域當(dāng)之無愧的領(lǐng)導(dǎo)者, RelXpert和AgeMOS等技術(shù)可以幫助設(shè)計(jì)師分析電氣壓力造成的設(shè)備退化。全新Legato解決方案中,Cadence進(jìn)一步加強(qiáng)老化分析功能,新增溫度和制程變化等與加速設(shè)備磨損相關(guān)的參數(shù)。此外,面向采用FinFET晶體管的高階節(jié)點(diǎn),Cadence為客戶提供全新的設(shè)備損耗老化模型,幫助設(shè)計(jì)師達(dá)成產(chǎn)品壽命目標(biāo),并避免過度設(shè)計(jì)。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • Cadence
    +關(guān)注

    關(guān)注

    67

    文章

    973

    瀏覽量

    144308

原文標(biāo)題:Cadence發(fā)布業(yè)內(nèi)首款模擬IC可靠性設(shè)計(jì)解決方案

文章出處:【微信號(hào):gh_fca7f1c2678a,微信公眾號(hào):Cadence楷登】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    關(guān)于LED燈具的9種可靠性測(cè)試方案

    燈具可靠性試驗(yàn)方法適用范圍:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電源電壓不超過1000V的室內(nèi)和室外用LED燈具可靠性的一般試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于LED燈具的可靠性試驗(yàn),為了進(jìn)行產(chǎn)品
    的頭像 發(fā)表于 06-18 14:48 ?203次閱讀
    關(guān)于LED燈具的9種<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試<b class='flag-5'>方案</b>

    半導(dǎo)體測(cè)試可靠性測(cè)試設(shè)備

    在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測(cè)試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對(duì)半導(dǎo)體器件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評(píng)估,確保其在實(shí)際使用中能穩(wěn)定運(yùn)行。以下為你詳細(xì)介紹常見的半導(dǎo)體測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?254次閱讀
    半導(dǎo)體測(cè)試<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試設(shè)備

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試

    潛在可靠性問題;與傳統(tǒng)封裝級(jí)測(cè)試結(jié)合,實(shí)現(xiàn)全周期可靠性評(píng)估與壽命預(yù)測(cè)。 關(guān)鍵測(cè)試領(lǐng)域與失效機(jī)理 WLR技術(shù)聚焦半導(dǎo)體器件的本征可靠性,覆蓋以下核心領(lǐng)域: 金屬化可靠性——電遷移:互連測(cè)
    發(fā)表于 05-07 20:34

    車載充電機(jī)(OBC)和熱泵空調(diào)等車載領(lǐng)域成為柵氧可靠性問題的“爆雷重災(zāi)區(qū)”

    為何車載領(lǐng)域成為國(guó)產(chǎn)SiC MOSFET柵氧可靠性問題的重災(zāi)區(qū)? 國(guó)產(chǎn)碳化硅(SiC)MOSFET在車載充電機(jī)(OBC)和熱泵空調(diào)等車載領(lǐng)域成為柵氧可靠性問題的“爆雷重災(zāi)區(qū)”,其本質(zhì)原因可從應(yīng)用場(chǎng)
    的頭像 發(fā)表于 05-05 08:53 ?238次閱讀
    車載充電機(jī)(OBC)和熱泵空調(diào)等車載領(lǐng)域成為柵氧<b class='flag-5'>可靠性問題</b>的“爆雷重災(zāi)區(qū)”

    IGBT的應(yīng)用可靠性與失效分析

    包括器件固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性問題包括安全工作區(qū)、閂鎖效應(yīng)、雪崩耐量、短路能力及功耗等,使用可靠性問題包括并聯(lián)均流、軟關(guān)斷、電磁干擾及散熱等。
    的頭像 發(fā)表于 04-25 09:38 ?955次閱讀
    IGBT的應(yīng)用<b class='flag-5'>可靠性</b>與失效分析

    集成電路可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目匯總

    的能力。對(duì)于集成電路(IC)等電子元器件,其失效過程可以通過“浴缸曲線”(BathtubCurve)來形象地描述。該曲線將產(chǎn)品生命周期分為個(gè)階段:1.早夭期(Inf
    的頭像 發(fā)表于 03-07 15:34 ?493次閱讀
    集成電路<b class='flag-5'>可靠性</b>試驗(yàn)項(xiàng)目匯總

    一文讀懂芯片可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目

    可靠性試驗(yàn)的定義與重要性可靠性試驗(yàn)是一種系統(tǒng)化的測(cè)試流程,通過模擬芯片在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的各種環(huán)境條件和工作狀態(tài),對(duì)芯片的性能、穩(wěn)定性和壽命進(jìn)行全面評(píng)估。在芯片研發(fā)和生產(chǎn)過程中,可靠性
    的頭像 發(fā)表于 02-21 14:50 ?692次閱讀
    一文讀懂芯片<b class='flag-5'>可靠性</b>試驗(yàn)項(xiàng)目

    詳解電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)

    可靠性試驗(yàn)是一種通過模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力因素,來評(píng)估電子產(chǎn)品在出廠到使用壽命結(jié)束期間質(zhì)量情況的科學(xué)方法。它能夠在短時(shí)間內(nèi)正確評(píng)估
    的頭像 發(fā)表于 02-20 12:01 ?561次閱讀
    詳解電子<b class='flag-5'>產(chǎn)品</b>的<b class='flag-5'>可靠性</b>試驗(yàn)

    可靠性溫度循環(huán)試驗(yàn)至少需要幾個(gè)循環(huán)?

    溫度循環(huán)作為自然環(huán)境的模擬,可以考核產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的適應(yīng)能力,常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)。一、溫度循環(huán)測(cè)試介紹溫度循環(huán)試驗(yàn),也稱為熱循環(huán)試驗(yàn)、高低溫循環(huán)試驗(yàn)
    的頭像 發(fā)表于 01-23 15:26 ?541次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b>溫度循環(huán)試驗(yàn)至少需要幾個(gè)循環(huán)?

    TSV維堆疊芯片的可靠性問題

    孔質(zhì)量和 信賴性保證難度大 ;(2) 多層芯片堆疊結(jié)構(gòu)的機(jī)械穩(wěn) 定性控制難度大 ;(3) 芯片間熱管理和散熱解決方案 復(fù)雜 ;(4) 芯片測(cè)試和故障隔離、定位困難。 2.1 TSV 孔的質(zhì)量和可靠性問題 作為維集成電路中的垂
    的頭像 發(fā)表于 12-30 17:37 ?1402次閱讀

    防測(cè)試:揭秘電子產(chǎn)品可靠性檢測(cè)

    耐受性。這些測(cè)試對(duì)于保證產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要,尤其是在要求極高的軍事和航空航天領(lǐng)域。防試驗(yàn)的詳細(xì)實(shí)施方法1.濕熱試驗(yàn):該試驗(yàn)用于評(píng)估電工、電
    的頭像 發(fā)表于 11-06 14:31 ?1127次閱讀
    <b class='flag-5'>三</b>防測(cè)試:揭秘電子<b class='flag-5'>產(chǎn)品</b>的<b class='flag-5'>可靠性</b>檢測(cè)

    提升產(chǎn)品穩(wěn)定性:可靠性設(shè)計(jì)的十大關(guān)鍵要素

    在當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的市場(chǎng)中,產(chǎn)品可靠性已成為衡量其成功的關(guān)鍵因素之一。可靠性不僅關(guān)系到產(chǎn)品的長(zhǎng)期性能,還直接影響到客戶的滿意度和企業(yè)的聲譽(yù)。因此,從產(chǎn)
    的頭像 發(fā)表于 10-31 22:49 ?1047次閱讀
    提升<b class='flag-5'>產(chǎn)品</b>穩(wěn)定性:<b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計(jì)的十大關(guān)鍵要素

    光耦合器的質(zhì)量和可靠性問題

    嚴(yán)重后果,尤其是在汽車、醫(yī)療和工業(yè)系統(tǒng)等安全敏感領(lǐng)域。然而,由于制造實(shí)踐的差異,導(dǎo)致性能不一致,質(zhì)量和可靠性問題仍然是一個(gè)問題。本文深入探討了保持光耦合器質(zhì)量和可靠性的挑戰(zhàn),并探討了制造商的潛在解決方案。
    的頭像 發(fā)表于 10-11 16:25 ?661次閱讀

    IC封裝的特性使得汽車和通信設(shè)備系統(tǒng)具有更高的可靠性

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《IC封裝的特性使得汽車和通信設(shè)備系統(tǒng)具有更高的可靠性.pdf》資料免費(fèi)下載
    發(fā)表于 09-20 09:15 ?0次下載
    <b class='flag-5'>IC</b>封裝的特性使得汽車和通信設(shè)備系統(tǒng)具有更高的<b class='flag-5'>可靠性</b>

    基于可靠性設(shè)計(jì)感知的EDA解決方案

    產(chǎn)品可靠性,包括制造和運(yùn)營(yíng)方面,正在成為芯片-封裝-系統(tǒng)迭代設(shè)計(jì)周期中設(shè)計(jì)的關(guān)鍵方面,尤其是那些有望承受更長(zhǎng)使用壽命和可能的惡劣操作環(huán)境的產(chǎn)品,例如汽車電子系統(tǒng)、高性能計(jì)算 (HPC)、電信
    的頭像 發(fā)表于 07-15 09:56 ?771次閱讀
    基于<b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計(jì)感知的EDA解決<b class='flag-5'>方案</b>