Analog Devices Inc. ADMX2001B精密阻抗分析儀測(cè)量模塊簡(jiǎn)化了阻抗測(cè)量系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)，也可用于增強(qiáng)現(xiàn)有測(cè)試平臺(tái)的功能。ADMX2001B采用高性能混合信號(hào)和處理算法，可測(cè)量小至0.1fF的電容變化，電阻值高達(dá)1GΩ，通常用于測(cè)試半導(dǎo)體器件、電子元件和傳感器。此外，得益于內(nèi)置測(cè)量算法，Analog Devices Inc. ADMX2001B能夠提供各種格式的完全校準(zhǔn)的復(fù)雜阻抗或?qū)Ъ{測(cè)量結(jié)果，其中包括電阻、電容和電感的并聯(lián)和串聯(lián)組合。

特性

• 復(fù)雜阻抗測(cè)量：0.2Hz至10MHz
• 高吞吐量
  • 測(cè)量時(shí)間：2.7ms
• 基本相對(duì)精度：0.05%
• 寬測(cè)量范圍
  • 電阻范圍：100μΩ至1GΩ
  • 電容范圍：100aF至10F
  • 電感范圍：10pH至100H
• 可編程測(cè)試信號(hào)
  • 16位幅度調(diào)整高達(dá)2.4V
  • 頻率分辨率：0.2Hz
  • 16位直流偏置設(shè)置高達(dá)±2.4V
• 直流電阻測(cè)量
• 18種阻抗測(cè)量格式，用于C、R、L、Z和Y
• 自動(dòng)多點(diǎn)和參數(shù)掃描
• 校準(zhǔn)和夾具補(bǔ)償功能
  • 自動(dòng)校準(zhǔn)例程，用于測(cè)量可追溯性
  • 非易失性存儲(chǔ)器中的校準(zhǔn)系數(shù)存儲(chǔ)
  • 補(bǔ)償消除了夾具寄生效應(yīng)

應(yīng)用

• 自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備
• 半導(dǎo)體特性
• 晶圓驗(yàn)收測(cè)試
• 電阻抗頻譜分析
• 阻抗網(wǎng)絡(luò)分析
• 電池測(cè)試

板布局