日前，由深圳市汽車電子行業(yè)協(xié)會舉辦的2024第十三屆國際汽車電子產(chǎn)業(yè)峰會暨2023年度汽車電子科學技術獎頒獎典禮在深圳隆重舉行。本次峰會主題為：“布局全球產(chǎn)業(yè)鏈，促進智能網(wǎng)聯(lián)汽車產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展”。

本次峰會聚焦智能網(wǎng)聯(lián)汽車發(fā)展的內(nèi)在需求，強調(diào)在當前產(chǎn)業(yè)變革大潮和百年未有之大變局中，相關企業(yè)要堅持開放合作，發(fā)揮各自優(yōu)勢，開展技術攻關，共享創(chuàng)新成果。會議現(xiàn)場，來自全國的800多位行業(yè)精英高朋滿座，會場氣氛熱烈非凡。

季豐電子受邀參加本次峰會，憑借其自主研發(fā)的“季豐H160數(shù)字老化測試機”榮獲本次汽車電子科學技術獎——優(yōu)秀創(chuàng)新產(chǎn)品獎。此次榮獲該獎項，是業(yè)界對季豐電子在集成電路和汽車電力領域跨界融合和技術創(chuàng)新的高度認可與肯定。

H160數(shù)字老化測試機

H160 SoC可靠性測試機，專為實驗室HTOL測試、量產(chǎn)Burn-in測試研發(fā)的新一代可靠性測試設備，該設備具有8路大電流供電能力、184個雙向I/O、20MHz頻率等眾多先進的功能。同時，支持量產(chǎn)場景下的Log記錄、遠程監(jiān)控等。

近期季豐電子通過軟件上的創(chuàng)新，在H160 SoC可靠性測試機上成功實現(xiàn)了讀取待測芯片寄存器數(shù)值，并有多種Pass/Fail判斷方式可選的功能：

通過Pattern，讀取芯片寄存器內(nèi)容到上位機；

對芯片寄存器內(nèi)容進行判定，判定標準可設置在指定范圍內(nèi)；

可實現(xiàn)芯片篩選功能；

可記錄寄存器內(nèi)容到Log文件；

上位機軟件界面實時顯示寄存器數(shù)值，方便觀察和調(diào)試。

此外，H160可靠性測試機在節(jié)能減排、降低使用成本方面，也取得了突破性的成果。降本增效，季豐電子在創(chuàng)新的道路上從未止步...

審核編輯：彭菁