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廣電計量聯(lián)合舉辦半導體技術創(chuàng)新發(fā)展論壇,標準引領創(chuàng)“芯”發(fā)展

廣電計量 ? 來源:廣電計量 ? 2024-05-29 09:44 ? 次閱讀
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5月25日上午,半導體技術創(chuàng)新發(fā)展論壇在廣電計量科技產(chǎn)業(yè)園順利舉辦,來自全國各地100多名國內(nèi)頂尖的高校專家、行業(yè)領袖,共同聚焦SiC、GaN等前沿技術領域,探討技術創(chuàng)新、標準制定及產(chǎn)業(yè)化應用。

中國科學院半導體研究所原副所長、第三代半導體產(chǎn)業(yè)技術創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟(以下簡稱第三代半導體聯(lián)盟)副理事長兼秘書長楊富華,廣電計量檢測集團股份有限公司副總經(jīng)理陸裕東出席論壇并致辭。

半導體和集成電路是支撐現(xiàn)代經(jīng)濟社會發(fā)展的戰(zhàn)略性、基礎性和先導性產(chǎn)業(yè),是引領新一輪科技革命和產(chǎn)業(yè)變革的關鍵力量,也是新質(zhì)生產(chǎn)力的典型代表。本次論壇以“創(chuàng)‘芯’驅(qū)動發(fā)展,標準引領未來”為主題,由第三代半導體聯(lián)盟、廣州數(shù)字科技集團有限公司指導,第三代半導體聯(lián)盟標準化委員會、廣電計量聯(lián)合主辦,廣東工業(yè)大學集成電路學院、是德科技(中國)有限公司協(xié)辦。廣電計量集成電路測試與分析事業(yè)部副總經(jīng)理李汝冠,廣東工業(yè)大學集成電路學院副院長、教授劉遠共同擔任主持。

楊富華在致辭中表示,2023年第三代半導體(SiC、GaN)功率器件的市場153.2億元,同比增長45%,產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展空間很大。第三代半導體產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展離不開標準、檢測、科技創(chuàng)新的支持,第三代半導體聯(lián)盟團隊十余年都在探索推動科技創(chuàng)新、標準研制與產(chǎn)業(yè)發(fā)展的協(xié)同機制,希望以標準化為橋梁,促進創(chuàng)新技術成果向產(chǎn)業(yè)化的發(fā)展,協(xié)調(diào)上中下游的協(xié)作創(chuàng)新。

陸裕東在致辭中表示,作為工信部、發(fā)改委及廣東省、江蘇省和上海市支持掛牌的集成電路公共服務平臺,廣電計量是國內(nèi)領先的半導體質(zhì)量評價與可靠性解決方案服務提供方,同時也是國內(nèi)首家進行車規(guī)級芯片驗證的國有上市第三方服務機構,廣泛參與了半導體與集成電路的評估驗證、標準研制和產(chǎn)業(yè)化應用,積極為行業(yè)創(chuàng)新發(fā)展注入新動能。

會上,來自全國頂尖高校學者、行業(yè)專家、企業(yè)代表,聚焦SiC、GaN等前沿技術領域分享最新技術創(chuàng)新成果。

中國科學院空間應用中心載人航天空間應用系統(tǒng)總體元器件技術負責人、正高級工程師張澤明作《面向航天應用的半導體器件測試與標準》報告。

工業(yè)和信息化部電子第五研究所研究員陳媛作《SiC MOS功率器件標準體系構建及動態(tài)可靠性測試挑戰(zhàn)》報告。

重慶大學電氣工程學院教授、博士生導師曾正作《SiC MOS功率器件開關測試及實踐》報告。

廣電計量集成電路測試與分析中心總監(jiān)江雪晨作《SiC MOSFET超越Si器件標準的可靠性測試及篩選方案》報告。

電子科技大學集成電路科學與工程學院教授、博士生導師明鑫作《功率GaN健康驅(qū)動策略研究》報告。

北京大學集成電路學院研究員、博士生導師魏進作《增強型GaN功率器件動態(tài)閾值電壓:原理與解決方案》報告。

西安電子科技大學廣州研究院副教授李祥東作《硅基GaN外延片電性分析》報告。

廣東工業(yè)大學集成電路學院教授賀致遠作《GaN HEMT功率器件標準體系構建思考及建議》報告。

其中廣電計量集成電路測試與分析中心總監(jiān)江雪晨分享《SiC MOSFET超越Si器件標準的可靠性測試及篩選方案》的報告。江雪晨表示,廣電計量為半導體全產(chǎn)業(yè)鏈提供專業(yè)的失效分析、晶圓級制造工藝分析、元器件篩選、可靠性測試等服務,在SiC MOSFET可靠性評估及篩選領域積累了豐富的實踐經(jīng)驗,構筑了創(chuàng)新發(fā)展領先優(yōu)勢。

同期,聯(lián)盟還在廣電計量科技產(chǎn)業(yè)園分別召開了SiC MOSEET器件開關動態(tài)測試方法標準起草、GaN的標準體系標準起草的閉門會議,定向邀請行業(yè)專家開展“頭腦風暴”,共同探討行業(yè)標準與檢測的最新進展和未來趨勢,以標準引領半導體產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。

高質(zhì)量發(fā)展離不開標準的支撐與引領,產(chǎn)業(yè)的創(chuàng)新發(fā)展需要上中下游的協(xié)同推進,未來廣電計量將加強產(chǎn)學研用技術交流與合作,打造一流半導體與集成電路協(xié)同創(chuàng)新平臺,推進形成更多的共識,共建產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展生態(tài),支撐SiC/GaN功率器件的新興市場開拓,為新質(zhì)生產(chǎn)力高質(zhì)量發(fā)展注入強勁動能。

審核編輯:劉清
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原文標題:總部基地啟用 | 廣電計量聯(lián)合舉辦半導體技術創(chuàng)新發(fā)展論壇 標準引領創(chuàng)“芯”發(fā)展

文章出處:【微信號:gh_899b3e796153,微信公眾號:廣電計量】歡迎添加關注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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