知用CYBERTEK近場探頭EM5030E的特征及其應(yīng)用
EM5030/EM5030LF 系列探頭組包含了 7 個(gè)專門用來測試磁場(H)探頭，它有效地屏蔽了電場干擾(E)，主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場探頭。EM5030 的頻率范圍是 30MHz-3GHz，共4 種探頭形狀;EM5030LF 的頻率范圍是 9kHz-50MHz，共 3 種探頭形狀。
探頭通過 50? 的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，可用近場探頭來尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾，能夠檢測模塊之間的耦合通道以及評估系統(tǒng)內(nèi)信號切換速率、RF 電壓等。當(dāng)干擾信號比較弱時(shí)，可以配合EM5020A(20dB 增益)或者EM5020B(30dB增益)前置射頻射頻放大器可以提高系統(tǒng)測試靈敏度。
應(yīng)用：
EMI 輻射干擾源定位
電磁場強(qiáng)度檢測
使用示意圖：
審核編輯 黃宇
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