在對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行溫度測(cè)量時(shí)，我們會(huì)常用到熱電偶，熱成像儀等儀器，隨著電路設(shè)計(jì)越來(lái)越趨向于芯片集成化，傳統(tǒng)模擬電路設(shè)計(jì)越來(lái)越少，當(dāng)產(chǎn)品出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)，僅僅通過(guò)萬(wàn)用表，示波器等傳統(tǒng)接觸式診斷的方式越來(lái)越難以快速的定位問(wèn)題所在，因而非接觸式診斷方式應(yīng)運(yùn)而生。

紅外熱像儀利用光學(xué)成像鏡頭、紅外探測(cè)器接受被測(cè)目標(biāo)的紅外輻射能量，并將紅外輻射能量轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)視頻信號(hào)，通過(guò)顯視屏顯示紅外熱像圖。這種熱像圖與物體表面的熱分布場(chǎng)相對(duì)應(yīng)，是被測(cè)目標(biāo)物體各部分紅外輻射的熱像分布圖。紅外熱像儀能夠?qū)⑻綔y(cè)到的熱量精確量化，能夠?qū)Πl(fā)熱的故障區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確識(shí)別和嚴(yán)格分析，因此，紅外熱像儀能夠非接觸準(zhǔn)確測(cè)溫，并能夠?qū)崟r(shí)顯示熱場(chǎng)分布的特點(diǎn)使得其成為電路板檢測(cè)等無(wú)損探傷的最佳工具。

常見(jiàn)的電路板問(wèn)題包括：1.元器件功耗選型不正確；2.電路設(shè)計(jì)錯(cuò)誤；3.layout布局不合適；4.產(chǎn)品散熱問(wèn)題；4.產(chǎn)品出現(xiàn)短路，焊接反向，焊接不良等引起周?chē)娐窚囟瘸掷m(xù)上升的現(xiàn)象。

本文以一個(gè)實(shí)例介紹熱成像儀如何快速定位到問(wèn)題所在。

問(wèn)題現(xiàn)象：車(chē)載產(chǎn)品在低電壓情況下，出現(xiàn)閃屏的現(xiàn)象，在正常12v的情況下，未出現(xiàn)閃屏。

問(wèn)題分析：1.通過(guò)分析多個(gè)同批次的產(chǎn)品發(fā)現(xiàn)都出現(xiàn)該問(wèn)題，說(shuō)明這不是個(gè)別現(xiàn)象，大概率是設(shè)計(jì)存在缺陷；

2. 跟軟件同事溝通，確認(rèn)在該低電壓情況下，軟件并未做動(dòng)作；

3.通過(guò)硬件分析閃屏大概率是驅(qū)動(dòng)該LED燈的電源芯片出現(xiàn)了問(wèn)題，通過(guò)讀取該芯片自身的錯(cuò)誤診斷信息，發(fā)現(xiàn)是出現(xiàn)mos管電路過(guò)流現(xiàn)象，原因可能包括：1.輸出短路；2.MOS周?chē)娐吩O(shè)計(jì)在低電壓情況下設(shè)計(jì)不當(dāng)?shù)龋ㄟ^(guò)ABBA交換實(shí)驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)驅(qū)動(dòng)負(fù)載屏并未短路，問(wèn)題定位到這兒，下一步就需要找尋MOS管周?chē)娐返膯?wèn)題，如果一個(gè)個(gè)對(duì)比設(shè)計(jì)需求，可能需要花費(fèi)大量時(shí)間，而此時(shí)選用熱成像儀可獲得事半功倍的效果。

用熱像儀對(duì)準(zhǔn)該芯片周?chē)碾娐?，測(cè)得圖片如下：

圖片中綠色最深的區(qū)域即為MOS管，而且溫度還在持續(xù)上升，一直持續(xù)到180°，同時(shí)顯示屏出現(xiàn)閃屏現(xiàn)象。

通過(guò)熱成像儀發(fā)現(xiàn)閃屏現(xiàn)象可能跟MOS管自身存在很大的關(guān)聯(lián)，通過(guò)對(duì)比MOS管的datasheet發(fā)現(xiàn)：

該MOS管在電壓輸入5.5V（6v電源輸入，到該芯片處有0.5v壓降）情況下，已經(jīng)無(wú)法滿足功耗需求（6V/5.65A），因而更換新的MOS管：

焊接新的MOS管，未出現(xiàn)低電壓輸入時(shí)閃屏的問(wèn)題。

總結(jié)：1.熱成像儀可以快速定位到因?yàn)樵骷x型，電路設(shè)計(jì)（layout設(shè)計(jì)，原理圖設(shè)計(jì)），產(chǎn)品散熱設(shè)計(jì)不佳，電路故障等問(wèn)題，而這類問(wèn)題通過(guò)較難一下子定位；

2.熱成像儀相對(duì)于熱電偶更具有全面的優(yōu)點(diǎn)，熱電偶只能單一的定位幾處元器件。但是也同樣存在一些缺點(diǎn)，比如在高低溫出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)，無(wú)法第一時(shí)間找出問(wèn)題所在，而熱電偶可以貼在元器件表面，同步監(jiān)測(cè)異常溫度。

審核編輯 ：李倩