作為一名電力電子硬件工程師，我們在做測試時，經(jīng)常會遇到一些比較“奇怪”的波形。說奇怪主要是因為這些波形要么非常難看，各種振蕩，要么很難分析，搞不清楚具體原因，有時候這些測試能整到你懷疑人生。

對于這些“奇怪”波形，一部分是由于測量原因造成的，有些確是實實在在的波形。分析不透的根本原因是我們對電磁學知識理解不夠深入，事實上任何一個波形都可以被科學的解釋。為了讓大家少走彎路，老耿從網(wǎng)絡(luò)上找了一些比較有代表性的波形，給大家解讀一下具體的機理，如果大家有比較好的素材也可以提供給我，幫大家分析分析！

案例: 圖1所示的IGBT門極開通電壓尖峰是怎么回事?

圖1a IGBT門極開通尖峰

圖1b IGBT門極開通尖峰

機理分析：

IGBT門極驅(qū)動的等效電路如圖2所示：

圖2. IGBT驅(qū)動等效電路

IGBT開通瞬間門極驅(qū)動回路相當于一個RLC串聯(lián)回路，其中：

Rg為驅(qū)動電阻Rg,ext和內(nèi)部電阻Rg,int之和；

Cg為IGBT輸入電容Cies，門極電容Gge和米勒電容Cgc之和；

Lg為門極驅(qū)動回路的寄生電感Ls1。

數(shù)學可描述為二階微分方程：

老耿數(shù)學不太好，方程求解就不說了，后面直接看仿真。IGBT開通過程的理想波形如圖3所示，開通瞬態(tài)門極電壓尖峰主要發(fā)生在開通延遲階段（圖中未畫出門極電壓尖峰）。

圖3.IGBT開通理想波形

這個時候IGBT還沒有開通，由于開通瞬態(tài)IGBT輸入電容相當于短路，因此門極電流Ig快速上升至峰值電流，隨后門極電容會逐漸被充電至開啟閾值電壓Vge,th，米勒平臺Vgep，最后到Vcc，門極電流也逐漸減小至0。

開通瞬態(tài)門極電流的上升速率dIg/dt是非常快的，可以達到幾十ns，一般情況下驅(qū)動推挽電路的上管開通速度越快，門極電阻越小，di/dt就會越大，因此尖峰也會越高。

搞清楚機理后，大家就應(yīng)該知道這個尖峰對IGBT是沒有什么影響的，只是內(nèi)部寄生電感上的尖峰，實際上此時IGBT真實的門極電壓Vge為0。

開通的時候存在電壓尖峰，關(guān)斷的時候也會存在，道理同上。大家仔細看一下圖1b中綠色的門極關(guān)斷波形，也會發(fā)現(xiàn)一個下垂的小尖峰。

仿真驗證：

為了驗證上面的分析，在saber軟件中搭建了一個簡單的雙脈沖測試電路，如圖4所示：

圖4. 雙脈沖仿真電路

IGBT是軟件自帶的仿真模型，門極驅(qū)動電阻為4Ω，驅(qū)動回路的寄生電感為10nH，仿真波形如圖5所示，開通暫態(tài)門極電壓有個向上的尖峰，關(guān)斷暫態(tài)有個向下的尖峰。

圖5. 門極尖峰仿真波形

有些小伙伴可能會發(fā)現(xiàn)，第二次開通IGBT集電極電流怎么沒有反向恢復(fù)電流啊，這是因為saber自帶的二極管模型無法仿真反向恢復(fù)特性。

總結(jié)：

①造成IGBT門極電壓尖峰的原因很多種，本文中提到的開通門極電壓的尖峰不會對器件造成任何影響，大家不用太擔心，其它原因造成的門極尖峰要具體分析，有可能會導(dǎo)致器件損壞。

②并不是所有的測試都能看到這個尖峰，測試尖峰的大小與驅(qū)動電路，待測器件以及探頭測試位置都有關(guān)系；

③電力電子應(yīng)用過程中無論是功率回路的電壓尖峰還是驅(qū)動回路的電壓尖峰，都是由于寄生電感和快速的電流變化造成的，兩者缺一不可；

④ Saber在進行IGBT仿真時是比較精確的，遺憾的是目前Saber自帶的二極管模型無法仿真反向恢復(fù)特性。

好了，今天就給大家分享到這里，由于作者水平有限，以上內(nèi)容若有不對之處，請大家批評指正！

審核編輯 ：李倩