SMT貼片加工的過(guò)程中會(huì)使用很多的電子元器件，不同的元器件檢測(cè)其性能方法也不一樣，以下介紹光敏電阻器的測(cè)試方法。檢測(cè)光敏電阻器時(shí)，將萬(wàn)用表設(shè)置在Rx1k檔，將兩表筆分別接到光敏電阻器的引線上，然后按照下面的方法進(jìn)行檢測(cè)。

（1）檢測(cè)暗阻（避光檢測(cè)法）。用黑紙將光敏電阻器的透光窗口遮住，將萬(wàn)用表的檔位開(kāi)關(guān)調(diào)整至歐姆檔，然后用萬(wàn)用表的兩個(gè)表筆測(cè)量其兩端的電阻，此時(shí)如果萬(wàn)用表的指針基本保持不動(dòng)，阻值很大或接近無(wú)窮大，則說(shuō)明光敏電阻器性能越好。如果阻值很小或接近零，則說(shuō)明此光敏電阻器已擊穿損壞，不能繼續(xù)使用。

（2）檢測(cè)亮阻（透光檢測(cè)法）。將光源對(duì)準(zhǔn)光敏電阻器的透光窗口，用萬(wàn)用表的兩個(gè)表筆接觸光面電阻器的兩個(gè)引線，如果此時(shí)萬(wàn)用表的指針有較大幅度的擺動(dòng)，阻值明顯減小說(shuō)明此光敏電阻器是正常的。阻值越小說(shuō)明光敏電阻器性能越好，如果阻值很大甚至為無(wú)窮大，則說(shuō)明此光敏電阻器內(nèi)部開(kāi)路損壞，不能繼續(xù)使用。

（3）檢測(cè)靈敏性（間斷受光檢測(cè)法）。將光敏電阻器的透光窗口對(duì)準(zhǔn)入射光源，用黑紙片在光敏電阻器的透光窗口上部晃動(dòng)，使它間斷受光，如果此時(shí)萬(wàn)用表指針隨黑紙片的晃動(dòng)而左右擺動(dòng)，則說(shuō)明該光敏電阻器是正常的。如果萬(wàn)用表指針始終停在某一位置而不隨紙片晃動(dòng)而擺動(dòng)，則說(shuō)明此光敏電阻器的光敏材料已經(jīng)損壞，不能繼續(xù)使用。

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