功能測(cè)試正變得越來(lái)越重要，然而與在線測(cè)試一樣，技術(shù)的發(fā)展和PCB設(shè)計(jì)會(huì)使測(cè)試范圍受到限制。盡管在編程的軟件環(huán)境方面已取得了很大的進(jìn)展，有助于克服其中一些困難，但若想按照你的測(cè)試策略成功實(shí)施功能測(cè)試，還有很多問(wèn)題需要避免并且要做更周密的準(zhǔn)備。本文就介紹成功實(shí)施功能測(cè)試應(yīng)考慮的一些因素和應(yīng)對(duì)方法策略。

電子產(chǎn)品功能測(cè)試有著其盛衰的歷史，60年代后期它是第一種自動(dòng)化測(cè)試方法，隨著70年代后期在線測(cè)試技術(shù)的出現(xiàn)，功能測(cè)試似乎注定要讓位于編程與判斷日趨簡(jiǎn)易快速的在線測(cè)試。然而如今，潮流又變了。在線測(cè)試目前有一個(gè)問(wèn)題越來(lái)越嚴(yán)重，即探測(cè)方式。據(jù)美國(guó)NEMI（國(guó)家電子制造組織）分析，到2003年底可探測(cè)到的節(jié)點(diǎn)基本上將為零，如果無(wú)法進(jìn)行探測(cè)，那么在線測(cè)試幾乎就沒(méi)有用武之地。

功能測(cè)試正日益更多地用于生產(chǎn)線后工序中，甚至也用于進(jìn)行工藝中段的測(cè)試，但是其體系和實(shí)施方法與以前的測(cè)試幾乎已完全不同。如今的測(cè)試系統(tǒng)在多數(shù)情況下速度更快，結(jié)構(gòu)也更加緊湊，功能測(cè)試對(duì)于驗(yàn)證產(chǎn)品的總體功能性、維護(hù)校準(zhǔn)信息、向ISO9000程序提供數(shù)據(jù)以及保證高風(fēng)險(xiǎn)產(chǎn)品，如醫(yī)療設(shè)備的質(zhì)量等都是不可缺少的。

測(cè)試的實(shí)施方法受預(yù)算、產(chǎn)量以及待測(cè)產(chǎn)品（UUT）設(shè)計(jì)等因素的影響，而正是最后一項(xiàng)對(duì)到底能測(cè)出什么影響最大，預(yù)算和產(chǎn)量則會(huì)限制測(cè)試的項(xiàng)目。為了讓測(cè)試得到盡可能高的故障覆蓋率，在設(shè)計(jì)階段就必須注意元器件的選擇和PCB布局，遺憾的是實(shí)際情況并不總是這樣，急于進(jìn)入市場(chǎng)和緊張的開(kāi)發(fā)經(jīng)常會(huì)打亂你的如意算盤。

這里對(duì)如何處理這些限制進(jìn)行一個(gè)初步分析。針對(duì)測(cè)試而不得不作的一些讓步（特別是在設(shè)計(jì)早期階段）可能會(huì)影響設(shè)計(jì)，但卻使測(cè)試工作更容易，并提高測(cè)試故障覆蓋率。請(qǐng)注意下列問(wèn)題和建議不是每個(gè)測(cè)試工程師都要面臨或需要解決的，這些問(wèn)題許多會(huì)相互影響，因此應(yīng)對(duì)每個(gè)問(wèn)題進(jìn)行評(píng)估，并在需要時(shí)靈活應(yīng)用。

待測(cè)產(chǎn)品測(cè)試要求是什么？

在討論設(shè)計(jì)、測(cè)試系統(tǒng)、軟件以及測(cè)試方法之前，先要了解“對(duì)象”——待測(cè)產(chǎn)品，這里不光是指PCB或最終組裝件本身，而且還需要明白將要生產(chǎn)多少、預(yù)計(jì)的故障等等，包括：產(chǎn)品種類

結(jié)構(gòu)（單個(gè)PCB/預(yù)先做好的PCB/最終產(chǎn)品）

測(cè)試規(guī)范計(jì)劃測(cè)試點(diǎn)預(yù)期產(chǎn)量（每條線/每天/每班等）

預(yù)計(jì)故障類型

很明顯，上面忽略了“預(yù)算”，但是只有對(duì)上述各項(xiàng)了解之后才能確定某件產(chǎn)品測(cè)試要花多少錢，在弄清楚全面測(cè)試UUT需要什么后再開(kāi)始討論資金問(wèn)題，也只有在這個(gè)時(shí)候才能知道如何進(jìn)行折衷以使工作完成。初期的報(bào)告完成后，公司可能會(huì)給你一個(gè)預(yù)算并祝你“好運(yùn)”——盤算著你能作出什么，此時(shí)確實(shí)需要“好運(yùn)”，但還要有其它東西，下面列出了其中一些。

高密度問(wèn)題表面上看，元件密度好象對(duì)功能測(cè)試來(lái)講不是問(wèn)題，畢竟這里主要考慮的是“給一個(gè)輸入而得到正確的輸出”。誠(chéng)然它有些過(guò)于單純，但實(shí)際情況就是如此。向UUT輸入端施加給定的激勵(lì)信號(hào)，一定時(shí)間后UUT將會(huì)輸出特定的系列數(shù)據(jù)，與I/O連接器相連應(yīng)是唯一的接入問(wèn)題。

但是元器件密度也有一定影響，看看圖1的PCB樣品（或你自己的設(shè)計(jì)），你先得回答下面的問(wèn)題；需要接入校準(zhǔn)電路嗎？

圖1 PCB樣品

對(duì)UUT具體元件或特定區(qū)域進(jìn)行診斷是否重要？

如果對(duì)上述問(wèn)題的回答持肯定意見(jiàn)，那么探查是由人來(lái)做還是用某種自動(dòng)機(jī)械裝置？

要使用自動(dòng)化測(cè)試裝置嗎？

采用的I/O連接器是否容易接觸或連接？如果不是，那么連接器是一個(gè)能通過(guò)針床接觸的通孔安裝件嗎？

下面我們來(lái)逐個(gè)討論這些問(wèn)題。

校準(zhǔn)電路功能測(cè)試經(jīng)常用于模擬電路的校準(zhǔn)或驗(yàn)證，包括檢查UUT的內(nèi)部（如射頻電路的中頻部分）以驗(yàn)證其工作，要這樣做就可能需要測(cè)試點(diǎn)或測(cè)試焊盤。高頻設(shè)計(jì)的一個(gè)問(wèn)題是測(cè)試點(diǎn)的相對(duì)阻抗（路徑長(zhǎng)度、測(cè)試焊盤大小等）加上探針的阻抗會(huì)影響該電路的性能，在設(shè)置測(cè)試區(qū)時(shí)應(yīng)記住這點(diǎn)，而自動(dòng)機(jī)械探測(cè)和針床夾具（本文后面討論）只需較小的測(cè)試區(qū)即可，可緩和這一矛盾，這主要是由于和人工操作相比，自動(dòng)機(jī)械本身的精度可使測(cè)試儀探測(cè)到更小的區(qū)域。

故障診斷如果只是用功能測(cè)試作為通過(guò)/不通過(guò)的篩選而不需要測(cè)量校準(zhǔn)點(diǎn)，可以將本節(jié)跳過(guò)，因?yàn)榇藭r(shí)應(yīng)用可能不需要用到探針。在多數(shù)情況下，功能測(cè)試都進(jìn)行通過(guò)/不通過(guò)檢測(cè)，這是因?yàn)楣δ軠y(cè)試在診斷故障方面非常緩慢，特別是在出現(xiàn)多個(gè)故障的情況下。但是在某些工業(yè)里，功能測(cè)試正在深入到制造工藝?yán)锩妫绶涓C電話制造，一些制造商要在PCB一級(jí)進(jìn)行某些關(guān)鍵測(cè)量，也即在最終組裝前的裝配過(guò)程中進(jìn)行，這是由手機(jī)易被淘汰的性質(zhì)所決定的。換言之，手機(jī)被設(shè)計(jì)為以較低成本進(jìn)行裝配，它們不易拆卸，因此在終測(cè)前對(duì)功能進(jìn)行驗(yàn)證可以節(jié)省返工成本并減少可能出現(xiàn)的廢品（因?yàn)槭謾C(jī)拆開(kāi)時(shí)會(huì)被損壞）。

所以要探查PCB就需要有充足的測(cè)試點(diǎn)，例如檢查一個(gè)間距20mil的表面安裝器件的J形引線就不是很方便，而B(niǎo)GA則更沒(méi)有可能。根據(jù)美國(guó)表面安裝技術(shù)協(xié)會(huì)（SMTA）的建議，測(cè)試點(diǎn)間隔最小為0.040英寸，焊盤之間的間隔取決于測(cè)試區(qū)四周的元件高度、探針大小等等，但是0.200英寸間隔應(yīng)是最小要求，特別是人工探查區(qū)域。很顯然，測(cè)試夾具和自動(dòng)機(jī)械探針更加精確一些。

測(cè)試設(shè)計(jì)無(wú)庸置疑，一個(gè)便于測(cè)試的設(shè)計(jì)在生產(chǎn)中要比隨隨便便的設(shè)計(jì)更容易處理。但工程人員通常希望在最小的體積里以最低成本裝入更多的技術(shù)，這種思想增加了在線測(cè)試和功能測(cè)試中與線路板接觸的限制。

對(duì)這類問(wèn)題市場(chǎng)也做出了反應(yīng)，現(xiàn)在已有軟件工具能對(duì)設(shè)計(jì)作分析，根據(jù)裝配和測(cè)試設(shè)備規(guī)定的規(guī)則進(jìn)行審查，提出使PCB更易于生產(chǎn)的建議。如果這些工具適用于你的產(chǎn)品，建議對(duì)每個(gè)設(shè)計(jì)都作分析，至少它能很快指出哪里發(fā)現(xiàn)了測(cè)試接觸的問(wèn)題，其最終目的是使產(chǎn)品更易于制造。

滿足高密度要求的結(jié)構(gòu)配置

高密度可以是PCB尺寸小，也可以是UUT上有大量電路，或者二者兼有，上面的標(biāo)題說(shuō)明對(duì)系統(tǒng)的機(jī)械和電氣結(jié)構(gòu)必須要進(jìn)行考慮以滿足測(cè)試的要求。在機(jī)械方面需考慮的問(wèn)題有：

如何支持UUT測(cè)試區(qū)多層板測(cè)試（測(cè)試儀能做并行測(cè)試嗎？）

I/O連接器

在電氣方面，如果是多層板，那么哪個(gè)更經(jīng)濟(jì)呢？是采用多儀器方式還是用開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換器加少量?jī)x器的方式？根據(jù)UUT結(jié)構(gòu)或所需的儀器類型，答案可能并不容易得出。

自動(dòng)測(cè)試還是人工測(cè)試？

隨著每條生產(chǎn)線的產(chǎn)量和速度增加（實(shí)現(xiàn)規(guī)模經(jīng)濟(jì)的一個(gè)主要方法是提高每個(gè)測(cè)試設(shè)備的生產(chǎn)率），應(yīng)該要考慮能否使測(cè)試過(guò)程自動(dòng)化。自動(dòng)化功能測(cè)試實(shí)際上省去了裝載/卸載的時(shí)間，并不需要再增加其它測(cè)試系統(tǒng)，在考慮提高產(chǎn)量的時(shí)候通常不會(huì)顧及輸運(yùn)設(shè)備增加的成本。

測(cè)試自動(dòng)化的缺點(diǎn)包括有一個(gè)初始硬件投資、與生產(chǎn)線整合的時(shí)間、測(cè)試系統(tǒng)能否與生產(chǎn)線速度保持同步以及如果設(shè)備出故障而會(huì)給生產(chǎn)帶來(lái)的問(wèn)題等等。離線式測(cè)試儀不會(huì)直接影響裝配線，如果測(cè)試儀出現(xiàn)故障，可以把產(chǎn)品從生產(chǎn)線上拿出放在一邊繼續(xù)生產(chǎn)，這樣生產(chǎn)線不會(huì)受影響，不過(guò)處理時(shí)間和人工也是個(gè)問(wèn)題。

應(yīng)記住人工測(cè)試通?？赡芤萌舾呻娎|和連接器連接UUT，這些電纜與針床夾具上的探針相比較，其使用壽命一般較低，因此應(yīng)將它納入維護(hù)計(jì)劃中，這可以降低間發(fā)性故障。

夾具問(wèn)題

由于生產(chǎn)線產(chǎn)量、車間場(chǎng)地和勞動(dòng)率等不同，夾具可以從簡(jiǎn)單帶有插銷和連接電纜的膠合板到復(fù)雜的由傳送帶連接到裝配線的全自動(dòng)針床測(cè)試夾具。顯然，這些因素說(shuō)明并不存在一個(gè)固定的方案。

一個(gè)人工裝載雙面夾具，一個(gè)帶狀電纜連接到主要的I/O連接器上，頂端安裝的探針可以接觸到UUT上的關(guān)鍵測(cè)試點(diǎn)。這是一家中等規(guī)模工廠所要求的理想設(shè)計(jì)方案，操作者必須連上帶狀電纜，關(guān)上頂板然后再開(kāi)始測(cè)試。這里不用人工探查進(jìn)行校準(zhǔn)和診斷，因?yàn)轫敯迥芙佑|到所有相關(guān)區(qū)域。帶狀電纜和頂板探針連線應(yīng)設(shè)計(jì)得容易更換，這是由于這些電纜經(jīng)常會(huì)彎曲而受到磨損。

在同夾具供應(yīng)商打交道時(shí)，要記住這些問(wèn)題，同時(shí)還要想到產(chǎn)品將在何處制造，這是一個(gè)很多測(cè)試工程師會(huì)忽略的地方。例如我們假定測(cè)試工程師身在美國(guó)的加利福尼亞，而產(chǎn)品制造地卻在泰國(guó)。測(cè)試工程師會(huì)認(rèn)為產(chǎn)品需要昂貴的自動(dòng)化夾具，因?yàn)樵诩又輳S房?jī)r(jià)格高，要求測(cè)試儀盡量少，而且還要用自動(dòng)化夾具以減少雇用高技術(shù)高工資的操作工。但在泰國(guó)，這兩個(gè)問(wèn)題都不存在，讓人工來(lái)解決這些問(wèn)題更加便宜，因?yàn)檫@里的勞動(dòng)力成本很低，地價(jià)也很便宜，大廠房不是一個(gè)問(wèn)題。因此有時(shí)候一流設(shè)備在有的國(guó)家可能不一定受歡迎。

操作員技術(shù)水平

在高密度UUT中，如果需要校準(zhǔn)或診斷則很可能需要由人工進(jìn)行探查，這是由于針床接觸受到限制以及測(cè)試更快（用探針測(cè)試UUT可以迅速采集到數(shù)據(jù)而不是將信息反饋到邊緣連接器上）等原因，所以要求由操作員探查UUT上的測(cè)試點(diǎn)。不管在哪里，都應(yīng)確保測(cè)試點(diǎn)已清楚地標(biāo)出。

探針類型和普通操作工也應(yīng)該注意，需要考慮的問(wèn)題包括：

探針大過(guò)測(cè)試點(diǎn)嗎？

探針有使幾個(gè)測(cè)試點(diǎn)短路并損壞UUT的危險(xiǎn)嗎？

對(duì)操作工有觸電危害嗎？

每個(gè)操作工能很快找出測(cè)試點(diǎn)并進(jìn)行檢查嗎？測(cè)試點(diǎn)是否很大易于辨認(rèn)呢？

操作工將探針按在測(cè)試點(diǎn)上要多長(zhǎng)時(shí)間才能得出準(zhǔn)確的讀數(shù)？如果時(shí)間太長(zhǎng)，在小的測(cè)試區(qū)會(huì)出現(xiàn)一些麻煩，如操作工的手會(huì)因測(cè)試時(shí)間太長(zhǎng)而滑動(dòng)，所以建議擴(kuò)大測(cè)試區(qū)以避免這個(gè)問(wèn)題。

考慮上述問(wèn)題后測(cè)試工程師應(yīng)重新評(píng)估測(cè)試探針的類型，修改測(cè)試文件以更好地識(shí)別出測(cè)試點(diǎn)位置，或者甚至改變對(duì)操作工的要求。

自動(dòng)探查

在某些情況下會(huì)要求使用自動(dòng)探查，例如在PCB難以用人工探查，或者操作工技術(shù)水平所限而使得測(cè)試速度大大降低的時(shí)候，這時(shí)就應(yīng)考慮用自動(dòng)化方法。

自動(dòng)探查可以消除人為誤差，降低幾個(gè)測(cè)試點(diǎn)短路的可能性，并使測(cè)試操作加快。但是要知道自動(dòng)探查也可能存在一些局限，根據(jù)供應(yīng)商的設(shè)計(jì)而各有不同，包括：

UUT的大小同步探針的數(shù)量?jī)蓚€(gè)測(cè)試點(diǎn)相距有多近？

測(cè)試探針的定位精度系統(tǒng)能對(duì)UUT進(jìn)行兩面探測(cè)嗎？

探針移至下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)有多快？

探針系統(tǒng)要求的實(shí)際間隔是多少？（一般來(lái)講它比離線式功能測(cè)試系統(tǒng)要大）

自動(dòng)探查通常不用針床夾具接觸其它測(cè)試點(diǎn)，而且一般它比生產(chǎn)線速度慢，因此可能需要采取兩種步驟：如果探測(cè)儀僅用于診斷，可以考慮在生產(chǎn)線上采用傳統(tǒng)的功能測(cè)試系統(tǒng)，而把探測(cè)儀作為診斷系統(tǒng)放在生產(chǎn)線邊上；如果探測(cè)儀的目的是UUT校準(zhǔn)，那么唯一的真正解決辦法是采用多個(gè)系統(tǒng)，要知道這還是比人工操作要快得多。

如何整合到生產(chǎn)線上也是必須要研究的一個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題，生產(chǎn)線上還有空間嗎？系統(tǒng)能與傳送帶連接嗎？幸好許多新型探測(cè)系統(tǒng)都與SMEMA標(biāo)準(zhǔn)兼容，因此它們可以在在線環(huán)境下工作。

邊界掃描

這項(xiàng)技術(shù)早在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段就應(yīng)該進(jìn)行討論，因?yàn)樗枰獙ｉT的元器件來(lái)執(zhí)行這項(xiàng)任務(wù)。在以數(shù)字電路為主的UUT中，可以購(gòu)買帶有IEEE 1194（邊界掃描）支持的器件，這樣只做很少或不用探測(cè)就能解決大部分診斷問(wèn)題。邊界掃描會(huì)降低UUT的整體功能性，因?yàn)樗鼤?huì)增大每個(gè)兼容器件的面積（每個(gè)芯片增加4～5個(gè)引腳以及一些線路），所以選擇這項(xiàng)技術(shù)的原則，就是所花費(fèi)的成本應(yīng)該能使診斷結(jié)果得到改善。應(yīng)記住邊界掃描可用于對(duì)UUT上的閃速存儲(chǔ)器和PLD器件進(jìn)行編程，這也更進(jìn)一步增加了選用該測(cè)試方法的理由。

如何處理一個(gè)有局限的設(shè)計(jì)？

如果UUT設(shè)計(jì)已經(jīng)完成并確定下來(lái)，此時(shí)選擇就很有限。當(dāng)然也可以要求在下次改版或新產(chǎn)品中進(jìn)行修改，但是工藝改善總是需要一定的時(shí)間，而你仍然要對(duì)目前的狀況進(jìn)行處理。

這里的主要指導(dǎo)思想是你能做多少測(cè)試。按照預(yù)期的故障類型也許是夠的，但如果不夠，通常就需要在更加昂貴的測(cè)試系統(tǒng)之間取得一個(gè)微妙平衡，將UUT的產(chǎn)品銷售成本（COGS）與邊際利潤(rùn)進(jìn)行權(quán)衡后選擇更精確的探測(cè)方法。所以，答案就是沒(méi)有一個(gè)簡(jiǎn)單的答案。

對(duì)將來(lái)設(shè)計(jì)的最好參考意見(jiàn)就是目前功能測(cè)試在受到限制時(shí)的完成情況，面臨這些局限時(shí)，應(yīng)記下在生產(chǎn)線速度規(guī)定的時(shí)間范圍里能完成的測(cè)試，以及生產(chǎn)線上擁有的測(cè)試儀數(shù)量。時(shí)間限定是很關(guān)鍵的，因?yàn)椴豢赡茏尞a(chǎn)量向你作讓步，故而你的工作就是為了時(shí)間而犧牲測(cè)試覆蓋率，所以才會(huì)要求改進(jìn)以便將來(lái)能解除這些限制！

本文結(jié)論

技術(shù)的發(fā)展使我們的生活更加美好，但對(duì)測(cè)試工程師是個(gè)例外。更密集的PCB、更高的總線速度以及模擬RF電路等等對(duì)測(cè)試都提出了前所未有的挑戰(zhàn)，這種環(huán)境下的功能測(cè)試需要認(rèn)真的設(shè)計(jì)、深思熟慮的測(cè)試方法和適當(dāng)?shù)墓ぞ卟拍芴峁┛尚诺臏y(cè)試結(jié)果，充足的準(zhǔn)備和仔細(xì)篩選工具將可以達(dá)到事半功倍的效果。
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