數(shù)字電路是什么意思？

　　現(xiàn)代的數(shù)字電路由半導(dǎo)體工藝制成的若干數(shù)字集成器件構(gòu)造而成
。邏輯門是數(shù)字邏輯電路的基本單元。存儲器是用來存儲二值數(shù)據(jù)的數(shù)字電路。從整體上看，數(shù)字電路可以分為組合邏輯電路和時序邏輯電路兩大類。

一、數(shù)字電路的發(fā)展與分類

　　從前面的介紹，大家已經(jīng)了解到數(shù)字電路是以二值數(shù)字邏輯為基礎(chǔ)的，其工作信號是離散的數(shù)字信號。電路中的電子晶體管工作于開關(guān)狀態(tài)，時而導(dǎo)通，時而截止。
　　數(shù)字電路的發(fā)展與模擬電路一樣經(jīng)歷了由電子管、半導(dǎo)體分立器件到集成電路等幾個時代。但其發(fā)展比模擬電路發(fā)展的更快。從60年代開始，數(shù)字集成器件以雙極型工藝制成了小規(guī)模邏輯器件。隨后發(fā)展到中規(guī)模邏輯器件；70年代末，微處理器的出現(xiàn)，使數(shù)字集成電路的性能產(chǎn)生質(zhì)的飛躍。
　　數(shù)字集成器件所用的材料以硅材料為主，在高速電路中，也使用化合物半導(dǎo)體材料，例如砷化鎵等。
　　邏輯門是數(shù)字電路中一種重要的邏輯單元電路 。TTL邏輯門電路問世較早，其工藝經(jīng)過不斷改進(jìn)，至今仍為主要的基本邏輯器件之一
。隨著CMOS工藝的發(fā)展,TTL的主導(dǎo)地位受到了動搖，有被CMOS器件所取代的趨勢。
　　近年來,可編程邏輯器件PLD特別是現(xiàn)場可編程門陣列FPGA的飛速進(jìn)步，使數(shù)字電子技術(shù)開創(chuàng)了新局面，不僅規(guī)模大，而且將硬件與軟件相結(jié)合，使器件的功能更加完善，使用更靈活。
　　從集成度來說，數(shù)字電路的分類如表1.2.1所示。所謂集成度,是指每一芯片所包含的晶體管（主要指BJT和FET）的個數(shù)。

表1.2.1

　　存儲器也是基本數(shù)字部件之一，其集成度很高。利用存儲器可以記憶或存儲二值數(shù)字１和０。數(shù)字信息的存儲就是將信息寫入存儲器
，從存儲器讀出信息可以恢復(fù)信息。

二、數(shù)字電路的分析方法與測試技術(shù)

1.數(shù)字電路的分析方法

　　數(shù)字電路主要研究對象是電路的輸出與輸入之間的邏輯關(guān)系，因而在數(shù)字電路中不能采用模擬電路的分析方法，例如，小信號模型分析法。由于數(shù)字電路中的器件主要工作在開關(guān)狀態(tài)，因而采用的分析工具主要是邏輯代數(shù)，用功能表、真值表、邏輯表達(dá)式、波形圖等來表達(dá)電路的主要功能。
　　隨著計算技術(shù)的發(fā)展，為了分析、仿真與設(shè)計數(shù)字電路或數(shù)字系統(tǒng)，還可以采用硬件描述語言，使用如ABEL語言等軟件，借助計算機(jī)來分析、仿真與設(shè)計數(shù)字系統(tǒng)。

2.數(shù)字電路的測試技術(shù)

　　數(shù)字電路在正確設(shè)計和安裝后須經(jīng)嚴(yán)格的測試方可使用。事實(shí)上
，在邏輯設(shè)計階段就應(yīng)該考慮到數(shù)字電路的測試。如果對電路的測試目的只是為了檢查電路是否發(fā)生了故障，則稱這種測試為數(shù)字電路的故障檢測；對電路的邏輯功能的測試稱為功能測試或靜態(tài)測試；對電氣特性或時間特性的測試稱為動態(tài)測試；如果測試的目的不僅是為了檢查電路是否有故障，而且還要確定發(fā)生故障的部位，則稱這種測試為故障定位。

3.數(shù)字電路測試技術(shù)中必備的儀器

　　數(shù)字電壓表：用來測量電路中各點(diǎn)的電壓；
　　電子示波器：用來觀察電路中各點(diǎn)的波形；
　　邏輯分析儀：一種專用示波器。