早上好，我有34405A，我已經(jīng)確認(rèn)USB板壞了。我在安捷倫站點(diǎn)的手冊(cè)或“部件”頁(yè)面中找不到與該板相關(guān)的任何部件號(hào)。它上面沒(méi)有安捷倫的數(shù)字，只有中國(guó)公司的數(shù)字，我沒(méi)有太多運(yùn)氣。有誰(shuí)知道這是否有安捷倫
2019-01-10 15:49:28
流、2線電阻、頻率、二極管測(cè)試和連續(xù)性測(cè)量，以滿足一般測(cè)量需要。此外，它的溫度測(cè)試范圍為-80°C到150°C，還能測(cè)量1000 pF 至10000 μF 的電容。 34405A的內(nèi)置6種運(yùn)算功能
2017-12-02 15:25:46
34405A快速入門(mén)指南（多種語(yǔ)言版本）
2019-10-08 15:11:19
Learn more about key features and benefits, technical specifications of the 34405A digital multimeter.
2019-11-06 07:51:48
This Help file contains reference information to help you program the Keysight 34405A digital
2019-10-11 15:44:29
您好，我在Win7 32位上安裝了Agilent IO Libnraries Suite 16.3。當(dāng)我連接34405a（sn MY50290050）時(shí)，Win中的設(shè)備管理器說(shuō)“設(shè)備無(wú)法啟動(dòng)（代碼
2018-11-20 10:23:26
系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試、黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試的區(qū)別黑盒測(cè)試：已知產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)規(guī)格，可以進(jìn)行測(cè)試證明每個(gè)實(shí)現(xiàn)了的功能是否符合要求?！ “缀?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試：已知產(chǎn)品的內(nèi)部工作過(guò)程，可以通過(guò)測(cè)試證明
2008-10-22 12:42:44
隨著集成電路的逐漸開(kāi)發(fā)，集成電路測(cè)試儀從最開(kāi)始的小規(guī)模集成電路逐漸發(fā)展到中規(guī)模、大規(guī)模甚至超大規(guī)模集成電路。集成電路測(cè)試儀分為三大類(lèi)別：模擬與混合信號(hào)電路測(cè)試儀、數(shù)字集成電路測(cè)試儀、驗(yàn)證系統(tǒng)、在線測(cè)試系統(tǒng)、存儲(chǔ)器測(cè)試儀等。目前，智能、簡(jiǎn)單快捷、低成本的集成電路測(cè)試儀是市場(chǎng)上的熱門(mén)。
2019-08-21 07:25:36
集成電路測(cè)試和驗(yàn)證的區(qū)別是什么？
2021-09-27 06:19:12
的晶體管數(shù)目越來(lái)越多，集成電路的電源電壓越來(lái)越低，加工芯片的特征尺寸進(jìn)一步減小，越來(lái)越多的功能，甚至是一個(gè)完整的系統(tǒng)都能夠被集成到單個(gè)芯片之中，這些發(fā)展都使得芯片級(jí)電磁兼容顯得尤為突出?，F(xiàn)在，集成
2014-11-17 09:49:17
我有一臺(tái)Agilent 34405A數(shù)字萬(wàn)用表，我正在嘗試首先上傳最新的固件，然后嘗試在BenchVue軟件包上進(jìn)行測(cè)量，但即使IOconnection顯示我已連接，我也無(wú)法連接或讀取或上傳或無(wú)需此
2018-10-29 15:56:17
持續(xù)集成系統(tǒng)是與代碼倉(cāng)庫(kù)緊密結(jié)合的自動(dòng)化代碼驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)會(huì)對(duì)開(kāi)發(fā)者提交的每一次代碼合入自動(dòng)運(yùn)行一次全平臺(tái)編譯和全功能驗(yàn)證測(cè)試，并通知開(kāi)發(fā)者測(cè)試結(jié)果。系統(tǒng)的運(yùn)行流程為：開(kāi)發(fā)者提交代碼(merge
2018-01-26 15:34:30
您好，昨天我成功安裝了所有安捷倫軟件，并在我的桌面計(jì)算機(jī)上連接了DMM（win7 x64）。 Benchvue正在工作，但我無(wú)法使用安捷倫工具更新DMM固件：“工程師程序中設(shè)置的固件檢查條件無(wú)效”我
2018-10-26 14:36:51
Teraterm中輸出。但是當(dāng)我將它集成到ISE中時(shí)，我無(wú)法接收數(shù)據(jù)包，ARP請(qǐng)求從系統(tǒng)發(fā)送，但ARP回復(fù)不是來(lái)自主板。我在EDK所做的一切正在發(fā)揮作用。鏈接已建立但我無(wú)法接收數(shù)據(jù)包。我正在使用GUI發(fā)送數(shù)據(jù)，我正在監(jiān)控輸出teraterm請(qǐng)幫我解決這個(gè)問(wèn)題。請(qǐng)盡可能盡快回復(fù)。謝謝＆amp;問(wèn)候，馬杜
2020-03-25 09:43:19
ELM34405AA-S - Single P-channel MOSFET - ELM Technology Corporation
2022-11-04 17:22:44
FPGA在嵌入式測(cè)試系統(tǒng)中的優(yōu)勢(shì)是什么？FPGA在嵌入式測(cè)試系統(tǒng)中的不足是什么？
2021-05-06 07:19:22
系統(tǒng)開(kāi)發(fā)者指南_LAN在測(cè)試系統(tǒng)中的使用：設(shè)置系統(tǒng) I/O應(yīng)用指南 1465-15
2019-09-27 09:48:45
現(xiàn)代高集成度的芯片有著“射頻到比特流”(“RF-to-bits”)或“射頻到模擬基帶”的構(gòu)架。射頻部分集成度提高帶來(lái)最大的沖擊之一是測(cè)試模式的轉(zhuǎn)移，即使得系統(tǒng)級(jí)的測(cè)試成為可能。
2019-09-03 06:45:33
RK集成系統(tǒng)apk相對(duì)于MTK的集成方式有何優(yōu)點(diǎn)？RK集成系統(tǒng)apk的集成方式該怎樣去實(shí)現(xiàn)呢？
2022-02-18 07:44:17
大家好，我擁有Xilinx Vivavo 14.4和Matlab 2015a，當(dāng)我試圖將兩者集成到系統(tǒng)生成器時(shí)，我得到的錯(cuò)誤是“沒(méi)有matlab exixting的余地”我該怎么辦，請(qǐng)幫助我
2020-05-05 08:09:03
。此外，它的溫度測(cè)試范圍為-80°C到150°C，還能測(cè)量1000 pF 至10000 μF 的電容。 34405A的內(nèi)置6種運(yùn)算功能— 調(diào)零、dBm、dB、最小最大、極限和保持，進(jìn)一步改進(jìn)了效率和精度
2018-01-12 17:05:59
在高校的教學(xué)實(shí)驗(yàn)環(huán)節(jié)中，需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。目前，市場(chǎng)上存在一種可以對(duì)TTL、CMOS數(shù)字芯片進(jìn)行檢測(cè)的工程應(yīng)用型測(cè)試儀，但是考慮到其價(jià)格較貴，較難滿足學(xué)生人手一臺(tái)；另外，該測(cè)試
2018-12-18 10:20:41
隨著數(shù)字集成電路的廣泛應(yīng)用，測(cè)試系統(tǒng)就顯得越來(lái)越重要。在網(wǎng)絡(luò)化集成電路可靠性試驗(yàn)及測(cè)試系統(tǒng)項(xiàng)目中，需要檢驗(yàn)?zāi)承┚哂袑掚娖椒秶能娪脭?shù)字集成電路芯片，而市場(chǎng)上常見(jiàn)的中小型測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)電平范圍達(dá)不到要求
2018-11-29 14:55:26
集成電路(IC)的靜電放電(ESD)強(qiáng)固性可藉多種測(cè)試來(lái)區(qū)分。最普遍的測(cè)試類(lèi)型是人體模型(HBM)和充電器件模型(CDM)。什么是小尺寸集成電路CDM測(cè)試？?jī)烧咧g有什么區(qū)別？
2019-08-07 08:17:22
操作，將讀出的256*64bits數(shù)據(jù)寫(xiě)入到FPGA的片內(nèi)RAM中。在Quartus II集成的In-System Memory Content Editor中可以查看片內(nèi)RAM中規(guī)律變化的數(shù)據(jù)。本實(shí)例系統(tǒng)功能框圖如圖4.1所示。 圖4.1 工程實(shí)例2功能框圖 `
2016-10-08 17:05:55
嗨，我正在使用Virtex5 Fpga，在FPGA中我必須將ise集成到EDK中，所以你能幫助我如何將ISE集成到EDK中。謝謝＆amp;問(wèn)候馬杜
2020-03-26 07:02:31
低成本高精度、高系統(tǒng)解析度的多路復(fù)合系統(tǒng)，可以將這些要求都集成到一個(gè)電路中嗎？
2021-04-14 06:59:56
嘿，我在Windows 8上使用帶有34405A數(shù)字萬(wàn)用表的BenchVue，我遇到了問(wèn)題。每當(dāng)我開(kāi)始錄音時(shí)，一切都會(huì)順利進(jìn)行（幾秒鐘或幾分鐘），直到最后DMM大聲發(fā)出幾聲嘟嘟聲，然后給出一條
2019-03-04 06:33:44
Systemverilog [1]和 UVM [2]為驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)提供結(jié)構(gòu)和規(guī)則。它使得在許多測(cè)試中能獲得一致的結(jié)果，并可以在團(tuán)隊(duì)之間共享驗(yàn)證。許多驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)都在使用由C代碼編寫(xiě)的驗(yàn)證套件。本文將討論將基于C的測(cè)試和驗(yàn)證套件集成到常規(guī)UVM測(cè)試平臺(tái)的各種方法。
2020-12-11 07:59:44
Systemverilog [1]和 UVM [2]為驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)提供結(jié)構(gòu)和規(guī)則。它使得在許多測(cè)試中能獲得一致的結(jié)果，并可以在團(tuán)隊(duì)之間共享驗(yàn)證。許多驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)都在使用由C代碼編寫(xiě)的驗(yàn)證套件。本文將討論將基于C的測(cè)試和驗(yàn)證套件集成到常規(guī)UVM測(cè)試平臺(tái)的各種方法。
2020-12-15 07:38:34
一般而言，手持式儀表、數(shù)據(jù)記錄器、車(chē)載和監(jiān)控系統(tǒng)都要求一種低成本高精度、高系統(tǒng)解析度的多路復(fù)合系統(tǒng)。可以將這些要求都集成到一個(gè)電路中嗎？能夠處理這些多樣性需求的系統(tǒng)，要求一個(gè)多路復(fù)用器、增益單元和一個(gè)模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。
2019-08-20 06:10:16
既可以是多個(gè)相同的chiplet，以提高系統(tǒng)性能；也可以是不同的chiplet，以經(jīng)濟(jì)高效的方式為系統(tǒng)帶來(lái)更多功能。通常，chiplet由不同的供應(yīng)商生產(chǎn)之后，集成到同一封裝中。如圖]圖]單個(gè)die
2020-10-25 15:34:24
利用LabWindows/CVI和 LabVIEW FPGA開(kāi)發(fā)集成的航空電子測(cè)試系統(tǒng)？
2021-04-15 06:00:03
如何去實(shí)現(xiàn)并行SMU-per-pin ACS集成測(cè)試系統(tǒng)？
2021-05-07 06:05:38
大家好，我是VEE的新手。希望有人可以告訴我/給我一個(gè)示例程序。我需要使用34405A萬(wàn)用表使用VEE進(jìn)行平均數(shù)據(jù)采集。下面的附件是我使用的示例語(yǔ)法。有人可以指導(dǎo)我這個(gè)。謝謝。順便說(shuō)一句，它總是返回
2019-03-13 07:07:25
我想請(qǐng)求你的幫助。我想將工業(yè)環(huán)境中使用的支持 IO-Link 的傳感器集成到智能家居系統(tǒng)中。（HomeKit、谷歌主頁(yè)……）我不是軟件工程師，我只是想知道用SDK Kit是否可行？
2023-04-18 08:49:48
本設(shè)計(jì)實(shí)例進(jìn)一步拓展了以前將步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器集成到CPLD中的設(shè)計(jì)。
2021-05-06 07:01:05
如何把libview集成到其他web工程項(xiàng)目？libview提供了自己的web服務(wù)，但是希望把libview的視圖集成到web工程項(xiàng)目，是否可行請(qǐng)各位指教？如果不能直接集成，libview是否可以
2022-07-18 12:54:15
），通常也叫寄存器模型，顧名思義就是對(duì)寄存器這個(gè)部件的建模。本文要介紹的內(nèi)容，包括對(duì)UVM寄存器模型的概述，如何構(gòu)建寄存器模型，以及如何將寄存器模型集成到驗(yàn)證環(huán)境中。篇幅原因，將在下一篇文章再給出寄存器
2022-09-23 14:29:03
在本文中，我將首先討論兩種開(kāi)發(fā) RFID 應(yīng)用程序的方法:傳統(tǒng)方法和 RFID Web服務(wù)。然后，我將 討論把 RFID Web服務(wù)集成到多個(gè) SOA 中的 EAI 應(yīng)用程序?qū)⑷绾翁岣邘?RFID
2019-07-17 06:31:53
本文將討論3D集成系統(tǒng)相關(guān)的一些主要測(cè)試挑戰(zhàn)，以及如何通過(guò)Synopsys的合成測(cè)試解決方案迅速應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)
2021-05-10 07:00:36
嗨，我們?cè)谕慌_(tái)計(jì)算機(jī)上通過(guò)USB使用兩個(gè)Agilent 34405A時(shí)遇到問(wèn)題。我們有與此處所述相同的行為：http：//forums.ni.com/t5/Instrument-Cont
2019-07-18 10:06:19
在學(xué)校的教學(xué)實(shí)驗(yàn)環(huán)節(jié)，需要大量地使用一些基本功能的集成芯片。譬如74/54系列的門(mén)電路，AD/DA芯片,放大器，比較器，三極管，光耦等。 由于學(xué)生初學(xué)電路，使用過(guò)程中，存在很多偶然的低級(jí)錯(cuò)誤，造成
2013-04-28 16:17:07
無(wú)線通信產(chǎn)業(yè)的巨大成長(zhǎng)意味著對(duì)于無(wú)線設(shè)備的元器件和組件的測(cè)試迎來(lái)了大爆發(fā)，包括對(duì)組成通信系統(tǒng)的各種RFIC 和微波單片集成電路的測(cè)試。這些測(cè)試通常需要很高的頻率，普遍都在GHz范圍。本文討論了射頻
2019-07-10 08:02:09
無(wú)線通信產(chǎn)業(yè)的巨大成長(zhǎng)意味著對(duì)于無(wú)線設(shè)備的元器件和組件的測(cè)試迎來(lái)了大爆發(fā)，包括對(duì)組成通信系統(tǒng)的各種RFIC和微波單片集成電路的測(cè)試。這些測(cè)試通常需要很高的頻率，普遍都在GHz范圍。本文討論了射頻
2019-07-10 06:34:58
Application note: This application note gives you tips on how to integrate the 34405A DMM to a test system.
2019-10-17 13:22:42
嗨，我正在嘗試通過(guò)USB電纜將Agilent 34405A儀表連接到我的工作筆記本電腦（運(yùn)行Windows 7 Professional 64位的HP Elitebook 8440p）。我安裝
2019-07-30 12:05:16
怎么把STM32的mcuisp集成到labview中？
2015-12-08 16:39:34
如何將我自己的 .c 文件集成到 Touch GFX 生成的代碼中？求大神解答
2022-12-19 08:49:05
我無(wú)法更新34405A上的固件并收到錯(cuò)誤消息，請(qǐng)參閱附件圖片。我試過(guò)兩臺(tái)計(jì)算機(jī)，一臺(tái)是Labview，一臺(tái)沒(méi)有。結(jié)果是一樣的。儀器上的序列號(hào)與軟件上的序列號(hào)不匹配。使用Labview與儀器的通信工作
2019-04-22 14:54:05
混合信號(hào)系統(tǒng)測(cè)試內(nèi)容并不限于混合信號(hào)系統(tǒng)測(cè)試，而是一般芯片或模塊測(cè)試的全過(guò)程，只是以ADC和DAC為例說(shuō)明芯片外特性測(cè)試的全過(guò)程。本章更多地是講測(cè)試中的數(shù)據(jù)處理方法，間或涉及到測(cè)試電路. [/hide]
2009-11-20 14:28:16
當(dāng)代電子電路設(shè)計(jì)中，特別是嵌入式電路設(shè)計(jì)，面臨很多新技術(shù)的挑戰(zhàn)，如：更多的總線應(yīng)用，更高速的時(shí)鐘和數(shù)字信號(hào)，集成度更高的PCB設(shè)計(jì)，很多設(shè)計(jì)中還融入了RF功能。面對(duì)這樣的設(shè)計(jì)工作，工程師需要相應(yīng)
2019-08-09 06:48:24
用于多站點(diǎn)并行測(cè)試的ACS集成測(cè)試系統(tǒng)，看完你就懂了
2021-05-06 07:11:30
本應(yīng)用筆記的目的是提供系統(tǒng)和硬件集成指南，用于將 LPS33HW 防水壓力傳感器集成到客戶的最終應(yīng)用中。本文檔沒(méi)有修改官方數(shù)據(jù)手冊(cè)的內(nèi)容。請(qǐng)參考數(shù)據(jù)手冊(cè)獲取參數(shù)說(shuō)明。
2023-09-05 06:31:12
調(diào)理模塊集成到PXI系統(tǒng)中。本設(shè)計(jì)中所采用的是NI公司生產(chǎn)的PXI-6251多功能數(shù)據(jù)采集卡，其主要參數(shù)如下：16路模擬輸入通道，16位精度，1.25MS/s采樣率；2路模擬輸出，16位精度
2018-03-26 14:24:58
要求是LabVIEW環(huán)境下采用雷諾集成式CT15-V-B-B-6渦輪流量傳感器及cDAQ-9178控制機(jī)箱和NI-9215電壓輸入模塊設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)液壓系統(tǒng)流量測(cè)試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)液壓系統(tǒng)流量的實(shí)時(shí)測(cè)試與數(shù)據(jù)處理。應(yīng)該是需要采集流量數(shù)據(jù)吧，可是我在DAQ的模擬輸入里沒(méi)有找到啊，只有壓力
2017-01-25 12:02:07
如何判定集成電路的好壞？集成電路的測(cè)試有什么技巧？
2021-04-14 06:51:19
請(qǐng)問(wèn)電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)如何完美軸對(duì)中？
2021-05-08 07:23:20
臺(tái)架結(jié)構(gòu)，電控單元、開(kāi)關(guān)和負(fù)載參考在實(shí)車(chē)中的位置布置 ?能夠繼承原始的實(shí)車(chē)線束，一定程度上評(píng)估原車(chē)線束和各部件性能 ?通過(guò) HIL 系統(tǒng)仿真動(dòng)力系統(tǒng)各種工況，從而完成舒適系統(tǒng)的在各種動(dòng)態(tài)工況下的功能測(cè)試 ?通過(guò)集成自動(dòng)測(cè)試軟件，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試`
2021-07-06 10:34:19
顯示器需要“靈巧集成”，因?yàn)樵诮M合各種顯示接口功能時(shí)還要克服一些重大技術(shù)難題。如果要把高性能模擬電路和高速數(shù)字電路集成到一個(gè)解決方案中，需要有專(zhuān)門(mén)的混合信號(hào)設(shè)計(jì)技術(shù)方面的經(jīng)驗(yàn)。一個(gè)集成的接口需要產(chǎn)品
2018-12-13 09:53:01
UI120C系列集成BMS測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)混合動(dòng)力汽車(chē)、純電動(dòng)汽車(chē)BMS測(cè)試的需求而推出的高精度集成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案?？梢酝ㄟ^(guò)專(zhuān)用硬件配合系統(tǒng)軟件完整仿真汽車(chē)動(dòng)力電池組的各種工作狀態(tài)與故障狀態(tài)
2021-12-02 10:58:33
UI300系列MEMS芯片測(cè)試系統(tǒng)是由聯(lián)合儀器推出的基于PXI架構(gòu)的針對(duì)MEMS傳感器的高度集成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案。該系統(tǒng)可以通過(guò)專(zhuān)用的硬件
2021-12-13 17:15:49
本文針對(duì)艦船消磁設(shè)備的測(cè)試需求，設(shè)計(jì)了基于虛擬儀器技術(shù)的集成測(cè)試系統(tǒng)。本文從硬件、軟件兩個(gè)方面介紹了該系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案與實(shí)現(xiàn)方法。該系統(tǒng)采用了USB 通用串行總線，
2009-08-31 11:10:54
11 《VXI 數(shù)?；旌?b class="flag-6" style="color: red">集成電路測(cè)試系統(tǒng)》的開(kāi)發(fā)，對(duì)于集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證、集成電路測(cè)試都有著極其重要的意義。VXI 總線測(cè)試系統(tǒng)由于其開(kāi)放性、可擴(kuò)展性及模塊化結(jié)構(gòu)使其應(yīng)用廣泛
2009-12-19 15:23:1623 一、產(chǎn)品應(yīng)用電纜振蕩波局放測(cè)試系統(tǒng)是集成式局部放電定位系統(tǒng)，主要用于中壓電纜的局放診斷。系統(tǒng)測(cè)試頻率為20Hz到幾百赫茲的阻尼交流電壓（DAC）。系統(tǒng)在測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的阻尼交流電壓峰值
2023-07-24 09:39:11
集成電路EMC測(cè)試系統(tǒng)-依據(jù)IEC 61967-4的IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)-傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量方法--1Ω/150Ω 直接耦合法:集成電路電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，目前出版的有集成電路電磁發(fā)射測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC61967和集
2010-07-18 10:28:3942 主要特性1. 34405A 高性價(jià)比的 5½ 位數(shù)字萬(wàn)用表2. 34401A 業(yè)界領(lǐng)先的 6½ 位數(shù)字萬(wàn)用表3. 34410A 高性能的 6½ 位數(shù)字萬(wàn)用表4. 34411A 性能更強(qiáng)的 6&
2010-08-09 10:24:4028 系統(tǒng)測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試、回歸測(cè)試
單元測(cè)試：?jiǎn)卧?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試是對(duì)軟件中的基本組成單位進(jìn)行
2008-10-22 12:38:39
1651 黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試的區(qū)別黑盒測(cè)試：已知產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)規(guī)格，可以進(jìn)行測(cè)試證明每個(gè)實(shí)現(xiàn)了的功能是否符
2008-10-22 12:43:172363 介紹使用Agilent VEE軟件在IEEE4 88總線上對(duì)儀器進(jìn)行控制，進(jìn)而建立的以PC機(jī)為中心的集成電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。 關(guān)鍵詞：自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)；GP-IB總線；VEE
Integrated Capacitance Automat
2009-10-15 21:44:141385 
一種數(shù)字
集成電路
測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
隨著數(shù)字
集成電路的廣泛應(yīng)用，
測(cè)試系統(tǒng)就顯得越來(lái)越重要。在網(wǎng)絡(luò)化
集成電路可靠性試驗(yàn)及
測(cè)試系統(tǒng)項(xiàng)目中，需要檢驗(yàn)?zāi)承┚哂袑?/div>
2009-11-10 10:40:44756 
封裝技術(shù)的進(jìn)步推動(dòng)了三維（3D）集成系統(tǒng)的發(fā)展。3D集成系統(tǒng)可能對(duì)基于標(biāo)準(zhǔn)封裝集成技術(shù)系統(tǒng)的性能、電源、功能密度和外形尺寸帶來(lái)顯著改善。雖然這些高度集成系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和測(cè)試
2012-06-01 09:25:321437 
通過(guò)對(duì)IMS 公司生產(chǎn)的集成電路測(cè)試系統(tǒng)ATS 的描述，討論了集成電路(IC)的測(cè)試技術(shù)及其在ATS 上的應(yīng)用方法，并以大規(guī)模集成電路芯片8255 為例，給出一種芯片在該集成電路測(cè)試系統(tǒng)上從功能分析到具體測(cè)試的使用過(guò)程。
2016-09-01 17:24:530 LYB-100集成電路測(cè)試系統(tǒng)，是遼陽(yáng)儀器儀表高新技術(shù)有限公司為集成電路器件參數(shù)的快速、準(zhǔn)確、無(wú)損測(cè)試而研制的綜合系統(tǒng)，它由運(yùn)行于上位機(jī)（PC機(jī)）的系統(tǒng)軟件和通過(guò)串行口連接的對(duì)集成電路器件進(jìn)行測(cè)控的系列集成電路測(cè)試儀組成。
2017-09-07 18:32:3610 本文以集成電路測(cè)試儀為中心、主要介紹了什么是集成電路測(cè)試儀、集成電路測(cè)試儀有哪些種類(lèi)、電路測(cè)試儀的組成以及集成電路測(cè)試儀的選購(gòu)技巧。
2017-12-20 11:33:5113078 ? 集成電路產(chǎn)品EMC測(cè)試系統(tǒng)是嚴(yán)格按照IEC 61967和IEC 62132系列進(jìn)行設(shè)計(jì)，整套系統(tǒng)的功能和性能不僅能夠滿足上述兩大類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)要求的測(cè)試項(xiàng)目。而且在系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)具有創(chuàng)新性、實(shí)踐可行性
2020-12-28 10:41:573715 SYS.4.BP3:系統(tǒng)集成測(cè)試的開(kāi)發(fā)規(guī)范。根據(jù)系統(tǒng)集成測(cè)試策略，制定系統(tǒng)集成測(cè)試規(guī)范，包括系統(tǒng)項(xiàng)目的每個(gè)集成步驟的測(cè)試用例。測(cè)試規(guī)范應(yīng)適合于為集成系統(tǒng)項(xiàng)目與系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計(jì)的合規(guī)性提供證據(jù)。[outcome3]
2021-03-04 17:14:503357 系統(tǒng)集成測(cè)試(SIT)，在軟件系統(tǒng)和軟件工程的背景下，是一個(gè)練習(xí)軟件系統(tǒng)與他人共存的測(cè)試過(guò)程。系統(tǒng)集成測(cè)試將多個(gè)已通過(guò)系統(tǒng)測(cè)試的集成系統(tǒng)作為輸入，并測(cè)試它們所需的交互。按照此過(guò)程，將可交付的系統(tǒng)傳遞給驗(yàn)收測(cè)試。
2022-03-11 10:39:066549 安立公司宣布深圳星航物連科學(xué)技術(shù)有限公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)：深圳星航）已將安立無(wú)線連接測(cè)試儀MT8862A集成到其多探頭系列OTA測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品上，星航物連多探頭OTA暗室結(jié)合MT8862A，可以支持最新的802.11ax 6 GHz頻段（Wi-Fi 6E）WLAN標(biāo)準(zhǔn)OTA測(cè)試。
2022-04-29 15:01:211985 集成電路封裝測(cè)試是指對(duì)集成電路封裝進(jìn)行的各項(xiàng)測(cè)試，以確保封裝的質(zhì)量和性能符合要求。封裝測(cè)試通常包括以下內(nèi)容。
2023-05-25 17:32:521382 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《基于實(shí)驗(yàn)室自動(dòng)化的ACS集成測(cè)試系統(tǒng).doc》資料免費(fèi)下載
2023-10-24 11:35:380 如何用集成電路芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化？ 集成電路芯片老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估芯片長(zhǎng)期使用后性能穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用，人們對(duì)芯片的可靠性要求日益增高，因此老化測(cè)試
2023-11-10 15:29:05680 已全部加載完成
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