1 USB EHCI 主端控制器測(cè)試

　　每個(gè)設(shè)備應(yīng)該能響應(yīng)USB規(guī)范所定義的控制請(qǐng)求。主端應(yīng)該能利用主端控制器經(jīng)USB纜線送出控制需求到USB設(shè)備。

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　　圖3 EHCI 主端控制器測(cè)試架構(gòu)

　　測(cè)試方法如下：USB測(cè)試Class驅(qū)動(dòng)呼叫由USB IP核提供更高層的API，經(jīng)USB子系統(tǒng)送出需求到USB設(shè)備。接著, 主端經(jīng)控制端點(diǎn)(Endpoint)接受控制IN/OUT，然后解析/獲得回應(yīng)數(shù)據(jù)/狀況用以核對(duì)其正確性。此外, 每個(gè)USB設(shè)備應(yīng)該包含幾個(gè)必需的描述符并依靠所接受的Get_Descriptor需求的內(nèi)容來回應(yīng)這些描述符。圖3中PC安裝Windows 2000或是Windows XP，利用ARM ADS1.2的AxD調(diào)試器，F(xiàn)A5 CPU的ICE一端連接PC的打印機(jī)口或是USB口，另一端連接開發(fā)板，開發(fā)板的另一端則是各種USB設(shè)備，如USB集線器、攝像頭、鼠標(biāo)、鍵盤和U盤。

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　　圖4 互測(cè)SNP和HNP的連接架構(gòu)

　　2 OTG 測(cè)試

　　利用兩臺(tái)USB OTG開發(fā)板互測(cè)SNP和HNP的連接架構(gòu)如圖4所示。

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　　圖5 大量存儲(chǔ)的應(yīng)用測(cè)試

　　應(yīng)用測(cè)試

　　如圖5所示，設(shè)計(jì)一個(gè)SD卡主端應(yīng)用來做演示, SD卡的大量存儲(chǔ)用以測(cè)試FOTG200功能。FOTG200是智原的USB 2.0 OTG控制器, 能作為一個(gè)雙重角色。作為主設(shè)備，它包含一個(gè)USB主端制器，能支援所有速度的事務(wù)。無須軟件干涉的情形下，主端制器能處理一個(gè)基于事務(wù)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)以減去主控CPU的負(fù)擔(dān)，自動(dòng)地在USB總線上轉(zhuǎn)送和接收數(shù)據(jù)。作為從設(shè)備，每個(gè)端點(diǎn)，除了端點(diǎn)0，都承擔(dān)可編程的HS/FS傳輸類型提供彈性以適應(yīng)各式各樣的應(yīng)用。

　　在這個(gè)應(yīng)用上, USB子系統(tǒng)由USB IP核、EHCI HCD控制器、USB大量存儲(chǔ)Class驅(qū)動(dòng)、文件系統(tǒng)和SD卡設(shè)備驅(qū)動(dòng)所組成。因此,主端設(shè)備能夠讀/寫文檔到SD卡(外部設(shè)備)。順便也能驗(yàn)證大量存儲(chǔ)Class驅(qū)動(dòng)和Bulk IN/OUT傳輸?shù)墓δ堋?/p>

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