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標簽 > 芯片測試
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近日,中信證券研究部、景順長城基金機構(gòu)到成都華微調(diào)研,就產(chǎn)品優(yōu)勢及行業(yè)相關(guān)情況進行交流訪談,成都華微董事會秘書李春妍、檢測工程部副部長李江陵陪同調(diào)研。 ...
2022-10-31 標簽:芯片測試 761 0
中國集成電路設(shè)計業(yè)2022年會暨廣州集成電路產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展高峰論壇將于2022年11月9日—10日于廣州保利世貿(mào)博覽館舉行。作為業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的半導(dǎo)體測試設(shè)備供...
因為在芯片在制造過程中,不可避免的會出現(xiàn)缺陷,芯片測試就是為了發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生缺陷的芯片。
可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板與振弦傳感器測量模塊
可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板與振弦傳感器測量模塊 可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 可編程USB轉(zhuǎn) UART/I2C /SMBusS/SPI/C...
可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 ?SHT3x-DIS 溫濕度傳感器芯片 可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 ?SHT3x-DIS 溫濕度傳感器芯片 ...
可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 S2S 功能介紹
可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 S2S 功能介紹 USB2S 支持基于 STC 單片機的二次開發(fā),若有需要,可參照原理圖和單片機型號手冊自行開發(fā)具有...
可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板的詳細接口與功能
可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板的詳細接口與功能 可編程 USB 轉(zhuǎn) UART/I2C/SMBus/SPI/CAN/1-Wire 適配器 USB2S(...
封裝測試是將生產(chǎn)出來的合格晶圓進行切割、焊線、塑封,使芯片電路與外部器件實現(xiàn)電氣連接,并為芯片提供機械物理保護,并利用集成電路設(shè)計企業(yè)提供的測試工具,對...
萬物互聯(lián)時代,看IoT測試如何應(yīng)對“芯”挑戰(zhàn)
7月20日15:00,《測試那些事兒》系列直播第二期——萬物互聯(lián)時代,IoT測試如何幫助企業(yè)降本增效如約開播。直播間氣氛輕松活躍,討論熱烈,人氣高漲、圈...
2022-07-21 標簽:物聯(lián)網(wǎng)芯片測試IOT 749 0
一直以來,芯片測試行業(yè)都被看成是芯片封測的一部分。而縱觀國內(nèi)芯片行業(yè)的整體情況,傳統(tǒng)一體化封裝測試企業(yè)無法滿足當下的需求。傳統(tǒng)一體化封測企業(yè)的測試業(yè)務(wù)往...
芯片測試技術(shù)服務(wù)商利揚芯片發(fā)布2022第一季度報告
芯片測試技術(shù)服務(wù)商廣東利揚芯片測試股份有限公司發(fā)布2022第一季度報告,具體內(nèi)容如下。 一、 主要財務(wù)數(shù)據(jù) (一)主要會計數(shù)據(jù)和財務(wù)指標 單位:元 幣種...
芯片測試座檢查在線的單個元器件以和各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況,具有操作簡單、故障定位準確,快捷迅速等特點。簡單點描述就是一個連接導(dǎo)通的插座;
2022-05-24 標簽:電子產(chǎn)品芯片測試老化測試 5137 0
芯片測試技術(shù)服務(wù)商利揚芯片發(fā)布2021年報
芯片測試技術(shù)服務(wù)商廣東利揚芯片測試股份有限公司發(fā)布2021年報,具體內(nèi)容如下。 近三年主要會計數(shù)據(jù)和財務(wù)指標 (一) 主要會計數(shù)據(jù) 單位:元 幣種:人民...
芯片測試商利揚芯片向特定對象發(fā)行股票的申請獲得批復(fù)
日前,廣東利揚芯片測試股份有限公司關(guān)于向特定對象發(fā)行股票申請獲得中國證券監(jiān)督管理委員會同意注冊批復(fù);利揚芯片發(fā)布了正式公告。 廣東利揚芯片測試股份有限公...
摩爾精英宣布ATE測試專家王興仁先生擔任芯片測試服務(wù)副總裁
Ivan將帶來他近三十年的芯片ATE測試技術(shù)管理經(jīng)驗和先進運營管理方法學(xué),為摩爾精英測試服務(wù)業(yè)務(wù)帶來增長新動能。
測試技術(shù)助力芯片制造過程中質(zhì)量和良率提升
在芯片設(shè)計,流片,制造,封裝,測試等一系列過程中,每個環(huán)節(jié)都不允許出現(xiàn)任何的差錯或失誤,否則將導(dǎo)致研發(fā)成本的提高,質(zhì)量的下降,并延誤產(chǎn)品的上市時間,從而...
2019-12-05 標簽:半導(dǎo)體物聯(lián)網(wǎng)芯片測試 3180 0
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