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標(biāo)簽 > 白光干涉儀
干涉儀是一種對光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測光路。
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提高競爭力!創(chuàng)新助力新質(zhì)生產(chǎn)力!中圖儀器補(bǔ)齊國產(chǎn)精密測量短板
新質(zhì)生產(chǎn)力是科技進(jìn)步和生產(chǎn)方式變革下的新型生產(chǎn)力形態(tài),強(qiáng)調(diào)智能化、靈活化、個(gè)性化和高質(zhì)量化。中圖儀器通過自主研發(fā)高精度測量儀器和激光跟蹤儀,推動制造業(yè)生...
文章介紹了白光干涉儀的Z軸垂直精度和XY橫向精度的相關(guān)概念,包括垂直分辨率、RMS重復(fù)性、臺階重復(fù)性等,以及影響精度的因素,并強(qiáng)調(diào)使用環(huán)境的穩(wěn)定性對精度...
優(yōu)可測白光干涉儀AM-7000系列測量心臟支架表面粗糙度應(yīng)用案例
??心臟支架作為一種常用的心臟介入手術(shù)醫(yī)療器械在治療心臟疾病方面的重要作用,心臟支架的構(gòu)造和表面粗糙度對治療效果至關(guān)重要。本文將分享優(yōu)可測白光干涉儀AM...
上兩期介紹了粗糙度的概念、設(shè)備,也著重說明了白光干涉原理在粗糙度的應(yīng)用優(yōu)勢,而目前半導(dǎo)體、3C制造、材料、精密加工等領(lǐng)域,除了粗糙度,還會涉及到臺階高度...
在3D打印的過程中,精密測量技術(shù)起到重要作用,包括對原始設(shè)計(jì)模型的測量、實(shí)時(shí)監(jiān)測打印過程中的尺寸變化和形狀偏差,以及檢測打印成品的尺寸、形狀、表面粗糙度...
中圖儀器SuperView W1白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
2022-03-08 標(biāo)簽:白光干涉儀 866 0
SuperViewW1白光干涉儀的拼接測量功能,能夠針對樣品的同一區(qū)域進(jìn)行不同模式的檢測。3軸光柵閉環(huán)反饋,在樣品表面抽取多個(gè)區(qū)域測量,可以快速實(shí)現(xiàn)大區(qū)...
中圖儀器SuperViewW系列白光干涉儀采用的是非接觸式光學(xué)測量,在獲得實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的同時(shí),不會對產(chǎn)品造成任何損傷,從而有效節(jié)約了生產(chǎn)成本,提高了生產(chǎn)效率...
2022-04-25 標(biāo)簽:白光干涉儀 857 0
白光干涉儀AM系列助力3D打印技術(shù)的科研發(fā)展
自品牌開創(chuàng)以來,優(yōu)可測一直秉承著“用心檢測”的理念,樂于協(xié)助高校、研究院以及實(shí)驗(yàn)室的學(xué)子、老師進(jìn)行學(xué)術(shù)研究,助力3D打印技術(shù)發(fā)展以及行業(yè)創(chuàng)新,推動中國科...
從“制造”到“智造”:中圖光學(xué)測量儀器的進(jìn)階與應(yīng)用
在當(dāng)今全球化和科技快速發(fā)展的時(shí)代,制造業(yè)正經(jīng)歷著從傳統(tǒng)的“制造”模式向智能化的“智造”模式的深刻轉(zhuǎn)變。消費(fèi)者對產(chǎn)品質(zhì)量和個(gè)性化的要求越來越高,產(chǎn)品的更新...
優(yōu)可測白光干涉儀:助力手機(jī)玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用
手機(jī)蓋板材料從塑料、金屬到玻璃/陶瓷,再到納米紋理玻璃,不斷革新以滿足消費(fèi)者需求。其中,影響手機(jī)玻璃蓋板關(guān)鍵因素包括蝕刻深度、角度、粒子統(tǒng)計(jì)、粗糙度等。...
上兩期介紹了粗糙度的概念、設(shè)備,也著重說明了白光干涉原理在粗糙度的應(yīng)用優(yōu)勢, 而目前半導(dǎo)體、3C制造、材料、精密加工等領(lǐng)域, 除了粗糙度,還會涉及到臺階...
納米級形貌快速測量,優(yōu)可測白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展
研究摩擦學(xué),能帶來什么價(jià)值?從摩擦磨損到亞納米級精度,白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展?
入駐眾多科研機(jī)構(gòu),優(yōu)可測白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布
近年來,優(yōu)可測白光干涉儀在科研領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,被多篇科研論文使用,在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領(lǐng)域的研究成果,展示了其在高...
優(yōu)可測攜精密測量黑科技閃耀登場,更多展會活動與精美禮品等著您
優(yōu)可測將參加2024慕尼黑上海光博會和ITES深圳工業(yè)展,展出高精密測量儀器、設(shè)備以及傳感器,并準(zhǔn)備現(xiàn)場活動與禮品。了解產(chǎn)品詳情和行業(yè)應(yīng)用,請?jiān)L問優(yōu)可測展臺。
氧化鎵襯底表面粗糙度和三維形貌,優(yōu)可測白光干涉儀檢測時(shí)長縮短至秒級!
傳統(tǒng)AFM檢測氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右,優(yōu)可測白光干涉儀檢測方案僅需3秒,百倍提升檢測效率!
一鍵對焦+一鍵調(diào)平,測量效率提升7倍 | 優(yōu)可測全新旗艦白光干涉儀發(fā)布
測量精度小于1納米,性能進(jìn)入全球一梯隊(duì),優(yōu)可測旗艦白光干涉儀發(fā)布
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