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測(cè)試

測(cè)試

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測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。

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測(cè)試技術(shù)

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車規(guī)VS非車規(guī)的差異1.可靠性要求車規(guī)級(jí):車規(guī)級(jí)產(chǎn)品在可靠性方面的要求極為嚴(yán)苛,其缺陷率需控制在百萬(wàn)分之一(PPM)級(jí)別,設(shè)計(jì)壽命通常為15年或20萬(wàn)公...

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使用HY-PWH系列電源進(jìn)行電解池能力測(cè)試

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FIB測(cè)試技術(shù):從原理到應(yīng)用

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2025-03-18 標(biāo)簽:測(cè)試fib離子束 446 0

是德科技解析光隔離探頭構(gòu)造與特性  光隔離探頭的典型測(cè)試案例

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2025-03-19 標(biāo)簽:測(cè)試探頭是德科技 708 0

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“萬(wàn)物電氣化”影響著社會(huì)和工業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域。為了實(shí)現(xiàn)可持續(xù)性發(fā)展的經(jīng)濟(jì)轉(zhuǎn)型,需要低成本且高效的電力電子技術(shù)來(lái)滿足各種應(yīng)用需求。這不僅要求為每個(gè)特定應(yīng)用開(kāi)發(fā)...

2025-03-18 標(biāo)簽:測(cè)試HIL電動(dòng)化 357 0

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IP68與IP67,代表電子設(shè)備頂級(jí)防水防塵能力,是高品質(zhì)的象征。IP68更強(qiáng)悍,可長(zhǎng)時(shí)深潛;IP67亦卓越,能短時(shí)浸泡。精誠(chéng)工科氣密性檢測(cè)儀,精準(zhǔn)模擬...

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前言 本文主要提供了一種單元測(cè)試方法,力求0基礎(chǔ)人員可以從本文中受到啟發(fā),可以搭建一套好用的單元測(cè)試環(huán)境,并能切實(shí)的提高交付代碼的質(zhì)量。 極簡(jiǎn)體現(xiàn)在除了...

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2025年氣密性測(cè)試設(shè)備使用教程:入門必看,氣密性測(cè)試儀使用方法

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2025-03-07 標(biāo)簽:集成電路測(cè)試可靠性試驗(yàn) 474 0

密封測(cè)試儀:提高測(cè)試效率,降低成本

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2025-03-06 標(biāo)簽:測(cè)試功率放大器 628 0

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Nexperia Lattice KEMET 順絡(luò)電子 霍尼韋爾 pulse ISSI NXP
Xilinx 廣瀨電機(jī) 金升陽(yáng) 君耀電子 聚洵 Liteon 新潔能 Maxim
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數(shù)字隔離器 ESD 保護(hù) 收發(fā)器 橋接器 多路復(fù)用器 氮化鎵 PFC 數(shù)字電源
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5G m2m DSP MCU ASIC CPU ROM DRAM
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