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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專(zhuān)用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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示波器的觸發(fā)功能在正確的信號(hào)點(diǎn)同步水平掃描,這對(duì)清楚地檢定信號(hào)至關(guān)重要。觸發(fā)控制功能可以穩(wěn)定重復(fù)的波形,捕獲單次波形。通過(guò)重復(fù)顯示輸入信號(hào)的同一部分觸發(fā)...
新能源車(chē)產(chǎn)線必備!汽車(chē)電子組裝測(cè)試線憑啥讓產(chǎn)能翻倍?
新能源車(chē)市場(chǎng)滲透率狂飆到35%,但有個(gè)“致命傷”讓車(chē)企頭疼:電子部件檢測(cè)效率太低! 某造車(chē)新勢(shì)力高管曾吐槽:“沒(méi)有這條‘超級(jí)產(chǎn)線’,我們的交付周期至少拖...
斷連塊應(yīng)用于飛控測(cè)試環(huán)境斷線測(cè)試箱
斷連塊概述Overviewofdisconnectedblocks斷連塊是一種用于電路中斷連接的連接器,廣泛應(yīng)用于電子測(cè)試設(shè)備和通信系統(tǒng)中。它能夠在特定...
本文重點(diǎn)圍繞焊點(diǎn)機(jī)械性能指標(biāo)的測(cè)試方法和判定標(biāo)準(zhǔn),介紹了焊點(diǎn)測(cè)試、過(guò)程能力指數(shù)以及焊接不良的分析。 ? 鍵合絲焊接質(zhì)量控制鍵合絲焊接質(zhì)量的控制需綜合考慮...
恒溫恒濕試驗(yàn)箱是現(xiàn)代工業(yè)和科研領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用的環(huán)境測(cè)試設(shè)備,主要用于模擬各種極端的溫濕度環(huán)境,以測(cè)試產(chǎn)品在特定條件下的性能。然而,在設(shè)備的使用過(guò)程中,降...
2024-09-14 標(biāo)簽:測(cè)試試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備 724 0
在現(xiàn)代電子設(shè)備的設(shè)計(jì)中,EMC已成為一個(gè)不可忽視的重要議題。它關(guān)乎設(shè)備能否在復(fù)雜的電磁環(huán)境中正常運(yùn)行,以及是否會(huì)影響其他設(shè)備的正常工作。為了深入理解并有...
離子污染評(píng)估:揭秘LED燈具中的離子污染測(cè)試
離子污染物的定義與影響附著在產(chǎn)品表層、未經(jīng)過(guò)徹底清潔處理的殘留物被叫做離子污染物。當(dāng)這些殘留物暴露于潮濕環(huán)境時(shí),它們會(huì)轉(zhuǎn)化為帶電的離子。這些殘留物可能來(lái)...
是德科技解析光隔離探頭構(gòu)造與特性 光隔離探頭的典型測(cè)試案例
目錄 什么是光隔離探頭? 1. 新品探頭介紹 2. 高壓差分探頭 vs 光隔離探頭 3. 光隔離探頭的應(yīng)用場(chǎng)景 寬禁帶半導(dǎo)體市場(chǎng)前景 光隔離探頭的典型測(cè)...
探秘半導(dǎo)體防震基座剛性測(cè)試:守護(hù)芯片制造的堅(jiān)固防線
在半導(dǎo)體制造的精密世界里,每一個(gè)細(xì)微環(huán)節(jié)都關(guān)乎芯片的性能與質(zhì)量。其中,半導(dǎo)體防震基座作為支撐核心設(shè)備的關(guān)鍵部件,其剛性表現(xiàn)起著舉足輕重的作用。一、剛性為...
目錄: 1、根據(jù)需求,先去找參考電路 2、沒(méi)有參考設(shè)計(jì),自主設(shè)計(jì) 3、樣品制作 4、電路調(diào)試與測(cè)試 1、根據(jù)需求,先去找參考電路 若能找到那再好不過(guò),比...
高頻高速PCB廣泛應(yīng)用于AI、高速通信、數(shù)據(jù)中心和消費(fèi)電子等領(lǐng)域。其性能的穩(wěn)定性和可靠性決定了整個(gè)系統(tǒng)的信號(hào)完整性和運(yùn)行效率。高速PCB產(chǎn)業(yè)鏈中的各環(huán)節(jié)...
TogetherROS?·Bot零拷貝性能測(cè)試 我們使用TogetherROS?·Bot系統(tǒng)內(nèi)部集成的性能測(cè)試工具——performance_test,...
2023-11-27 標(biāo)簽:測(cè)試cpu數(shù)據(jù)傳輸 707 0
離子污染對(duì)電子設(shè)備的影響電子技術(shù)迅猛發(fā)展的今天,電子設(shè)備的復(fù)雜性和集成度不斷攀升,電路板上的元件布局日益緊湊,線路間距縮小,這使得對(duì)電路板(PCB/PC...
淋雨試驗(yàn)設(shè)備,作為一種重要的測(cè)試設(shè)備,其工作原理主要圍繞模擬自然雨水環(huán)境展開(kāi),以評(píng)估產(chǎn)品在潮濕環(huán)境下的防水性能。本文將詳細(xì)介紹淋雨試驗(yàn)設(shè)備的工作原理。淋...
2024-08-05 標(biāo)簽:測(cè)試控制系統(tǒng)試驗(yàn)設(shè)備 700 0
恒溫恒濕試驗(yàn)箱:精準(zhǔn)環(huán)境控制的科學(xué)利器
在現(xiàn)代科學(xué)研究與工業(yè)生產(chǎn)中,環(huán)境的精確控制成為了一項(xiàng)至關(guān)重要的技術(shù)。恒溫恒濕試驗(yàn)箱,作為這一領(lǐng)域的關(guān)鍵設(shè)備,以其卓越的環(huán)境模擬能力,成為了材料科學(xué)、電子...
HDGK-HL斷路器開(kāi)關(guān)回路綜合特性測(cè)試儀的操作說(shuō)明
1使用簡(jiǎn)介1.1概述在電力設(shè)備的交接試驗(yàn)和預(yù)防性試驗(yàn)中,斷路器的低壓測(cè)試項(xiàng)目中通常都包含機(jī)械特性測(cè)試和回路電阻測(cè)試,為完成試驗(yàn)任務(wù),通常需要攜帶兩套設(shè)備...
2024-08-15 標(biāo)簽:開(kāi)關(guān)測(cè)試測(cè)試儀 700 0
拉力試驗(yàn)機(jī)作為材料力學(xué)性能測(cè)試的重要設(shè)備,其規(guī)范操作對(duì)于確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性至關(guān)重要。以下是拉力試驗(yàn)機(jī)的基本操作步驟概述:上海和晟HS系列拉力試驗(yàn)機(jī)1、...
2024-08-28 標(biāo)簽:測(cè)試儀器拉力試驗(yàn)機(jī) 699 0
一、 熔斷器簡(jiǎn)介? 熔斷器是通過(guò)電流超過(guò)規(guī)定值一段時(shí)間后,利用其自身產(chǎn)生的熱量使熔體熔化,從而斷開(kāi)電路。當(dāng)電路發(fā)生短路或過(guò)載時(shí),過(guò)電流的熱效應(yīng)使熔體熔化...
ATA-2161高壓放大器在調(diào)制電源靜電偏轉(zhuǎn)板電壓測(cè)試中的應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)名稱(chēng):調(diào)制電源靜電偏轉(zhuǎn)板電壓同步測(cè)試實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:測(cè)試靜電偏轉(zhuǎn)板差分電壓與主電源調(diào)制電壓同步。研究方向:加速器電源測(cè)試設(shè)備:ATA-2161高壓放大器、...
這一切都是為了在測(cè)試挑戰(zhàn)曲線中保持領(lǐng)先地位
然而,多年來(lái)發(fā)生巨大變化的是用于實(shí)現(xiàn)最大效率的各種技術(shù)。在早期,功能模式用于測(cè)試設(shè)備,并且對(duì)這些模式進(jìn)行故障分級(jí)以確定實(shí)現(xiàn)的覆蓋范圍。隨著設(shè)備尺寸的增長(zhǎng)...
2023-05-25 標(biāo)簽:測(cè)試觸發(fā)器機(jī)器學(xué)習(xí) 698 0
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