測(cè)試

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測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為，一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。

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測(cè)試技術(shù)

如何快速搭建一個(gè)MQTT協(xié)議的測(cè)試環(huán)境

大家好，我是麥?zhǔn)澹坝行』锇榻ㄗh出一期如何快速搭建一個(gè)MQTT協(xié)議的測(cè)試環(huán)境，因?yàn)樽约簩懙膍qtt測(cè)試工具總是有這樣那樣的問題。

2023-12-26 標(biāo)簽：測(cè)試服務(wù)器客戶端 2758 0

如何使用AP525測(cè)試泰凌硬件的音頻指標(biāo)（一）—基本音頻參數(shù)簡(jiǎn)介

音頻的位深決定了所能表示的動(dòng)態(tài)范圍，比如16位ADC動(dòng)態(tài)范圍=20*lg(2^16/1)≈96dB，24位ADC動(dòng)態(tài)范圍=20*lg(2^24/1)=1...

2024-06-19 標(biāo)簽：測(cè)試音頻泰凌微 2753 0

Fluke 725S多功能過程校驗(yàn)儀的主要特性和功能應(yīng)用分析

Fluke 725S多功能過程校驗(yàn)儀測(cè)試和校準(zhǔn)幾乎所有的過程參數(shù)。

2020-11-13 標(biāo)簽：測(cè)試變送器 2746 0

為英特爾xdk安裝的windows adb驅(qū)動(dòng)程序

Installing the Windows Android ADB driver for use with the Intel XDK Debug tab.

2018-10-17 標(biāo)簽：測(cè)試英特爾驅(qū)動(dòng)程序 2741 0

泰克示波器新頻譜分析功能Spectrum View的特點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)景

前兩篇文章主要介紹了Spectrum View的功能特點(diǎn)及相關(guān)理論知識(shí)，與示波器傳統(tǒng)的FFT測(cè)試頻譜方法相比，Spectrum View具有獨(dú)到的優(yōu)勢(shì)，...

2020-09-19 標(biāo)簽：測(cè)試示波器 asic 2734 0

示波器+相控陣測(cè)量選件破解干擾機(jī)測(cè)量難題

而欺騙性雷達(dá)干擾，是模擬目標(biāo)的回波特性，使雷達(dá)獲得虛假目標(biāo)信息，作出錯(cuò)誤判斷或增大雷達(dá)自動(dòng)跟蹤系統(tǒng)的誤差。

2022-03-18 標(biāo)簽：測(cè)試軟件雷達(dá) 2721 0

連接器測(cè)試項(xiàng)目有哪些測(cè)試項(xiàng)目介紹

連接器是一種廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備中的元器件，主要用于連接電路和傳輸信號(hào)。連接器的性能直接影響到電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。因此，對(duì)連接器進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試是非常...

2024-01-04 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)試儀連接器 2721 0

小功率電子負(fù)載實(shí)現(xiàn)快速負(fù)載瞬態(tài)測(cè)試

負(fù)載瞬態(tài)通常使用電子負(fù)載（E-Load）進(jìn)行測(cè)試，前面提到，負(fù)載的跳變斜率（Slew Rate）將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生關(guān)鍵影響，然而受設(shè)備內(nèi)部電路限制，常規(guī)電...

2023-02-03 標(biāo)簽：測(cè)試轉(zhuǎn)換器 MOSFET 2710 0

示波器如何測(cè)試特定的脈沖信號(hào)?還在一個(gè)個(gè)數(shù)？

有個(gè)客戶在使用示波器時(shí)遇到了這樣一個(gè)問題，他測(cè)試的信號(hào)每間隔一段時(shí)間就會(huì)發(fā)出40-70個(gè)脈沖，但他就想看第21個(gè)脈沖，問如何設(shè)置？我說可以利用示波器的單...

2024-09-26 標(biāo)簽：測(cè)試示波器脈沖信號(hào) 2709 0

數(shù)據(jù)測(cè)試：UI測(cè)試常見BUG

2020-06-29 標(biāo)簽：人機(jī)交互測(cè)試 ui 2706 0

功率計(jì)的測(cè)試方法_功率計(jì)校準(zhǔn)步驟

功率計(jì)的方法主要包括以下幾個(gè)步驟：　　一、準(zhǔn)備工作　　設(shè)備檢查：確保功率計(jì)和被測(cè)電路或設(shè)備處于正常工作狀態(tài)。檢查電源和連接線路是否良好，...

2024-10-03 標(biāo)簽：測(cè)試功率計(jì) 2698 0

對(duì)影響探測(cè)可靠性因素的工藝性方面的要求

工藝性方面主要考慮ICT自動(dòng)測(cè)試的定位精度、基板大小、探針類型等影響探測(cè)可靠性的因素。

2020-03-27 標(biāo)簽：pcb 測(cè)試 ict 2692 0

有源可變電阻器的優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用分析

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2020-08-22 標(biāo)簽：電源測(cè)試電阻器 2691 0

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本文檔主要講解了基于ETI測(cè)試流、基于IQ采集的數(shù)據(jù)流、基于專業(yè)射頻測(cè)試儀表三種DAB Announcement測(cè)試方案，以及這三種測(cè)試方案的總結(jié)比較和...

2022-07-20 標(biāo)簽：測(cè)試音頻廣電 2685 0

普賽斯儀表PL系列設(shè)備的測(cè)試場(chǎng)景和使用步驟

普賽斯儀表PL系列窄脈沖電流源可應(yīng)用于VCSEL及其它需要窄脈沖激勵(lì)的測(cè)試場(chǎng)景。

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由于使用圖形化的配置方式，QzTitan相比于使用硬編碼具有更強(qiáng)的靈活性，使得非軟件開發(fā)人員也能輕松使用。

2019-12-10 標(biāo)簽：測(cè)試軟件編碼 2680 0

ic自動(dòng)化測(cè)試之電源芯片負(fù)載調(diào)整率的測(cè)試原理和測(cè)試方法

測(cè)試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率時(shí)我們可以使用ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)通過軟件控制電源給芯片供電輸入，讓芯片處于工作狀態(tài)，之后給芯片的輸出端加載輸出電...

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2022-07-14 標(biāo)簽：測(cè)試電源效率 demo板 2631 0

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2024-12-09 標(biāo)簽：測(cè)試示波器電源紋波 2631 0

EN50332—媒體播放器（含耳機(jī)）輸出音量安全規(guī)范測(cè)試方案

本方案是北京度緯科技有限公司針對(duì)EN50332標(biāo)準(zhǔn)，推出的完全符合該標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方案，可以滿足各個(gè)場(chǎng)景標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的需求。

2022-07-21 標(biāo)簽：測(cè)試播放器耳機(jī) 2614 0

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Proteus軟件是英國(guó)Lab Center Electronics公司出版的EDA工具軟件（該軟件中國(guó)總代理為廣州風(fēng)標(biāo)電子技術(shù)有限公司）。它不僅具有其它EDA工具軟件的仿真功能，還能仿真單片機(jī)及外圍器件。
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為防止靜電積累所引起的人身電擊、火災(zāi)和爆炸、電子器件失效和損壞，以及對(duì)生產(chǎn)的不良影響而采取的防范措施。其防范原則主要是抑制靜電的產(chǎn)生，加速靜電泄漏，進(jìn)行靜電中和等。
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導(dǎo)熱硅脂俗稱散熱膏，導(dǎo)熱硅脂以有機(jī)硅酮為主要原料，添加耐熱、導(dǎo)熱性能優(yōu)異的材料，制成的導(dǎo)熱型有機(jī)硅脂狀復(fù)合物，用于功率放大器、晶體管、電子管、CPU等電子元器件的導(dǎo)熱及散熱，從而保證電子儀器、儀表等的電氣性能的穩(wěn)定。

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