測(cè)試

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測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為，一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專(zhuān)用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。

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全部技術(shù) 資訊資料帖子視頻產(chǎn)品方案企業(yè) 測(cè)試選型

測(cè)試技術(shù)

示波器的觸發(fā)功能（上）

示波器的觸發(fā)功能在正確的信號(hào)點(diǎn)同步水平掃描，這對(duì)清楚地檢定信號(hào)至關(guān)重要。觸發(fā)控制功能可以穩(wěn)定重復(fù)的波形，捕獲單次波形。通過(guò)重復(fù)顯示輸入信號(hào)的同一部分觸發(fā)...

2024-12-05 標(biāo)簽：測(cè)試示波器顯示屏 733 0

LED光源抗硫化實(shí)驗(yàn)

在照明技術(shù)迅速發(fā)展的今天，LED光源憑借其高效率、耐用性和環(huán)境友好性，已成為市場(chǎng)上的主流選擇。盡管如此，LED光源在實(shí)際應(yīng)用中仍面臨諸多挑戰(zhàn)，尤其是硫化...

2024-12-04 標(biāo)簽：led 測(cè)試光源 1684 0

什么是RoHS測(cè)試？

RoHS，全稱(chēng)為《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》，是一個(gè)旨在限制電子電氣產(chǎn)品中特定有害物質(zhì)使用的法規(guī)。歐盟于2006年7月1日實(shí)施了RoHS...

2024-12-04 標(biāo)簽：測(cè)試電氣 RoHS 1560 0

Wi-Fi 7 4X4 MIMO測(cè)試解決方案

按照下圖搭建測(cè)試環(huán)境，被測(cè)件的四根天線，一根要選第一臺(tái)CMP180上面第一排射頻端口進(jìn)行連接，第二根要選下面第二排射頻端口進(jìn)行連接，依次類(lèi)推，分別接到4...

2024-12-03 標(biāo)簽：測(cè)試射頻 MIMO 1362 0

金屬方塊電阻的測(cè)試條件

CMOS 工藝平臺(tái)的金屬方塊電阻的測(cè)試結(jié)構(gòu)包含該平臺(tái)的所有金屬層，例如如果該平臺(tái)使用五層金屬層，那么金屬方塊電阻的測(cè)試結(jié)構(gòu)就有第一層金屬（M1）方塊電阻...

2024-12-03 標(biāo)簽：CMOS 電阻測(cè)試 751 0

鍵合絲焊接質(zhì)量控制說(shuō)明

本文重點(diǎn)圍繞焊點(diǎn)機(jī)械性能指標(biāo)的測(cè)試方法和判定標(biāo)準(zhǔn)，介紹了焊點(diǎn)測(cè)試、過(guò)程能力指數(shù)以及焊接不良的分析。 ? 鍵合絲焊接質(zhì)量控制鍵合絲焊接質(zhì)量的控制需綜合考慮...

2024-12-03 標(biāo)簽：測(cè)試焊接焊點(diǎn) 744 0

什么是高低溫濕熱試驗(yàn)（THB）？

濕熱試驗(yàn)概述濕熱試驗(yàn)是環(huán)境工程領(lǐng)域中一種關(guān)鍵的測(cè)試方法，通過(guò)在控制的高溫和高濕環(huán)境下對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行暴露，以評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用中對(duì)潮濕環(huán)境的適應(yīng)性和耐久性。這...

2024-12-02 標(biāo)簽：測(cè)試恒定濕熱試驗(yàn)濕熱試驗(yàn) 1284 0

FIB測(cè)試技術(shù)

聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱(chēng)FIB）技術(shù)是一種精密的微納加工手段，它通過(guò)將離子束聚焦到極高的精度，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料的精確蝕刻和加工。FIB技...

2024-12-02 標(biāo)簽：測(cè)試 fib 離子束 789 0

Poly方塊電阻的測(cè)試條件

CMOS工藝平臺(tái)的Poly 方塊電阻有四種類(lèi)型的電阻，它們分別是n型金屬硅化物 Poly 方塊電阻、P型金屬硅化物 Poly 方塊電阻、n 型非金屬硅化...

2024-11-29 標(biāo)簽：CMOS 電阻測(cè)試 1638 0

PW方塊電阻的測(cè)試條件

圖5-34所示為PW方塊電阻的版圖，圖5-35所示為它的剖面圖。PW方塊電阻是通過(guò)DNW 隔離襯底（P-sub），如果沒(méi)有DNW的隔離，這個(gè)PW 方塊電...

2024-11-29 標(biāo)簽：電阻測(cè)試 673 1

淺談WAT測(cè)試類(lèi)型

雖然 WAT測(cè)試類(lèi)型非常多，不過(guò)業(yè)界對(duì)于 WAT測(cè)試類(lèi)型都有一個(gè)明確的要求，就是包括該工藝技術(shù)平臺(tái)所有的有源器件和無(wú)源器件的典型尺寸。芯片代工廠會(huì)依據(jù)這...

2024-11-27 標(biāo)簽：CMOS 測(cè)試工藝 1435 0

半導(dǎo)體快速溫變測(cè)試的溫度循環(huán)控制標(biāo)準(zhǔn)

半導(dǎo)體材料簡(jiǎn)介半導(dǎo)體材料是一類(lèi)具有介于導(dǎo)體和絕緣體之間的導(dǎo)電能力（電阻率在1mΩ·cm到1GΩ·cm之間）的材料，廣泛應(yīng)用于制造半導(dǎo)體器件和集成電路。根...

2024-11-27 標(biāo)簽：測(cè)試半導(dǎo)體 IPC 583 0

輻射發(fā)射測(cè)試：深入解析TS-RadiMation套件多種操作方法（四）

Raditeq RadiMation?套件作為輻射發(fā)射測(cè)試的得力助手，支持多種測(cè)試方法。

2024-11-28 標(biāo)簽：測(cè)試天線輻射發(fā)射 486 0

一文詳解纖維器件電學(xué)測(cè)試方法

纖維器件是一種以纖維為基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)形態(tài)的功能性元件。

2024-11-26 標(biāo)簽：傳感器測(cè)試發(fā)光二極管 823 0

氣密測(cè)試解決方案---汽摩發(fā)動(dòng)機(jī)

應(yīng)用背景發(fā)動(dòng)機(jī)作為汽車(chē)和摩托車(chē)最關(guān)鍵的心臟部位，整體的安全性可想而知，作為汽車(chē)、摩托車(chē)發(fā)動(dòng)機(jī)最必要的一環(huán)---氣密性檢測(cè)也是各個(gè)發(fā)動(dòng)機(jī)生產(chǎn)廠家最為關(guān)注的...

2024-11-26 標(biāo)簽：發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)試摩托車(chē) 597 0

WAT晶圓接受測(cè)試簡(jiǎn)介

WAT是英文 Wafer Acceptance Test 的縮寫(xiě)，意思是晶圓接受測(cè)試，業(yè)界也稱(chēng)WAT 為工藝控制監(jiān)測(cè)（Process Control M...

2024-11-25 標(biāo)簽：芯片測(cè)試晶圓 1529 0

參考曲線狀態(tài)評(píng)估指南

在使用OSI系列設(shè)備進(jìn)行應(yīng)變或溫度傳感測(cè)試時(shí)，取參考是尤為重要的一個(gè)步驟。參考曲線能為我們提供諸如光纖樣品鏈路狀態(tài)、長(zhǎng)度等關(guān)鍵信息。因此，準(zhǔn)確理解參考曲...

2024-11-23 標(biāo)簽：測(cè)試光纖溫度傳感 670 0

循環(huán)腐蝕試驗(yàn)（CCT）：一種評(píng)估材料耐久性的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法

鹽霧試驗(yàn)的演變與應(yīng)用鹽霧試驗(yàn)作為評(píng)估材料耐腐蝕性能的重要手段，其發(fā)展歷程體現(xiàn)了對(duì)自然環(huán)境模擬的不斷深入。從最初的恒定鹽霧測(cè)試，到噴霧-干燥循環(huán)，再到循環(huán)...

2024-11-23 標(biāo)簽：測(cè)試 cct 679 0

CP測(cè)試與FT測(cè)試有什么區(qū)別

本文介紹了在集成電路制造與測(cè)試過(guò)程中，CP（Chip Probing，晶圓探針測(cè)試）和FT（Final Test，最終測(cè)試）的概念、流程、難點(diǎn)與挑戰(zhàn)。 ...

2024-11-22 標(biāo)簽：測(cè)試 FT TFT測(cè)試 2086 0

“LoRa模塊脫機(jī)測(cè)試套件”產(chǎn)品實(shí)操測(cè)試教程

資料介紹Exx-xxxT(M)Bx-SC系列產(chǎn)品操作教程，以下是以T系列產(chǎn)品E32-433TBH-SC作為示例。1.1資料的下載在收到產(chǎn)品后

2024-11-22 標(biāo)簽：測(cè)試開(kāi)發(fā)板 LoRa 658 0

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Proteus軟件是英國(guó)Lab Center Electronics公司出版的EDA工具軟件（該軟件中國(guó)總代理為廣州風(fēng)標(biāo)電子技術(shù)有限公司）。它不僅具有其它EDA工具軟件的仿真功能，還能仿真單片機(jī)及外圍器件。
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為防止靜電積累所引起的人身電擊、火災(zāi)和爆炸、電子器件失效和損壞，以及對(duì)生產(chǎn)的不良影響而采取的防范措施。其防范原則主要是抑制靜電的產(chǎn)生，加速靜電泄漏，進(jìn)行靜電中和等。
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ArduBlock軟件是Arduino官方編程環(huán)境的第三方軟件，目前必須依附于Arduino軟件下運(yùn)行，區(qū)別于Arduino文本式編程環(huán)境，ArduBlock是以圖形化積木搭建的方式編程的，這樣的方式會(huì)使編程的可視化和交互性加強(qiáng)，編程門(mén)檻降低，即使沒(méi)有編程經(jīng)驗(yàn)的人也可以嘗試給Arduino控制器編寫(xiě)程序。
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pcb封裝就是把實(shí)際的電子元器件，芯片等的各種參數(shù)（比如元器件的大小，長(zhǎng)寬，直插，貼片，焊盤(pán)的大小，管腳的長(zhǎng)寬，管腳的間距等）用圖形方式表現(xiàn)出來(lái)，以便可以在畫(huà)pcb圖時(shí)進(jìn)行調(diào)用。
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面包板是由于板子上有很多小插孔，專(zhuān)為電子電路的無(wú)焊接實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)制造的。由于各種電子元器件可根據(jù)需要隨意插入或拔出，免去了焊接，節(jié)省了電路的組裝時(shí)間，而且元件可以重復(fù)使用，所以非常適合電子電路的組裝、調(diào)試和訓(xùn)練。
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特性阻抗又稱(chēng)特征阻抗，它不是直流電阻，屬于長(zhǎng)線傳輸中的概念。特性阻抗是射頻傳輸線影響無(wú)線電波電壓、電流的幅值和相位變化的固有特性，等于各處的電壓與電流的比值，用V/I表示。在射頻電路中，電阻、電容、電感都會(huì)阻礙交變電流的流動(dòng)，合稱(chēng)阻抗。電阻是吸收電磁能量的，理想電容和電感不消耗電磁能量。
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庫(kù)文件是計(jì)算機(jī)上的一類(lèi)文件，提供給使用者一些開(kāi)箱即用的變量、函數(shù)或類(lèi)。庫(kù)文件分為靜態(tài)庫(kù)和動(dòng)態(tài)庫(kù)，靜態(tài)庫(kù)和動(dòng)態(tài)庫(kù)的區(qū)別體現(xiàn)在程序的鏈接階段：靜態(tài)庫(kù)在程序的鏈接階段被復(fù)制到了程序中；動(dòng)態(tài)庫(kù)在鏈接階段沒(méi)有被復(fù)制到程序中，而是程序在運(yùn)行時(shí)由系統(tǒng)動(dòng)態(tài)加載到內(nèi)存中供程序調(diào)用。使用動(dòng)態(tài)庫(kù)系統(tǒng)只需載入一次，不同的程序可以得到內(nèi)存中相同的動(dòng)態(tài)庫(kù)的副本，因此節(jié)省了很多內(nèi)存，而且使用動(dòng)態(tài)庫(kù)也便于模塊化更新程序。
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導(dǎo)熱硅脂俗稱(chēng)散熱膏，導(dǎo)熱硅脂以有機(jī)硅酮為主要原料，添加耐熱、導(dǎo)熱性能優(yōu)異的材料，制成的導(dǎo)熱型有機(jī)硅脂狀復(fù)合物，用于功率放大器、晶體管、電子管、CPU等電子元器件的導(dǎo)熱及散熱，從而保證電子儀器、儀表等的電氣性能的穩(wěn)定。

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